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KR20110050226A - Manufacturing apparatus of flat panel display element - Google Patents

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KR20110050226A
KR20110050226A KR1020090107112A KR20090107112A KR20110050226A KR 20110050226 A KR20110050226 A KR 20110050226A KR 1020090107112 A KR1020090107112 A KR 1020090107112A KR 20090107112 A KR20090107112 A KR 20090107112A KR 20110050226 A KR20110050226 A KR 20110050226A
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KR
South Korea
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chamber
process chamber
glass substrate
plastic film
thin film
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Withdrawn
Application number
KR1020090107112A
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Korean (ko)
Inventor
유용우
김철우
박문기
서경한
Original Assignee
엘지디스플레이 주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
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Priority to KR1020090107112A priority Critical patent/KR20110050226A/en
Publication of KR20110050226A publication Critical patent/KR20110050226A/en
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Abstract

본 발명은 한 대의 스퍼터로 서로 다른 증착 방식을 통해 서로 다른 기판에 다수의 박막을 형성할 수 있는 평판 표시 소자의 제조 장치를 제공하는 것이다.The present invention provides an apparatus for manufacturing a flat panel display device capable of forming a plurality of thin films on different substrates through different deposition methods with one sputter.

본 발명에 따른 평판 표시 소자의 제조 장치는 인라인 방식으로 이송된 유리 기판이 정지된 상태에서 제1 박막을 형성하는 제1 프로세스 챔버와; 상기 제1 프로세스 챔버와 연통되게 형성되며 플라스틱 필름에 제2 박막을 형성하는 제2 프로세스 챔버와; 상기 제1 및 제2 프로세스 챔버에 동시에 또는 개별적으로 전압을 공급하는 전원부와; 상기 제1 및 제2 프로세스 챔버의 진공 분위기를 형성하는 다수의 진공 펌프들을 구비하는 것을 특징으로 한다.An apparatus for manufacturing a flat panel display device according to the present invention includes a first process chamber for forming a first thin film in a state in which a glass substrate transferred in an inline manner is stopped; A second process chamber formed in communication with the first process chamber and forming a second thin film on a plastic film; A power supply unit supplying voltage to the first and second process chambers simultaneously or separately; And a plurality of vacuum pumps forming a vacuum atmosphere of the first and second process chambers.

Description

평판 표시 소자의 제조 장치{FABRICATNG APPARATUS FOR PLAT DISPLAY DEVICE}Manufacturing apparatus for flat panel display device {FABRICATNG APPARATUS FOR PLAT DISPLAY DEVICE}

본 발명은 한 대의 스퍼터로 서로 다른 증착 방식을 통해 서로 다른 기판에 다수의 박막을 형성할 수 있는 평판 표시 소자의 제조 장치에 관한 것이다.The present invention relates to an apparatus for manufacturing a flat panel display device capable of forming a plurality of thin films on different substrates through different deposition methods with one sputter.

일반적으로, 액정표시장치(Liquid Crystal Display)는 액정을 이용하여 영상을 표시하는 평판표시장치의 하나로써, 다른 디스플레이 장치에 비해 얇고 가벼우며, 낮은 구동전압 및 낮은 소비전력을 갖는 장점이 있어, 산업 전반에 걸쳐 광범위하게 사용되고 있다.In general, the liquid crystal display (Liquid Crystal Display) is a flat panel display device that displays an image using a liquid crystal, it is thinner and lighter than other display devices, and has the advantages of low driving voltage and low power consumption, It is widely used throughout.

이와 같은 액정 표시 장치는 박막 증착 공정, 세정 공정, 포토리소그래피 공정, 식각 공정, 포토레지스트 박리 공정, 검사 공정 등과 같은 제조 공정을 통해 형성됩니다. Such liquid crystal displays are formed through manufacturing processes such as thin film deposition, cleaning, photolithography, etching, photoresist stripping, and inspection.

이중 박막 증착 공정은 스퍼터 장치를 이용해 기판 상에 박막을 형성합니다. 이 스퍼터 장치는 프로세스 챔버 내에 불활성 가스인 아르곤 가스와 반응성 가스인 산소와 질소를 주입하고, 타겟인 캐소드에 고전압을 인가한다. 인가된 전압에 의해 아로관 가스는 이온화되고 가속화되어 타겟과 충돌하게 된다. 이 때, 타겟 재 료가 튀어 나와 기판에 달라 붙어서 성장함으로써 박막을 형성한다.The dual thin film deposition process uses a sputter device to form a thin film on a substrate. The sputtering device injects argon gas, which is an inert gas, oxygen and nitrogen, which is a reactive gas, into the process chamber, and applies a high voltage to the target cathode. The applied voltage causes the aarrow tube gas to be ionized and accelerated to collide with the target. At this time, the target material protrudes and sticks to the substrate to grow, thereby forming a thin film.

이러한 스퍼터 장치는 기판의 이송 방법에 따라 증착 방식도 달라진다. 따라서, 최근에는 비용 절감 등의 차원에서 한 대의 스퍼터로 서로 다른 증착 방식을 통해 서로 다른 기판에 다수의 박막을 형성할 수 있는 스퍼터 장치가 요구되고 있다.Such a sputtering apparatus also varies in the deposition method depending on the substrate transfer method. Therefore, in recent years, a sputtering apparatus capable of forming a plurality of thin films on different substrates through different deposition methods with one sputtering device is required in view of cost reduction.

상기와 같은 문제점을 해결하기 위하여, 본 발명은 한 대의 스퍼터로 서로 다른 증착 방식을 통해 서로 다른 기판에 다수의 박막을 형성할 수 있는 평판 표시 소자의 제조 장치를 제공하는 것이다.In order to solve the above problems, the present invention is to provide a flat panel display device manufacturing apparatus capable of forming a plurality of thin films on different substrates through a different deposition method with a single sputter.

상기 기술적 과제를 달성하기 위하여, 본 발명에 따른 평판 표시 소자의 제조 장치는 인라인 방식으로 이송된 유리 기판이 정지된 상태에서 제1 박막을 형성하는 제1 프로세스 챔버와; 상기 제1 프로세스 챔버와 연통되게 형성되며 플라스틱 필름에 제2 박막을 형성하는 제2 프로세스 챔버와; 상기 제1 및 제2 프로세스 챔버에 동시에 또는 개별적으로 전압을 공급하는 전원부와; 상기 제1 및 제2 프로세스 챔버의 진공 분위기를 형성하는 다수의 진공 펌프들을 구비하는 것을 특징으로 한다.In order to achieve the above technical problem, an apparatus for manufacturing a flat panel display device according to the present invention includes a first process chamber for forming a first thin film in a state in which the glass substrate transferred in the in-line manner is stopped; A second process chamber formed in communication with the first process chamber and forming a second thin film on a plastic film; A power supply unit supplying voltage to the first and second process chambers simultaneously or separately; And a plurality of vacuum pumps forming a vacuum atmosphere of the first and second process chambers.

상기 평판 표시 소자의 제조 장치는 상기 제1 프로세스 챔버와 연통되어 상기 제1 프로세스 챔버에 유리 기판을 이송하는 트랜스퍼 챔버와; 상기 제1 프로세 스 챔버와 연통되어 상기 제1 프로세스 챔버로부터의 유리 기판이 이송되는 버퍼 챔버와; 상기 트랜스퍼 챔버로 기판을 이송하는 로드락 챔버를 추가로 구비하는 것을 특징으로 한다.The apparatus for manufacturing a flat panel display device may include a transfer chamber in communication with the first process chamber and transferring a glass substrate to the first process chamber; A buffer chamber in communication with the first process chamber to transfer a glass substrate from the first process chamber; And a load lock chamber for transferring the substrate to the transfer chamber.

상기 평판 표시 소자의 제조 장치는 상기 트랜스퍼 챔버 및 상기 버퍼 챔버 내부에 상기 유리 기판을 예열하는 히터를 추가로 구비하는 것을 특징으로 한다.The apparatus for manufacturing a flat panel display element may further include a heater for preheating the glass substrate in the transfer chamber and the buffer chamber.

상기 제2 프로세스 챔버는 상기 플라스틱 필름을 연속적으로 공급하는 공급롤과; 상기 플라스틱 필름에 투명 도전막을 증착하기 위한 타겟인 캐소드와; 상기 캐소드와 마주보며 상기 플라스틱 필름이 감겨 있는 드럼과; 상기 제2 박막이 증착된 상기 플라스틱 필름을 감기 위한 권취롤과; 상기 드럼 내측에 위치하여 상기 제2 박막이 증착되는 동안 상기 플라스틱 필름의 온도를 제어하는 냉각기와; 상기 플라스틱 필름을 표면처리하는 표면 처리부와; 상기 제2 프로세스 챔버 내에 발생되는 반응 분산물을 포집하여 제거하는 트랩을 포함하는 것을 특징으로 한다.The second process chamber includes a supply roll for continuously supplying the plastic film; A cathode which is a target for depositing a transparent conductive film on the plastic film; A drum facing the cathode and having the plastic film wound thereon; A winding roll for winding the plastic film on which the second thin film is deposited; A cooler positioned inside the drum to control a temperature of the plastic film while the second thin film is deposited; A surface treatment unit for surface treating the plastic film; And a trap for trapping and removing the reaction dispersion generated in the second process chamber.

상기 다수의 진공 펌프는 상기 버퍼 챔버 및 상기 트랜스퍼 챔버와 연결된 터보 펌프와; 상기 제1 프로세스 챔버와 연결된 크라이오 펌프를 포함하는 것을 특징으로 한다.The plurality of vacuum pumps includes a turbo pump connected to the buffer chamber and the transfer chamber; And a cryopump connected to the first process chamber.

상기 제1 및 제2 박막 중 적어도 어느 하나는 투명 도전막인 것을 특징으로 한다.At least one of the first and second thin films may be a transparent conductive film.

본 발명에 따른 평판표시소자의 제조 장치는 인라인 방식으로 이송되는 유리 기판을 제1 프로세스 챔버에서 정지시킨 후 증착 공정이 이루어지고, 제2 프로세스 챔버에서 롤투롤 방식으로 이송되는 플라스틱 필름에 증착 공정이 이루어진다. 이에 따라, 유리 기판 및 플라스틱 필름 각각에 동시에 박막을 증착할 수 있으므로 생산 효율이 향상된다. 또한, 제1 및 제2 프로세스 챔버는 서로 연통되도록 형성됨으로써 전원 시스템 및 진공 펌프 시스템을 공유할 수 있다.In the apparatus for manufacturing a flat panel display device according to the present invention, a deposition process is performed after stopping a glass substrate transferred in an inline manner in a first process chamber, and a deposition process is performed on a plastic film transferred in a roll-to-roll manner in a second process chamber. Is done. As a result, a thin film can be simultaneously deposited on each of the glass substrate and the plastic film, thereby improving production efficiency. In addition, the first and second process chambers may be configured to communicate with each other, thereby sharing a power system and a vacuum pump system.

이하, 첨부된 도면 및 실시 예를 통해 본 발명의 실시 예를 구체적으로 살펴보면 다음과 같다.Hereinafter, an embodiment of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings and embodiments.

도 1은 본 발명에 따른 스퍼터 장치를 나타내는 도면이다.1 is a view showing a sputtering apparatus according to the present invention.

도 1에 도시된 스퍼터 장치는 로드/언로드부(10), 로드락 챔버(20), 트랜스퍼 챔버(30), 제1 및 제2 프로세스 챔버(40,60), 버퍼 챔버(50)로 이루어진다. 여기서, 로드/언로드부(10), 로드락 챔버(20), 트랜스퍼 챔버(30), 제1 프로세스 챔버(40) 및 버퍼 챔버(50)는 인터백(inter-back) 방식으로 유리 기판을 이송하며, 제2 프로세스 챔버(60)는 롤투롤(roll to roll) 방식으로 플라스틱 필름을 이송한다.The sputtering apparatus shown in FIG. 1 includes a load / unload unit 10, a load lock chamber 20, a transfer chamber 30, first and second process chambers 40 and 60, and a buffer chamber 50. Here, the load / unload unit 10, the load lock chamber 20, the transfer chamber 30, the first process chamber 40 and the buffer chamber 50 transfer the glass substrate in an inter-back manner. The second process chamber 60 transfers the plastic film in a roll to roll manner.

로드/언로드부(10)는 유리 기판의 로딩 및 언로딩이 이루어진다. 유리 기판은 캐리어(도시하지 않음)에 안착되며, 캐리어는 케이블 베어등과 같은 이송 수단의 회전에 의해 유리 기판을 로드락 챔버(20)로 이송한다. 여기서, 캐리어의 유리 기판 이송 속도에 따라서 투명 도전막의 증착 속도 및 투명 도전막의 두께를 조절할 수 있다.The load / unload portion 10 is loaded and unloaded of the glass substrate. The glass substrate is seated in a carrier (not shown), and the carrier transfers the glass substrate to the load lock chamber 20 by rotation of a conveying means such as a cable bare or the like. Here, the deposition rate of the transparent conductive film and the thickness of the transparent conductive film can be adjusted in accordance with the glass substrate transfer speed of the carrier.

로드락 챔버(20)는 로드/언로드부(10)와 트랜스퍼 챔버(30) 사이의 유리 기 판을 이송한다. 즉, 로드락 챔버(20)는 제1 게이트 밸브(12)를 통해 로드/언로드부(10)의 유리 기판이 이송되면, 드라이 펌프(18)를 통해 내부가 감압되므로 대기압 상태에서 저진공 상태가 된다. 그런 다음, 제2 게이트 밸브(14)를 열어 중진공 상태의 트랜스퍼 챔버(30)로 증착 공정 전의 유리 기판을 이송한다. 또한, 로드락 챔버(20)는 증착이 완료된 유리 기판을 로드/언로드부(10)로 이송한다.The load lock chamber 20 transfers a glass substrate between the load / unload unit 10 and the transfer chamber 30. That is, in the load lock chamber 20, when the glass substrate of the load / unload unit 10 is transferred through the first gate valve 12, the inside of the load lock chamber 20 is decompressed through the dry pump 18, so that the low vacuum state is maintained at atmospheric pressure. do. Then, the second gate valve 14 is opened to transfer the glass substrate before the deposition process to the transfer chamber 30 in the medium vacuum state. In addition, the load lock chamber 20 transfers the glass substrate on which the deposition is completed, to the load / unload unit 10.

트랜스퍼 챔버(30)는 로드락 챔버(20)와 제1 프로세스 챔버(40) 사이의 유리 기판을 이송한다. 즉, 트랜스퍼 챔버(30)는 제2 게이트 밸브(14)를 통해 로드락 챔버(20)로부터의 유리 기판이 이송되면, 적어도 2개의 터보 펌프(16)를 통해 내부가 감압되므로 저진공 상태에서 중진공 상태가 된다. 그런 다음, 증착 공정 전의 유리 기판을 제1 프로세스 챔버(40)로 이송한다. 또한, 트랜스퍼 챔버(30)는 증착이 완료된 유리 기판을 제1 프로세스 챔버(40)로부터 로드락 챔버(20)로 이송한다.The transfer chamber 30 transfers the glass substrate between the load lock chamber 20 and the first process chamber 40. That is, in the transfer chamber 30, when the glass substrate from the load lock chamber 20 is transferred through the second gate valve 14, the inside of the transfer chamber 30 is decompressed through at least two turbopumps 16, thereby maintaining a low vacuum. It becomes a state. Then, the glass substrate before the deposition process is transferred to the first process chamber 40. In addition, the transfer chamber 30 transfers the glass substrate on which deposition is completed, from the first process chamber 40 to the load lock chamber 20.

이러한 트랜스퍼 챔버(30) 내부에는 트랜스퍼 챔버(30) 내부로 이송된 유리 기판을 예열하여 제1 프로세스 챔버(40)에서 증착 공정시 증착 효율을 높히기 위한 히터(32)가 마련된다. 이 히터(32)는 예를 들어 유리 기판의 이송 방향을 따라서 형성되는 다수의 열선으로 이루어진다. 다수의 열선 각각은 개별적으로 제어가능하므로 유리 기판의 예열 온도를 최대 250도로 조절할 수 있다. 이러한 히터(32)를 통해 예열된 유리 기판은 제1 프로세스 챔버(40)로 이송된다.The heater 32 is provided in the transfer chamber 30 to increase the deposition efficiency during the deposition process in the first process chamber 40 by preheating the glass substrate transferred into the transfer chamber 30. This heater 32 consists of many hot wires formed along the conveyance direction of a glass substrate, for example. Each of the plurality of hot wires is individually controllable to control the preheating temperature of the glass substrate up to 250 degrees. The glass substrate preheated through the heater 32 is transferred to the first process chamber 40.

제1 프로세스 챔버(40)는 트랜스퍼 챔버(30)로부터의 유리 기판이 이송되면, 10KW의 직류 펄스 마그네트론의 스퍼터를 통해 플라즈마를 발생시켜 정지된 유리 기판에 투명 산화막을 증착하는 증착 공정을 수행한다. When the glass substrate from the transfer chamber 30 is transferred, the first process chamber 40 performs a deposition process of depositing a transparent oxide film on the stationary glass substrate by generating a plasma through a sputter of 10 KW DC pulse magnetron.

구체적으로, 제1 프로세스 챔버(40) 내부는 적어도 2개의 크라이오 펌프(22;cryo pump) 등의 진공 펌프에 의해 고진공이 형성된 후 가스 주입구를 통해 불활성 가스인 아르곤과, 반응성 가스인 산소 및 질소 등이 주입된다. 그런 다음, 도 2에 도시된 타겟인 캐소드(42)에 고전압을 인가한다. 인가된 전압에 의해 아르곤 가스는 이온화되고 가속화되어 타겟(42)과 충돌하게 된다. 이 때, 타겟(42) 재료가 튀어 나와 유리 기판(11)에 달라 붙어서 성장함으로써 유리 기판(11) 상에 투명 도전막이 형성된다. 여기서, 타겟(42)은 예를 들어 ITO 또는 ZnO로 형성된다.Specifically, the inside of the first process chamber 40 is formed of a high vacuum by a vacuum pump such as at least two cryo pumps 22, and then argon, which is an inert gas, and oxygen and nitrogen, which are reactive gases, through a gas inlet. Etc. are injected. Then, a high voltage is applied to the cathode 42 which is the target shown in FIG. The applied voltage causes the argon gas to ionize and accelerate and collide with the target 42. At this time, the target 42 material sticks out and sticks to the glass substrate 11 to grow, thereby forming a transparent conductive film on the glass substrate 11. Here, the target 42 is formed of ITO or ZnO, for example.

증착 공정시 유리 기판(11)과 타겟(42)은 지면과 평행한 상태로, 타겟(42)이 하부에, 유리 기판(11)이 타겟(42)과 마주보도록 상부에 위치하도록 정렬된다. 이와 같이, 본원 발명은 유리 기판(11)과 캐소드(42)가 지면과 수평을 유지한 상태로 증착 공정이 이루어지므로 유리 기판(11)을 수직으로 세워 증착공정이 이루어지는 종래 클러스터(cluster) 방식의 문제점인 기계적 구동에 의하 파티클 발생과 유리 기판(11)의 파손의 발생을 방지할 수 있다. 또한, 제1 프로세스 챔버(40)는 정지된 상태의 유리 기판(11)에 증착 공정을 수행하므로 인라인 방식의 문제점인 유리 기판(11) 이송 중 증착시 발생되는 파티클을 저감할 수 있다. In the deposition process, the glass substrate 11 and the target 42 are aligned in parallel with the ground so that the target 42 is positioned at the bottom and the glass substrate 11 is positioned at the top thereof to face the target 42. As described above, in the present invention, since the deposition process is performed while the glass substrate 11 and the cathode 42 are kept horizontal with the ground, the glass substrate 11 is vertically placed so that the deposition process is performed. Generation of particles and breakage of the glass substrate 11 can be prevented by mechanical driving, which is a problem. In addition, since the first process chamber 40 performs a deposition process on the glass substrate 11 in a stopped state, particles generated during deposition during the transfer of the glass substrate 11, which is an in-line method, may be reduced.

버퍼 챔버(50)는 적어도 2개의 터보 펌프(16)를 통해 중진공 상태가 되며, 제1 프로세스 챔버(40) 내에서 증착 공정이 완료된 유리 기판이 이송된 후 그 유리 기판의 진행 방향을 반대 방향으로 회전시킨다. 회전된 유리 기판은 제1 프로세스 챔버(40), 트랜스퍼 챔버(30) 및 로드락 챔버(20)를 통해 로드/언로드부(10)로 반출된다. 여기서, 회전된 유리 기판이 다시 제1 프로세스 챔버로 이송되면, 유리 기판 상에는 투명 도전막이 재차 증착되거나 다른 재질의 박막이 증착되거나 증착 공정 없이 제1 출구(54)를 통해 외부로 반출된다. 이와 같이, 투명 도전막이 증착된 유리 기판의 반출 중에도 스퍼터링 공정을 수행할 수 있어 생산 효율이 향상된다.The buffer chamber 50 is in a medium vacuum state through at least two turbopumps 16, and after the glass substrate having been completed in the deposition process is transferred in the first process chamber 40, the advancing direction of the glass substrate is reversed. Rotate The rotated glass substrate is carried out to the load / unload unit 10 through the first process chamber 40, the transfer chamber 30, and the load lock chamber 20. Here, when the rotated glass substrate is transferred back to the first process chamber, a transparent conductive film is deposited on the glass substrate again, or a thin film of another material is deposited or carried out to the outside through the first outlet 54 without the deposition process. As described above, the sputtering process can be performed even during the carrying out of the glass substrate on which the transparent conductive film is deposited, thereby improving production efficiency.

한편, 회전된 유리 기판이 다시 제1 프로세스 챔버(40)로 이송되어 증착공정이 다시 이루어질 경우, 유리 기판을 예열하여 증착 공정시 증착 효율을 높히기 위한 히터(52)가 버퍼 챔버(50) 내에 마련된다. 이 히터(52)는 예를 들어 유리 기판의 이송 방향을 따라서 형성되는 다수의 열선으로 이루어진다. 다수의 열선 각각은 개별적으로 제어가능하므로 유리 기판의 예열 온도를 최대 250도로 조절할 수 있다. 이러한 히터(52)를 통해 예열된 유리 기판은 제1 프로세스 챔버(40)로 재이송된다.Meanwhile, when the rotated glass substrate is transferred to the first process chamber 40 again and the deposition process is performed again, a heater 52 is provided in the buffer chamber 50 to preheat the glass substrate to increase the deposition efficiency during the deposition process. do. This heater 52 consists of many hot wires formed along the conveyance direction of a glass substrate, for example. Each of the plurality of hot wires is individually controllable to control the preheating temperature of the glass substrate up to 250 degrees. The glass substrate preheated through this heater 52 is re-transmitted to the first process chamber 40.

제2 프로세스 챔버(60)는 직류 펄스 마그네트론의 스퍼터를 통해 직류 글로우(DC Glow) 방전 방식을 통해해 플라즈마를 발생시켜 롤투롤(Roll-To-Roll) 방식으로 플라스틱 필름에 투명 산화막을 증착하는 증착 공정을 수행한다. 이를 위해, 제2 프로세스 챔버(60)는 도 3에 도시된 바와 같이 공급롤(62)과, 드럼(64)과, 권취롤(68)과, 캐소드(66)와, 냉각부(74)와, 표면처리부(70) 및 트랩(72)으로 이루어진다. The second process chamber 60 is a deposition process for depositing a transparent oxide film on a plastic film in a roll-to-roll manner by generating a plasma through a DC glow discharge method through a sputter of a direct current pulse magnetron. Perform the process. To this end, the second process chamber 60 is provided with a supply roll 62, a drum 64, a winding roll 68, a cathode 66, a cooling unit 74, as shown in FIG. And a surface treatment unit 70 and a trap 72.

공급롤(62)에는 플라스틱 필름이 감겨 있으며 드럼(64)에 플라스틱 필름을 연속적으로 공급한다. 여기서, 플라스틱 필름은 예를 들어 PET(Polyethyleneterephthalate) 등이 이용된다.A plastic film is wound around the feed roll 62 and the plastic film is continuously supplied to the drum 64. Here, for example, PET (polyethylene terephthalate) is used as the plastic film.

캐소드(66)는 드럼(64)에 연속적으로 공급되는 플라스틱 필름의 표면에 투명 도전막이 증착되도록 한다. 구체적으로, 고진공이 형성된 제2 프로세스 챔버(60)에 불활성 가스인 아르곤과, 반응성 가스인 산소 및 질소 등이 주입된 후 타겟인 캐소드(66)에 고전압을 인가한다. 인가된 전압에 의해 아르곤 가스는 이온화되고 가속화되어 타겟인 캐소드(66)와 충돌하게 된다. 이 때, 캐소드(66)인 타겟 재료가 튀어 나와 플라스틱 필름에 달라 붙어서 성장함으로써 플라스틱 필름 상에 투명 도전막이 형성된다. 여기서, 타겟인 캐소드(66)는 예를 들어 ITO 또는 ZnO로 형성된다.The cathode 66 allows a transparent conductive film to be deposited on the surface of the plastic film which is continuously supplied to the drum 64. Specifically, high voltage is applied to the target cathode 66 after argon, which is an inert gas, and oxygen and nitrogen, which are reactive gases, are injected into the second process chamber 60 having the high vacuum. The applied voltage causes the argon gas to be ionized and accelerated to collide with the target cathode 66. At this time, the target material, which is the cathode 66, sticks out to the plastic film and grows to form a transparent conductive film on the plastic film. Here, the target cathode 66 is formed of, for example, ITO or ZnO.

냉각부(74,Chiller)는 제2 프로세스 챔버 내부에 위치하거나 도 3에 도시된 바와 같이 드럼(64)과 회전롤(76) 사이에 형성된다. 이 냉각부(74)는 투명 도전막이 플라스틱 필름에 증착되는 동안 플라스틱 필름의 표면 온도를 제어한다. 예를 들어, 냉각부(74)는 약 60도 이하로 플라스틱 필름의 표면 온도가 유지되도록 제어한다. 이러한 냉각부(74)는 플라즈마에서 유입되는 에너지가 장시간 가해지면서 축적된 열에너지에 의해 가열된 플라스틱 필름을 냉각시키며, 플라스틱 필름 내부에 잔류하는 수분등이 제거된다. The cooling unit 74 (Chiller) is located inside the second process chamber or is formed between the drum 64 and the rotary roll 76 as shown in FIG. This cooling section 74 controls the surface temperature of the plastic film while the transparent conductive film is deposited on the plastic film. For example, the cooling unit 74 controls the surface temperature of the plastic film to be maintained at about 60 degrees or less. The cooling unit 74 cools the plastic film heated by the accumulated thermal energy while energy flowing from the plasma is applied for a long time, and moisture remaining in the plastic film is removed.

권취롤(68)은 투명 도전막이 증착된 플라스틱 필름을 권취하여 필요에 따라 공급롤에 다시 공급하거나 제2 출구(56)를 통해 외부로 반출된다.The winding roll 68 winds up the plastic film in which the transparent conductive film was deposited, and supplies it to a supply roll again as needed, or is carried out to the outside through the 2nd outlet 56. As shown in FIG.

표면 처리부(70)는 DC 처리를 통해 플라스틱 필름의 표면을 클리닝함과 아울러 플라스틱 필름 상에 증착될 기판과의 접착력이 향상되도록 표면 처리된다.The surface treatment unit 70 is surface-treated to clean the surface of the plastic film through DC treatment and to improve adhesion to the substrate to be deposited on the plastic film.

트랩(trap)은 제2 프로세스 챔버(60)에서 발생하여 투명 도전막의 전기적 특 성 및 투과율을 저하시키는 반응 분산물을 포집하여 제거한다.Traps are trapped in the second process chamber 60 to trap and remove reaction dispersions that degrade the electrical properties and transmittance of the transparent conductive film.

한편, 제2 프로세스 챔버(60)에는 플라스틱 필름의 이동 속도를 감지하여 공급롤(62), 드럼(64) 및 권취롤(68)의 회전 속도를 조절하는 다수의 제어 수단(도시하지 않음)이 형성된다. 이러한 다수의 제어 수단은 플라스틱 필름의 장력이 예를 들어 약 15kgf를 유지할 수 있도록 공급롤(62), 드럼(64) 및 권취롤(68)의 회전 속도를 조절한다. 또한, 다수의 제어 수단에 의해 공급롤(62), 드럼(64) 및 권취롤(68)의 회전 속도가 조절됨으로써 투명 도전막의 증착 속도 및 투명 도전막의 박막 두께를 조절할 수 있다.On the other hand, the second process chamber 60 has a plurality of control means (not shown) for sensing the moving speed of the plastic film to adjust the rotational speed of the feed roll 62, the drum 64 and the take-up roll 68 Is formed. Many of these control means adjust the rotational speed of the feed roll 62, drum 64 and take-up roll 68 so that the tension of the plastic film can be maintained, for example, about 15 kgf. In addition, by controlling the rotational speeds of the supply roll 62, the drum 64, and the winding roll 68 by a plurality of control means, the deposition rate of the transparent conductive film and the thin film thickness of the transparent conductive film can be adjusted.

한편, 제2 프로세스 챔버(60)는 제1 프로세스 챔버(40), 트랜스퍼 챔버(30) 및 버퍼 챔버(50)와 연통되게 형성된다. 이러한 연통된 트랜스퍼 챔버(30)와, 제1 및 제2 프로세스 챔버(40,60)에는 불활성 가스인 아르곤과, 반응성 가스인 산소 및 질소가 동시에 주입됨으로써 동시에 플라즈마를 생성할 수 있다. 이 때, 연통된제1 및 제2 프로세스 챔버(40,60)의 압력은 이들이 공유하는 다수의 진공 펌프들(16,22)에 의해 0.05~5Pa을 유지한다. Meanwhile, the second process chamber 60 is formed in communication with the first process chamber 40, the transfer chamber 30, and the buffer chamber 50. The communicating transfer chamber 30 and the first and second process chambers 40 and 60 may be simultaneously injected with argon, which is an inert gas, and oxygen and nitrogen, which are reactive gases, to simultaneously generate plasma. At this time, the pressure of the first and second process chambers 40 and 60 communicated is maintained between 0.05 and 5 Pa by the plurality of vacuum pumps 16 and 22 they share.

또한, 제1 및 제2 프로세스 챔버(40,60)는 도 4에 도시된 바와 같이 전원부(90)를 공유한다. 이를 위해, 제1 프로세스 챔버(40)와 전원부(90) 사이에는 제1 스위칭 소자(SW1)가 형성되며, 제2 프로세스 챔버(60)와 전원부(90) 사이에는 제2 스위칭 소자(SW2)가 형성된다. 이러한 제1 및 제2 스위칭 소자(SW1,SW2)가 동시에 턴온되면 제1 및 제2 프로세스 챔버(40,60)에는 하나의 전원부(90)를 통해 동시에 전원이 공급되며, 제1 스위칭 소자(SW1)가 선택적으로 턴온되면 제1 프로세스 챔버(40)에 단독적으로 전원이 공급되며, 제2 스위칭 소자(SW2)가 선택적으로 턴온되면 제2 프로세스 챔버(60)에 단독적으로 전원이 공급된다.In addition, the first and second process chambers 40 and 60 share a power supply 90 as shown in FIG. 4. To this end, a first switching device SW1 is formed between the first process chamber 40 and the power supply unit 90, and a second switching device SW2 is disposed between the second process chamber 60 and the power supply unit 90. Is formed. When the first and second switching devices SW1 and SW2 are turned on at the same time, power is simultaneously supplied to the first and second process chambers 40 and 60 through one power supply unit 90, and the first switching device SW1 is provided. When () is selectively turned on, power is supplied to the first process chamber 40 alone, and when the second switching element SW2 is selectively turned on, power is supplied to the second process chamber 60 alone.

상술한 본원 발명의 스퍼터는 태양 전지 및 평판 표시 소자, 예를 들어 액정 표시 소자, 터치 패널, 유기 전계 발광 소자, 플라즈마 디스플레이, 전계 방출 소자, 플렉서블 디스플레이 등의 투명 도전막, 예를 들어 ITO 또는 ZnO등의 형성시 이용된다.The sputter of the present invention described above is a transparent conductive film such as a solar cell and a flat panel display device such as a liquid crystal display device, a touch panel, an organic electroluminescent device, a plasma display, a field emission device, a flexible display, such as ITO or ZnO. It is used in the formation of the back.

이상에서 설명한 본 발명은 상술한 실시 예 및 첨부된 도면에 한정되는 것이 아니고, 본 발명의 기술적 사상을 벗어나지 않는 범위 내에서 여러 가지 치환, 변형 및 변경이 가능하다는 것이 본 발명이 속하는 기술분야에서 종래의 지식을 가진 자에게 있어 명백할 것이다.It will be apparent to those skilled in the art that various modifications and variations can be made in the present invention without departing from the spirit or scope of the invention. Will be clear to those who have knowledge of.

도 1은 본 발명에 따른 스퍼터를 나타내는 도면이다.1 is a view showing a sputter according to the present invention.

도 2는 도 1에 도시된 제1 프로세스 챔버를 상세히 나타내는 도면이다.FIG. 2 is a detailed view of the first process chamber shown in FIG. 1.

도 3은 도 1에 도시된 제2 프로세스 챔버를 상세히 나타내는 도면이다.3 is a view illustrating in detail the second process chamber illustrated in FIG. 1.

도 4는 도 1에 도시된 제1 및 제2 프로세스 챔버와 전원부 간의 연결관계를 설명하기 위한 도면이다.FIG. 4 is a diagram for describing a connection relationship between the first and second process chambers and the power supply unit illustrated in FIG. 1.

< 도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명 ><Description of Symbols for Main Parts of Drawings>

10 : 로드/언로드부 20 : 로드락 챔버10: load / unload portion 20: load lock chamber

30 : 트랜스퍼 챔버 40,60 : 프로세스 챔버30: transfer chamber 40, 60: process chamber

50 : 버퍼 챔버50: buffer chamber

Claims (6)

인라인 방식으로 이송된 유리 기판이 정지된 상태에서 제1 박막을 형성하는 제1 프로세스 챔버와;A first process chamber forming a first thin film in a state in which the glass substrate transferred in an inline manner is stopped; 상기 제1 프로세스 챔버와 연통되게 형성되며 플라스틱 필름에 제2 박막을 형성하는 제2 프로세스 챔버와;A second process chamber formed in communication with the first process chamber and forming a second thin film on a plastic film; 상기 제1 및 제2 프로세스 챔버에 동시에 또는 개별적으로 전압을 공급하는 전원부와;A power supply unit supplying voltage to the first and second process chambers simultaneously or separately; 상기 제1 및 제2 프로세스 챔버의 진공 분위기를 형성하는 다수의 진공 펌프들을 구비하는 것을 특징으로 하는 평판 표시 소자의 제조 장치.And a plurality of vacuum pumps forming a vacuum atmosphere of the first and second process chambers. 제 1 항에 있어서,The method of claim 1, 상기 제1 프로세스 챔버와 연통되어 상기 제1 프로세스 챔버에 유리 기판을 이송하는 트랜스퍼 챔버와;A transfer chamber in communication with the first process chamber for transferring a glass substrate to the first process chamber; 상기 제1 프로세스 챔버와 연통되어 상기 제1 프로세스 챔버로부터의 유리 기판이 이송되는 버퍼 챔버와;A buffer chamber in communication with the first process chamber to transport a glass substrate from the first process chamber; 상기 트랜스퍼 챔버로 기판을 이송하는 로드락 챔버를 추가로 구비하는 것을 특징으로 하는 평판 표시 소자의 제조 장치.And a load lock chamber for transferring the substrate to the transfer chamber. 제 2 항에 있어서,The method of claim 2, 상기 트랜스퍼 챔버 및 상기 버퍼 챔버 내부에 상기 유리 기판을 예열하는 히터를 추가로 구비하는 것을 특징으로 하는 액정 표시 소자의 제조 장치.And a heater for preheating the glass substrate inside the transfer chamber and the buffer chamber. 제 1 항에 있어서,The method of claim 1, 상기 제2 프로세스 챔버는The second process chamber is 상기 플라스틱 필름을 연속적으로 공급하는 공급롤과;A supply roll for continuously supplying the plastic film; 상기 플라스틱 필름에 투명 도전막을 증착하기 위한 타겟인 캐소드와;A cathode which is a target for depositing a transparent conductive film on the plastic film; 상기 캐소드와 마주보며 상기 플라스틱 필름이 감겨 있는 드럼과;A drum facing the cathode and having the plastic film wound thereon; 상기 제2 박막이 증착된 상기 플라스틱 필름을 감기 위한 권취롤과;A winding roll for winding the plastic film on which the second thin film is deposited; 상기 드럼 내측에 위치하여 상기 제2 박막이 증착되는 동안 상기 플라스틱 필름의 온도를 제어하는 냉각기와;A cooler positioned inside the drum to control a temperature of the plastic film while the second thin film is deposited; 상기 플라스틱 필름을 표면처리하는 표면 처리부와;A surface treatment unit for surface treating the plastic film; 상기 제2 프로세스 챔버 내에 발생되는 반응 분산물을 포집하여 제거하는 트랩을 포함하는 것을 특징으로 하는 평판 표시 소자의 제조 장치.And a trap for collecting and removing the reaction dispersion generated in the second process chamber. 제 2 항에 있어서,The method of claim 2, 상기 다수의 진공 펌프는The plurality of vacuum pumps 상기 버퍼 챔버 및 상기 트랜스퍼 챔버와 연결된 터보 펌프와;A turbo pump connected to the buffer chamber and the transfer chamber; 상기 제1 프로세스 챔버와 연결된 크라이오 펌프를 포함하는 것을 특징으로하는 평판 표시 소자의 제조 장치.And a cryo pump connected to the first process chamber. 제 1 항에 있어서, The method of claim 1, 상기 제1 및 제2 박막 중 적어도 어느 하나는 투명 도전막인 것을 특징으로 하는 평판 표시 소자의 제조 장치.At least one of the said 1st and 2nd thin film is a manufacturing apparatus of the flat panel display element characterized by the above-mentioned.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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CN113791510A (en) * 2021-08-06 2021-12-14 河北光兴半导体技术有限公司 Preparation system for electrochromic glass

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