KR102801402B1 - A Panels Sticking and PCB Inspecting Pressing Appartus - Google Patents
A Panels Sticking and PCB Inspecting Pressing Appartus Download PDFInfo
- Publication number
- KR102801402B1 KR102801402B1 KR1020240003835A KR20240003835A KR102801402B1 KR 102801402 B1 KR102801402 B1 KR 102801402B1 KR 1020240003835 A KR1020240003835 A KR 1020240003835A KR 20240003835 A KR20240003835 A KR 20240003835A KR 102801402 B1 KR102801402 B1 KR 102801402B1
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- probe head
- head
- heating
- inspection
- pcb module
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/2851—Testing of integrated circuits [IC]
- G01R31/2886—Features relating to contacting the IC under test, e.g. probe heads; chucks
- G01R31/2887—Features relating to contacting the IC under test, e.g. probe heads; chucks involving moving the probe head or the IC under test; docking stations
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
- G01R1/02—General constructional details
- G01R1/06—Measuring leads; Measuring probes
- G01R1/067—Measuring probes
- G01R1/073—Multiple probes
- G01R1/07307—Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card
- G01R1/07314—Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card the body of the probe being perpendicular to test object, e.g. bed of nails or probe with bump contacts on a rigid support
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/2851—Testing of integrated circuits [IC]
- G01R31/2886—Features relating to contacting the IC under test, e.g. probe heads; chucks
- G01R31/2891—Features relating to contacting the IC under test, e.g. probe heads; chucks related to sensing or controlling of force, position, temperature
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Abstract
본 발명은 패널접착 및 기판검사용 프레싱장치에 관한 것으로, 그 구성은, 판상으로 형성되는 프레임부와, 내부에 히터가 마련되어 상기 프레임부의 상면에 수평으로 안착되어 상면에 판상의 피가공물과 패널이 안착되는 히팅지그부와, 상기 프레임부에 마련되어 상기 프레임부에 대하여 수직으로 승하강시키는 구동부와, 상기 구동부의 하방에 마련되어 판상으로 형성되어 상기 히팅지그부를 수직으로 접근 또는 이격되도록 하는 헤드조립체와, 상기 히팅지그부, 상기 구동부의 동작을 조절하는 제어부를 포함하고, 상기 헤드조립체의 하방에는 히팅헤드부를 구성으로 하되, 내부에 공간이 마련되는 프로브헤드몸체와, 상기 프로브헤드몸체의 바닥면을 관통하여 노출되는 다수개의 검사핀과, 상기 공간에 마련되는 상기 검사핀을 통한 인쇄회로기판의 정보를 수집하는 PCB모듈과, 상기 PCB모듈에 마련되어 정보를 처리하는 MCU와, 상기 PCB모듈에 마련되어 정보를 외부의 제어부와 송수신하는 통신칩과, 상기 PCB모듈에 마련되어 외부와 유선으로 전원 및 통신을 연결하기 위한 소켓을 포함한 프로브헤드를 선택적으로 장착하는 것을 특징으로 한다. The present invention relates to a pressing device for panel bonding and substrate inspection, comprising: a frame portion formed in a plate shape; a heating jig portion having a heater provided inside and horizontally seated on an upper surface of the frame portion so that a plate-shaped workpiece and a panel are seated on the upper surface; a driving portion provided in the frame portion to vertically raise and lower the frame portion; a head assembly provided below the driving portion to vertically approach or separate the heating jig portion; and a control portion for controlling the operation of the heating jig portion and the driving portion. The head assembly comprises a heating head portion formed below the head assembly, comprising: a probe head body having a space provided therein; a plurality of inspection pins exposed by penetrating the bottom surface of the probe head body; a PCB module for collecting information on a printed circuit board through the inspection pins provided in the space; an MCU provided in the PCB module to process information; a communication chip provided in the PCB module to transmit and receive information with an external control unit; and a socket provided in the PCB module to connect power and communication with the outside by wire. It features optional mounting of a probe head including:
Description
본 발명은 패널접착 및 기판검사용 프레싱장치에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 한정적인 개수의 프레싱장치에 히팅지그와 기판검사지그를 선택적으로 체결할 수 있는 패널접착 및 기판검사용 프레싱 장치에 관한 것이다. The present invention relates to a pressing device for panel bonding and substrate inspection, and more specifically, to a pressing device for panel bonding and substrate inspection capable of selectively attaching a heating jig and a substrate inspection jig to a limited number of pressing devices.
패널접착 프레싱장치는 휴대폰을 비롯하여 산업용 테스터, 디지털 카운터, 전압 및 전류계, LCD모듈, 조명 및 스마트스위치 외 각종 전기전자 제품/부품의 폭넓게 적용 가능한 생산 공정 기계이다.Panel bonding pressing equipment is a production process machine that can be widely applied to various electrical and electronic products/parts, including mobile phones, industrial testers, digital counters, voltage and current meters, LCD modules, lighting, and smart switches.
최근 들어 제품의 고급화와 내구성, 디자인적 접근성이 강화되면서 글라스, 터치패널, 아크릴, 메탈, ABS 등 상호 특성이 다른 재질적 결합이 필요하게 되었고, 단순한 부착구조 보다는 장기간의 수명과 접착력, 밀폐력, 생활방수까지 고 신뢰성을 요구하고 있다.Recently, as products become more sophisticated, durable, and design-wise more accessible, the need for a combination of materials with different properties, such as glass, touch panels, acrylic, metal, and ABS, has increased. In addition, rather than a simple attachment structure, high reliability is required, including long-term life, adhesive strength, sealing strength, and water resistance.
그리고, 일반적으로 인쇄회로기판(PCB)은 크림(Cream) 형태의 납이 인쇄된 회로기판에 IC칩, 저항 등의 전자부품이 장착된 상태에서 약 240~290 ℃ 내외의 납땜온도가 설정되어 있는 노(爐)를 통과하면서 열풍에 의해 납이 용융되어 남땜이 이루어지게 하는 표면실장기술(SMT; Surface Mount Technology)에 의해 제조된다.And, generally, printed circuit boards (PCBs) are manufactured by surface mount technology (SMT), which melts the lead and solders it by passing it through a furnace with a soldering temperature set at around 240 to 290℃ while electronic components such as IC chips and resistors are mounted on a circuit board printed with cream-shaped lead.
특히, 인쇄회로기판의 회로소자는 그 크기가 매우 미세할 뿐만 아니라, 고온에서 작업을 수행하기 때문에 불량품을 줄이고 생산성을 향상시키기 위해 인쇄회로기판을 고정하기 위한 지그플레이트(10)에 인쇄회로기판을 장착하여 솔더링 작업 및 ICT(In-circuit Test) 및 FT(Function Test)을 수행하고 있다.In particular, since the circuit elements of the printed circuit board are very fine in size and work is performed at high temperatures, the printed circuit board is mounted on a jig plate (10) for fixing the printed circuit board to reduce defective products and improve productivity, and soldering work and ICT (In-circuit Test) and FT (Function Test) are performed.
이러한 공정에 의해 생산된 인쇄회로기판(PCB)은 부품소자의 납땜 불량은 없는지, 각 부품이 정상적으로 작동하고 있는지, 정상적인 성능을 나타내는지 등을 종합적으로 테스트하는 공정을 거치게 된다.Printed circuit boards (PCBs) produced through this process go through a comprehensive testing process to check for soldering defects in components, whether each component is functioning normally, and whether it exhibits normal performance.
그러나 종래 기술에서는 다음과 같은 문제점이 있었다. However, the prior art had the following problems:
접착을 위한 프레싱장치와 인쇄회로기판을 검사하기 위한 검사장치가 각각 별개로 마련되어 전체 작업공정이 번거로워지는 문제점이 있었다. There was a problem that the pressing device for bonding and the inspection device for inspecting the printed circuit board were installed separately, making the entire work process cumbersome.
상술한 문제점을 해결하기 위한 것으로, 본 발명의 목적은 하나의 장치로 접착공정과 기판검사공정을 모두 처리할 수 있는 패널접착 및 기판검사용 프레싱 장치를 제공하는 것이다. In order to solve the above-described problems, the purpose of the present invention is to provide a pressing device for panel bonding and substrate inspection that can handle both the bonding process and the substrate inspection process with one device.
상술한 목적을 달성하기 위한 것으로, 본 발명인 패널접착 및 기판검사용 프레싱 장치는, 판상으로 형성되는 프레임부와, 내부에 히터가 마련되어 상기 프레임부의 상면에 수평으로 안착되어 상면에 판상의 피가공물과 패널이 안착되는 히팅지그부와, 상기 프레임부에 마련되어 상기 프레임부에 대하여 수직으로 승하강시키는 구동부와, 상기 구동부의 하방에 마련되어 판상으로 형성되어 상기 히팅지그부를 수직으로 접근 또는 이격되도록 하는 헤드조립체와, 상기 히팅지그부, 상기 구동부의 동작을 조절하는 제어부를 포함하고, 상기 헤드조립체의 하방에는 히팅헤드부 또는 프로브헤드를 선택적으로 장착하는 것을 특징으로 한다. In order to achieve the above-described purpose, the present invention provides a pressing device for panel bonding and substrate inspection, comprising: a frame portion formed in a plate shape; a heating jig portion having a heater provided therein and horizontally seated on an upper surface of the frame portion so that a plate-shaped workpiece and a panel are seated on the upper surface; a driving portion provided in the frame portion to vertically raise and lower the jig portion; a head assembly formed in a plate shape and provided below the driving portion to vertically approach or separate the heating jig portion; and a control portion that controls the operations of the heating jig portion and the driving portion, characterized in that a heating head portion or a probe head is selectively mounted below the head assembly.
상기 구동부는 여러개가 마련되고, 상기 구동부의 각각의 헤드조립체에 상기 히팅헤드부 또는 프로브헤드를 선택적으로 장착하는 것을 특징으로 한다. The above driving unit is provided in multiple numbers, and the heating head unit or probe head is selectively mounted on each head assembly of the driving unit.
상기 프로브헤드는, 내부에 공간이 마련되는 프로브헤드몸체와, 상기 프로브헤드몸체의 바닥면을 관통하여 노출되는 다수개의 검사핀과, 상기 공간에 마련되는 상기 검사핀을 통한 인쇄회로기판의 정보를 수집하는 PCB모듈과, 상기 PCB모듈에 마련되어 정보를 처리하는 MCU와, 상기 PCB모듈에 마련되어 정보를 외부의 제어부와 송수신하는 통신칩과, 상기 PCB모듈에 마련되어 외부와 유선으로 전원 및 통신을 연결하기 위한 소켓을 포함하는 것을 특징으로 한다. The above probe head is characterized by including a probe head body having a space provided therein, a plurality of inspection pins exposed by penetrating the bottom surface of the probe head body, a PCB module for collecting information of a printed circuit board through the inspection pins provided in the space, an MCU provided in the PCB module for processing information, a communication chip provided in the PCB module for transmitting and receiving information with an external control unit, and a socket provided in the PCB module for connecting power and communication with the outside via a wire.
본 발명에 의한 패널접착 및 기판검사용 프레싱 장치에서는 다음과 같은 효과가 있다. The pressing device for panel bonding and substrate inspection according to the present invention has the following effects.
접착을 위한 히팅헤드부와 검사를 위한 프로브헤드를 하나의 장치에 선택적으로 적용할 수 있어 하나의 장치로 접착공정과 기판검사공정을 모두 처리할 수 있으며, 품목별 수요에 따라 유연생산과 대량생산이 선택적으로 가능하고 전체공정이 간편해져 비용이 절감되는 이점이 있다. A heating head for bonding and a probe head for inspection can be selectively applied to a single device, so that both the bonding process and the substrate inspection process can be processed with a single device. Flexible production and mass production can be selectively performed depending on the demand for each item, and the overall process is simplified, which has the advantage of reducing costs.
또한, 프로브헤드를 하나의 모듈로 제작하여, 이에 대응되는 인쇄회로기판에 따라 쉽게 교체할 수 있도록 하여 다양한 작업조건에 대응할 수 있으며, 프로브헤드 내에 정보처리하기 위한 MCU 및 무선통신이 가능하도록 하여 외부와 연결되는 케이블의 양을 최소화하여 착탈이 간편해지는 이점이 있다. In addition, the probe head is manufactured as a single module, so that it can be easily replaced according to the corresponding printed circuit board, enabling it to respond to various working conditions. In addition, the probe head has an MCU for information processing and wireless communication, so that the amount of cables connected to the outside is minimized, and there is an advantage in that it is easy to attach and detach.
도 1은 본 발명에 의한 패널접착 및 기판검사용 프레싱 장치의 바람직한 실시예를 보인 도면.
도 2는 본 발명에 의한 패널접착 및 기판검사용 프레싱 장치의 바람직한 실시예를 구성하는 히팅헤드부와 히팅지그부를 보인 도면.
도 3은 본 발명에 의한 패널접착 및 기판검사용 프레싱 장치의 바람직한 실시예를 구성하는 프로브헤드와 히팅지그부를 보인 도면.
도 4는 본 발명에 의한 패널접착 및 기판검사용 프레싱 장치의 바람직한 실시예를 구성하는 프로브헤드의 구성을 보인 분해사시도.Figure 1 is a drawing showing a preferred embodiment of a pressing device for panel bonding and substrate inspection according to the present invention.
FIG. 2 is a drawing showing a heating head part and a heating jig part constituting a preferred embodiment of a pressing device for panel bonding and substrate inspection according to the present invention.
FIG. 3 is a drawing showing a probe head and a heating jig part constituting a preferred embodiment of a pressing device for panel bonding and substrate inspection according to the present invention.
FIG. 4 is an exploded perspective view showing the configuration of a probe head constituting a preferred embodiment of a pressing device for panel bonding and substrate inspection according to the present invention.
이하 본 발명에 의한 패널접착 및 기판검사용 프레싱 장치의 바람직한 실시예가 첨부된 도면을 참고하여 상세하게 설명한다. Hereinafter, a preferred embodiment of a pressing device for panel bonding and substrate inspection according to the present invention will be described in detail with reference to the attached drawings.
본 발명인 패널접착 및 기판검사용 프레싱 장치는, 도 1에 도시된 바와 같이, 판상으로 형성되는 프레임부(10)와, 내부에 히터가 마련되어 상기 프레임부(10)의 상면에 수평으로 안착되어 상면에 판상의 피가공물과 패널이 안착되는 히팅지그부(20)와, 상기 프레임부(10)에 마련되어 상기 프레임부(10)에 대하여 수직으로 승하강시키는 구동부(40)와, 상기 구동부(40)의 하방에 마련되어 판상으로 형성되어 상기 히팅지그부(20)를 수직으로 접근 또는 이격되도록 하는 헤드조립체(12)와, 상기 히팅지그부(20), 상기 구동부(40)의 동작을 조절하는 제어부(50)를 포함하고, 상기 헤드조립체(12)의 하방에는 히팅헤드부(30) 또는 프로브헤드(60)를 선택적으로 장착하는 것을 특징으로 한다. The pressing device for panel bonding and substrate inspection according to the present invention, as illustrated in FIG. 1, comprises a frame portion (10) formed in a plate shape, a heating jig portion (20) having a heater provided therein and horizontally mounted on an upper surface of the frame portion (10) so that a plate-shaped workpiece and a panel are mounted on the upper surface, a driving portion (40) provided on the frame portion (10) and vertically raised and lowered with respect to the frame portion (10), a head assembly (12) formed in a plate shape and provided below the driving portion (40) to vertically approach or space away from the heating jig portion (20), and a control portion (50) for controlling the operations of the heating jig portion (20) and the driving portion (40), and is characterized in that a heating head portion (30) or a probe head (60) is selectively mounted below the head assembly (12).
먼저, 본 발명인 패널접착 및 기판검사용 프레싱 장치에는 프레임부(10)가 마련된다. 상기 프레임부(10)는 도 1에 도시된 바와 같이, 판상으로 형성되어 본 장치의 골격을 형성하는 역할을 한다. 상기 프레임부(10)에는 측벽(11)과 상판(13)이 마련되어, 전방으로 관통된 공간이 형성되어, 작업자가 피가공물과 패널의 입출이 자유롭게 형성된다. First, the pressing device for panel bonding and substrate inspection according to the present invention is provided with a frame part (10). As shown in Fig. 1, the frame part (10) is formed in a plate shape and serves to form the skeleton of the present device. The frame part (10) is provided with a side wall (11) and an upper plate (13), so that a space penetrating to the front is formed, allowing the worker to freely enter and exit the workpiece and the panel.
상기 프레임부(10)에는 헤드조립체(12)가 마련된다. 상기 헤드조립체(12)는 판상으로 형성되어 아래에서 설명될 히팅헤드부(30)와 프로브헤드(60)를 고정시켜 구동부의 동작에 의하여 승하강시키는 역할을 한다. 상기 헤드조립체(12)에는 통공이 더 마련될 수 있다. 상기 통공은 프로브헤드(60)에 연결되는 케이블 등이 외부로 통과하여 연결될 수 있도록 가이드하는 역할을 한다. The frame part (10) is provided with a head assembly (12). The head assembly (12) is formed in a plate shape and serves to fix the heating head part (30) and the probe head (60) described below and raise and lower them by the operation of the driving part. The head assembly (12) may further be provided with a hole. The hole serves to guide a cable or the like connected to the probe head (60) so that it can pass through and be connected to the outside.
상기 헤드조립체(12)에는 히팅헤드부(30) 및 프로브헤드(60)와 결합될 수 있는 수단이 더 마련된다. 상기 결합수단은 체결공과 체결너트 등으로 구성될 수 있다. The above head assembly (12) is further provided with a means that can be coupled with the heating head part (30) and the probe head (60). The coupling means may be composed of a fastening hole and a fastening nut, etc.
상기 프레임부(10)에는 히팅지그부(20)가 마련된다. 상기 히팅지그부(20)는 상기 프레임부(10)의 상면에 위치되는 것으로, 상면에 피가공물과 상기 피가공물에 부착될 패널이 적재되는 공간을 제공하며, 상기 피가공물과 상기 패널이 접착제에 의하여 부착되도록 열을 제공하는 역할을 한다. The above frame part (10) is provided with a heating jig part (20). The heating jig part (20) is positioned on the upper surface of the frame part (10), provides a space on the upper surface where a workpiece and a panel to be attached to the workpiece are loaded, and serves to provide heat so that the workpiece and the panel are attached by an adhesive.
상기 히팅지그부(20)는, 내부에 히터가 마련되어 상기 프레임부(10)의 상면에 수평으로 안착되어 상면에 판상의 피가공물과 패널이 안착될 수 있도록 한다. 상기 히팅지그부(20)는 상술한 기능을 하는 구성이면 어떤 구성이라도 적용가능하다. The above heating jig part (20) has a heater provided inside and is horizontally installed on the upper surface of the frame part (10) so that a plate-shaped workpiece and panel can be installed on the upper surface. Any configuration can be applied to the heating jig part (20) as long as it has the above-described function.
상기 히팅지그부(20)는, 도 2에 도시된 바와 같이, 판상으로 형성되어 상면에 적재면(23)이 형성된다. 상기 적재면(23)은 피가공물의 형상에 대응되는 형상으로 형성되어 피가공물을 안전하게 지지할 수 있다. 물론, 상기 히팅지그부(20)는 피가공물의 형상에 따라 교체할 수 있다. The heating jig part (20) is formed in a plate shape as shown in Fig. 2, and a loading surface (23) is formed on the upper surface. The loading surface (23) is formed in a shape corresponding to the shape of the workpiece, so that the workpiece can be safely supported. Of course, the heating jig part (20) can be replaced depending on the shape of the workpiece.
그리고, 상기 히팅지그부(20)의 상방에는 히팅헤드부(30)가 마련된다. 보다 바람직하게는 상기 헤드조립체(12)에 상기 히팅헤드부(30)가 부착된다. And, a heating head part (30) is provided above the heating jig part (20). More preferably, the heating head part (30) is attached to the head assembly (12).
상기 히팅헤드부(30)는 상기 히팅지그부(20)이 상방에 위치되는 것으로, 하면에 피가공물과 상기 피가공물에 부착될 패널을 압착하는 압착면(미도시)이 마련되며, 상기 피가공물에 상기 패널이 접착제에 의하여 부착되도록 열을 제공하는 역할을 한다. The above heating head part (30) is positioned above the heating jig part (20), and has a pressing surface (not shown) provided on the lower surface for pressing a workpiece and a panel to be attached to the workpiece, and serves to provide heat so that the panel can be attached to the workpiece using an adhesive.
상기 히팅헤드부(30)는, 내부에 히터가 마련되어 상기 히팅지그부(20)에 대응되어 수평으로 위치되며, 하면의 압착면이 형성되어 판상의 피가공물과 패널을 압착할 수 있도록 한다. 상기 히팅헤드부(30)는 상술한 기능을 하는 구성이면 어떤 구성이라도 적용가능하다. The heating head part (30) above has a heater provided inside and is positioned horizontally relative to the heating jig part (20), and a pressing surface is formed on the lower surface to enable pressing of a plate-shaped workpiece and a panel. Any configuration can be applied to the heating head part (30) as long as it has the function described above.
그리고, 본 발명인 패널 접착용 프레싱 장치에는 구동부(40)가 마련된다. 상기 구동부(40)는 상기 히팅헤드부(40)를 승하강하여, 상기 히팅헤드부(30)가 상기 히팅지그부(30)와 밀착 또는 이격되도록 한다. And, the pressing device for panel bonding of the present invention is provided with a driving unit (40). The driving unit (40) raises and lowers the heating head unit (40) so that the heating head unit (30) is brought into close contact with or separated from the heating jig unit (30).
그리고, 본 발명인 패널 접착용 프레싱 장치에는 제어부(50)가 마련된다. 상기 제어부(50)는, 상기 히팅지그부(20), 상기 히팅헤드부(30) 및 상기 구동부(40)의 동작을 조절하는 역할을 한다. And, the pressing device for panel bonding of the present invention is provided with a control unit (50). The control unit (50) serves to control the operation of the heating jig unit (20), the heating head unit (30), and the driving unit (40).
또한, 상기 히팅지그부(20)의 상면에는 카운팅부(미도시)가 더 마련된다. 상기 카운팅부는 상기 히팅지그부(20)의 상면에 적재되는 피가공물과 패널을 센싱하여, 작업횟수를 저장하는 역할을 한다.In addition, a counting unit (not shown) is further provided on the upper surface of the heating jig unit (20). The counting unit senses the workpiece and panel loaded on the upper surface of the heating jig unit (20) and stores the number of operations.
그리고, 상기 헤드조립체(12)에는 프로브헤드(60)가 더 마련될 수 있다. 상기 프로브헤드(60)는 판상으로 형성되어 하방에 검사핀(62)이 마련되어, 인쇄회로기판의 검사가 필요한 단자에 접촉하여 상기 인쇄회로기판(S)의 불량여부를 검사를 진행하게 된다. In addition, the head assembly (12) may further be provided with a probe head (60). The probe head (60) is formed in a plate shape and has an inspection pin (62) provided at the bottom to contact a terminal of the printed circuit board that requires inspection, thereby inspecting whether the printed circuit board (S) is defective.
상기 프로브헤드(60)는 판상의 몸체에 하방으로 전기적으로 연결된 검사핀(62)이 다수개 형성된다. 상기 프로브헤드(60)는 상기 히팅헤드부(30)와 마찬가지로 상기 헤드조립체(12)의 하면에 결합될 수 있는 구조로 형성된다. The above probe head (60) has a plurality of inspection pins (62) formed downwardly and electrically connected to the plate-shaped body. The above probe head (60) is formed in a structure that can be coupled to the lower surface of the head assembly (12) like the above heating head part (30).
즉, 상기 프로브헤드(60)는 상기 히팅지그부(20)의 상방에 위치되는 것으로, 하면에 인쇄회로기판(S)을 검사하는 다수개의 검사핀(62)이 마련되어, 상기 히팅지그부(20)의 상방에서 상기 히팅지그부(20)의 상면을 향해 하강하여 상기 히팅지그부(20)에 마련된 인쇄회로기판(S)의 단자를 상기 검사핀(62)을 이용하여 검사하는 역할을 수행한다.That is, the probe head (60) is positioned above the heating jig part (20), and a plurality of inspection pins (62) for inspecting a printed circuit board (S) are provided on the lower surface thereof. The probe head (60) descends from the upper surface of the heating jig part (20) toward the upper surface of the heating jig part (20) to inspect the terminals of the printed circuit board (S) provided on the heating jig part (20) using the inspection pins (62).
상기 프로브헤드(60)는, 상기 히팅지그부(20)에 대응되어 수평으로 위치되며, 하면에 검사핀(62)이 형성되어 인쇄회로기판(S)을 검사할 수 있도록 한다. The above probe head (60) is positioned horizontally relative to the heating jig part (20), and has an inspection pin (62) formed on the lower surface to enable inspection of a printed circuit board (S).
상기 프로브헤드(60)의 하면에 마련되는 검사핀(62)은 다수개로 마련되며, 인쇄회로기판(S) 검사시 인쇄회로기판(S)과 맞닿아 인쇄회로기판(S)의 회로상태 등을 측정하는 역할을 한다. The inspection pins (62) provided on the lower surface of the above probe head (60) are provided in multiple numbers and, when inspecting a printed circuit board (S), come into contact with the printed circuit board (S) to measure the circuit status of the printed circuit board (S).
여기서, 상기 검사핀(62)은 다수개 중, 검사를 진행하여야 하는 인쇄회로기판(S)의 회로와 대응되는 검사핀(62)에만 전류가 흘러 검사가 효율적으로 진행될 수 있는 특징을 가진다. Here, the inspection pin (62) has a characteristic in that, among the plurality of inspection pins, current flows only to the inspection pin (62) corresponding to the circuit of the printed circuit board (S) to be inspected, so that inspection can be performed efficiently.
상기 프로브헤드(60)에는 내부에 공간이 마련되는 프로브헤드몸체(63)가 마련되고, 상기 프로브헤드몸체(63) 내부의 공간에 PCB모듈(64)이 마련된다. 상기 PCB모듈(64)은 상기 검사핀(62)을 통하여 피검사물인 인쇄회로기판(S)을 검사하여 정보를 수집하는 역할을 한다. The above probe head (60) is provided with a probe head body (63) having a space provided inside, and a PCB module (64) is provided in the space inside the probe head body (63). The PCB module (64) collects information by inspecting the printed circuit board (S), which is the inspection object, through the inspection pin (62).
그리고, 상기 PCB모듈(64)에는 정보처리를 위한 MCU(65)와, 통신칩(66)이 마련된다. 상기 통신칩(66)은 제어부(50) 등과의 통신을 위한 것으로, RS-485 또는 블루투스로 구성될 수 있다. 특히 상기 통신칩(66)을 사용함으로써 제어부(50)와 연결되는 케이블의 개수와 크기를 줄일 수 있게 된다. And, the PCB module (64) is provided with an MCU (65) for information processing and a communication chip (66). The communication chip (66) is for communication with the control unit (50), etc., and can be configured as RS-485 or Bluetooth. In particular, by using the communication chip (66), the number and size of cables connected to the control unit (50) can be reduced.
그리고, 상기 PCB모듈(64)에는 전원 및 통신을 위한 소켓(67)이 마련된다. 상기 소켓(67)을 통하여 외부의 전원 및 통신케이블이 연결될 수 있다. In addition, a socket (67) for power and communication is provided in the PCB module (64). External power and communication cables can be connected through the socket (67).
상기 전원 및 통신케이블은 상기 헤드조립체(12)의 통공(14)을 관통하여 제어부(50) 등 외부의 장치와 연통될 수 있다. The above power and communication cables can pass through the hole (14) of the head assembly (12) and communicate with external devices such as the control unit (50).
상기 PCB모듈(64) 내에 MCU(65)와 통신칩(66)과 소켓(67)을 마련함으로써 5V 또는 12V의 낮은 전원에서 상기 프로브헤드(60) 상에서 간단한 구조로 구현되어 상기 프로브헤드(60)를 간단하게 교체하는 것만으로 검사작업을 안전하게 실시할 수 있게 된다. By providing an MCU (65), a communication chip (66), and a socket (67) within the PCB module (64), a simple structure is implemented on the probe head (60) at a low power source of 5 V or 12 V, so that inspection work can be safely performed simply by replacing the probe head (60).
그리고, 상기 프로브헤드(60)에는 송신부와 PCB 판별부(미도시)가 더 마련될 수 있다. Additionally, the probe head (60) may further be provided with a transmitter and a PCB determination unit (not shown).
먼저, 상기 송신부는, 상기 프로브헤드(60) 내부에 어디에든 한정되지 않고 마련되어, 상기 수신부로 신호를 송신하는 역할을 한다. 상기 송신부는 상기 수신부로 신호를 송신하여, 상기 히팅지그부(20)에 인쇄회로기판(S)이 올바르게 위치하였는지, 이탈하였는지 혹은 제거되어야할 시간에 제거되었는지를 판단하는 역할을 수행한다. First, the transmitter is provided anywhere within the probe head (60) and plays a role of transmitting a signal to the receiver. The transmitter transmits a signal to the receiver to determine whether the printed circuit board (S) is correctly positioned on the heating jig (20), has disengaged, or has been removed at the time it should have been removed.
즉, 상기 송신부에서 송신한 신호가 상기 수신부에 수신된다면, 이는 인쇄회로기판(S)이 상기 히팅지그부(20)에 제대로 위치하고 있지 않다는 것을 의미한다. 또한, 상기 송신부에서 송신한 신호가 상기 수신부에 수신되지 않는다면, 이는 인쇄회로기판(S)이 상기 히팅지그부(20)에 위치되어 있다는 것을 의미한다. 상기와 같은 방법으로, 상기 송신부, 상기 수신부를 활용하여 인쇄회로기판(S)이 제자리에 위치하였는지, 이탈하였는지, 적절히 제거되었는지를 확인함으로써 안전하고 오차없는 양품/불량품의 카운팅이 가능하다. That is, if the signal transmitted from the above-described transmitter is received by the above-described receiver, this means that the printed circuit board (S) is not properly positioned in the above-described heating jig portion (20). Also, if the signal transmitted from the above-described transmitter is not received by the above-described receiver, this means that the printed circuit board (S) is positioned in the above-described heating jig portion (20). In the above-described manner, by utilizing the above-described transmitter and receiver, it is possible to safely and error-free counting of good/defective products by checking whether the printed circuit board (S) is positioned in place, dislodged, or properly removed.
여기서, 상기 송신부, 상기 수신부는 본 발명인 PCB 검사장비 뿐 아니라 프레싱 장치 등에 활용가능하며, 상기 송신부, 상기 수신부를 이용하여 패널과 피가공물이 제대로 위치하였는지, 제위치에서 이탈하였는지, 적절히 제거되었는지를 확인함으로써 프레싱 작업 시, 안전하고 오차없는 카운팅이 가능하다.Here, the transmitter and receiver can be utilized not only in the PCB inspection equipment of the present invention but also in a pressing device, and by using the transmitter and receiver, it is possible to check whether the panel and the workpiece are properly positioned, displaced from their original positions, or properly removed, thereby enabling safe and error-free counting during pressing work.
그리고, 상기 PCB 판별부(미도시)는, 상기 프로브헤드(60) 내부에 어디에든 한정되지 않고 마련되어, 상기 인쇄회로기판(S)의 종류를 파악하는 역할을 한다. 여기서, 상기 인쇄회로기판(S)은 여러종류로 마련되므로, 인쇄회로기판(S)의 종류에 따라 위치가 다르게 구멍을 생성하거나, 종류에 따라 서로 다른 로고를 생성하고, 상기 PCB 판별부(미도시)는 이를 파악할 수 있도록 센서나 스캔부로 구성되어 상기 인쇄회로기판(S)의 종류를 파악할 수 있다. And, the PCB determination unit (not shown) is provided anywhere inside the probe head (60) without limitation, and serves to determine the type of the printed circuit board (S). Here, since the printed circuit board (S) is provided in various types, a hole is created at a different location depending on the type of the printed circuit board (S), or a different logo is created depending on the type, and the PCB determination unit (not shown) is configured with a sensor or a scanning unit to determine this, so that the type of the printed circuit board (S) can be determined.
이에 한정되지 않고 상기 PCB 판별부(미도시)는 서로 다른 인쇄회로기판(S)의 종류를 감지할 수 있다. 즉, 상기 PCB 판별부(미도시)는 어떤 형태로 마련되든, 서로 다른 종류의 인쇄회로기판(S)을 파악하여, 상기 제어부(50)로 이를 전달함으로써 다수개로 마련되는 상기 검사핀(62) 중, 상기 인쇄회로기판(S) 회로에 대응되는 검사핀(62)에 전류를 흘러보내어 효율적인 작동이 가능하게 한다. Not limited thereto, the PCB determination unit (not shown) can detect different types of printed circuit boards (S). That is, regardless of the form in which the PCB determination unit (not shown) is formed, it can identify different types of printed circuit boards (S) and transmit this to the control unit (50), thereby allowing current to flow to an inspection pin (62) corresponding to the circuit of the printed circuit board (S) among the inspection pins (62) formed in a plurality, thereby enabling efficient operation.
상기 프로브헤드(60)는 모듈형태로 구성되어, 이는 본 발명인 패널접착 및 기판검사용 프레싱장치에서 검사를 위한 인쇄회로기판(S)의 종류와 형태가 달라짐에 따라 쉽게 교체하기 위함이다. The above probe head (60) is configured in a modular form so that it can be easily replaced as the type and shape of the printed circuit board (S) for inspection in the panel bonding and substrate inspection pressing device of the present invention changes.
즉, 상기 프로브헤드(60) 내의 MCU에서 모든 정보를 처리하므로, 상기 프로브헤드(60)만을 교체함으로써 간단하게 다양한 인쇄회로기판(S)을 검사할 수 있는 준비가 완료된다. That is, since all information is processed in the MCU within the probe head (60), preparations are completed to easily inspect various printed circuit boards (S) by simply replacing the probe head (60).
물론, 상기 인쇄회로기판(S)의 변화에 따라 상기 히팅지그부(20) 및 히팅헤드부(30)도 교체가능하다. Of course, the heating jig part (20) and the heating head part (30) can also be replaced depending on changes in the printed circuit board (S).
또한, 본 발명임 패널접착 및 기판검사용 프레싱 장치에는 프레임부(10)에 여러 개의 구동부(40)가 마련된다. 즉, 상기 각각의 구동부(40)마다 하방에 헤드조립체(12)가 마련된다. In addition, the pressing device for panel bonding and substrate inspection according to the present invention is provided with several driving units (40) in the frame portion (10). That is, a head assembly (12) is provided below each of the driving units (40).
상기 헤드조립체(12)에는 상기 프로브헤드(60)와 히팅헤드부(30)를 선택적으로 체결할 수 있다. 즉, 도 1에 도시된 바와 같은 3개가 구동부(40)가 있는 장치에서는 현재 프로브헤드(60)는 1개, 히팅헤드부(30)는 2개 설치한 구조이나, 인쇄회로기판의 검사가 더욱 필요한 경우에는 프로프헤드(60) 2개 히팅헤드부(30) 1개를 설치할 수도 있다 .The head assembly (12) above can selectively be connected to the probe head (60) and the heating head part (30). That is, in a device having three driving parts (40) as shown in Fig. 1, one probe head (60) and two heating head parts (30) are currently installed, but in cases where further inspection of the printed circuit board is required, two probe heads (60) and one heating head part (30) may be installed.
그리고, 상기 프레임부(10)의 측벽(11)과 상판(13) 사이에는 전방으로 관통된 공간이 형성되므로, 작업자가 자유롭게 인쇄회로기판(S)의 입출을 수행할 수 있도록 형성된다.In addition, a space extending forward is formed between the side wall (11) and the upper plate (13) of the frame portion (10), so that the worker can freely insert and remove the printed circuit board (S).
상기 히팅지그부(20)에는 상면에 인쇄회로기판(S)가 적재되는 공간을 제공할 수 있다. 물론, 상기 히팅지그부(20)와 별개의 다른 지그를 위치시켜 상기 인쇄회로기판을 적재할 수도 있다. The above heating jig part (20) can provide a space on the upper surface where a printed circuit board (S) is loaded. Of course, the printed circuit board can be loaded by positioning a different jig separate from the heating jig part (20).
상기 히팅지그부(20)에는 수신부(미도시)가 더 마련될 수 있다. 상기 수신부는, 상기 히팅지그부(20) 내부에 어디에든 한정되지 않고 마련되어, 하기에서 설명될 송신부에서 송신하는 신호를 전달받는다. 상기 수신부와 하기에서 설명될 송신부에 의해 인쇄회로기판(S)가 제대로 위치되었는지, 이탈하였는지를 판단하여 검사가 진행되어도 되는지에 대한 여부를 결정할 수 있다. 또한, 인쇄회로기판(S)이 제거되어야할 시간 내에 제거되었는지를 확인함으로써 서로 다른 인쇄회로기판(S)의 검사가 수행되어도 되는 지에 대한 판단이 가능하다. The heating jig part (20) may further be provided with a receiving part (not shown). The receiving part may be provided anywhere within the heating jig part (20), without limitation, and receives a signal transmitted from the transmitting part, which will be described below. By determining whether the printed circuit board (S) is properly positioned or dislodged by the receiving part and the transmitting part, which will be described below, it is possible to determine whether inspection can be performed. In addition, by confirming whether the printed circuit board (S) is removed within the time it should be removed, it is possible to determine whether inspection of different printed circuit boards (S) can be performed.
그리고, 상기 제어부(50)는, 상기 히팅지그부(20), 상기 수신부, 상기 프로브헤드(60), 상기 송신부, 상기 PCB 판별부(미도시) 및 상기 구동부(40)의 동작을 조절하는 역할을 한다. 상기 제어부(50)는 상기 지그부(20), 상기 수신부, 상기 프로브헤드(60), 상기 송신부, 상기 PCB 판별부(미도시) 및 상기 구동부(40)와 연동되어 이들의 동작을 조절하여 PCB 검사장치를 이용한 검사에 오류가 발생하지 않고 적절히 이뤄지도록 돕는 역할을 수행한다. And, the control unit (50) plays a role of controlling the operation of the heating jig unit (20), the receiving unit, the probe head (60), the transmitting unit, the PCB determining unit (not shown), and the driving unit (40). The control unit (50) is linked to the jig unit (20), the receiving unit, the probe head (60), the transmitting unit, the PCB determining unit (not shown), and the driving unit (40) to control their operation so that an inspection using the PCB inspection device is performed properly without errors.
그리고, 본 발명에는 디스플레이부(미도시)가 더 마련될 수 있다. 상기 디스플레이부는 본 발명인 PCB 검사장치의 검사 상황, 양품/불량품 카운팅, 작업자에게로의 진행 지시 등을 띄울 수 있으며, 이는 상기 제어부(50)에 통해 가능하다. In addition, the present invention may further include a display unit (not shown). The display unit may display the inspection status of the PCB inspection device of the present invention, counting of good/defective products, instructions for progress to the operator, etc., and this is possible through the control unit (50).
이와 같이, 상술한 본 발명의 기술적 구성은 본 발명이 속하는 기술분야의 당업자가 본 발명의 그 기술적 사상이나 필수적인 특징을 변경하지 않고서 다른 구체적인 형태로 실시될 수 있다는 것을 이해할 수 있을 것이다.In this way, it will be understood by those skilled in the art that the technical configuration of the present invention described above can be implemented in other specific forms without changing the technical idea or essential features of the present invention.
그러므로 이상에서 기술한 실시예들은 모든 면에서 예시적인 것이며 한정적인 것이 아닌 것으로서 이해되어야 하고, 본 발명의 범위는 상기 상세한 설명보다는 후술하는 특허청구범위에 의하여 나타나며, 특허청구범위의 의미 및 범위 그리고 그 등가 개념으로부터 도출되는 모든 변경 또는 변형된 형태가 본 발명의 범위에 포함되는 것으로 해석되어야 한다.Therefore, the embodiments described above should be understood as illustrative and not restrictive in all respects, and the scope of the present invention is indicated by the claims described below rather than the detailed description above, and all changes or modifications derived from the meaning and scope of the claims and their equivalent concepts should be interpreted as being included in the scope of the present invention.
10 : 프레임부 11: 측벽
12 : 헤드조립체 13: 상판
14: 통공 20 : 히팅지그부
23 : 적재면 30 : 히팅헤드부
40 : 구동부 50 : 제어부
60 : 프로브헤드 62 : 검사핀
63 : 프로브헤드몸체 64 : PCB모듈
65 : MCU 66 : 통신칩
67 : 소켓 S : PCB 10: Frame 11: Side wall
12: Head assembly 13: Top plate
14: Through hole 20: Heating jig part
23: Loading surface 30: Heating head section
40: Drive unit 50: Control unit
60: Probe head 62: Inspection pin
63: Probe head body 64: PCB module
65: MCU 66: Communication chip
67 : Socket S : PCB
Claims (3)
내부에 히터가 마련되어 상기 프레임부의 상면에 수평으로 안착되어 상면에 판상의 피가공물과 패널이 안착되는 히팅지그부;
상기 프레임부에 마련되어 상기 프레임부에 대하여 수직으로 승하강시키는 구동부;
상기 구동부의 하방에 마련되어 판상으로 형성되어 상기 히팅지그부를 수직으로 접근 또는 이격되도록 하는 헤드조립체;
상기 히팅지그부, 상기 구동부의 동작을 조절하는 제어부;를 포함하고,
상기 헤드조립체의 하방에는 히팅헤드부 또는 프로브헤드를 선택적으로 장착하는 것을 특징으로 하는 패널접착 및 기판검사용 프레싱장치.A frame formed in the shape of a plate;
A heating jig section having a heater provided inside and horizontally positioned on the upper surface of the frame section, on which a plate-shaped workpiece and panel are positioned on the upper surface;
A driving unit provided on the above frame to vertically raise and lower the above frame;
A head assembly formed in a plate shape and provided below the driving unit to vertically approach or separate the heating jig unit;
It includes a control unit that controls the operation of the heating jig unit and the driving unit;
A pressing device for panel bonding and substrate inspection, characterized in that a heating head or a probe head is selectively mounted on the lower part of the head assembly.
상기 구동부는 여러개가 마련되고, 상기 구동부의 각각의 헤드조립체에 상기 히팅헤드부 또는 프로브헤드를 선택적으로 장착하는 것을 특징으로 하는 패널접착 및 기판검사용 프레싱장치.In paragraph 1,
A pressing device for panel bonding and substrate inspection, characterized in that a plurality of driving units are provided, and the heating head unit or the probe head is selectively mounted on each head assembly of the driving units.
상기 프로브헤드는,
내부에 공간이 마련되는 프로브헤드몸체;
상기 프로브헤드몸체의 바닥면을 관통하여 노출되는 다수개의 검사핀;
상기 공간에 마련되는 상기 검사핀을 통한 인쇄회로기판의 정보를 수집하는 PCB모듈;
상기 PCB모듈에 마련되어 정보를 처리하는 MCU;
상기 PCB모듈에 마련되어 정보를 외부의 제어부와 송수신하는 통신칩; 및
상기 PCB모듈에 마련되어 외부와 유선으로 전원 및 통신을 연결하기 위한 소켓;을 포함하는 것을 특징으로 하는 패널접착 및 기판검사용 프레싱장치.
In paragraph 1,
The above probe head,
A probe head body with a space provided inside;
A plurality of inspection pins exposed by penetrating the bottom surface of the probe head body;
A PCB module that collects information of a printed circuit board through the inspection pin provided in the above space;
MCU provided on the above PCB module to process information;
A communication chip provided in the above PCB module for transmitting and receiving information with an external control unit; and
A pressing device for panel bonding and substrate inspection, characterized by including a socket provided on the PCB module for connecting power and communication with the outside via a wire.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR1020240003835A KR102801402B1 (en) | 2024-01-09 | 2024-01-09 | A Panels Sticking and PCB Inspecting Pressing Appartus |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR1020240003835A KR102801402B1 (en) | 2024-01-09 | 2024-01-09 | A Panels Sticking and PCB Inspecting Pressing Appartus |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| KR102801402B1 true KR102801402B1 (en) | 2025-04-29 |
Family
ID=95604786
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| KR1020240003835A Active KR102801402B1 (en) | 2024-01-09 | 2024-01-09 | A Panels Sticking and PCB Inspecting Pressing Appartus |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| KR (1) | KR102801402B1 (en) |
Citations (15)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6392424B1 (en) * | 1999-08-12 | 2002-05-21 | Advanced Semiconductor Engineering Inc. | Press plate of wire bond checking system |
| US20040113646A1 (en) * | 2001-07-12 | 2004-06-17 | Tsuyoshi Yamashita | Heater-equipped pusher, electronic component handling apparatus, and temperature control method for electronic component |
| KR100853766B1 (en) | 2007-01-15 | 2008-08-25 | 옥순봉 | PCC inspection device capable of fine horizontal movement of the upper fixture |
| JP2009081456A (en) * | 2008-11-21 | 2009-04-16 | Fuji Mach Mfg Co Ltd | Working system for substrate and component control program used therefor |
| KR20110119574A (en) * | 2010-04-26 | 2011-11-02 | 가부시키가이샤 히다치 하이테크놀로지즈 | Display panel module assembly unit |
| KR20120012771A (en) * | 2011-12-09 | 2012-02-10 | 주식회사 지엔티시스템즈 | Display Module Inspection Device with Jig with Miffy Bridge Module |
| KR20130095130A (en) * | 2012-02-17 | 2013-08-27 | 주식회사 오킨스전자 | Testing device for display panel |
| KR20140003281A (en) * | 2012-06-29 | 2014-01-09 | 한미반도체 주식회사 | Semionductor chip bonding system |
| KR101407535B1 (en) * | 2014-02-07 | 2014-06-13 | (주)와이티에스 | Tape attaching apparatus for pcb |
| KR20150019158A (en) * | 2013-08-12 | 2015-02-25 | (주)피엔티 | Ultrasonic bonding typed metal wire bonding apparatus |
| KR20180034582A (en) * | 2015-08-07 | 2018-04-04 | 엑세라 코포레이션 | Positioning device for parallel testers to inspect circuit boards and parallel testers to inspect circuit boards |
| KR102161987B1 (en) * | 2020-04-01 | 2020-10-07 | 주식회사 프로이천 | Probe Module Proveded With FPC |
| JP7241978B1 (en) * | 2022-02-21 | 2023-03-17 | 三菱電機株式会社 | DEVICE INSPECTION APPARATUS AND DEVICE INSPECTION METHOD |
| KR20230115020A (en) * | 2022-01-26 | 2023-08-02 | 케이이아이앤드에스피 주식회사 | Apparatus and method for manufacturing blade-type probe card |
| KR20230132651A (en) * | 2022-03-08 | 2023-09-18 | 경남대학교 산학협력단 | Testing apparatus for PCB |
-
2024
- 2024-01-09 KR KR1020240003835A patent/KR102801402B1/en active Active
Patent Citations (15)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6392424B1 (en) * | 1999-08-12 | 2002-05-21 | Advanced Semiconductor Engineering Inc. | Press plate of wire bond checking system |
| US20040113646A1 (en) * | 2001-07-12 | 2004-06-17 | Tsuyoshi Yamashita | Heater-equipped pusher, electronic component handling apparatus, and temperature control method for electronic component |
| KR100853766B1 (en) | 2007-01-15 | 2008-08-25 | 옥순봉 | PCC inspection device capable of fine horizontal movement of the upper fixture |
| JP2009081456A (en) * | 2008-11-21 | 2009-04-16 | Fuji Mach Mfg Co Ltd | Working system for substrate and component control program used therefor |
| KR20110119574A (en) * | 2010-04-26 | 2011-11-02 | 가부시키가이샤 히다치 하이테크놀로지즈 | Display panel module assembly unit |
| KR20120012771A (en) * | 2011-12-09 | 2012-02-10 | 주식회사 지엔티시스템즈 | Display Module Inspection Device with Jig with Miffy Bridge Module |
| KR20130095130A (en) * | 2012-02-17 | 2013-08-27 | 주식회사 오킨스전자 | Testing device for display panel |
| KR20140003281A (en) * | 2012-06-29 | 2014-01-09 | 한미반도체 주식회사 | Semionductor chip bonding system |
| KR20150019158A (en) * | 2013-08-12 | 2015-02-25 | (주)피엔티 | Ultrasonic bonding typed metal wire bonding apparatus |
| KR101407535B1 (en) * | 2014-02-07 | 2014-06-13 | (주)와이티에스 | Tape attaching apparatus for pcb |
| KR20180034582A (en) * | 2015-08-07 | 2018-04-04 | 엑세라 코포레이션 | Positioning device for parallel testers to inspect circuit boards and parallel testers to inspect circuit boards |
| KR102161987B1 (en) * | 2020-04-01 | 2020-10-07 | 주식회사 프로이천 | Probe Module Proveded With FPC |
| KR20230115020A (en) * | 2022-01-26 | 2023-08-02 | 케이이아이앤드에스피 주식회사 | Apparatus and method for manufacturing blade-type probe card |
| JP7241978B1 (en) * | 2022-02-21 | 2023-03-17 | 三菱電機株式会社 | DEVICE INSPECTION APPARATUS AND DEVICE INSPECTION METHOD |
| KR20230132651A (en) * | 2022-03-08 | 2023-09-18 | 경남대학교 산학협력단 | Testing apparatus for PCB |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| CN108957286B (en) | PCBA board multi-functional automatic test system of LED display screen | |
| KR100826257B1 (en) | FPC inspection device for portable electronic devices | |
| CN101398539B (en) | Display module | |
| CN113253100A (en) | Testing device and detection system | |
| KR101111443B1 (en) | Jig Device for Hybrid Input Module Inspection | |
| KR102801402B1 (en) | A Panels Sticking and PCB Inspecting Pressing Appartus | |
| KR101154330B1 (en) | Jig apparatus for inspecting touch sensor module ajig apparatus for inspecting touch sensor module and inspecting method using same nd inspecting method using same | |
| CN108982931A (en) | Probe unit, probe jig | |
| CN103134438A (en) | Compound measurement jig | |
| CN216926995U (en) | Testing device and detection system | |
| KR101000456B1 (en) | Probe unit for easy maintenance | |
| CN215526029U (en) | Pogo Pin board check out test set | |
| CN213240422U (en) | PCB board automatic checkout device | |
| CN217278773U (en) | A tool device for many PCS of PCBA board test | |
| KR100815251B1 (en) | Interface FPC | |
| CN205786708U (en) | A kind of PCBA test needle plate | |
| KR20230132651A (en) | Testing apparatus for PCB | |
| CN114608738A (en) | Tension detection device and tension test system | |
| CN211348346U (en) | Circuit board performance verification clamp utilizing multiple groups of probes | |
| CN219533237U (en) | Two four-wire test fixture | |
| CN222014261U (en) | Function testing equipment | |
| CN221405951U (en) | Inspection platform for PCB bare board | |
| CN220231909U (en) | Automatic test machine | |
| CN222979771U (en) | A pole magnet quality inspection device | |
| CN216771913U (en) | Electronic watch COB board chip package test jig |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| PA0109 | Patent application |
St.27 status event code: A-0-1-A10-A12-nap-PA0109 |
|
| PA0201 | Request for examination |
St.27 status event code: A-1-2-D10-D11-exm-PA0201 |
|
| R18-X000 | Changes to party contact information recorded |
St.27 status event code: A-3-3-R10-R18-oth-X000 |
|
| E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
| PE0701 | Decision of registration |
St.27 status event code: A-1-2-D10-D22-exm-PE0701 |
|
| GRNT | Written decision to grant | ||
| PR0701 | Registration of establishment |
St.27 status event code: A-2-4-F10-F11-exm-PR0701 |
|
| PR1002 | Payment of registration fee |
St.27 status event code: A-2-2-U10-U11-oth-PR1002 Fee payment year number: 1 |
|
| PG1601 | Publication of registration |
St.27 status event code: A-4-4-Q10-Q13-nap-PG1601 |
|
| P14-X000 | Amendment of ip right document requested |
St.27 status event code: A-5-5-P10-P14-nap-X000 |
|
| PN2301 | Change of applicant |
St.27 status event code: A-5-5-R10-R11-asn-PN2301 |
|
| P16-X000 | Ip right document amended |
St.27 status event code: A-5-5-P10-P16-nap-X000 |
|
| PN2301 | Change of applicant |
St.27 status event code: A-5-5-R10-R14-asn-PN2301 |
|
| R18-X000 | Changes to party contact information recorded |
St.27 status event code: A-5-5-R10-R18-oth-X000 |