[go: up one dir, main page]

KR102779917B1 - Sensor detection device and semiconductor apparatus using the same - Google Patents

Sensor detection device and semiconductor apparatus using the same Download PDF

Info

Publication number
KR102779917B1
KR102779917B1 KR1020200097795A KR20200097795A KR102779917B1 KR 102779917 B1 KR102779917 B1 KR 102779917B1 KR 1020200097795 A KR1020200097795 A KR 1020200097795A KR 20200097795 A KR20200097795 A KR 20200097795A KR 102779917 B1 KR102779917 B1 KR 102779917B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
sensor detection
detection device
bearing
support
main body
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
KR1020200097795A
Other languages
Korean (ko)
Other versions
KR20220017612A (en
Inventor
허재현
Original Assignee
에스케이하이닉스 주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 에스케이하이닉스 주식회사 filed Critical 에스케이하이닉스 주식회사
Priority to KR1020200097795A priority Critical patent/KR102779917B1/en
Publication of KR20220017612A publication Critical patent/KR20220017612A/en
Application granted granted Critical
Publication of KR102779917B1 publication Critical patent/KR102779917B1/en
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L24/00Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
    • H01L24/98Methods for disconnecting semiconductor or solid-state bodies
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01FMAGNETS; INDUCTANCES; TRANSFORMERS; SELECTION OF MATERIALS FOR THEIR MAGNETIC PROPERTIES
    • H01F1/00Magnets or magnetic bodies characterised by the magnetic materials therefor; Selection of materials for their magnetic properties
    • H01F1/01Magnets or magnetic bodies characterised by the magnetic materials therefor; Selection of materials for their magnetic properties of inorganic materials
    • H01F1/03Magnets or magnetic bodies characterised by the magnetic materials therefor; Selection of materials for their magnetic properties of inorganic materials characterised by their coercivity
    • H01F1/032Magnets or magnetic bodies characterised by the magnetic materials therefor; Selection of materials for their magnetic properties of inorganic materials characterised by their coercivity of hard-magnetic materials
    • H01F1/04Magnets or magnetic bodies characterised by the magnetic materials therefor; Selection of materials for their magnetic properties of inorganic materials characterised by their coercivity of hard-magnetic materials metals or alloys
    • H01F1/047Alloys characterised by their composition
    • H01F1/053Alloys characterised by their composition containing rare earth metals
    • H01F1/055Alloys characterised by their composition containing rare earth metals and magnetic transition metals, e.g. SmCo5
    • H01F1/057Alloys characterised by their composition containing rare earth metals and magnetic transition metals, e.g. SmCo5 and IIIa elements, e.g. Nd2Fe14B
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/34Arrangements for cooling, heating, ventilating or temperature compensation ; Temperature sensing arrangements
    • H01L23/345Arrangements for heating

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
  • Inorganic Chemistry (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Measurement Of Length, Angles, Or The Like Using Electric Or Magnetic Means (AREA)
  • Geophysics And Detection Of Objects (AREA)

Abstract

본 발명의 실시 예에 따른 센서 검출 장치는 베어링 하우징이 형성된 본체; 상기 본체의 일측에 연결되게 형성되어 상기 본체가 기울어짐에 따라 복수의 위치 감지 센서 중 어느 하나에 근접하여 센싱이 이루어지도록 하는 센서 감지판; 베어링 하우징에 삽입되는 베어링; 및 본체의 타측에 연결되게 형성되되, 본체의 재질 보다 비중이 큰 재질로 형성된 지지체를 포함할 수 있다.A sensor detection device according to an embodiment of the present invention may include: a main body having a bearing housing formed therein; a sensor detection plate formed to be connected to one side of the main body so that sensing is performed by approaching one of a plurality of position detection sensors as the main body is tilted; a bearing inserted into the bearing housing; and a support formed to be connected to the other side of the main body and made of a material having a higher specific gravity than the material of the main body.

Description

센서 검출 장치 및 이를 이용한 반도체 장치{Sensor detection device and semiconductor apparatus using the same}{Sensor detection device and semiconductor apparatus using the same}

본 발명은 센서 검출 장치 및 이를 이용한 반도체 장치에 관한 것이다.The present invention relates to a sensor detection device and a semiconductor device using the same.

반도체 장비 중 웨이퍼로부터 WBL(wafer backside lamination)을 확장시켜 분리시키기 위한 장비는 상술한 공정을 위해 히터 장치를 포함할 수 있다.Among semiconductor equipment, equipment for expanding and separating WBL (wafer backside lamination) from a wafer may include a heater device for the above-described process.

상술한 히터 장치는 회전 동작을 수행 하는데, 회전 작동 시 복수의 센서를 통해 시계 방향 또는 반시계 방향의 회전 한계점을 검출하여 회전 동작을 제어하고 있다. The above-described heater device performs a rotational motion, and during the rotational operation, the rotational motion is controlled by detecting the rotation limit point in the clockwise or counterclockwise direction through a plurality of sensors.

이때, 센서의 검출은 복수의 센서들 사이에 위치한 센서 검출판이 외압에 따라 기울어짐에 따라 복수의 센서 중 어느 하나에 접근하여 시계 방향 또는 반시계 방향의 회전 한계점을 검출하는 방식으로 구현될 수 있다.At this time, the detection of the sensor can be implemented in a manner in which the sensor detection plate located between the plurality of sensors approaches one of the plurality of sensors as it tilts according to external pressure and detects the rotation limit point in the clockwise or counterclockwise direction.

상술한 센서 검출판은 기울어진 상태에서 외압이 없어진 경우 기울어지기 전 수직 상태로 기립할 수 있도록 별도의 스프링을 추가 적용하고 있는 실정이다. The sensor detection plate described above is currently equipped with a separate spring so that it can stand upright before being tilted when the external pressure is removed while in a tilted state.

한편, 상기 스프링은 검출판이 기울어짐에 따라 시계 방향 또는 반시계 방향의 에너지를 지속적으로 받는 과정에서 파손되는 현상이 종종 발생되고 있다. Meanwhile, the spring is often damaged in the process of continuously receiving clockwise or counterclockwise energy as the detection plate tilts.

또한, 스프링의 파손으로 인해 센서 검출판이 외압의 유무와 관계없이 좌측 또는 우측으로 기울어져 센서 검출의 오류가 발생되고 있다.In addition, due to the spring being broken, the sensor detection plate is tilted to the left or right regardless of the presence or absence of external pressure, causing errors in sensor detection.

본 발명의 실시 예는 열에 의한 영향이 상대적으로 적고 공간의 제약이 없는 조건에서, 가압에 의해 본체가 기울어진 후 자립으로 기립할 수 있는 센서 검출 장치 및 이를 이용한 반도체 장치를 제공하기 위한 것이다.An embodiment of the present invention provides a sensor detection device capable of standing up independently after a main body is tilted by pressurization under conditions of relatively little influence by heat and no spatial constraints, and a semiconductor device using the same.

본 발명의 실시 예에 따른 센서 검출 장치는, 베어링 하우징이 형성된 본체; 상기 본체의 일측에 연결되게 형성되어 상기 본체가 기울어짐에 따라 복수의 위치 감지 센서 중 어느 하나에 근접하여 센싱이 이루어지도록 하는 센서 감지판; 상기 베어링 하우징에 삽입되는 베어링; 및 상기 본체의 타측에 연결되게 형성되되, 상기 본체의 재질 보다 비중이 큰 재질로 형성된 지지체를 포함할 수 있다.A sensor detection device according to an embodiment of the present invention may include: a main body having a bearing housing formed therein; a sensor detection plate formed to be connected to one side of the main body so as to allow sensing to be performed by approaching one of a plurality of position detection sensors as the main body is tilted; a bearing inserted into the bearing housing; and a support formed to be connected to the other side of the main body and made of a material having a higher specific gravity than the material of the main body.

본 발명의 실시 예에 따른 센서 검출 장치는, 베어링 하우징이 형성된 본체; 상기 본체의 일측에 연결되게 형성되어 상기 본체가 기울어짐에 따라 복수의 위치 감지 센서 중 어느 하나에 근접하여 센싱이 이루어지도록 하는 센서 감지판; 상기 베어링 하우징에 삽입되는 베어링; 상기 본체의 타측에 연결되게 형성되되, 하부면으로부터 상부 방향으로 기 설정된 깊이의 삽입홈이 형성된 지지체; 상기 삽입홈에 삽입되는 형태로 형성되는 자성체; 및 상기 지지체의 하부면에 위치하고, 상기 자성체와 접촉되는 영역이 금속 재질로 형성된 지지 플레이트를 포함할 수 있다.According to an embodiment of the present invention, a sensor detection device may include: a main body having a bearing housing formed therein; a sensor detection plate formed to be connected to one side of the main body so that sensing is performed by approaching one of a plurality of position detection sensors as the main body is tilted; a bearing inserted into the bearing housing; a support formed to be connected to the other side of the main body, the support having an insertion groove formed with a preset depth in an upward direction from a lower surface; a magnetic body formed in a form inserted into the insertion groove; and a support plate positioned on a lower surface of the support body, the area of which comes into contact with the magnetic body being formed of a metal material.

본 발명의 실시 예에 따른 반도체 장치는, 특정 대상물의 접근을 감지하기 위한 복수의 위치 감지 센서; 센서 검출 장치의 측면을 가압하여 제1 방향 및 제2 방향 중 어느 한 방향으로 기울어지도록 하는 핀; 상기 핀이 가압함에 따라 상기 제1 방향 및 상기 제2 방향 중 어느 한 방향으로 기울어져 상기 복수의 위치 감지 센서 중 어느 하나에 근접하는 센서 검출 장치; 상부에 상기 핀 및 가공 장비가 형성되어 상기 가공 장비의 구동에 따라 회전하는 회전체; 상기 회전체를 구동시키기 위한 구동부; 및 상기 구동부의 구동을 제어하고, 상기 복수의 위치 감지 센서 중 어느 하나로부터 전송되는 센싱 정보를 기초로 상기 가공 장비의 회전 위치를 파악하는 컨트롤러를 포함할 수 있다.According to an embodiment of the present invention, a semiconductor device may include: a plurality of position detection sensors for detecting approach of a specific object; a pin for pressing a side surface of the sensor detection device to cause the sensor detection device to tilt in one of a first direction and a second direction; a sensor detection device which tilts in one of the first direction and the second direction as the pin is pressed and approaches one of the plurality of position detection sensors; a rotating body having the pin and a processing device formed thereon and rotating according to driving of the processing device; a driving unit for driving the rotating body; and a controller for controlling driving of the driving unit and determining a rotational position of the processing device based on sensing information transmitted from one of the plurality of position detection sensors.

본 실시 예들에 따르면, 기울어진 후 스스로 기립할 수 있는 구조의 센서 검출 장치를 제공할 수 있다는 효과를 기대할 수 있다.According to the present embodiments, it is expected that a sensor detection device having a structure that can stand up by itself after being tilted can be provided.

또한, 본 실시 예들에 따르면, 센서 검출 장치를 이루는 부품이 열로 인한 제약이 상대적으로 적고 수명이 종래에 비해 상대적으로 길기 때문에, 센서 검출 장치의 성능을 양호한 상태로 유지할 수 있고, 이로 인해 센서 검출 효율성을 향상시킬 수 있다는 것이다.In addition, according to the present embodiments, since the components forming the sensor detection device are relatively less constrained by heat and have a relatively longer lifespan than in the past, the performance of the sensor detection device can be maintained in good condition, thereby improving the sensor detection efficiency.

또한, 본 실시 예에 따르면, 공간을 차지하는 별도의 추가 부품의 구현을 생략하더라고 자립으로 기립할 수 있는 센서 검출 장치를 제공하기 때문에, 공간에 대한 제약이 상대적으로 줄어 다양한 장비에 대한 활용도가 높아질 수 있다는 것이다.In addition, according to the present embodiment, since a sensor detection device capable of standing up independently is provided without the need for implementing a separate additional component that takes up space, space constraints are relatively reduced, and thus usability for various equipment can be increased.

도 1은 본 발명의 실시 예에 따른 웨이퍼와 히터 장치 간의 배치 관계를 나타내는 도면이다.
도 2는 본 발명의 실시 예에 따른 센서 검출 장치의 설치 예를 나타내는 도면이다.
도 3 및 도 4는 본 발명의 실시 예에 따른 센서 검출 장치의 동작 예를 설명하기 위한 예시도이다.
도 5 내지 도 8은 본 발명의 실시 예에 따른 센서 검출 장치의 일 실시예를 나타내는 도면이다.
도 9 내지 도 12는 본 발명의 실시 예에 따른 센서 검출 장치의 다른 실시예를 나타내는 도면이다.
도 13은 본 발명의 실시 예에 따른 반도체 장치의 구성을 나타내는 도면이다.
FIG. 1 is a drawing showing the arrangement relationship between a wafer and a heater device according to an embodiment of the present invention.
FIG. 2 is a drawing showing an example of installation of a sensor detection device according to an embodiment of the present invention.
FIGS. 3 and 4 are exemplary diagrams for explaining an operation example of a sensor detection device according to an embodiment of the present invention.
FIGS. 5 to 8 are drawings showing an embodiment of a sensor detection device according to an embodiment of the present invention.
FIGS. 9 to 12 are drawings showing other embodiments of a sensor detection device according to an embodiment of the present invention.
FIG. 13 is a drawing showing the configuration of a semiconductor device according to an embodiment of the present invention.

이하, 첨부한 도면에 의거하여 본 발명의 바람직한 실시 예를 설명하도록 한다. Hereinafter, preferred embodiments of the present invention will be described based on the attached drawings.

도 1은 본 발명의 실시 예에 따른 웨이퍼와 히터 장치 간의 배치 관계를 나타내는 도면이고, 도 2는 본 발명의 실시 예에 따른 센서 검출 장치의 설치 예를 나타내는 도면이다. 이때, 도 2는 도 1의 A부분의 내부를 예로 들어 나타내는 도면일 수 있다.FIG. 1 is a drawing showing the arrangement relationship between a wafer and a heater device according to an embodiment of the present invention, and FIG. 2 is a drawing showing an example of installation of a sensor detection device according to an embodiment of the present invention. At this time, FIG. 2 may be a drawing showing the interior of part A of FIG. 1 as an example.

구체적으로, 도 1은 웨이퍼 링(20)의 상부에 웨이퍼(10)가 안착된 상태에서 웨이퍼(10)로부터 WBL(wafer backside lamination)을 확장시켜 분리시키는 공정을 나타내기 위한 것이다. 도시되지 않았지만, 상기 웨이퍼(10)가 안착된 웨이퍼 링(20)은 척 테이블 상부에 위치할 수 있다.Specifically, FIG. 1 is intended to illustrate a process of expanding and separating a WBL (wafer backside lamination) from a wafer (10) while the wafer (10) is mounted on top of a wafer ring (20). Although not shown, the wafer ring (20) on which the wafer (10) is mounted may be positioned on top of a chuck table.

상술한 공정을 위해 웨이퍼(10) 상부에는 반도체 장치(30)가 배치될 수 있다. 이때, 반도체 장치(30)는 가열 동작을 수행하기 위한 히터 장치일 수 있다.For the above-described process, a semiconductor device (30) may be placed on top of the wafer (10). At this time, the semiconductor device (30) may be a heater device for performing a heating operation.

반도체 장치(30)는 회전 작동을 하는데, 회전 작동 시 복수의 위치 감지 센서(도 3 의 210, 211, 213)를 통해 시계 방향 또는 반시계 방향의 회전 한계점을 검출하여 회전 동작을 제어하고 있다.The semiconductor device (30) performs a rotation operation, and during the rotation operation, the rotation operation is controlled by detecting the rotation limit point in the clockwise or counterclockwise direction through a plurality of position detection sensors (210, 211, 213 of FIG. 3).

도 2는 반도체 장치(30)의 도 1 A 부분의 내부를 나타내는 것으로서, 반도체 장치(30)는 히터 동작 등을 수행하기 위한 가공 장비(32)와 가공 장비(32)에 체결된 센서 검출 장치(100)를 포함할 수 있다.FIG. 2 shows the interior of part A of FIG. 1 of a semiconductor device (30). The semiconductor device (30) may include processing equipment (32) for performing a heater operation, etc., and a sensor detection device (100) connected to the processing equipment (32).

도 2에서 도시하는 바와 같이, 가공 장비(32)는 회전체(250) 상부에 형성되고, 회전체(250)는 센서 검출 장치(100)가 장착된 가공 장비(32)의 영역과는 별도로 회전할 수 있다. As shown in Fig. 2, the processing equipment (32) is formed on top of the rotating body (250), and the rotating body (250) can rotate separately from the area of the processing equipment (32) equipped with the sensor detection device (100).

이때, 가공 장비(32)의 측면에는 센서 검출 장치(100)가 체결될 수 있다. 상기 가공 장치(32)는 히터 장치 내부에 구현되는 장치일 수 있다.At this time, a sensor detection device (100) may be attached to the side of the processing equipment (32). The processing device (32) may be a device implemented inside the heater device.

회전체(250)가 회전함에 따라 회전체(250) 상부에 고정되게 형성된 핀(pin)이 센서 검출 장치(100)의 특정 영역(예를 들어, 하부 측면)을 가압함에 따라, 센서 검출 장치(100)가 어느 한 방향으로 기울어져 양측에 배치된 복수의 위치 감지 센서(211, 213) 중 어느 하나에 접근하게 되는 것이다. As the rotating body (250) rotates, a pin formed to be fixed to the upper portion of the rotating body (250) presses a specific area (e.g., the lower side) of the sensor detection device (100), so that the sensor detection device (100) tilts in one direction and approaches one of the plurality of position detection sensors (211, 213) arranged on both sides.

도 3 및 도 4는 본 발명의 실시 예에 따른 센서 검출 장치의 동작 예를 설명하기 위한 예시도이다.FIGS. 3 and 4 are exemplary diagrams for explaining an operation example of a sensor detection device according to an embodiment of the present invention.

도 3 및 도 4에서 도시하는 바와 같이, 센서 검출 장치(100)는 복수의 위치 감지 센서(210, 211, 213) 사이에 위치하여, 서로 일렬로 나란히 배치된 상태일 수 있다.As shown in FIGS. 3 and 4, the sensor detection device (100) may be positioned between a plurality of position detection sensors (210, 211, 213) and arranged in a row side by side.

이러한 배치 상태에서, 회전체(250)가 반시계 방향(도 3의 ①)으로 회전하거나, 또는 시계 방향(도 4의 ②)으로 회전함에 따라, 회전체(250) 상부에 고정되게 형성된 핀(230)이 센서 검출 장치(100)의 하부 측면을 가압하게 되는 것이다. 이때, 핀(230)이 센서 검출 장치(100)의 가압하는 영역은 하부 측면에 한정되지 않음은 당연하다 할 것이다.In this arrangement, as the rotating body (250) rotates counterclockwise (① in FIG. 3) or clockwise (② in FIG. 4), the pin (230) formed to be fixed to the upper portion of the rotating body (250) presses the lower side of the sensor detection device (100). At this time, it will be obvious that the area where the pin (230) presses the sensor detection device (100) is not limited to the lower side.

도 3 및 도 4를 참고하면, 복수의 위치 감지 센서(211, 213)들 사이에 위치한 센서 검출 장치(100)는 외압에 의해 기울어짐에 따라 센서 검출판(도 3의 120)이 복수의 위치 감지 센서(211, 213) 중 어느 하나에 삽입되는 형태로 접근하게 되는 것이다.Referring to FIGS. 3 and 4, a sensor detection device (100) positioned between a plurality of position detection sensors (211, 213) approaches in a form in which a sensor detection plate (120 of FIG. 3) is inserted into one of the plurality of position detection sensors (211, 213) as it is tilted by external pressure.

상술한 위치 감지 센서(211, 213)는 광 센서로 이루어져 광 신호를 송수신할 수 있다. 도 3을 참고하면, 위치 감지 센서(211, 213)는 ㄷ자 형상으로 형성되어, ㄷ자 영역의 일측에서 타측으로 광 신호를 전송할 수 있다.The above-described position detection sensor (211, 213) is formed of an optical sensor and can transmit and receive an optical signal. Referring to Fig. 3, the position detection sensor (211, 213) is formed in a T-shape and can transmit an optical signal from one side of a T-shaped area to the other side.

이러한 구조에서, 센서 검출 장치(100)는 기울어짐으로 인해 위치 감지 센서(211, 213)의 ㄷ자 영역으로 삽입되고, 위치 감지 센서(211, 213)는 광 신호의 경로가 차단되어 센싱하게 되는 것이다.In this structure, the sensor detection device (100) is inserted into the T-shaped area of the position detection sensor (211, 213) due to the tilt, and the position detection sensor (211, 213) senses because the path of the optical signal is blocked.

이후, 센서 검출 장치(100)는 기울어진 상태에서 핀(230)의 외압이 없어진 경우 기울어지기 전 수직 상태로 스스로 기립하게 되는 것이다.Afterwards, the sensor detection device (100) stands up on its own in the vertical state before being tilted when the external pressure on the pin (230) is removed.

도 5 내지 도 8은 본 발명의 실시 예에 따른 센서 검출 장치의 일 실시예를 나타내는 도면이다.FIGS. 5 to 8 are drawings showing an embodiment of a sensor detection device according to an embodiment of the present invention.

도 5을 참고하면, 센서 검출 장치(100)은 본체(110), 센서 감지판(120), 베어링(130) 및 지지체(140)를 포함할 수 있다.Referring to FIG. 5, the sensor detection device (100) may include a main body (110), a sensor detection plate (120), a bearing (130), and a support (140).

추가로, 센서 검출 장치(100)는 제1 고정부(151), 제2 고정부(153), 제3 고정부(155) 및 제4 고정부(157)를 포함할 수 있다.Additionally, the sensor detection device (100) may include a first fixing part (151), a second fixing part (153), a third fixing part (155), and a fourth fixing part (157).

도 8과 같이, 본체(110)는 베어링 하우징(111)이 형성된 구성일 수 있다.As shown in Fig. 8, the main body (110) may have a configuration in which a bearing housing (111) is formed.

이때, 본체(110)는 특정 재질에 한정되지 않으며, 운용자의 필요에 따라 센서 검출 장치(100)의 무게 분배, 재질 조건 등에 따라 임의로 결정될 수 있다.At this time, the main body (110) is not limited to a specific material, and can be arbitrarily determined according to the weight distribution, material conditions, etc. of the sensor detection device (100) according to the operator's needs.

센서 감지판(120)은 본체(110)의 일측에 연결되게 형성되어 본체(110)가 기울어짐에 따라 복수의 위치 감지 센서(211, 213) 중 어느 하나에 근접하여 센싱이 이루어지도록 하는 구성일 수 있다.The sensor detection plate (120) may be configured to be connected to one side of the main body (110) so that sensing is performed by approaching one of the plurality of position detection sensors (211, 213) as the main body (110) is tilted.

도 5 내지 도 8에서 도시하는 바와 같이, 센서 감지판(120)은 복수의 위치 감지 센서(도 3의 211, 213) 중 어느 하나에 접근하는 일측이 화살표 형상으로 형성될 수 있으며, 이에 한정되지 않는다. 예를 들어, 센서 감지판(120)의 일측은 화살표 형상이 아니더라도 위치 감지 센서(211, 213)의 광 신호 경로를 차단할 수 있는 영역에 삽입될 수 있는 형태면 가능하다 할 것이다.As shown in FIGS. 5 to 8, the sensor detection plate (120) may have one side formed in an arrow shape that approaches one of the plurality of position detection sensors (211, 213 in FIG. 3), but is not limited thereto. For example, even if one side of the sensor detection plate (120) is not in an arrow shape, it may be formed in a shape that can be inserted into an area capable of blocking the optical signal path of the position detection sensor (211, 213).

상술한 위치 감지 센서(211, 213)은 광 센서에 한정되지 않는다.The above-described position detection sensor (211, 213) is not limited to an optical sensor.

베어링(130)은 베어링 하우징(111)에 삽입되는 구성일 수 있다. 예를 들어, 도 8과 같은 베어링 하우징(111)에 베어링(130)이 삽입되어 도 6과 같이 형성될 수 있는 것이다.The bearing (130) may be configured to be inserted into a bearing housing (111). For example, the bearing (130) may be inserted into a bearing housing (111) such as that of FIG. 8 to form a structure as shown in FIG. 6.

상술한 베어링(130)은 회전 부하가 상대적으로 적은 고속 베어링일 수 있다. 고속 베어링은 일반적으로 적용하는 부싱(bushing)에 비해 회전 부하를 상대적으로 적게 적용할 수 있다는 효과를 기대할 수 있다. 이때, 부싱은 부하를 최소화하면 유격이 심해지는 현상이 발생할 수 있다. 이에 비해, 고속 베어링은 회전 부하를 적게할 수 있어, 센서 검출 장치(100)의 자립에 의한 기립에 적합할 수 있는 것이다. The bearing (130) described above may be a high-speed bearing with a relatively small rotational load. The high-speed bearing can be expected to have the effect of applying a relatively small rotational load compared to a bushing that is generally applied. At this time, when the load is minimized, the bushing may experience a phenomenon in which the play becomes severe. In contrast, the high-speed bearing can reduce the rotational load, and thus may be suitable for the self-standing of the sensor detection device (100).

지지체(140)는 본체(110)의 타측에 연결되게 형성되되, 본체(110)의 재질 보다 비중이 큰 재질로 형성될 수 있다.The support (140) is formed to be connected to the other side of the main body (110), and may be formed of a material having a greater specific gravity than the material of the main body (110).

예를 들어, 센서 감지판(120)은 알루미늄 재질로 형성되고, 지지체(140)는 구리 재질로 형성될 수 있다. 도 5를 참고하면, 센서 검출 장치(100)는 수직 기립 상태에서 지치체(140)에 비해 상대적으로 비중이 적은 재질의 센서 감지판(120)이 상부에 위치하고, 센서 감지판(120)에 비해 상대적으로 비중이 큰 재질의 지지체(140)가 하부에 위치하기 때문에, 임의의 각도로 기울어진 상태에서도 기립이 용이할 수 있는 것이다. 이때, 센서 검출 장치(100)는 도 2와 같이 가공 장비(32)의 측면에 체결되어, 회전체(250)로부터 이격되어 공중에 떠 있는 상태일 수 있다.For example, the sensor detection plate (120) may be formed of aluminum, and the support (140) may be formed of copper. Referring to FIG. 5, the sensor detection device (100) may be easily standing up even when tilted at an arbitrary angle because the sensor detection plate (120) made of a material having a relatively small specific gravity compared to the support body (140) is positioned at the top when standing vertically, and the support body (140) made of a material having a relatively large specific gravity compared to the sensor detection plate (120) is positioned at the bottom. At this time, the sensor detection device (100) may be attached to the side of the processing equipment (32) as shown in FIG. 2, and may be floating in the air, separated from the rotating body (250).

상술한 지지체(140)는 구리 재질에 한정되지 않고, 센서 검출 장치(100)의 자립으로 인한 기립을 위해 전체 무게의 약 25%에 해당하는 무게의 재질로 적용할 수 있다. 이때, 지지체(140)의 무게 역시 25%에 한정되지 않고, 운용자의 필요에 따라 변경 적용할 수 있다.The support (140) described above is not limited to copper material, and may be applied with a material having a weight corresponding to about 25% of the total weight for the self-standing of the sensor detection device (100). At this time, the weight of the support (140) is also not limited to 25%, and may be changed and applied according to the operator's needs.

도 7을 참고하면, 제1 고정부(151)은 베어링(130)을 베어링 하우징(111)에 체결하기 위해 베어링(130) 및 베어링 하우징(111)을 관통하는 형태로 삽입될 수 있다.Referring to FIG. 7, the first fixing member (151) can be inserted in a form penetrating the bearing (130) and the bearing housing (111) to fasten the bearing (130) to the bearing housing (111).

제2 고정부(153)는 제1 고정부(151)의 일측에 조여지는 형태로 형성되어 베어링(130)을 베어링 하우징(111)에 체결시키는 구성일 수 있다.The second fixed part (153) may be formed in a form that is tightened to one side of the first fixed part (151) to fasten the bearing (130) to the bearing housing (111).

제3 고정부(155)는 본체(110)와 센서 감지판(120)을 체결하기 위한 구성일 수 있다.The third fixed part (155) may be configured to fasten the main body (110) and the sensor detection plate (120).

본체(110)와 센서 감지판(120)이 도 8과 같이 분리되어 있는 상태에서, 제3 고정부(155)를 통해 본체(110)와 센서 감지판(120)을 체결하는 것이다.The main body (110) and the sensor detection plate (120) are separated as shown in FIG. 8, and the main body (110) and the sensor detection plate (120) are fastened through the third fixing part (155).

제4 고정부(157)는 본체(110)와 지지체(140)를 체결하기 위한 구성일 수 있다. The fourth fixed part (157) may be configured to fasten the main body (110) and the support (140).

도 9 내지 도 12는 본 발명의 실시 예에 따른 센서 검출 장치의 다른 실시예를 나타내는 도면이다.FIGS. 9 to 12 are drawings showing other embodiments of a sensor detection device according to an embodiment of the present invention.

이하에서는, 지지체(160)에 자성체(170)가 추가 적용되는 경우를 예로 들어 설명하기로 한다.Below, a case in which a magnetic body (170) is additionally applied to a support (160) will be described as an example.

도 9 내지 도 12를 참고하면, 센서 검출 장치(100)는 본체(110), 센서 감지판(120), 베어링(130), 지지체(160), 자성체(170) 및 지지 플레이트(252)를 포함할 수 있다.Referring to FIGS. 9 to 12, the sensor detection device (100) may include a main body (110), a sensor detection plate (120), a bearing (130), a support (160), a magnetic body (170), and a support plate (252).

추가로, 센서 검출 장치(100)는 제1 고정부(151), 제2 고정부(153), 제3 고정부(155) 및 제4 고정부(157)를 포함할 수 있다.Additionally, the sensor detection device (100) may include a first fixing part (151), a second fixing part (153), a third fixing part (155), and a fourth fixing part (157).

도 11과 같이, 본체(110)는 베어링 하우징(111)이 형성된 구성일 수 있다.As shown in Fig. 11, the main body (110) may have a configuration in which a bearing housing (111) is formed.

센서 감지판(120)은 본체(110)의 일측에 연결되게 형성되어 본체(110)가 기울어짐에 따라 복수의 위치 감지 센서(도 3의 211, 213) 중 어느 하나에 근접하여 센싱이 이루어지도록 하는 구성일 수 있다.The sensor detection plate (120) may be formed to be connected to one side of the main body (110) so that sensing is performed by approaching one of the plurality of position detection sensors (211, 213 of FIG. 3) as the main body (110) is tilted.

센서 감지판(120)은 알루미늄 재질로 형성될 수 있으나, 이에 한정되지 않는다.The sensor detection plate (120) may be formed of aluminum material, but is not limited thereto.

도 9 내지 도 12에서 도시하는 바와 같이, 센서 감지판(120)은 복수의 위치 감지 센서(211, 213) 중 어느 하나에 접근하는 일측이 화살표 형상으로 형성될 수 있다.As shown in FIGS. 9 to 12, the sensor detection plate (120) may have one side formed in an arrow shape that approaches one of the plurality of position detection sensors (211, 213).

베어링(130)은 베어링 하우징(111)에 삽입되는 구성일 수 있다. 예를 들어, 도 11과 같은 베어링 하우징(111)에 베어링(130)이 삽입되어 도 10과 같이 형성될 수 있는 것이다.The bearing (130) may be configured to be inserted into a bearing housing (111). For example, the bearing (130) may be inserted into a bearing housing (111) such as that of FIG. 11 to form a structure as shown in FIG. 10.

상술한 베어링(130)은 회전 부하가 상대적으로 적은 고속 베어링일 수 있다. 고속 베어링은 일반적으로 적용하는 부싱(bushing)에 비해 회전 부하를 상대적으로 적게 적용할 수 있다는 효과를 기대할 수 있다. 이때, 부싱은 부하를 최소화하면 유격이 심해지는 현상이 발생할 수 있기 때문에, 회전 부하를 적게하기 위해서는 부싱에 비해 고속 베어링이 더 적합할 수 있다. The bearing (130) described above may be a high-speed bearing with a relatively small rotational load. The high-speed bearing can be expected to have the effect of applying a relatively small rotational load compared to a bushing that is generally applied. At this time, since the bushing may experience a phenomenon in which the play becomes severe when the load is minimized, a high-speed bearing may be more suitable than a bushing in order to reduce the rotational load.

도 11과 같이, 지지체(160)는 본체(110)의 타측에 연결되게 형성되되, 하부면으로부터 상부 방향으로 기 설정된 깊이의 삽입홈(162)이 형성될 수 있다.As shown in Fig. 11, the support (160) is formed to be connected to the other side of the main body (110), and an insertion groove (162) of a preset depth may be formed from the lower surface in an upward direction.

상기 지지체(160)는 본체(110)의 재질 보다 비중이 큰 재질로 형성될 수 있다.The above support (160) may be formed of a material having a greater specific gravity than the material of the main body (110).

도 11을 참고하면, 자성체(170)는 삽입홈(162)에 삽입되는 형태로 형성될 수 있다.Referring to Fig. 11, the magnetic body (170) can be formed in a form that is inserted into the insertion groove (162).

상기 자성체는 네오디움 자석으로 이루어질 수 있으며, 이에 한정되지 않는다.The above magnetic body may be formed of a neodymium magnet, but is not limited thereto.

도 12를 참고하면, 지지 플레이트(252)는 지지체(160)의 하부면에 위치하고, 자성체(170)와 접촉되는 영역이 금속 재질로 형성될 수 있다.Referring to FIG. 12, the support plate (252) is located on the lower surface of the support body (160), and the area in contact with the magnetic body (170) may be formed of a metal material.

도 12를 참고하면, 상술한 자성체(170)와 지지 플레이트(252)는 서로 자력이 발생할 수 있기 때문에, 센서 검출 장치(100)에 별다른 외압이 작용하지 않는 경우에는 (a)와 같을 수 있다. 만약, (b)와 (c)의 경우와 같이, 센서 검출 장치(100)에 핀(230)에 의한 미는 힘이 발생하는 경우, 자성체(170)와 지지 플레이트(252) 간에 발생하는 자력으로 인해 미는 힘이 발생하는 반대 방향으로 복원력이 발생하여, 센서 검출 장치(100)는 (a)와 같은 수직 자립이 더 용이할 수 있는 것이다.Referring to Fig. 12, since the magnetic body (170) and the support plate (252) described above can generate magnetic force on each other, if no external pressure is applied to the sensor detection device (100), it can be as in (a). If, as in cases (b) and (c), a pushing force is generated on the sensor detection device (100) by the pin (230), a restoring force is generated in the opposite direction to the pushing force due to the magnetic force generated between the magnetic body (170) and the support plate (252), so that the sensor detection device (100) can more easily achieve vertical independence as in (a).

도 11을 참고하면, 제1 고정부(151)은 베어링(130)을 베어링 하우징(111)에 체결하기 위해 베어링(130) 및 베어링 하우징(111)을 관통하는 형태로 삽입될 수 있다.Referring to FIG. 11, the first fixing member (151) can be inserted in a form that penetrates the bearing (130) and the bearing housing (111) to fasten the bearing (130) to the bearing housing (111).

제2 고정부(153)는 제1 고정부(151)의 일측에 조여지는 형태로 형성되어 베어링(130)을 베어링 하우징(111)에 체결시키는 구성일 수 있다.The second fixed part (153) may be formed in a form that is tightened to one side of the first fixed part (151) to fasten the bearing (130) to the bearing housing (111).

제3 고정부(155)는 본체(110)와 센서 감지판(120)을 체결하기 위한 구성일 수 있다.The third fixed part (155) may be configured to fasten the main body (110) and the sensor detection plate (120).

제4 고정부(157)는 본체(110)와 지지체(140)를 체결하기 위한 구성일 수 있다.The fourth fixed part (157) may be configured to fasten the main body (110) and the support (140).

도 13은 본 발명의 실시 예에 따른 반도체 장치의 구성을 나타내는 도면이다.FIG. 13 is a drawing showing the configuration of a semiconductor device according to an embodiment of the present invention.

도 13을 참고하면, 반도체 장치(30)는 통신부(201), 위치 감지 센서(210), 핀(230), 회전체(250), 구동부(270), 컨트롤러(290) 및 센서 검출 장치(100)를 포함할 수 있다.Referring to FIG. 13, the semiconductor device (30) may include a communication unit (201), a position detection sensor (210), a pin (230), a rotor (250), a driving unit (270), a controller (290), and a sensor detection device (100).

통신부(201)는 반도체 장치(30)와 외부 장치 간의 데이터 송수신을 위한 통신을 수행하기 위한 구성일 수 있다. 예를 들어, 컨트롤러(290)를 통해 파악된 가공 장비(도 2의 32)의 회전 위치를 운용자 단말기(미도시) 등에 전달하고, 운용자 단말기로부터 전달되는 데이터를 수신할 수 있다.The communication unit (201) may be configured to perform communication for data transmission and reception between the semiconductor device (30) and an external device. For example, the rotational position of the processing equipment (32 in FIG. 2) identified through the controller (290) may be transmitted to an operator terminal (not shown), and data transmitted from the operator terminal may be received.

위치 감지 센서(210)는 특정 대상물의 접근을 감지하기 위한 구성으로서, 본 실시예에서는 복수 개로 이루어질 수 있다.The position detection sensor (210) is configured to detect the approach of a specific object, and may be composed of multiple sensors in this embodiment.

위치 감지 센서(210)는 광 센서로 이루어져 광 신호를 송수신할 수 있다. 도 3을 참고하면, 위치 감지 센서(211, 213)는 ㄷ자 형상으로 형성되어, ㄷ자 영역의 일측에서 타측으로 광 신호를 전송할 수 있다.The position detection sensor (210) is composed of an optical sensor and can transmit and receive optical signals. Referring to Fig. 3, the position detection sensor (211, 213) is formed in a T-shape and can transmit optical signals from one side of the T-shaped area to the other side.

이러한 구조에서, 센서 검출 장치(100)는 기울어짐으로 인해 위치 감지 센서(211, 213)의 ㄷ자 영역으로 삽입되고, 위치 감지 센서(211, 213)는 광 신호의 경로가 차단되는 것을 통해 위치를 센싱하게 되는 것이다.In this structure, the sensor detection device (100) is inserted into the T-shaped area of the position detection sensor (211, 213) due to the tilt, and the position detection sensor (211, 213) senses the position by blocking the path of the optical signal.

본 실시예에서는 위치 감지 센서(211, 213)를 광 센서로 예로 들어 설명하였지만, 이에 한정되지 않고 센서 검출 장치(100)의 근접을 인지할 수 있는 센서라면 모두 적용 가능하다 할 것이다. 예를 들어, 위치 감지 센서(211, 213)은 NFC(near field communication)와 같이 무선 근거리 통신 방식을 이용한 근접 센서 등 다양한 센서로 구현 가능할 수 있다.In this embodiment, the position detection sensor (211, 213) is described as an example of a light sensor, but it is not limited thereto and any sensor that can detect proximity to the sensor detection device (100) may be applied. For example, the position detection sensor (211, 213) may be implemented as various sensors such as a proximity sensor using a wireless short-range communication method such as NFC (near field communication).

핀(230)은 센서 검출 장치(100)의 측면을 가압하여 제1 방향 및 제2 방향 중 어느 한 방향으로 기울어지도록 하는 구성일 수 있다.The pin (230) may be configured to pressurize the side of the sensor detection device (100) to cause it to tilt in either the first direction or the second direction.

핀(230)은 센서 검출 장치(100)의 접촉하는 영역의 재질을 고려하여, 재질이 결정될 수 있다. 예를 들어, 센서 검출 장치(100)의 접촉 영역이 자성체를 포함하는 경우, 핀(230)은 상술한 자성체에 영향을 받지 않는 재질(예를 들어, 절연 재질)로 이루어져야 할 것이다. 만약, 도 10과 같이 지지체(160)에 자성체(170)가 형성된 타입의 센서 검출 장치(100)인 경우, 핀(230)은 자성체(170)에 영향을 받지 않는 재질로 이루어져야 할 것이다.The pin (230) may be made of a material that is determined by considering the material of the contact area of the sensor detection device (100). For example, if the contact area of the sensor detection device (100) includes a magnetic body, the pin (230) should be made of a material (e.g., an insulating material) that is not affected by the magnetic body described above. If the sensor detection device (100) is of a type in which a magnetic body (170) is formed on a support (160) as shown in FIG. 10, the pin (230) should be made of a material that is not affected by the magnetic body (170).

회전체(250)는 상부에 핀(230) 및 가공 장비(도 2의 32)가 형성되어 가공 장비의 구동에 따라 회전하는 구성일 수 있다. The rotating body (250) may be configured to have a pin (230) and a processing device (32 in FIG. 2) formed on the upper portion, and to rotate according to the operation of the processing device.

구동부(270)는 회전체(250)를 구동시키기 위한 구성일 수 있다.The driving unit (270) may be configured to drive the rotating body (250).

센서 검출 장치(100)는 핀(230)이 가압함에 따라 제1 방향(도 3의 ①) 및 제2 방향(도 3의 ②) 중 어느 한 방향으로 기울어져 복수의 위치 감지 센서(211, 213) 중 어느 하나에 근접하는 구성일 수 있다.The sensor detection device (100) may be configured to tilt in one of the first direction (① in FIG. 3) and the second direction (② in FIG. 3) as the pin (230) is pressed, and to approach one of the plurality of position detection sensors (211, 213).

도 5을 참고하면, 센서 검출 장치(100)은 본체(110), 센서 감지판(120), 베어링(130) 및 지지체(140)를 포함할 수 있다.Referring to FIG. 5, the sensor detection device (100) may include a main body (110), a sensor detection plate (120), a bearing (130), and a support (140).

추가로, 센서 검출 장치(100)는 제1 고정부(151), 제2 고정부(153), 제3 고정부(155) 및 제4 고정부(157)를 포함할 수 있다.Additionally, the sensor detection device (100) may include a first fixing part (151), a second fixing part (153), a third fixing part (155), and a fourth fixing part (157).

도 8과 같이, 본체(110)는 베어링 하우징(111)이 형성된 구성일 수 있다.As shown in Fig. 8, the main body (110) may have a configuration in which a bearing housing (111) is formed.

센서 감지판(120)은 본체(110)의 일측에 연결되게 형성되어 본체(110)가 기울어짐에 따라 복수의 위치 감지 센서(211, 213) 중 어느 하나에 근접하여 센싱이 이루어지도록 하는 구성일 수 있다.The sensor detection plate (120) may be configured to be connected to one side of the main body (110) so that sensing is performed by approaching one of the plurality of position detection sensors (211, 213) as the main body (110) is tilted.

도 5 내지 도 8에서 도시하는 바와 같이, 센서 감지판(120)은 복수의 위치 감지 센서(211, 213) 중 어느 하나에 접근하는 일측이 화살표 형상으로 형성될 수 있으나, 이에 한정되지 않는다.As shown in FIGS. 5 to 8, the sensor detection plate (120) may have one side formed in an arrow shape approaching one of the plurality of position detection sensors (211, 213), but is not limited thereto.

베어링(130)은 베어링 하우징(111)에 삽입되는 구성일 수 있다. 예를 들어, 도 8과 같은 베어링 하우징(111)에 베어링(130)이 삽입되어 도 6과 같이 형성될 수 있는 것이다.The bearing (130) may be configured to be inserted into a bearing housing (111). For example, the bearing (130) may be inserted into a bearing housing (111) such as that of FIG. 8 to form a structure as shown in FIG. 6.

상술한 베어링(130)은 회전 부하가 상대적으로 적은 고속 베어링일 수 있다. 고속 베어링은 일반적으로 적용하는 부싱(bushing)에 비해 회전 부하를 상대적으로 적게 적용할 수 있다는 효과를 기대할 수 있다. 이때, 부싱은 부하를 최소화하면 유격이 심해지는 현상이 발생할 수 있기 때문에, 회전 부하를 적게하기 위해서는 부싱에 비해 고속 베어링이 더 적합할 수 있다. The bearing (130) described above may be a high-speed bearing with a relatively small rotational load. The high-speed bearing can be expected to have the effect of applying a relatively small rotational load compared to a bushing that is generally applied. At this time, since the bushing may experience a phenomenon in which the play becomes severe when the load is minimized, a high-speed bearing may be more suitable than a bushing in order to reduce the rotational load.

지지체(140, 160)는 도 5 및 도 9 중 어느 하나와 같을 수 있다.The support (140, 160) may be as in either FIG. 5 or FIG. 9.

이하에서는, 2가지 경우를 예로 들어 설명하기로 한다.Below, we will explain two cases as examples.

일 예로, 도 5를 참고하면, 지지체(140)는 본체(110)의 타측에 연결되게 형성되되, 본체(110)의 재질 보다 비중이 큰 재질로 형성될 수 있다.For example, referring to FIG. 5, the support (140) is formed to be connected to the other side of the main body (110), but may be formed of a material having a greater specific gravity than the material of the main body (110).

예를 들어, 센서 감지판(120)은 알루미늄 재질로 형성되고, 지지체(140)는 구리 재질로 형성될 수 있다. 지지체(140)는 구리 재질에 한정되지 않고, 센서 검출 장치(100)의 자립으로 인한 기립을 위해 전체 무게의 약 25%에 해당하는 무게의 재질로 적용할 수 있다. 이때, 지지체(140)의 무게 역시 25%에 한정되지 않고, 운용자의 필요에 따라 변경 적용할 수 있다 할 것이다.For example, the sensor detection plate (120) may be formed of aluminum, and the support (140) may be formed of copper. The support (140) is not limited to copper, and may be applied with a material having a weight corresponding to about 25% of the total weight for the self-standing of the sensor detection device (100). At this time, the weight of the support (140) is also not limited to 25%, and may be changed and applied according to the operator's needs.

도 7을 참고하면, 제1 고정부(151)은 베어링(130)을 베어링 하우징(111)에 체결하기 위해 베어링(130) 및 베어링 하우징(111)을 관통하는 형태로 삽입될 수 있다.Referring to FIG. 7, the first fixing member (151) can be inserted in a form penetrating the bearing (130) and the bearing housing (111) to fasten the bearing (130) to the bearing housing (111).

상술한 제1 고정부(151)는 제2 고정부(153)와 조여진 상태에서 길이방향으로 제2 고정부(153)로부터 돌출된 영역이 존재하도록 형성될 수 있다.The first fixed part (151) described above can be formed so that, when tightened with the second fixed part (153), there is a region that protrudes from the second fixed part (153) in the longitudinal direction.

도 2를 참고하면, 상기 돌출된 영역은 가공 장비(32)의 측면에 체결되어 센서 검출 장치(100)가 회전체(250)의 상부면으로부터 이격되게 위치하되, 핀(230)이 센서 검출 장치(100)를 가압할 수 있는 이격 거리 내에서 이격되게 형성될 수 있다.Referring to FIG. 2, the protruding area may be formed such that the sensor detection device (100) is positioned apart from the upper surface of the rotating body (250) by being attached to the side of the processing equipment (32), but within a distance that allows the pin (230) to press the sensor detection device (100).

제2 고정부(153)는 제1 고정부(151)의 일측에 조여지는 형태로 형성되어 베어링(130)을 베어링 하우징(111)에 체결시키는 구성일 수 있다.The second fixed part (153) may be formed in a form that is tightened to one side of the first fixed part (151) to fasten the bearing (130) to the bearing housing (111).

제3 고정부(155)는 본체(110)와 센서 감지판(120)을 체결하기 위한 구성일 수 있다.The third fixed part (155) may be configured to fasten the main body (110) and the sensor detection plate (120).

본체(110)와 센서 감지판(120)이 도 8과 같이 분리되어 있는 상태에서, 제3 고정부(155)를 통해 본체(110)와 센서 감지판(120)을 체결하는 것이다.The main body (110) and the sensor detection plate (120) are separated as shown in FIG. 8, and the main body (110) and the sensor detection plate (120) are fastened through the third fixing part (155).

제4 고정부(157)는 본체(110)와 지지체(140)를 체결하기 위한 구성일 수 있다. The fourth fixed part (157) may be configured to fasten the main body (110) and the support (140).

다른 예로, 도 9 및 도 11을 참고하면, 지지체(160)는 하부면으로부터 상부 방향으로 기 설정된 깊이의 삽입홈(162)이 형성될 수 있다.As another example, referring to FIGS. 9 and 11, the support (160) may have an insertion groove (162) formed with a preset depth from the lower surface to the upper surface.

다른 예의 지지체(160)를 적용하는 경우, 센서 검출 장치(100)는 삽입홈(162)에 삽입되는 형태로 형성되는 자성체(170) 및 지지체(160)의 하부면에 위치하고, 자성체(170)와 접촉되는 영역이 금속 재질로 형성된 지지 플레이트(252)를 더 포함할 수 있다.When applying another example of a support (160), the sensor detection device (100) may further include a magnetic body (170) formed in a form that is inserted into an insertion groove (162) and a support plate (252) positioned on the lower surface of the support (160) and having an area in contact with the magnetic body (170) formed of a metal material.

이때, 자성체(170)는 네오디움 자석으로 이루어질 수 있으며, 이에 한정되지 않는다. At this time, the magnetic body (170) may be made of a neodymium magnet, but is not limited thereto.

삽입홈(162)에 자성체가 삽입되는 경우, 핀(230)은 절연 재질로 형성될 수 있다.When a magnetic body is inserted into the insertion groove (162), the pin (230) may be formed of an insulating material.

지지 플레이트(252)는 핀(230) 및 가공 장비(32)와 회전체(250) 사이에 형성되되, 회전체(250) 상부면에 별도로 형성되거나 또는 회전체(250)와 일체형으로 형성될 수 있다.The support plate (252) is formed between the pin (230) and the processing equipment (32) and the rotating body (250), and may be formed separately on the upper surface of the rotating body (250) or formed integrally with the rotating body (250).

컨트롤러(290)는 구동부(270)의 구동을 제어하고, 복수의 위치 감지 센서(211, 213) 중 어느 하나로부터 전송되는 센싱 정보를 기초로 가공 장비(32)의 회전 위치를 파악할 수 있다.The controller (290) controls the operation of the driving unit (270) and can determine the rotational position of the processing equipment (32) based on sensing information transmitted from one of a plurality of position detection sensors (211, 213).

컨트롤러(290)는 통신부(201)를 통해 가공 장비(32)의 회전 위치를 운용자 단말기 등에 전송한 후, 회신되는 제어 정보 등을 수신할 수 있다.The controller (290) can transmit the rotational position of the processing equipment (32) to an operator terminal, etc. through the communication unit (201), and then receive the control information, etc. in return.

본 발명이 속하는 기술분야의 통상의 기술자는 본 발명이 그 기술적 사상이나 필수적 특징을 변경하지 않고서 다른 구체적인 형태로 실시될 수 있으므로, 이상에서 기술한 실시 예들은 모든 면에서 예시적인 것이며 한정적이 아닌 것으로서 이해해야만 한다. 본 발명의 범위는 상기 상세한 설명보다는 후술하는 특허청구범위에 의하여 나타내어지며, 특허청구범위의 의미 및 범위 그리고 그 등가개념으로부터 도출되는 모든 변경 또는 변형된 형태가 본 발명의 범위에 포함되는 것으로 해석되어야 한다.Those skilled in the art should understand that the present invention can be implemented in other specific forms without changing the technical idea or essential characteristics thereof, and thus the embodiments described above are exemplary in all respects and not restrictive. The scope of the present invention is indicated by the claims described below rather than the detailed description above, and all changes or modifications derived from the meaning and scope of the claims and their equivalents should be interpreted as being included in the scope of the present invention.

100: 센서 감지 장치
110: 본체
120: 센서 감지판
130: 베어링
140, 160: 지지체
200: 반도체 장치
210, 211, 213: 위치 감지 센서
230: 핀
250: 회전체
100: Sensor detection device
110: Body
120: Sensor detection plate
130: Bearing
140, 160: Support
200: Semiconductor devices
210, 211, 213: Position detection sensor
230: pin
250: Rotor

Claims (22)

베어링 하우징이 형성된 본체;
상기 본체의 일측에 연결되게 형성되어 상기 본체가 기울어짐에 따라 복수의 위치 감지 센서 중 어느 하나에 근접하여 센싱이 이루어지도록 하는 센서 감지판;
상기 베어링 하우징에 삽입되는 베어링;
상기 본체의 타측에 연결되게 형성되되, 상기 본체의 재질 보다 비중이 큰 재질로 형성된 지지체; 및
상기 본체와 상기 지지체를 체결하기 위한 제4 고정부,
를 포함하는 센서 검출 장치.
A body in which a bearing housing is formed;
A sensor detection plate formed to be connected to one side of the main body so that sensing is performed by approaching one of the plurality of position detection sensors as the main body is tilted;
A bearing inserted into the above bearing housing;
A support formed to be connected to the other side of the main body, but formed of a material having a higher specific gravity than the material of the main body; and
A fourth fixing member for connecting the above main body and the above support,
A sensor detection device comprising:
제1항에 있어서,
상기 센서 감지판은 알루미늄 재질로 형성되고, 상기 지지체는 구리 재질로 형성되는 센서 검출 장치.
In the first paragraph,
A sensor detection device wherein the sensor detection plate is formed of aluminum material and the support is formed of copper material.
제1항에 있어서,
상기 센서 감지판은,
상기 복수의 위치 감지 센서 중 어느 하나에 접근하는 일측이 화살표 형상으로 형성된 센서 검출 장치.
In the first paragraph,
The above sensor detection plate,
A sensor detection device having one side formed in the shape of an arrow that approaches one of the above plurality of position detection sensors.
제1항에 있어서,
상기 베어링을 상기 베어링 하우징에 체결하기 위해 상기 베어링 및 상기 베어링 하우징을 관통하는 형태로 삽입되는 제1 고정부; 및
상기 제1 고정부의 일측에 조여지는 형태로 형성되어 상기 베어링을 상기 베어링 하우징에 체결시키는 제2 고정부,
를 더 포함하는 센서 검출 장치.
In the first paragraph,
A first fixing member inserted in a form penetrating the bearing and the bearing housing to fasten the bearing to the bearing housing; and
A second fixing part formed in a form that is tightened to one side of the first fixing part and connects the bearing to the bearing housing;
A sensor detection device further comprising:
제1항에 있어서,
상기 본체와 상기 센서 감지판을 체결하기 위한 제3 고정부,
를 더 포함하는 센서 검출 장치.
In the first paragraph,
A third fixing part for connecting the above body and the above sensor detection plate,
A sensor detection device further comprising:
베어링 하우징이 형성된 본체;
상기 본체의 일측에 연결되게 형성되어 상기 본체가 기울어짐에 따라 복수의 위치 감지 센서 중 어느 하나에 근접하여 센싱이 이루어지도록 하는 센서 감지판;
상기 베어링 하우징에 삽입되는 베어링;
상기 본체의 타측에 연결되게 형성되되, 하부면으로부터 상부 방향으로 기 설정된 깊이의 삽입홈이 형성된 지지체;
상기 삽입홈에 삽입되는 형태로 형성되는 자성체; 및
상기 지지체의 하부면에 위치하고, 상기 자성체와 접촉되는 영역이 금속 재질로 형성된 지지 플레이트를 포함하고,
상기 자성체 및 상기 지지 플레이트 간에 발생하는 자력으로 인해 수직 자립을 위한 복원력이 발생하는 센서 검출 장치.
A body in which a bearing housing is formed;
A sensor detection plate formed to be connected to one side of the main body so that sensing is performed by approaching one of the plurality of position detection sensors as the main body is tilted;
A bearing inserted into the above bearing housing;
A support formed to be connected to the other side of the main body, and having an insertion groove formed with a preset depth in an upward direction from the lower surface;
A magnetic body formed in a form that is inserted into the above insertion groove; and
A support plate is located on the lower surface of the support body and includes a region formed of a metal material that comes into contact with the magnetic body.
A sensor detection device in which a restoring force for vertical independence is generated due to the magnetic force generated between the above-mentioned magnetic body and the above-mentioned support plate.
제6항에 있어서,
상기 자성체는 네오디움 자석으로 이루어진 센서 검출 장치.
In Article 6,
The above magnetic body is a sensor detection device made of a neodymium magnet.
제6항에 있어서,
상기 센서 감지판은 알루미늄 재질로 형성되고, 상기 지지체는 상기 본체의 재질 보다 비중이 큰 재질로 형성되는 센서 검출 장치.
In Article 6,
A sensor detection device in which the above sensor detection plate is formed of aluminum material and the support is formed of a material having a higher specific gravity than the material of the main body.
제6항에 있어서,
상기 센서 감지판은,
상기 복수의 위치 감지 센서 중 어느 하나에 접근하는 일측이 화살표 형상으로 형성된 센서 검출 장치.
In Article 6,
The above sensor detection plate,
A sensor detection device having one side formed in the shape of an arrow that approaches one of the above plurality of position detection sensors.
제6항에 있어서,
상기 베어링을 상기 베어링 하우징에 체결하기 위해 상기 베어링 및 상기 베어링 하우징을 관통하는 형태로 삽입되는 제1 고정부; 및
상기 제1 고정부의 일측에 조여지는 형태로 형성되어 상기 베어링을 상기 베어링 하우징에 체결시키는 제2 고정부,
를 더 포함하는 센서 검출 장치.
In Article 6,
A first fixing member inserted in a form penetrating the bearing and the bearing housing to fasten the bearing to the bearing housing; and
A second fixing part formed in a form that is tightened to one side of the first fixing part and connects the bearing to the bearing housing;
A sensor detection device further comprising:
제6항에 있어서,
상기 본체와 상기 센서 감지판을 체결하기 위한 제3 고정부; 및
상기 본체와 상기 지지체를 체결하기 위한 제4 고정부,
를 더 포함하는 센서 검출 장치.
In Article 6,
A third fixing member for connecting the main body and the sensor detection plate; and
A fourth fixing member for connecting the above main body and the above support,
A sensor detection device further comprising:
특정 대상물의 접근을 감지하기 위한 복수의 위치 감지 센서;
센서 검출 장치의 측면을 가압하여 제1 방향 및 제2 방향 중 어느 한 방향으로 기울어지도록 하는 핀;
상기 핀이 가압함에 따라 상기 제1 방향 및 상기 제2 방향 중 어느 한 방향으로 기울어져 상기 복수의 위치 감지 센서 중 어느 하나에 근접하는 센서 검출 장치;
상부에 상기 핀 및 가공 장비가 형성되어 상기 가공 장비의 구동에 따라 회전하는 회전체;
상기 회전체를 구동시키기 위한 구동부; 및
상기 구동부의 구동을 제어하고, 상기 복수의 위치 감지 센서 중 어느 하나로부터 전송되는 센싱 정보를 기초로 상기 가공 장비의 회전 위치를 파악하는 컨트롤러를 포함하되,
상기 센서 검출 장치는,
베어링 하우징이 형성된 본체, 상기 본체의 일측에 연결되게 형성되어 상기 본체가 기울어짐에 따라 복수의 위치 감지 센서 중 어느 하나에 근접하여 센싱이 이루어지도록 하는 센서 감지판, 상기 베어링 하우징에 삽입되는 베어링, 상기 본체의 타측에 연결되게 형성되되, 상기 본체의 재질 보다 비중이 큰 재질로 형성된 지지체 및 상기 본체와 상기 지지체를 체결하기 위한 제4 고정부,
를 포함하는 반도체 장치.
Multiple position detection sensors for detecting the approach of a specific object;
A pin for pressing the side of a sensor detection device to cause it to tilt in either the first direction or the second direction;
A sensor detection device that tilts in one of the first direction and the second direction as the pin is pressed and approaches one of the plurality of position detection sensors;
A rotating body formed with the above pins and processing equipment at the upper part and rotating according to the driving of the processing equipment;
A driving unit for driving the above-mentioned rotating body; and
Including a controller that controls the driving of the above driving unit and determines the rotational position of the processing equipment based on sensing information transmitted from any one of the plurality of position detection sensors,
The above sensor detection device,
A body having a bearing housing formed thereon, a sensor detection plate formed to be connected to one side of the body so that sensing is performed by approaching one of a plurality of position detection sensors as the body is tilted, a bearing inserted into the bearing housing, a support formed to be connected to the other side of the body and made of a material having a higher specific gravity than the material of the body, and a fourth fixing member for connecting the body and the support.
A semiconductor device comprising:
삭제delete 제12항에 있어서,
상기 센서 감지판은 알루미늄 재질로 형성되고, 상기 지지체는 구리 재질로 형성되는 반도체 장치.
In Article 12,
A semiconductor device in which the sensor detection plate is formed of aluminum material and the support is formed of copper material.
제12항에 있어서,
상기 센서 감지판은,
상기 복수의 센서 중 어느 하나에 접근하는 일측이 화살표 형상으로 형성된 반도체 장치.
In Article 12,
The above sensor detection plate,
A semiconductor device having one side formed in the shape of an arrow that approaches one of the above multiple sensors.
제12항에 있어서,
상기 센서 검출 장치는,
상기 베어링을 상기 베어링 하우징에 체결하기 위해 상기 베어링 및 상기 베어링 하우징을 관통하는 형태로 삽입되는 제1 고정부; 및
상기 제1 고정부의 일측에 조여지는 형태로 형성되어 상기 베어링을 상기 베어링 하우징에 체결시키는 제2 고정부,
를 더 포함하는 반도체 장치.
In Article 12,
The above sensor detection device,
A first fixing member inserted in a form penetrating the bearing and the bearing housing to fasten the bearing to the bearing housing; and
A second fixing part formed in a form that is tightened to one side of the first fixing part and connects the bearing to the bearing housing;
A semiconductor device further comprising:
제16항에 있어서,
상기 제1 고정부는,
상기 제2 고정부와 조여진 상태에서 길이방향으로 상기 제2 고정부로부터 돌출된 영역이 존재하도록 형성되고,
상기 돌출된 영역은 상기 가공 장비의 측면에 체결되어 상기 센서 검출 장치가 상기 회전체의 상부면으로부터 이격되게 위치하되, 상기 핀이 상기 센서 검출 장치를 가압할 수 있는 이격 거리 내에서 이격되게 형성된 반도체 장치.
In Article 16,
The above first fixed part is,
It is formed so that a region protrudes from the second fixing part in the longitudinal direction while being tightened with the second fixing part,
A semiconductor device in which the protruding region is attached to a side of the processing equipment so that the sensor detection device is positioned apart from the upper surface of the rotating body, but is formed within a distance that allows the pin to press the sensor detection device.
제12항에 있어서,
상기 센서 검출 장치는,
상기 본체와 상기 센서 감지판을 체결하기 위한 제3 고정부,
를 더 포함하는 반도체 장치.
In Article 12,
The above sensor detection device,
A third fixing part for connecting the above body and the above sensor detection plate,
A semiconductor device further comprising:
제12항에 있어서,
상기 지지체는 하부면으로부터 상부 방향으로 기 설정된 깊이의 삽입홈이 형성되고,
상기 센서 검출 장치는,
상기 삽입홈에 삽입되는 형태로 형성되는 자성체; 및
상기 지지체의 하부면에 위치하고, 상기 자성체와 접촉되는 영역이 금속 재질로 형성된 지지 플레이트,
를 더 포함하는 반도체 장치.
In Article 12,
The above support has an insertion groove formed with a preset depth in the upward direction from the lower surface,
The above sensor detection device,
A magnetic body formed in a form that is inserted into the above insertion groove; and
A support plate located on the lower surface of the support body and having an area in contact with the magnetic body formed of a metal material,
A semiconductor device further comprising:
제19항에 있어서,
상기 자성체는 네오디움 자석으로 이루어진 반도체 장치.
In Article 19,
The above magnetic body is a semiconductor device made of a neodymium magnet.
제19항에 있어서,
상기 삽입홈에 상기 자성체가 삽입되는 경우,
상기 핀은 절연 재질로 형성되는 반도체 장치.
In Article 19,
When the magnetic body is inserted into the above insertion groove,
The above pin is a semiconductor device formed of an insulating material.
제19항에 있어서,
상기 지지 플레이트는,
상기 핀 및 가공 장비와 상기 회전체 사이에 형성되되, 상기 회전체 상부면에 별도로 형성되거나 또는 상기 회전체와 일체형으로 형성되는 반도체 장치.
In Article 19,
The above support plate,
A semiconductor device formed between the above pin and processing equipment and the above rotor, wherein the semiconductor device is formed separately on the upper surface of the above rotor or formed integrally with the above rotor.
KR1020200097795A 2020-08-05 2020-08-05 Sensor detection device and semiconductor apparatus using the same Active KR102779917B1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020200097795A KR102779917B1 (en) 2020-08-05 2020-08-05 Sensor detection device and semiconductor apparatus using the same

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020200097795A KR102779917B1 (en) 2020-08-05 2020-08-05 Sensor detection device and semiconductor apparatus using the same

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20220017612A KR20220017612A (en) 2022-02-14
KR102779917B1 true KR102779917B1 (en) 2025-03-12

Family

ID=80253844

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020200097795A Active KR102779917B1 (en) 2020-08-05 2020-08-05 Sensor detection device and semiconductor apparatus using the same

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR102779917B1 (en)

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5004052B2 (en) * 2004-04-05 2012-08-22 アクセリス テクノロジーズ インコーポレーテッド Method for reciprocating a workpiece through an ion beam
KR101953470B1 (en) * 2017-07-26 2019-02-28 에스케이실트론 주식회사 Transfer deflection sensing device in wafer wax mounting equipment
JP2019113378A (en) * 2017-12-22 2019-07-11 株式会社ミツトヨ Rotation angle limiting mechanism
CN209863893U (en) * 2019-02-23 2019-12-31 山东大学齐鲁医院(青岛) Nerve touch detector for pediatrics

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS504052B1 (en) * 1970-01-16 1975-02-14

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5004052B2 (en) * 2004-04-05 2012-08-22 アクセリス テクノロジーズ インコーポレーテッド Method for reciprocating a workpiece through an ion beam
KR101953470B1 (en) * 2017-07-26 2019-02-28 에스케이실트론 주식회사 Transfer deflection sensing device in wafer wax mounting equipment
JP2019113378A (en) * 2017-12-22 2019-07-11 株式会社ミツトヨ Rotation angle limiting mechanism
CN209863893U (en) * 2019-02-23 2019-12-31 山东大学齐鲁医院(青岛) Nerve touch detector for pediatrics

Also Published As

Publication number Publication date
KR20220017612A (en) 2022-02-14

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US7456641B2 (en) Probe card that controls a temperature of a probe needle, test apparatus having the probe card, and test method using the test apparatus
US10655776B2 (en) Gimbal and camera appartus
US20140361501A1 (en) Carrier
US10157767B2 (en) Apparatus for picking semiconductor devices
KR20200005333A (en) Wafer bonding apparatus and wafer bonding system using the same
JP5734278B2 (en) Apparatus and method for separating a substrate from a carrier substrate
US20170194183A1 (en) Method and system of robot fork calibration and wafer pick-and-place
KR102779917B1 (en) Sensor detection device and semiconductor apparatus using the same
JP2017527809A (en) Measuring device placed on the bearing surface of the measurement object
US20150318197A1 (en) Conveyance base and conveyance system
CN103567155B (en) The delivery unit of testing, sorting machine and the method for operating it
JP2013052982A (en) Roll body conveying device
TWI516778B (en) Pushing apparatus for handler and handler
KR102304843B1 (en) Control method of wireless power transmitter and wireless charging system having the same
CN110544644B (en) Semi-packaged stacked wafer detection and classification device
KR20170140541A (en) Substrate turning apparatus and chemical mechanical polishing system having the same
KR20170061857A (en) Apparatus of loading wafeer in chemical mechanical polishing system
KR20150106039A (en) Apparatus for bonding chip on wafer precisely
JP5762347B2 (en) Roll body transport device
KR102567911B1 (en) Transfer
KR20230119518A (en) Substrate transferring system including charging function
KR200280277Y1 (en) Damage Prevention Probe System
KR101489372B1 (en) An apparatus for sensing mis install device in pocket of c-tray
KR102536724B1 (en) Carrier device for substrate inspection using magnetic repulsive force
KR101156800B1 (en) Table apparatus for pcb inspection system

Legal Events

Date Code Title Description
PA0109 Patent application

St.27 status event code: A-0-1-A10-A12-nap-PA0109

PG1501 Laying open of application

St.27 status event code: A-1-1-Q10-Q12-nap-PG1501

A201 Request for examination
PA0201 Request for examination

St.27 status event code: A-1-2-D10-D11-exm-PA0201

D13-X000 Search requested

St.27 status event code: A-1-2-D10-D13-srh-X000

D14-X000 Search report completed

St.27 status event code: A-1-2-D10-D14-srh-X000

PE0902 Notice of grounds for rejection

St.27 status event code: A-1-2-D10-D21-exm-PE0902

E13-X000 Pre-grant limitation requested

St.27 status event code: A-2-3-E10-E13-lim-X000

P11-X000 Amendment of application requested

St.27 status event code: A-2-2-P10-P11-nap-X000

P13-X000 Application amended

St.27 status event code: A-2-2-P10-P13-nap-X000

E701 Decision to grant or registration of patent right
PE0701 Decision of registration

St.27 status event code: A-1-2-D10-D22-exm-PE0701

PR0701 Registration of establishment

St.27 status event code: A-2-4-F10-F11-exm-PR0701

PR1002 Payment of registration fee

St.27 status event code: A-2-2-U10-U11-oth-PR1002

Fee payment year number: 1

PG1601 Publication of registration

St.27 status event code: A-4-4-Q10-Q13-nap-PG1601