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KR20150030833A - Liquid crystal display device and method for driving the same - Google Patents

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KR20150030833A
KR20150030833A KR20130109942A KR20130109942A KR20150030833A KR 20150030833 A KR20150030833 A KR 20150030833A KR 20130109942 A KR20130109942 A KR 20130109942A KR 20130109942 A KR20130109942 A KR 20130109942A KR 20150030833 A KR20150030833 A KR 20150030833A
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liquid crystal
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Abstract

본 발명은 오토 프로브(AP: Auto Probe) 검사를 위해 형성된 AP 검사 라인을 공통 전압 라인(Vcom line)으로 활용하여 베젤 사이즈를 줄인 액정 디스플레이 장치와 이의 구동 방법에 관한 것이다.
본 발명의 실시 예에 따른 액정 디스플레이 장치는 액정 패널의 액티브 영역에 상호 교차하도록 형성된 복수의 게이트 라인과 복수의 데이터 라인; 오토 프로브 검사를 위해 상기 액정 패널의 비 표시 영역에 형성된 AP 검사 라인, AP 검사 인에이블 신호 라인 및 데이터 인에이블 트랜지스터; 상기 액정 패널이 구동하여 화상을 표시할 때, 상기 AP 검사 라인을 공통 전압 라인으로 이용하기 위해 상기 액정 패널의 비 표시 영역에 형성된 공통 전압 인에이블 신호 라인 및 복수의 스위치를 포함하는 스위치부; 및 상기 액정 패널을 구동 시키기 위한 구동 회로부;를 포함한다.BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a liquid crystal display device and a method of driving the same that reduce the bezel size by utilizing an AP inspection line formed for an auto probe (AP) inspection as a common voltage line (Vcom line).
A liquid crystal display device according to an embodiment of the present invention includes a plurality of gate lines and a plurality of data lines formed to cross each other in an active region of a liquid crystal panel; An AP inspection line, an AP inspection enable signal line and a data enable transistor formed in a non-display area of the liquid crystal panel for an auto-probe inspection; A switch unit including a common voltage enable signal line formed in a non-display area of the liquid crystal panel and a plurality of switches for using the AP inspection line as a common voltage line when the liquid crystal panel is driven to display an image; And a driving circuit unit for driving the liquid crystal panel.

Description

액정 디스플레이 장치와 이의 구동 방법{LIQUID CRYSTAL DISPLAY DEVICE AND METHOD FOR DRIVING THE SAME}TECHNICAL FIELD [0001] The present invention relates to a liquid crystal display device and a method of driving the same,

본 발명은 액정 디스플레이 장치에 관한 것으로, 특히 오토 프로브(AP: Auto Probe) 검사를 위해 형성된 AP 검사 라인을 공통 전압 라인(Vcom line)으로 활용하여 베젤 사이즈를 줄인 액정 디스플레이 장치와 이의 구동 방법에 관한 것이다.BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a liquid crystal display device and, more particularly, to a liquid crystal display device using a bezel size reduced by utilizing an AP inspection line formed for an auto probe (AP) inspection as a common voltage line will be.

평판 디스플레이 장치 중에서 액정 디스플레이 장치(LCD)는 양산 기술의 발전, 구동수단의 용이성, 저전력 소비, 고화질 구현 및 대화면 구현의 장점이 있어 휴대용으로 기기에 적합하며 적용 분야가 확대되고 있다.Of the flat panel display devices, the liquid crystal display device (LCD) is suitable for portable devices and has a wide application field due to the advantages of development of mass production technology, ease of driving means, low power consumption, realization of high image quality and large screen realization.

액정 디스플레이 장치는 외부로부터 입력된 영상 신호를 데이터 전압으로 변환하고, 데이터 전압에 따라 복수의 화소(cell)의 액정층을 투과하는 광의 투과율을 조절하여 영상 신호에 따른 화상을 표시하게 된다.The liquid crystal display device converts an image signal input from the outside into a data voltage and adjusts the transmittance of light passing through the liquid crystal layer of a plurality of pixels according to the data voltage to display an image according to the image signal.

이러한 액정 디스플레이 장치는 TFT 어레이 기판(하부 기판) 상에 박막트랜지스터(TFT)를 포함한 여러 패턴을 형성하는 공정; 컬러필터 어레이 기판 상에 컬러필터층을 포함한 각종 패턴을 형성하는 공정; TFT 어레이 기판과 컬러필터 어레이 기판을 대향 합착하고, 그 사이에 액정을 주입하는 액정셀 공정; 및 상기 TFT 어레이 기판에 구동 회로부를 연결하는 모듈 공정;을 수행하여 제조되게 된다.Such a liquid crystal display device includes a process of forming various patterns including a thin film transistor (TFT) on a TFT array substrate (lower substrate); Forming various patterns including a color filter layer on a color filter array substrate; A liquid crystal cell process in which a TFT array substrate and a color filter array substrate are bonded to each other and liquid crystal is injected therebetween; And a module process of connecting a driving circuit portion to the TFT array substrate.

여기서, TFT 어레이 기판이 제조된 후, 라인들의 쇼트, 단선 등과 같은 라인불량과, TFT의 불량 등을 검출하기 위한 신호검사를 수행하게 된다.Here, after the TFT array substrate is manufactured, a signal inspection is performed to detect line defects such as shorts and disconnection of lines, defective TFTs, and the like.

최근에는 TFT 어레이 기판의 신호검사를 위해 액정 패널의 비 표시 영역에 AP 신호 라인 및 데이터 인에이블 TR(transistor)을 형성하고, 게이트 라인과 데이터 라인에 구동 신호를 인가하여 TFT 어레이 기판 상의 라인들 및 화소들이 정상적으로 형성되었는지를 검사하게 된다.Recently, an AP signal line and a data enable transistor (TR) are formed in a non-display region of a liquid crystal panel for signal inspection of a TFT array substrate, and a driving signal is applied to a gate line and a data line, It is checked whether the pixels are normally formed.

도 1은 종래 기술에 따른 액정 디스플레이 장치를 개략적으로 나타내는 도면이다.1 is a schematic view of a conventional liquid crystal display device.

도 1을 참조하면, 종래 기술에 따른 액정 디스플레이 장치는 화상을 표시하는 액정 패널(10)과 액정 패널(10)을 구동시키는 구동 회로부(20)를 포함한다.Referring to FIG. 1, a liquid crystal display device according to the related art includes a liquid crystal panel 10 for displaying an image and a driving circuit 20 for driving the liquid crystal panel 10.

액정 패널(10)은 화상이 표시되는 액티브 영역(12)과 비 표시 영역(14)을 포함한다. 액정 패널(10)의 제조가 완료된 후, AP(Auto Probe) 검사를 수행하기 위한 하나 이상의 AP 니들 컨택부(30, Needle Contact unit)가 액정 패널(10) 하부 비 표시 영역에 형성되어 있다.The liquid crystal panel 10 includes an active area 12 and a non-display area 14 in which an image is displayed. After the manufacture of the liquid crystal panel 10 is completed, at least one AP contact unit 30 (Needle Contact unit) 30 for performing an auto-probe (AP) inspection is formed in the non-display area below the liquid crystal panel 10.

액티브 영역(12)에는 복수의 게이트 라인과 복수의 데이터 라인이 교차하도록 형성되어 복수의 화소가 정의되고, 각 화소에 TFT, 화소 전극, 공통 전극 및 스토리지 커패시터(Cst)가 형성되어 있다.In the active region 12, a plurality of pixels are defined so as to cross a plurality of gate lines and a plurality of data lines, and a TFT, a pixel electrode, a common electrode, and a storage capacitor Cst are formed in each pixel.

도 2는 도 1에 도시된 상측 비 표시 영역의 A부분을 나타낸 것으로, AP 검사를 위한 AP 검사 라인들 및 데이터 인에이블 TR을 나타내는 도면이다.FIG. 2 is a view showing the A portion of the upper non-display area shown in FIG. 1, showing AP check lines and data enable TR for AP inspection.

도 2를 참조하면, 액정 패널(10)의 비 표시 영역(14) 중에서 상측의 비 표시 영역(A)에는 복수의 게이트 라인, 복수의 데이터 라인 및 복수의 화소들이 정상적으로 형성되었는지를 검사하기 위한 복수의 AP 검사 라인(42), 복수의 데이터 인에이블 TR(44)이 형성되어 있고, 복수의 데이터 인에이블 TR(44)의 아래에 그라운드 라인, 데이터 패드부(46) 및 복수의 데이터 라인(48)이 형성되어 있다.2, a plurality of gate lines, a plurality of data lines, and a plurality of pixels for checking whether a plurality of pixels are normally formed are formed in the non-display area A on the upper side of the non-display area 14 of the liquid crystal panel 10 A plurality of data enable TRs 44 are formed below the plurality of data enable TRs 44 and a ground line, a data pad portion 46 and a plurality of data lines 48 Is formed.

도 3은 도 1에 도시된 좌측 비 표시 영역의 B부분을 나타낸 것으로, AP 검사 라인들을 나타내는 도면이다.Fig. 3 is a diagram showing AP test lines in the B part of the left non-display area shown in Fig. 1. Fig.

도 3을 참조하면, 액정 패널(10)의 비 표시 영역(14) 중에서 측면의 비 표시 영역(B)에는 복수의 AP 검사 라인(42)이 액정 패널(10)의 비 표시 영역(14) 하측으로부터 상측까지 라우팅되도록 형성되어 있다. 또한, 데이터 인에이블 신호 라인(미도시)도 액정 패널(10)의 비 표시 영역(14) 하측으로부터 상측까지 라우팅되도록 형성되어 있다.3, a plurality of AP inspection lines 42 are formed in the non-display area B on the side of the non-display area 14 of the liquid crystal panel 10 below the non-display area 14 of the liquid crystal panel 10 To the upper side. Further, a data enable signal line (not shown) is also formed so as to be routed from the lower side to the upper side of the non-display area 14 of the liquid crystal panel 10. [

AP 검사 시, 복수의 데이터 인에이블 TR(44)에 인에이블 신호가 인가되면 복수의 데이터 인에이블 TR(44)이 복수의 AP 검사 라인(42)을 데이터 패드부(46)에 연결시킨다.When the enable signal is applied to the plurality of data enable TRs 44 at the time of the AP test, the plurality of data enable TRs 44 connect the plurality of AP test lines 42 to the data pad unit 46.

복수의 AP 검사 라인(42)에 인가된 R, G, B 화소의 데이터 전압을 데이터 패드부(46)를 경유하여 복수의 데이터 라인(48)에 인가한다. 이를 통해, 화소가 정상적으로 형성되었는지를 확인하는 AP 검사를 수행하게 된다. 이때, 전체 화소를 모드 검사하는 것이 아니라, 검사 샘플로 정해진 몇 개의 화소들을 구동시켜 전체 화소들이 정상적으로 제조되었는지를 판단하게 된다.The data voltages of the R, G, and B pixels applied to the plurality of AP inspection lines 42 are applied to the plurality of data lines 48 via the data pad unit 46. Thus, an AP test is performed to confirm whether or not the pixel is normally formed. At this time, rather than performing mode inspection of all the pixels, it is determined whether or not all pixels are normally manufactured by driving several pixels determined as inspection samples.

도 4는 AP 검사 라인들이 형성됨으로 인해 베젤 사이즈가 증가되는 문제점을 나타내는 도면이다.FIG. 4 is a diagram illustrating a problem that the bezel size is increased due to the formation of the AP test lines.

도 4를 참조하면, COG(Chip on Glass) 타입의 액정 패널의 경우, COF(Chip on Film) 타입의 액정 패널처럼 쇼팅 바(shorting bar)를 이용한 AP 검사를 수해할 수 없다.Referring to FIG. 4, in the case of a liquid crystal panel of a COG (Chip on Glass) type, an AP test using a shorting bar can not be performed like a liquid crystal panel of a COF (Chip on Film) type.

따라서, COG 타입의 액정 패널은 구동 회로부(20, 소스 드라이브 IC)의 반대편에 복수의 AP 검사 라인(42) 및 복수의 데이터 인에이블 TR(44)을 형성한다.Therefore, the COG type liquid crystal panel forms a plurality of AP inspection lines 42 and a plurality of data enable TRs 44 on the opposite side of the drive circuit portion 20 (source drive IC).

이러한, AP 검사 라인(42)은 액정 패널(10)의 양산 검사를 위해서는 필요하지만, 액정 패널(10)의 제조가 완료된 이후 실제 구동 상태에서는 사용되지 않는 더미 라인이 된다.The AP inspection line 42 is necessary for the mass production inspection of the liquid crystal panel 10 but becomes a dummy line which is not used in actual driving after the liquid crystal panel 10 is manufactured.

액정 패널(10)이 실제로 구동될 때에는 사용되지 않는 AP 검사 라인(42)과 데이터 인에이블 신호 라인이 액정 패널(10)의 좌측 및 우측 비 표시 영역으로 라우팅됨으로 인해 좌측 및 우측의 베젤 사이즈가 증가하는 문제점이 있다.When the liquid crystal panel 10 is actually driven, the unused AP inspection line 42 and the data enable signal line are routed to the left and right non-display areas of the liquid crystal panel 10, thereby increasing the size of the left and right bezel .

본 발명은 전술한 문제점을 해결하기 위한 것으로서, 액정 패널의 좌측 및 우측의 베젤 사이즈를 감소 시킬 수 있는 액정 디스플레이 장치를 제공하는 것을 기술적 과제로 한다.SUMMARY OF THE INVENTION The present invention is directed to a liquid crystal display device capable of reducing the size of the bezel on the left and right sides of a liquid crystal panel.

본 발명은 전술한 문제점을 해결하기 위한 것으로서, 네로우 베젤(narrow bezel)의 액정 디스플레이 장치를 제공하는 것을 기술적 과제로 한다.SUMMARY OF THE INVENTION It is an object of the present invention to provide a narrow bezel liquid crystal display device for solving the above-mentioned problems.

본 발명은 전술한 문제점을 해결하기 위한 것으로서, 액정 패널이 실제로 구동될 때에는 사용되지 않는 AP 검사 라인을 다른 용도로 사용할 수 있는 액정 디스플레이 장치를 제공하는 것을 기술적 과제로 한다.SUMMARY OF THE INVENTION It is a general object of the present invention to provide a liquid crystal display device capable of using an unused AP test line for other purposes when the liquid crystal panel is actually driven.

위에서 언급된 본 발명의 기술적 과제 외에도, 본 발명의 다른 특징 및 이점들이 이하에서 기술되거나, 그러한 기술 및 설명으로부터 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 명확하게 이해될 수 있을 것이다.Other features and advantages of the invention will be set forth in the description which follows, or may be obvious to those skilled in the art from the description and the claims.

본 발명의 실시 예에 따른 액정 디스플레이 장치는 액정 패널의 액티브 영역에 상호 교차하도록 형성된 복수의 게이트 라인과 복수의 데이터 라인; 오토 프로브 검사를 위해 상기 액정 패널의 비 표시 영역에 형성된 AP 검사 라인, AP 검사 인에이블 신호 라인 및 데이터 인에이블 트랜지스터; 상기 액정 패널이 구동하여 화상을 표시할 때, 상기 AP 검사 라인을 공통 전압 라인으로 이용하기 위해 상기 액정 패널의 비 표시 영역에 형성된 공통 전압 인에이블 신호 라인 및 복수의 스위치를 포함하는 스위치부; 및 상기 액정 패널을 구동 시키기 위한 구동 회로부;를 포함하는 것을 특징으로 한다.A liquid crystal display device according to an embodiment of the present invention includes a plurality of gate lines and a plurality of data lines formed to cross each other in an active region of a liquid crystal panel; An AP inspection line, an AP inspection enable signal line and a data enable transistor formed in a non-display area of the liquid crystal panel for an auto-probe inspection; A switch unit including a common voltage enable signal line formed in a non-display area of the liquid crystal panel and a plurality of switches for using the AP inspection line as a common voltage line when the liquid crystal panel is driven to display an image; And a driving circuit unit for driving the liquid crystal panel.

본 발명의 실시 예에 따른 액정 디스플레이 장치의 구동 방법은, 오토 프로브 검사를 위해 상기 액정 패널의 비 표시 영역에 AP 검사 라인이 형성되고, 상기 AP 검사 라인을 상기 액정 패널의 비 표시 영역에 형성된 공통 전압 라인으로 연결시키는 복수의 스위치가 형성된 액정 디스플레이 장치의 구동 방법에 있어서, 상기 액정 패널이 화상을 표시할 때, 상기 복수의 스위치를 턴-온시켜 상기 AP 검사 라인을 공통 전압 라인에 연결시키는 것을 특징으로 한다.A driving method of a liquid crystal display device according to an embodiment of the present invention is characterized in that an AP inspection line is formed in a non-display area of the liquid crystal panel for an auto-probe inspection, A method of driving a liquid crystal display device having a plurality of switches connected to a voltage line, the method comprising: when the liquid crystal panel displays an image, turning on the plurality of switches to connect the AP inspection line to a common voltage line .

전술한 과제를 달성하기 위한 본 발명의 실시 예에 따른 액정 디스플레이 장치는 액정 패널의 좌측 및 우측의 베젤 사이즈를 감소 시켜 네로우 베젤(narrow bezel)을 구현할 수 있다.According to an embodiment of the present invention, a bezel of a left side and a right side of a liquid crystal panel may be reduced to realize a narrow bezel.

전술한 과제를 달성하기 위한 본 발명의 실시 예에 따른 액정 디스플레이 장치는 AP 검사 단계에서는 AP 검사 라인들을 검사 용도로 사용하고, 액정 패널이 실제 구동될 때에는 AP 검사 라인들을 공통 전압 라인으로 사용할 수 있다.In order to accomplish the above-mentioned object, the liquid crystal display device according to the present invention uses the AP inspection lines for the inspection purpose in the AP inspection step and the AP inspection lines as the common voltage line when the liquid crystal panel is actually driven .

전술한 과제를 달성하기 위한 본 발명의 실시 예에 따른 액정 디스플레이 장치는 측면 비 표시 영역의 GIP 로직의 외곽에 형성되던 공통 전압 라인을 삭제하고, 액정 패널 구동 시 공통 전압 라인으로 활용되는 AP 검사 라인들을 액정 패널의 상측 비 표시 영역에 형성하여 액정 패널의 좌측 및 우측의 베젤 사이즈를 줄일 수 있다.According to an embodiment of the present invention, there is provided a liquid crystal display device comprising: a common voltage line formed in a periphery of a GIP logic of a side non-display area; Can be formed in the upper non-display area of the liquid crystal panel, thereby reducing the size of the bezel on the left and right sides of the liquid crystal panel.

이 밖에도, 본 발명의 실시 예들을 통해 본 발명의 또 다른 특징 및 이점들이 새롭게 파악될 수도 있을 것이다.In addition, other features and advantages of the present invention may be newly understood through embodiments of the present invention.

도 1은 종래 기술에 따른 액정 디스플레이 장치를 개략적으로 나타내는 도면이다.
도 2는 도 1에 도시된 상측 비 표시 영역의 A부분을 나타낸 것으로, AP 검사를 위한 AP 검사 라인들 및 데이터 인에이블 TR을 나타내는 도면이다.
도 3은 도 1에 도시된 좌측 비 표시 영역의 B부분을 나타낸 것으로, AP 검사 라인들을 나타내는 도면이다.
도 4는 AP 검사 라인들이 형성됨으로 인해 베젤 사이즈가 증가되는 문제점을 나타내는 도면이다.
도 5는 본 발명의 실시 예에 따른 액정 디스플레이 장치를 개략적으로 나타내는 도면이다.
도 6은 도 5에 도시된 측면 비 표시 영역의 C부분을 나타내는 것으로, 액정 패널의 측면 비 표시 영역의 일부를 도시하고 있다.
도 7은 스위치부, AP 검사 라인들, 스위치부, AP 인에이블 신호 라인 및 공통 전압 인에이블 신호 라인을 나타내는 도면이다.
도 8은 도 5에 도시된 상측 비 표시 영역의 D부분을 나타내는 것으로, 액정 패널의 상측 비 표시 영역의 일부를 도시하고 있다.
도 9는 스위치부를 구동시켜 AP 검사 라인들을 공통 전압 라인으로 이용하는 것을 나타내는 도면이다.
도 10은 측면 비 표시 영역의 GIP 로직의 외곽에 형성되던 공통 전압 라인을 삭제하고, AP 검사 라인을 공통 전압 라인(Vcom line)으로 활용하여 베젤 사이즈가 감소된 효과를 나타내는 도면이다.1 is a schematic view of a conventional liquid crystal display device.
FIG. 2 is a view showing the A portion of the upper non-display area shown in FIG. 1, showing AP check lines and data enable TR for AP inspection.
Fig. 3 is a diagram showing AP test lines in the B part of the left non-display area shown in Fig. 1. Fig.
FIG. 4 is a diagram illustrating a problem that the bezel size is increased due to the formation of the AP test lines.
5 is a view schematically showing a liquid crystal display device according to an embodiment of the present invention.
Fig. 6 shows part C of the side non-display area shown in Fig. 5, and shows a part of the side non-display area of the liquid crystal panel.
7 is a diagram showing a switch unit, AP test lines, a switch unit, an AP enable signal line, and a common voltage enable signal line.
Fig. 8 shows part D of the upper non-display area shown in Fig. 5, and shows part of the upper non-display area of the liquid crystal panel.
Figure 9 is a diagram illustrating the use of AP test lines as a common voltage line by driving the switch portion.
10 is a diagram showing the effect of reducing the size of the bezel by eliminating the common voltage line formed outside the GIP logic of the side non-display area and utilizing the AP inspection line as a common voltage line (Vcom line).

도면을 참조한 설명에 앞서, 본 발명은 액정 패널의 하부기판(TFT 어레이 기판)을 제조한 후, 셀 검사에 이용되는 AP 검사 라인을 액정 패널이 구동될 때에 공통 전압 라인으로 활용하는 것을 주요 내용으로 한다.Prior to the description with reference to the drawings, it is assumed that, after manufacturing a lower substrate (TFT array substrate) of a liquid crystal panel, an AP inspection line used for cell inspection is utilized as a common voltage line when the liquid crystal panel is driven do.

따라서, 액정 패널의 상부기판(컬러필터 어레이 기판), 백라이트 유닛 및 액정 패널을 구동시키기 위한 구동 회로부에 대한 도시 및 상세한 설명은 생략한다.Therefore, illustration and detailed description of the upper substrate (color filter array substrate), the backlight unit and the driving circuit for driving the liquid crystal panel of the liquid crystal panel are omitted.

본 발명의 실시 예에 따른 액정 디스플레이 장치는, COG 타입의 액정 패널의 AP 검사를 위한 AP 검사 라인들을 AP 검사 시에는 AP 검사의 용도로 사용한다. 그리고, 액정 패널이 실제 구동하여 화상을 표시할 때에는 AP 검사 라인들을 공통 전압 라인으로 이용하여 액정 패널의 측면 비 표시 영역의 공통 전압 라인의 선폭을 줄임으로써 베젤 사이즈를 줄일 수 있다.The liquid crystal display device according to the embodiment of the present invention uses AP inspection lines for AP inspection of a COG type liquid crystal panel as an AP inspection for AP inspection. When the liquid crystal panel is actually driven to display an image, the bezel size can be reduced by using the AP inspection lines as a common voltage line to reduce the line width of the common voltage line in the side non-display area of the liquid crystal panel.

액정 패널의 상측 비 표시 영역에 형성된 AP 검사 라인들을 공통 전압 라인으로 이용함으로써, 공통 전압 라인의 선폭이 감소된 부분을 보상할 수 있다.By using the AP inspection lines formed in the upper non-display area of the liquid crystal panel as a common voltage line, it is possible to compensate the reduced width portion of the common voltage line.

이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 실시 예에 따른 액정 디스플레이 장치와 이의 구동 방법에 대하여 설명하기로 한다.Hereinafter, a liquid crystal display device and a driving method thereof according to an embodiment of the present invention will be described with reference to the accompanying drawings.

도 5는 본 발명의 실시 예에 따른 액정 디스플레이 장치를 개략적으로 나타내는 도면이다.5 is a view schematically showing a liquid crystal display device according to an embodiment of the present invention.

도 5를 참조하면, 본 발명의 실시 예에 따른 액정 디스플레이 장치는 화상을 표시하는 액정 패널(100)과 액정 패널(100)을 구동시키는 구동 회로부(200)를 포함한다.Referring to FIG. 5, a liquid crystal display device according to an embodiment of the present invention includes a liquid crystal panel 100 for displaying an image and a driving circuit unit 200 for driving the liquid crystal panel 100.

본 발명의 실시 예에 따른 액정 디스플레이 장치는 아몰퍼스 실리콘(a-Si)을 이용하여 액정 패널(100)의 하부 기판(TFT 어레이 기판)에 각 화소들을 구동시키기 위한 박막 트랜지스터(TFT)를 형성함과 아울러, GIP(Gate In Panel) 방식으로 게이트 쉬프트 레지스터를 액정 패널의 하부 기판에 집적화시켰다.A liquid crystal display device according to an embodiment of the present invention includes a thin film transistor (TFT) for driving each pixel on a lower substrate (TFT array substrate) of a liquid crystal panel 100 using amorphous silicon (a-Si) In addition, a gate shift register was integrated on a lower substrate of a liquid crystal panel by a GIP (Gate In Panel) method.

액정 패널(100)은 화상이 표시되는 액티브 영역(110)과 비 표시 영역(120)을 포함한다. 액정 패널(100)의 제조가 완료된 후, AP(Auto Probe) 검사를 수행하기 위한 하나 이상의 AP 니들 컨택부(300, Needle Contact unit)가 액정 패널(100) 하부 비 표시 영역에 형성되어 있다.The liquid crystal panel 100 includes an active area 110 and a non-display area 120 in which an image is displayed. After the liquid crystal panel 100 is manufactured, at least one AP contact unit 300 for performing an auto probe (AP) inspection is formed in a non-display area below the liquid crystal panel 100.

액티브 영역(110)에는 복수의 게이트 라인과 복수의 데이터 라인이 교차하도록 형성되어 복수의 화소가 정의되고, 각 화소에 TFT, 화소 전극, 공통 전극 및 스토리지 커패시터(Cst)가 형성되어 있다.In the active region 110, a plurality of pixels are defined so as to cross a plurality of gate lines and a plurality of data lines, and a TFT, a pixel electrode, a common electrode, and a storage capacitor Cst are formed in each pixel.

도 6은 도 5에 도시된 측면 비 표시 영역의 C부분을 나타내는 것으로, 액정 패널의 측면 비 표시 영역의 일부를 도시하고 있다.Fig. 6 shows part C of the side non-display area shown in Fig. 5, and shows a part of the side non-display area of the liquid crystal panel.

도 6을 참조하면, 액정 패널(100)의 비 표시 영역(120) 중에서 상측의 비 표시 영역에는 복수의 게이트 라인, 복수의 데이터 라인 및 복수의 화소들이 정상적으로 형성되었는지를 검사하기 위한 복수의 AP 검사 라인(142), 복수의 공통 전압 인에이블 신호 라인(144), 복수의 AP 검사 인에이블 신호 라인(146) 및 스위치부(130)가 형성되어 있다.6, a plurality of gate lines, a plurality of data lines, and a plurality of APs for inspecting whether a plurality of pixels are normally formed are formed in a non-display area on the upper side of the non-display area 120 of the liquid crystal panel 100 Line 142, a plurality of common voltage enable signal lines 144, a plurality of AP inspection enable signal lines 146, and a switch unit 130 are formed.

또한, 스위치부(130)의 아래에는 공통 전압 라인이 형성되어 있고, 비 표시 영역의 측면부 외곽에 게이트 쉬프트 레지스터의 GIP 로직이 형성되어 있다. 공통 전압 라인의 안쪽으로는 액티브 영역(110)이 형성되어 있다.A common voltage line is formed under the switch portion 130, and GIP logic of the gate shift register is formed outside the side surface portion of the non-display region. An active region 110 is formed inside the common voltage line.

스위치부(130)를 사이에 두고, 복수의 AP 검사 라인(142)과 공통 전압 라인은 복수의 컨택 라인(148)에 의해 연결되어 있다.A plurality of AP inspection lines 142 and a common voltage line are connected by a plurality of contact lines 148 with the switch unit 130 therebetween.

또한, 액정 패널(100)의 비 표시 영역(120) 중에서 측면의 비 표시 영역에는 복수의 AP 검사 라인(142), 복수의 공통 전압 인에이블 신호 라인(144), 복수의 AP 검사 인에이블 신호 라인(146)이 액정 패널(10)의 비 표시 영역(120) 하측으로부터 상측까지 라우팅되도록 형성되어 있다.In addition, a plurality of AP inspection lines 142, a plurality of common voltage enable signal lines 144, a plurality of AP inspection enable signal lines 144, Display region 120 of the liquid crystal panel 10 is routed from the lower side to the upper side.

도 7은 스위치부, AP 검사 라인들, 스위치부, AP 인에이블 신호 라인 및 공통 전압 인에이블 신호 라인을 나타내는 도면이다.7 is a diagram showing a switch unit, AP test lines, a switch unit, an AP enable signal line, and a common voltage enable signal line.

도 7을 참조하면, 본 발명의 실시 예에 따른 액정 디스플레이 장치는 AP 검사 라인(142)을 AP 검사의 용도뿐만 아니라, 액정 패널(100)의 구동 시 AP 검사 라인(142)을 공통 전압 라인으로 이용한다.Referring to FIG. 7, the liquid crystal display device according to the embodiment of the present invention can be used not only for AP inspection of the AP inspection line 142 but also for the AP inspection line 142 when driving the liquid crystal panel 100 as a common voltage line .

AP 검사 라인(142)을 공통 전압 라인으로 이용하기 위해서, 스위치부(130)는 복수의 스위치(132)로 구성되며, 복수의 스위치(132) 각각은 컨택 라인(148)에 의해 일측이 AP 검사 라인(142)과 연결되고, 타측이 공통 전압 라인과 연결된다.In order to use the AP test line 142 as a common voltage line, the switch unit 130 is composed of a plurality of switches 132. Each of the plurality of switches 132 is connected to the contact line 148 via the contact line 148, Line 142, and the other side is connected to the common voltage line.

도 8은 도 5에 도시된 상측 비 표시 영역의 D부분을 나타내는 것으로, 액정 패널의 상측 비 표시 영역의 일부를 도시하고 있다.Fig. 8 shows part D of the upper non-display area shown in Fig. 5, and shows part of the upper non-display area of the liquid crystal panel.

도 8을 참조하면, 액정 패널(100)의 비 표시 영역(110) 중에서 액티브 영역의 위쪽에 배치된 상측의 비 표시 영역(D)에는 복수의 게이트 라인, 복수의 데이터 라인 및 복수의 화소들이 정상적으로 형성되었는지를 검사하기 위한 복수의 AP 검사 라인(142), 복수의 AP 검사 인에이블 신호 라인(146) 및 복수의 데이터 인에이블 TR(154)이 형성되어 있다.8, a plurality of gate lines, a plurality of data lines, and a plurality of pixels are normally provided in an upper non-display area D disposed above the active area in the non-display area 110 of the liquid crystal panel 100 A plurality of AP check lines 142, a plurality of AP check enable signal lines 146, and a plurality of data enable TRs 154 are formed.

또한, 복수의 데이터 인에이블 TR(154)의 아래에 그라운드 라인이 형성되어 있고, 화소들의 AP 검사를 위해 복수의 AP 검사 라인(142)에 인가된 R, G, B 화소의 데이터 전압을 테스트 화소들에 인가시키기 위한 데이터 패드부(156) 및 복수의 데이터 라인(158)이 형성되어 있다.In addition, a ground line is formed below the plurality of data enable TRs 154, and the data voltages of the R, G, and B pixels applied to the plurality of AP inspection lines 142 for the AP inspection of the pixels, A data pad unit 156 and a plurality of data lines 158 are formed.

AP 검사 시, 복수의 AP 검사 인에이블 신호 라인(146)에 AP 검사 인에이블 신호가 인가되면, 복수의 데이터 인에이블 TR(154)이 스위칭되어 복수의 AP 검사 라인(142)을 복수의 데이터 패드에 연결시킨다.When the AP check enable signal is applied to the plurality of AP check enable signal lines 146 at the time of the AP check, the plurality of data enable TRs 154 are switched to connect the plurality of AP check lines 142 to the plurality of data pads .

복수의 데이터 패드(156)는 화소 검사를 위한 복수의 데이터 라인(158)과 연결되어 있고, 복수의 AP 검사 라인(142)에 인가된 R, G, B 화소의 데이터 전압이 복수의 데이터 라인(158)을 통해 테스트 화소들로 인가시킨다. 이후, 오토 프로브(Auto Probe) 장비를 이용한 VAP(Vision Auto Probe) 검사를 수행하여 각각의 화소들의 불량 유무를 최종 검사한다.A plurality of data pads 156 are connected to a plurality of data lines 158 for pixel inspection and the data voltages of R, G, and B pixels applied to the plurality of AP inspection lines 142 are connected to a plurality of data lines 158 to the test pixels. Then, a VAP (Vision Auto Probe) inspection using an auto-probe device is performed to finally check whether each pixel is defective or not.

도 9는 스위치부를 구동시켜 AP 검사 라인들을 공통 전압 라인으로 이용하는 것을 나타내는 도면이다.Figure 9 is a diagram illustrating the use of AP test lines as a common voltage line by driving the switch portion.

도 7 및 9를 참조하면, 액정 패널(100)이 실제 구동하여 화상을 표시할 때에는 공통 전압 인에이블 신호 라인(144)에 공통 전압 인에이블 신호를 인가한다. 이때, AP 검사 인에이블 신호 라인(142)에는 AP 검사 인에이블 신호를 인가하지 않는다.Referring to FIGS. 7 and 9, when the liquid crystal panel 100 actually drives and displays an image, a common voltage enable signal is applied to the common voltage enable signal line 144. At this time, the AP check enable signal is not applied to the AP check enable signal line 142.

공통 전압 인에이블 신호 라인(144)에 공통 전압 인에이블 신호가 인가되면 스위치부(130)를 구성하는 복수의 스위치(132)가 턴-온(turn-on)된다.When the common voltage enable signal is applied to the common voltage enable signal line 144, the plurality of switches 132 constituting the switch unit 130 are turned on.

복수의 스위치가 턴-온되면 복수의 AP 검사 라인(142)을 공통 전압 라인에 연결시킨다. 복수의 AP 검사 라인(142)이 공통 전압 라인에 연결되면, 공통 전압 라인에 공급된 공통 전압(Vcom)이 복수의 AP 검사 라인(142)에도 인가된다. 이를 통해, 복수의 AP 검사 라인(142)을 공통 전압 라인으로 이용할 수 있다.When a plurality of switches are turned on, a plurality of AP test lines 142 are connected to a common voltage line. When the plurality of AP inspection lines 142 are connected to the common voltage line, the common voltage Vcom supplied to the common voltage line is also applied to the plurality of AP inspection lines 142. [ Thereby, a plurality of AP test lines 142 can be used as a common voltage line.

반면, AP 검사 시, 공통 전압 인에이블 신호 라인(144)에 공통 전압 인에이블 신호를 인가하지 않는다. 공통 전압 인에이블 신호가 인가되지 않으면 스위치부(130)를 구성하는 복수의 스위치(132)가 턴-오프(turn-off)된다.On the other hand, when the AP is inspected, the common voltage enable signal line 144 is not applied with the common voltage enable signal. When the common voltage enable signal is not applied, the plurality of switches 132 constituting the switch unit 130 are turned off.

복수의 스위치(132)가 턴-오프(turn-off)되면, 도 8을 참조하여 앞에서 설명한 바와 같이, 복수의 AP 검사 인에이블 신호 라인(146)에 AP 검사 인에이블 신호가 인가되고, 복수의 데이터 인에이블 TR(154)이 스위칭되어 복수의 AP 검사 라인(142)을 복수의 데이터 패드에 연결시킨다.When a plurality of switches 132 are turned off, an AP check enable signal is applied to a plurality of AP check enable signal lines 146 as described above with reference to FIG. 8, The data enable TR 154 is switched to couple the plurality of AP test lines 142 to the plurality of data pads.

복수의 AP 검사 라인(142)에 인가된 R, G, B 화소의 데이터 전압을 복수의 데이터 라인(158)을 통해 테스트 화소들로 인가시켜 AP 검사를 수행한다.The data voltages of the R, G, and B pixels applied to the plurality of AP inspection lines 142 are applied to the test pixels through the plurality of data lines 158 to perform the AP inspection.

도 10은 측면 비 표시 영역의 GIP 로직의 외곽에 형성되던 공통 전압 라인을 삭제하고, AP 검사 라인을 공통 전압 라인(Vcom line)으로 활용하여 베젤 사이즈가 감소된 효과를 나타내는 도면이다.10 is a diagram showing the effect of reducing the size of the bezel by eliminating the common voltage line formed outside the GIP logic of the side non-display area and utilizing the AP inspection line as a common voltage line (Vcom line).

도 10을 참조하면, 액티브 영역(110)에 공급되는 공통 전압(Vcom)의 로드를 충분히 견딜 수 있도록 공통 전압 라인이 넓은 면적으로 형성되어야 한다.Referring to FIG. 10, the common voltage line must be formed in a large area to sufficiently withstand the load of the common voltage Vcom supplied to the active region 110.

본 발명의 액정 디스플레이 장치는 종래에는 형성되어 있던 측면 비 표시 영역의 GIP 로직의 외곽에 형성되던 공통 전압 라인을 삭제하였지만, 액정 패널의 상측 비 표시 영역에 형성된 복수의 AP 검사 라인(142)을 공통 전압 라인으로 이용하여 공통 전압 라인의 면적을 충분히 확보할 수 있다.The liquid crystal display device of the present invention eliminates the common voltage line formed on the outer periphery of the GIP logic of the side non-display area which has been conventionally formed. However, a plurality of AP inspection lines 142 formed in the upper non- It is possible to sufficiently secure the area of the common voltage line by using it as a voltage line.

따라서, GIP 로직의 외곽에 형성되던 0.55mm의 폭을 가지는 공통 전압 라인을 삭제하여 액정 패널(100)의 좌측 및 우측의 베젤 사이즈를 줄일 수 있다. 이를 통해, 액정 디스플레이 장치가 네로우 베젤(narrow bezel)로 형성되도록 하여 디자인 미감을 높일 수 있다.Therefore, the size of the bezel on the left and right sides of the liquid crystal panel 100 can be reduced by deleting the common voltage line having a width of 0.55 mm formed outside the GIP logic. As a result, the liquid crystal display device can be formed as a narrow bezel, thereby enhancing the design aesthetics.

본 발명이 속하는 기술분야의 당 업자는 상술한 본 발명이 그 기술적 사상이나 필수적 특징을 변경하지 않고서 다른 구체적인 형태로 실시될 수 있다는 것을 이해할 수 있을 것이다. 그러므로, 이상에서 기술한 실시 예들은 모든 면에서 예시적인 것이며 한정적인 것이 아닌 것으로 이해해야만 한다.It will be understood by those skilled in the art that the present invention can be embodied in other specific forms without departing from the spirit or essential characteristics thereof. It is therefore to be understood that the above-described embodiments are illustrative in all aspects and not restrictive.

본 발명의 범위는 상기 상세한 설명보다는 후술하는 특허청구범위에 의하여 나타내어지며, 특허청구범위의 의미 및 범위 그리고 그 등가 개념으로부터 도출되는 모든 변경 또는 변형된 형태가 본 발명의 범위에 포함되는 것으로 해석되어야 한다.The scope of the present invention is defined by the appended claims rather than the detailed description and all changes or modifications derived from the meaning and scope of the claims and their equivalents are to be construed as being included within the scope of the present invention do.

100: 액정 패널 110: 액티브 영역
120: 비 표시 영역 130: 스위치부
132: 스위치 142: AP 검사 라인
144: 공통 전압 인에이블 신호 라인
146: AP 검사 인에이블 신호 라인
148: 컨택 라인 154: 데이터 인에이블 TR
156: 데이터 패드부 158: 데이터 라인
200: 구동 회로부 300: AP 니들 컨택부100: liquid crystal panel 110: active area
120: non-display area 130: switch part
132: switch 142: AP test line
144: common voltage enable signal line
146: AP test enable signal line
148: Contact Line 154: Data Enable TR
156: Data pad unit 158: Data line
200: driving circuit part 300: AP needle contact part

Claims (10)

액정 패널의 액티브 영역에 상호 교차하도록 형성된 복수의 게이트 라인과 복수의 데이터 라인;
오토 프로브 검사를 위해 상기 액정 패널의 비 표시 영역에 형성된 AP 검사 라인, AP 검사 인에이블 신호 라인 및 데이터 인에이블 트랜지스터;
상기 액정 패널이 구동하여 화상을 표시할 때, 상기 AP 검사 라인을 공통 전압 라인으로 이용하기 위해 상기 액정 패널의 비 표시 영역에 형성된 공통 전압 인에이블 신호 라인 및 복수의 스위치를 포함하는 스위치부; 및
상기 액정 패널을 구동 시키기 위한 구동 회로부;를 포함하는 것을 특징으로 하는 액정 디스플레이 장치.A plurality of gate lines and a plurality of data lines formed to cross each other in an active region of the liquid crystal panel;
An AP inspection line, an AP inspection enable signal line and a data enable transistor formed in a non-display area of the liquid crystal panel for an auto-probe inspection;
A switch unit including a common voltage enable signal line formed in a non-display area of the liquid crystal panel and a plurality of switches for using the AP inspection line as a common voltage line when the liquid crystal panel is driven to display an image; And
And a driving circuit for driving the liquid crystal panel. 제1 항에 있어서,
상기 액정 패널이 구동하여 화상을 표시할 때, 상기 공통 전압 인에이블 신호 라인에는 공통 전압 인에이블 신호를 인가시키고,
상기 AP 검사 인에이블 신호 라인에는 AP 검사 인에이블 신호를 인가하지 않는 것을 특징으로 하는 액정 디스플레이 장치.The method according to claim 1,
Wherein when the liquid crystal panel is driven to display an image, a common voltage enable signal is applied to the common voltage enable signal line,
And the AP check enable signal is not applied to the AP check enable signal line. 제2 항에 있어서,
상기 액정 패널이 구동하여 화상을 표시할 때, 공통 전압 인에이블 신호 라인에 인가된 공통 전압 인에이블 신호로 복수의 스위치를 스위칭하여, 상기 AP 검사 라인을 공통 전압 라인에 연결시키는 것을 특징으로 하는 액정 디스플레이 장치.3. The method of claim 2,
And switches the plurality of switches with a common voltage enable signal applied to a common voltage enable signal line when the liquid crystal panel is driven to display an image to connect the AP inspection line to a common voltage line. Display device. 제3 항에 있어서,
상기 액정 패널이 구동하여 화상을 표시할 때, 상기 AP 검사 라인에 공통 전압을 인가시켜 상기 AP 검사 라인을 공통 전압 라인으로 이용하는 것을 특징으로 하는 액정 디스플레이 장치.The method of claim 3,
Wherein when the liquid crystal panel is driven to display an image, a common voltage is applied to the AP inspection line to use the AP inspection line as a common voltage line. 제2 항에 있어서,
오토 프로브 검사 시, 상기 AP 검사 인에이블 신호 라인에 인가된 AP 검사 인에이블 신호로 상기 데이터 인에이블 트랜지스터를 스위칭하여, 상기 AP 검사 라인을 상기 데이터 패드에 연결시키는 것을 특징으로 하는 액정 디스플레이 장치.3. The method of claim 2,
And switches the data enable transistor to an AP test enable signal applied to the AP test enable signal line to connect the AP test line to the data pad when the auto-probe test is performed. 제5 항에 있어서,
상기 AP 검사 라인에 인가된 R, G, B 화소의 데이터 전압을 상기 데이터 패드와 연결된 데이터 라인에 인가하여,
상기 R, G, B 화소의 데이터 전압을 테스트 화소들에 인가하는 것을 특징으로 하는 액정 디스플레이 장치.6. The method of claim 5,
Applying a data voltage of R, G and B pixels applied to the AP inspection line to a data line connected to the data pad,
And applies the data voltages of the R, G, and B pixels to the test pixels. 제1 항에 있어서,
COG(Chip on Glass) 방식으로 상기 구동 회로부가 상기 액정 패널에 형성된 것을 특징으로 하는 액정 디스플레이 장치.The method according to claim 1,
Wherein the driving circuit portion is formed on the liquid crystal panel by a COG (Chip on Glass) method. 오토 프로브 검사를 위해 상기 액정 패널의 비 표시 영역에 AP 검사 라인이 형성되고, 상기 AP 검사 라인을 상기 액정 패널의 비 표시 영역에 형성된 공통 전압 라인으로 연결시키는 복수의 스위치가 형성된 액정 디스플레이 장치의 구동 방법에 있어서,
상기 액정 패널이 화상을 표시할 때, 상기 복수의 스위치를 턴-온시켜 상기 AP 검사 라인을 공통 전압 라인에 연결시키는 것을 특징으로 하는 액정 디스플레이 장치의 구동 방법.An AP inspection line is formed in a non-display area of the liquid crystal panel for an auto-probe inspection, and a plurality of switches for connecting the AP inspection line to a common voltage line formed in a non-display area of the liquid crystal panel are formed, In the method,
Wherein when the liquid crystal panel displays an image, the plurality of switches are turned on to connect the AP inspection line to a common voltage line. 제8 항에 있어서,
상기 액정 패널이 구동하여 화상을 표시할 때, 상기 AP 검사 라인에 공통 전압을 인가시켜 상기 AP 검사 라인을 공통 전압 라인으로 이용하는 것을 특징으로 하는 액정 디스플레이 장치의 구동 방법.9. The method of claim 8,
Wherein when the liquid crystal panel is driven to display an image, a common voltage is applied to the AP inspection line so that the AP inspection line is used as a common voltage line. 제9 항에 있어서,
오토 프로브 검사 시, 상기 AP 검사 라인과 데이터 라인을 연결시키고, R, G, B 화소의 데이터 전압을 테스트 화소들에 인가하는 것을 특징으로 하는 액정 디스플레이 장치의 구동 방법.10. The method of claim 9,
And connecting the AP inspection line and the data line when the auto-probe is inspected, and applying the data voltages of the R, G, and B pixels to the test pixels.
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