[go: up one dir, main page]

KR20150127619A - Reducing audio distortion in an audio system - Google Patents

Reducing audio distortion in an audio system Download PDF

Info

Publication number
KR20150127619A
KR20150127619A KR1020157024696A KR20157024696A KR20150127619A KR 20150127619 A KR20150127619 A KR 20150127619A KR 1020157024696 A KR1020157024696 A KR 1020157024696A KR 20157024696 A KR20157024696 A KR 20157024696A KR 20150127619 A KR20150127619 A KR 20150127619A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
signal
audio
test
current
loudspeaker
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Ceased
Application number
KR1020157024696A
Other languages
Korean (ko)
Inventor
비카스 비나약
Original Assignee
퀀탄스, 인코포레이티드
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 퀀탄스, 인코포레이티드 filed Critical 퀀탄스, 인코포레이티드
Publication of KR20150127619A publication Critical patent/KR20150127619A/en
Ceased legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04RLOUDSPEAKERS, MICROPHONES, GRAMOPHONE PICK-UPS OR LIKE ACOUSTIC ELECTROMECHANICAL TRANSDUCERS; DEAF-AID SETS; PUBLIC ADDRESS SYSTEMS
    • H04R3/00Circuits for transducers, loudspeakers or microphones
    • H04R3/04Circuits for transducers, loudspeakers or microphones for correcting frequency response
    • H04R3/08Circuits for transducers, loudspeakers or microphones for correcting frequency response of electromagnetic transducers
    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04RLOUDSPEAKERS, MICROPHONES, GRAMOPHONE PICK-UPS OR LIKE ACOUSTIC ELECTROMECHANICAL TRANSDUCERS; DEAF-AID SETS; PUBLIC ADDRESS SYSTEMS
    • H04R3/00Circuits for transducers, loudspeakers or microphones
    • H04R3/04Circuits for transducers, loudspeakers or microphones for correcting frequency response
    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04RLOUDSPEAKERS, MICROPHONES, GRAMOPHONE PICK-UPS OR LIKE ACOUSTIC ELECTROMECHANICAL TRANSDUCERS; DEAF-AID SETS; PUBLIC ADDRESS SYSTEMS
    • H04R29/00Monitoring arrangements; Testing arrangements
    • H04R29/001Monitoring arrangements; Testing arrangements for loudspeakers
    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04RLOUDSPEAKERS, MICROPHONES, GRAMOPHONE PICK-UPS OR LIKE ACOUSTIC ELECTROMECHANICAL TRANSDUCERS; DEAF-AID SETS; PUBLIC ADDRESS SYSTEMS
    • H04R29/00Monitoring arrangements; Testing arrangements
    • H04R29/001Monitoring arrangements; Testing arrangements for loudspeakers
    • H04R29/003Monitoring arrangements; Testing arrangements for loudspeakers of the moving-coil type
    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04RLOUDSPEAKERS, MICROPHONES, GRAMOPHONE PICK-UPS OR LIKE ACOUSTIC ELECTROMECHANICAL TRANSDUCERS; DEAF-AID SETS; PUBLIC ADDRESS SYSTEMS
    • H04R3/00Circuits for transducers, loudspeakers or microphones
    • H04R3/002Damping circuit arrangements for transducers, e.g. motional feedback circuits

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Acoustics & Sound (AREA)
  • Signal Processing (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Otolaryngology (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • Circuit For Audible Band Transducer (AREA)

Abstract

오디오 시스템은 타겟 오디오 신호 및 피드백 신호를 수신하고, 타겟 오디오 신호 및 피드백 신호에 응답하여 조정된 오디오 신호를 생성하도록 구성되는 오디오 구동기를 포함한다. 확성기는 조정된 오디오 신호를 음향음으로 변환하도록 구성된다. 테스트 신호 생성기는 타겟 오디오 신호보다 높은 주파수를 갖는 테스트 신호를 생성하도록 구성된다. 테스트 신호는 테스트 전류가 확성기를 통해 흐르게 한다. 전류 감지 회로는 확성기를 통해 흐르는 테스트 전류를 측정하고, 테스트 전류를 나타내는 전류 감지 신호를 생성하도록 구성된다. 피드백 회로는 전류 감지 신호에 응답하여 피드백 신호를 생성하도록 구성된다.The audio system includes an audio driver configured to receive a target audio signal and a feedback signal, and to generate a conditioned audio signal in response to the target audio signal and the feedback signal. The loudspeaker is configured to convert the adjusted audio signal to acoustic sound. The test signal generator is configured to generate a test signal having a frequency higher than the target audio signal. The test signal causes the test current to flow through the loudspeaker. The current sensing circuit is configured to measure a test current flowing through the loudspeaker and to generate a current sense signal indicative of the test current. The feedback circuit is configured to generate a feedback signal in response to the current sense signal.

Figure P1020157024696
Figure P1020157024696

Description

오디오 시스템에서의 오디오 왜곡 감소{REDUCING AUDIO DISTORTION IN AN AUDIO SYSTEM}Reducing audio distortion in an audio system {REDUCING AUDIO DISTORTION IN AN AUDIO SYSTEM}

본 명세서에서 개시되는 실시예들은 오디오 시스템에 관한 것으로서, 더욱 구체적으로는, 확성기의 오디오 왜곡을 줄이기 위한 오디오 시스템에 관한 것이다.The embodiments disclosed herein relate to audio systems, and more particularly, to audio systems for reducing audio distortion in a loudspeaker.

확성기는 전기 신호를 수신하고 전기 신호를 가청음(audible sound)으로 변환하는 장치이다. 확성기들은 자석 내부에 위치하고 다이어프램(diaphragm)(예로서, 원뿔)에 또한 부착되는 음성 코일을 포함할 수 있다. 전기 신호가 음성 코일에 인가될 때, 코일은 자기장을 생성하며, 이 자기장은 음성 코일 및 그의 부착된 다이어프램이 움직이게 한다. 다이어프램의 움직임은 주변의 공기를 밀어 음파들을 생성한다.A loudspeaker is a device that receives an electrical signal and converts the electrical signal into an audible sound. The loudspeakers may include a voice coil located inside the magnet and also attached to a diaphragm (e.g., cone). When an electrical signal is applied to the voice coil, the coil generates a magnetic field, which causes the voice coil and its attached diaphragm to move. Movement of the diaphragm creates sound waves by pushing the surrounding air.

더 양호한 음향 충실도(sound fidelity)를 위해, 확성기에 의해 생성되는 음파들은 확성기에 인가되는 전기 신호에 비례해야 한다. 그러나, 실제의 확성기에서, 다이어프램의 움직임은 인가되는 전기 신호에 정확히 비례하지 않으며, 이러한 편차는 음향 충실도의 손실을 유발한다. 음향 충실도의 손실은 이동 전화, 태블릿 컴퓨터, 랩탑 및 다른 휴대용 장치에서 발견되는 것들과 같은 소형 확성기들에서 특히 현저하다.For better sound fidelity, the sound waves generated by the loudspeaker must be proportional to the electrical signal applied to the loudspeaker. However, in an actual loudspeaker, the movement of the diaphragm is not exactly proportional to the electrical signal applied, and this deviation causes a loss of acoustic fidelity. Loss of acoustic fidelity is particularly noticeable in small loudspeakers such as those found in mobile phones, tablet computers, laptops, and other handheld devices.

전기 신호와 다이어프램의 움직임 간의 편차의 여러 원인이 존재한다. 첫째, 코일 및 그의 관련된 기생물들(parasitics)은 반응성을 가지며, 코일에 의해 생성되는 자기장은 인가되는 전기 신호의 주파수에 따라 변한다. 이것은 코일의 평탄하지 않은 주파수 응답을 유발한다. 둘째, 코일에 대한 자석의 자기장의 효과는 일정하지 않은데, 그 이유는 자석 내부에서 코일의 위치가 변하기 때문이다. 코일이 인가된 전기 신호에 응답하여 앞뒤로 움직임에 따라, 자석에 대한 그의 위치가 변한다. 이것은 코일의 자기장과 자석의 자기장이 상호작용하는 양을 변화시켜, 다이어프램의 움직임의 정도가 코일의 현재 위치에 의존하게 한다. 셋째, 다이어프램을 지지하는 서스펜션(suspension)의 탄성(springiness)은 일정하지 않으며, 다이어프램이 그의 명목 위치(nominal position)로부터 얼마나 멀리 변위되는지에 따라 변한다. 이러한 인자들 모두는 확성기에 의해 생성되는 음향의 왜곡을 증가시킨다.There are several causes of deviation between the electrical signal and the motion of the diaphragm. First, the coil and its associated parasitics are reactive, and the magnetic field produced by the coil varies with the frequency of the applied electrical signal. This causes an uneven frequency response of the coil. Second, the effect of the magnetic field of the magnet on the coil is not constant, because the position of the coil changes inside the magnet. As the coil moves back and forth in response to an applied electrical signal, its position relative to the magnet changes. This changes the amount by which the magnetic field of the coil interacts with the magnetic field of the magnet, so that the degree of movement of the diaphragm depends on the current position of the coil. Third, the springiness of the suspension supporting the diaphragm is not constant and varies depending on how far the diaphragm is displaced from its nominal position. All of these factors increase the distortion of the sound produced by the loudspeaker.

본 명세서에서 개시되는 실시예들은 확성기의 용량을 측정하는 방식으로서 확성기를 통과하는 테스트 전류를 측정하는 오디오 시스템을 설명한다. 테스트 전류는 확성기 다이어프램의 실제 변위를 나타내는 피드백 신호를 생성하기 위한 피드백으로서 사용된다. 이어서, 피드백 신호는 피드백 루프에서 타겟 오디오 신호를 조정하여 오디오 충실도를 증가시키는 데 사용될 수 있다.The embodiments disclosed herein describe an audio system for measuring a test current passing through a loudspeaker as a method of measuring the capacity of a loudspeaker. The test current is used as feedback to generate a feedback signal representing the actual displacement of the loudspeaker diaphragm. The feedback signal may then be used to adjust the target audio signal in the feedback loop to increase audio fidelity.

일 실시예에서, 오디오 시스템은 타겟 오디오 신호 및 피드백 신호를 수신하고, 타겟 오디오 신호 및 피드백 신호에 응답하여 조정된 오디오 신호를 생성하도록 구성되는 오디오 구동기를 포함한다. 확성기는 조정된 오디오 신호를 음향음(acoustical sound)으로 변환하도록 구성된다. 테스트 신호 생성기는 타겟 오디오 신호보다 높은 주파수를 갖는 테스트 신호를 생성하도록 구성된다. 테스트 신호는 또한 테스트 전류가 확성기를 통해 흐르게 한다. 전류 감지 회로는 확성기를 통해 흐르는 테스트 전류를 측정하고, 테스트 전류를 나타내는 전류 감지 신호를 생성하도록 구성된다. 피드백 회로는 전류 감지 신호에 응답하여 피드백 신호를 생성하도록 구성된다. 예를 들어, 피드백 회로는 확성기의 실제 변위를 나타내는 피드백 신호를 생성하는 탐색표(look up table) 또는 비선형 회로(non-linear circuit)일 수 있다.In one embodiment, the audio system includes an audio driver configured to receive a target audio signal and a feedback signal, and to generate an adjusted audio signal in response to the target audio signal and the feedback signal. The loudspeaker is configured to convert the adjusted audio signal to an acoustical sound. The test signal generator is configured to generate a test signal having a frequency higher than the target audio signal. The test signal also causes the test current to flow through the loudspeaker. The current sensing circuit is configured to measure a test current flowing through the loudspeaker and to generate a current sense signal indicative of the test current. The feedback circuit is configured to generate a feedback signal in response to the current sense signal. For example, the feedback circuit may be a look-up table or a non-linear circuit that generates a feedback signal representative of the actual displacement of the loudspeaker.

일 실시예에서, 오디오 시스템에서의 동작 방법이 개시된다. 방법은 타겟 오디오 신호 및 피드백 신호에 응답하여 조정된 오디오 신호를 생성하는 단계; 확성기를 이용하여 조정된 오디오 신호를 음향음으로 변환하는 단계; 타겟 오디오 신호보다 높은 주파수를 갖는 테스트 신호를 생성하는 단계 - 테스트 신호는 테스트 전류가 확성기를 통해 흐르게 함 -; 확성기를 통해 흐르는 테스트 전류를 측정하는 단계; 테스트 전류를 나타내는 전류 감지 신호를 생성하는 단계; 및 전류 감지 신호에 응답하여 피드백 신호를 생성하는 단계를 포함한다.In one embodiment, a method of operation in an audio system is disclosed. The method includes generating an adjusted audio signal in response to a target audio signal and a feedback signal; Converting an adjusted audio signal using a loudspeaker into an acoustic sound; Generating a test signal having a frequency higher than the target audio signal, the test signal causing a test current to flow through the loudspeaker; Measuring a test current flowing through the loudspeaker; Generating a current sense signal representative of a test current; And generating a feedback signal in response to the current sense signal.

본 명세서에서 개시되는 실시예들의 교시 내용은 첨부 도면들과 관련된 아래의 상세한 설명을 고려함으로써 쉽게 이해될 수 있다.
도 1은 일 실시예에 따른 확성기의 물리적 도면이다.
도 2는 일 실시예에 따른 도 1의 확성기(10)의 전기적 모델이다.
도 3은 일 실시예에 따른 높은 주파수들에서의 도 2의 전기적 모델의 간략화된 버전이다.
도 4는 일 실시예에 따른 감소된 오디오 왜곡을 갖는 오디오 시스템의 블록도이다.
도 5는 일 실시예에 따른 감소된 오디오 왜곡을 갖는 오디오 시스템의 회로도이다.
도 6은 일 실시예에 따른 오디오 시스템의 신호 파형들을 나타낸다.
도 7은 다른 실시예에 따른 감소된 오디오 왜곡을 갖는 오디오 시스템의 회로도이다.
도 8은 또 다른 실시예에 따른 감소된 오디오 왜곡을 갖는 오디오 시스템의 회로도이다.
도 9는 다른 실시예에 따른 확성기의 물리적 도면이다.
도 10은 다른 실시예에 따른 높은 주파수들에서의 도 9의 확성기의 간략화된 전기적 모델이다.
도 11은 추가 실시예에 따른 감소된 오디오 왜곡을 갖는 오디오 시스템의 회로도이다.
The teachings of the embodiments disclosed herein may be readily understood by considering the following detailed description in conjunction with the accompanying drawings.
1 is a physical diagram of a loudspeaker according to one embodiment.
FIG. 2 is an electrical model of the loudspeaker 10 of FIG. 1 according to one embodiment.
FIG. 3 is a simplified version of the electrical model of FIG. 2 at high frequencies according to one embodiment.
4 is a block diagram of an audio system with reduced audio distortion in accordance with one embodiment.
5 is a circuit diagram of an audio system with reduced audio distortion in accordance with one embodiment.
6 shows signal waveforms of an audio system according to one embodiment.
7 is a circuit diagram of an audio system with reduced audio distortion according to another embodiment.
8 is a circuit diagram of an audio system with reduced audio distortion according to another embodiment.
9 is a physical diagram of a loudspeaker according to another embodiment.
FIG. 10 is a simplified electrical model of the loudspeaker of FIG. 9 at high frequencies according to another embodiment.
11 is a circuit diagram of an audio system with reduced audio distortion according to a further embodiment.

도면들 및 아래의 설명은 단지 예시적으로만 다양한 실시예들과 관련된다. 아래의 설명으로부터, 본 명세서에서 개시되는 구조들 및 방법들의 대안 실시예들이 본 명세서에서 설명되는 원리들로부터 벗어나지 않고서 이용될 수 있는 실행 가능한 대안들로서 쉽게 인식될 것이라는 점에 유의해야 한다.The drawings and the following description relate to various embodiments by way of example only. It is to be understood from the following description that alternative embodiments of the structures and methods disclosed herein will be readily recognized as viable alternatives that may be utilized without departing from the principles set forth herein.

이제, 여러 실시예가 상세히 참조될 것이며, 그 예들은 첨부 도면들에 도시된다. 실행 가능한 어느 곳에서나 유사 또는 동일한 참조 번호들이 도면들에서 사용될 수 있고, 유사 또는 동일한 기능을 지시할 수 있다는 점에 유의한다. 도면들은 다양한 실시예들을 단지 예시의 목적으로 도시한다. 통상의 기술자는 본 명세서에서 예시되는 구조들 및 방법들의 대안 실시예들이 본 명세서에서 설명되는 원리들로부터 벗어나지 않고서 이용될 수 있다는 것을 아래의 설명으로부터 쉽게 인식할 것이다.Reference will now be made in detail to several embodiments, examples of which are illustrated in the accompanying drawings. It is noted that similar or identical reference numbers anywhere in the art may be used in the drawings and may indicate similar or equivalent functions. The drawings illustrate various embodiments for purposes of illustration only. It will be readily apparent to those of ordinary skill in the art from the following description that alternative embodiments of the structures and methods illustrated herein may be utilized without departing from the principles set forth herein.

본 명세서에서 개시되는 실시예들은 확성기의 용량(capacitance)에 대한 대용물(proxy)로서 확성기를 통과하는 테스트 전류를 측정하는 오디오 시스템을 설명한다. 테스트 전류는 확성기 다이어프램의 실제 변위를 나타내는 피드백 신호를 생성하기 위한 피드백으로서 사용된다. 이어서, 피드백 신호는 피드백 루프에서 타겟 오디오 신호를 조정하여 확성기의 변위가 타겟 오디오 신호와 더 정확하게 매칭되게 하여 오디오 충실도를 증가시키는 데 사용될 수 있다.The embodiments disclosed herein describe an audio system for measuring a test current through a loudspeaker as a proxy for the capacitance of a loudspeaker. The test current is used as feedback to generate a feedback signal representing the actual displacement of the loudspeaker diaphragm. The feedback signal can then be used to adjust the target audio signal in the feedback loop so that the displacement of the loudspeaker matches the target audio signal more accurately, thereby increasing audio fidelity.

도 1은 일 실시예에 따른 확성기(10)의 물리적 도면이다. 확성기(10)는 자석(12), 코일(14) 및 코일(14)에 부착된 다이어프램(16)을 포함한다. 전기 신호가 코일(14)에 인가될 때, 전기 신호는 코일(14)로 하여금 자석(12)의 자기장과 상호작용하는 자기장을 생성하게 한다. 코일(14) 및 다이어프램(16)은 앞뒤로 움직여 음파들을 생성한다. 코일(14)이 자석(12)의 중심에 더 가까운 경우, 자기장들 간의 상호작용은 더 강하다. 코일(14)이 자석(12)의 중심으로부터 더 먼 경우, 상호작용은 더 약하다. 이러한 변하는 자기장은 음향 왜곡을 생성하는 일정하지 않은 힘을 유발한다.1 is a physical diagram of a loudspeaker 10 according to one embodiment. The loudspeaker 10 includes a magnet 12, a coil 14 and a diaphragm 16 attached to the coil 14. [ When an electrical signal is applied to the coil 14, the electrical signal causes the coil 14 to generate a magnetic field that interacts with the magnetic field of the magnet 12. The coil 14 and the diaphragm 16 move back and forth to produce sound waves. If the coil 14 is closer to the center of the magnet 12, the interaction between the magnetic fields is stronger. If the coil 14 is further away from the center of the magnet 12, the interaction is weaker. This varying magnetic field causes an uneven force to produce acoustic distortion.

코일(14)은 자석(12)과 상호작용하는 전기장(18)도 생성한다. 전기장(18)은 자석(12)에 대한 코일(14)의 위치에 따라 변한다. 자기장과 유사하게, 코일이 자석(12)의 중심에 있을 경우, 코일(14)과 자석(12) 간의 전기장(18) 상호작용은 더 강하다. 코일(14)이 자석(12)으로부터 멀어지는 경우, 전기장(18)은 감소한다.The coil 14 also produces an electric field 18 that interacts with the magnet 12. The electric field 18 varies with the position of the coil 14 relative to the magnet 12. Similar to the magnetic field, when the coil is at the center of the magnet 12, the electric field 18 interaction between the coil 14 and the magnet 12 is stronger. When the coil 14 moves away from the magnet 12, the electric field 18 decreases.

도 2는 일 실시예에 따른 도 1의 확성기(10)의 전기적 모델이다. 저항기(R1) 및 인덕터(L1)는 확성기(10) 내부의 이동 코일(14)을 모델링한다. 커패시터(C2), 인덕터(L2) 및 저항기(R2)는 공기의 결합 관성, 다이어프램(16)의 탄성, 및 코일(14)의 이동에 의해 유발되는 유도 전동력(EMF; electromotive force)을 모델링한다. 확성기(10)는 전기 오디오 신호들을 확성기에 제공할 수 있는 2개의 확성기 단자도 포함한다.FIG. 2 is an electrical model of the loudspeaker 10 of FIG. 1 according to one embodiment. The resistor R1 and the inductor L1 model the moving coil 14 inside the loudspeaker 10. Capacitor C2, inductor L2 and resistor R2 model the electromotive force (EMF) caused by the coupling inertia of air, the elasticity of diaphragm 16, and the movement of coil 14. [ The loudspeaker 10 also includes two loudspeaker terminals capable of providing electrical audio signals to the loudspeaker.

커패시터(C1)는 확성기(10) 내부의 전기장(18)에 의해 유발되는 확성기(10)의 자기 용량(self-capacitance)을 나타낸다. C1은 코일(14)의 이동에 따라 변한다. 양의 전압이 코일(14)에 인가될 때, 코일은 자석(12)으로부터 멀어져서, 자석(12)과의 전기장(18)의 상호작용을 줄이며, 또한 커패시터(C1)의 용량을 줄인다. 음의 전압이 코일(14)에 인가될 때, 코일은 자석(12)을 향해 이동하여, 자석(12)과의 전기장(18)의 상호작용을 증가시키며, 또한 커패시터(C1)의 용량을 증가시킨다. 따라서, C1의 값은 코일(14) 및 다이어프램(16)의 위치에 의존하며, 확성기(10)에 의해 생성되는 음향음에 직접 관련된다. 일부 실시예들에서, C1은 10 pF와 100 pF 사이에서 변한다.The capacitor C1 represents the self-capacitance of the loudspeaker 10 caused by the electric field 18 inside the loudspeaker 10. C1 varies with the movement of the coil 14. [ When a positive voltage is applied to the coil 14 the coil moves away from the magnet 12 to reduce the interaction of the electric field 18 with the magnet 12 and also to reduce the capacity of the capacitor Cl. When a negative voltage is applied to the coil 14 the coil moves toward the magnet 12 to increase the interaction of the electric field 18 with the magnet 12 and also to increase the capacity of the capacitor Cl . Therefore, the value of C1 depends on the position of the coil 14 and the diaphragm 16, and is directly related to the sound produced by the loudspeaker 10. In some embodiments, C1 varies between 10 pF and 100 pF.

도 3은 일 실시예에 따른 높은 주파수들에서의 도 2의 전기적 모델의 간략화된 버전이다. 10 MHz와 같은, 오디오 주파수 범위 밖의 높은 주파수들에서, C2는 단락 회로인 것으로 가정되며, 따라서 C2, L2 및 R2 모두가 회로 모델로부터 제거될 수 있다. 저항기(Rs)는 확성기(10)의 고주파 저항을 나타내며, 도 2의 저항기(R1)에 대응한다. 인덕터(Ls)는 확성기(10)의 고주파 인덕턴스를 나타내며, 도 2의 인덕터(L1)에 대응한다. 커패시터(Cs)는 확성기(10)의 자기 용량을 나타내며, 도 2의 커패시터(C1)에 대응한다.FIG. 3 is a simplified version of the electrical model of FIG. 2 at high frequencies according to one embodiment. At higher frequencies outside the audio frequency range, such as 10 MHz, C2 is assumed to be a short circuit, and therefore both C2, L2 and R2 can be removed from the circuit model. The resistor Rs represents the high frequency resistance of the loudspeaker 10 and corresponds to the resistor R1 of Fig. The inductor Ls represents the high frequency inductance of the loudspeaker 10 and corresponds to the inductor L1 of Fig. The capacitor Cs represents the capacitance of the loudspeaker 10 and corresponds to the capacitor C1 in Fig.

본 개시내용의 실시예들은 코일(14)의 용량(Cs)을 다이어프램(16)의 변위에 대한 대용물로서 사용한다. 용량(Cs)이 측정되고, 확성기(10)에 제공되는 전기 신호의 레벨을 조정하기 위한 피드백으로 사용될 수 있으며, 따라서 전기 신호와 코일(14) 및 다이어프램(16)의 변위 간의 편차를 보상할 수 있다. 결과적으로, 확성기(10)는 감소된 왜곡 및 더 양호한 주파수 응답을 갖는다.Embodiments of the present disclosure use the capacitance Cs of the coil 14 as a substitute for the displacement of the diaphragm 16. The capacitance Cs can be measured and used as feedback to adjust the level of the electrical signal provided to the loudspeaker 10 and thus compensate for the deviation between the electrical signal and the displacement of the coil 14 and the diaphragm 16 have. As a result, the loudspeaker 10 has a reduced distortion and a better frequency response.

도 4는 일 실시예에 따른 감소된 오디오 왜곡을 갖는 오디오 시스템의 블록도이다. 오디오 시스템은 그의 양의 입력에서 타겟 오디오 신호(402)를 그리고 그의 음의 입력에서 피드백 신호(408)를 수신하는 오디오 구동기(410)를 포함한다. 일 실시예에서, 타겟 오디오 신호(402)는 20 내지 20,000 Hz의 가청 주파수 범위 내에 있으며, 확성기(10)에 의해 생성되는 음향을 나타낸다. 오디오 구동기는 타겟 오디오 신호(402)와 피드백 신호(408)를 비교하여 조정된 오디오 신호(404)를 생성한다. 일 실시예에서, 오디오 구동기(410)는 오디오 증폭기일 수 있거나, 증폭 스테이지를 포함할 수 있다.4 is a block diagram of an audio system with reduced audio distortion in accordance with one embodiment. The audio system includes an audio driver 410 that receives a target audio signal 402 at its positive input and a feedback signal 408 at its negative input. In one embodiment, the target audio signal 402 is within the audible frequency range of 20 to 20,000 Hz and represents the sound produced by the loudspeaker 10. The audio driver compares the target audio signal 402 with the feedback signal 408 to produce an adjusted audio signal 404. In one embodiment, the audio driver 410 may be an audio amplifier or may include an amplification stage.

보상 회로(406)는 오디오 구동기(410)의 출력 및 확성기(10)의 단자(430)에 결합된다. 보상 회로(406)는 조정된 오디오 신호(404)를 확성기(10) 상으로 전달하며, 확성기는 조정된 오디오 신호(404)를 음향음으로 변환한다. 커패시터(Cs)의 용량은 조정된 오디오 신호(404)가 확성기(10)에 의해 음향음으로 변환될 때 변한다. 보상 회로(406)는 고주파 테스트 전류를 커패시터(Cs) 내로 주입하는 테스트 신호 생성기(미도시)도 포함한다. 고주파 테스트 전류의 전류 레벨이 측정되고, 커패시터(Cs)의 순간 값의 지시로서 사용된다. 측정된 전류는 다이어프램(16)의 변위에 비례하는 전압으로 변환되며, 이 전압은 오디오 구동기(410)에 피드백 신호(408)로서 전송된다. 오디오 구동기(410)의 루프 이득은 타겟 오디오(402) 및 피드백 신호(408)가 궁극적으로 서로 수렴하게 한다. 피드백 신호(408)는 확성기(10)에 의해 생성되는 실제 음향음의 정확한 표현일 수 있으므로, 이것은 생성되는 음향이 타겟 오디오 신호(402)와 유사하여 확성기(10)에 의해 생성되는 음향의 충실도를 향상시키는 것을 보증한다.The compensation circuit 406 is coupled to the output of the audio driver 410 and to the terminal 430 of the loudspeaker 10. The compensation circuit 406 delivers the adjusted audio signal 404 onto the loudspeaker 10 which converts the adjusted audio signal 404 into acoustic sound. The capacitance of the capacitor Cs changes when the adjusted audio signal 404 is converted into acoustic sound by the loudspeaker 10. The compensation circuit 406 also includes a test signal generator (not shown) that injects the high frequency test current into the capacitor Cs. The current level of the high frequency test current is measured and used as an indication of the instantaneous value of the capacitor Cs. The measured current is converted to a voltage proportional to the displacement of the diaphragm 16, and this voltage is transmitted as a feedback signal 408 to the audio driver 410. The loop gain of the audio driver 410 causes the target audio 402 and the feedback signal 408 to ultimately converge with each other. The feedback signal 408 may be an accurate representation of the actual sound produced by the loudspeaker 10 so that the resulting sound is similar to the target audio signal 402 so that the fidelity of the sound produced by the loudspeaker 10 .

확성기(10)의 하부 단자(432)는 접지에 결합되어, 상부 단자(430)를 통해 확성기에 입력되는 신호들에 대한 방전 경로를 제공한다. 다른 실시예들에서, 보상 회로(406)는 본 명세서에서 설명되는 바와 같이 확성기(10)의 하부 단자(432) 또는 오디오 구동기(410)의 전력 공급 입력(power supply input)에도 결합될 수 있다. 다른 실시예들에서, 오디오 구동기(410)는 단일 종단 구동기(single ended driver)가 아니라 차동 구동기일 수 있다.The lower terminal 432 of the loudspeaker 10 is coupled to the ground to provide a discharge path for signals input to the loudspeaker through the upper terminal 430. [ In other embodiments, the compensation circuit 406 may also be coupled to the power supply input of the lower terminal 432 of the loudspeaker 10 or the audio driver 410 as described herein. In other embodiments, the audio driver 410 may be a differential driver, rather than a single ended driver.

도 5는 일 실시예에 따른 감소된 오디오 왜곡을 갖는 오디오 시스템의 회로도이다. 보상 회로(406)는 교류(AC) 테스트 신호(508)를 생성하는 테스트 신호 생성기(506)를 포함한다. 테스트 신호(508)는 타겟 오디오 신호(402)의 오디오 주파수 범위보다 높은 주파수로 발진한다. 예를 들어, 테스트 신호(508)는 타겟 오디오 신호(402)의 20 hz - 20 khz 범위보다 충분히 높은 10 MHz의 주파수를 가질 수 있다. 일 실시예에서, 테스트 신호(508)는 실질적으로 고정된 전압 진폭 및 실질적으로 고정된 주파수를 가질 수 있다. 그러나, 테스트 신호(508)의 전류는 확성기(10)가 음향음을 생성할 때 변할 수 있다.5 is a circuit diagram of an audio system with reduced audio distortion in accordance with one embodiment. The compensation circuit 406 includes a test signal generator 506 that generates an alternating current (AC) test signal 508. The test signal 508 oscillates at a frequency higher than the audio frequency range of the target audio signal 402. For example, the test signal 508 may have a frequency of 10 MHz that is well above the 20 Hz - 20 kHz range of the target audio signal 402. In one embodiment, the test signal 508 may have a substantially fixed voltage amplitude and a substantially fixed frequency. However, the current of the test signal 508 may change when the loudspeaker 10 generates an acoustic sound.

결합기 회로(combiner circuit)(510)가 오디오 구동기(410)의 출력 및 확성기(10)의 단자(430)에 결합된다. 결합기 회로(510)는 테스트 신호(508)를 조정된 오디오 신호(404)와 결합하여, 확성기(10)에 제공되는 결합된 신호(502)를 생성한다. 결합기 회로(510)는 인덕터(L3) 및 커패시터(C3)를 포함할 수 있다. 인덕터(L3)는 오디오 주파수들을 통과시키지만, 테스트 신호(508)의 주파수를 차단하도록 선택된다. L3은 테스트 신호(508)의 전류가 오디오 구동기(410)의 출력을 통해 흐르는 것을 방지한다. 커패시터(C3)는 오디오 주파수들을 차단하지만, 테스트 신호(508)의 주파수를 통과시키도록 선택된다. 커패시터(C3)는 조정된 오디오 신호(404)가 테스트 신호(508)의 전류 측정에 영향을 주는 것을 방지한다.A combiner circuit 510 is coupled to the output of the audio driver 410 and to the terminal 430 of the loudspeaker 10. The combiner circuit 510 combines the test signal 508 with the conditioned audio signal 404 to produce a combined signal 502 that is provided to the loudspeaker 10. The combiner circuit 510 may include an inductor L3 and a capacitor C3. Inductor L3 is selected to pass the audio frequencies but to block the frequency of the test signal 508. [ L3 prevents the current of the test signal 508 from flowing through the output of the audio driver < RTI ID = 0.0 > 410. < / RTI > Capacitor C3 is selected to block the audio frequencies but pass the frequency of the test signal 508. [ The capacitor C3 prevents the adjusted audio signal 404 from affecting the current measurement of the test signal 508. [

조정된 오디오 신호 부분 및 테스트 신호 부분 양자를 포함하는 결합된 신호(502)는 확성기(10)의 상부 단자(430)에 제공된다. 조정된 오디오 신호 부분은 확성기(10)의 코일(14)이 앞뒤로 움직여 청취자가 들을 수 있는 음향음을 생성하게 한다. 결합된 신호(502)의 테스트 신호 부분은 용량(Cs)을 통해 테스트 전류를 생성하지만, 확성기가 음향음을 생성하게 하지는 않는다. 테스트 신호 부분에 대한 테스트 전류의 실질적으로 전부가 인덕터(Ls)가 아니라 커패시터(Cs)를 통해 흐른다. 이것은 테스트 신호 부분이 높은 주파수에서 동작하고, 인덕터(Ls)가 높은 주파수들에서 개방 회로이기 때문이다.A combined signal 502 comprising both the adjusted audio signal portion and the test signal portion is provided to the top terminal 430 of the loudspeaker 10. The adjusted audio signal portion causes the coil 14 of the loudspeaker 10 to move back and forth to produce a sound that the listener can hear. The test signal portion of the combined signal 502 generates a test current through the capacitance Cs, but does not allow the loudspeaker to generate an acoustic sound. Substantially all of the test current for the test signal portion flows through the capacitor Cs and not through the inductor Ls. This is because the test signal portion operates at a high frequency and the inductor Ls is an open circuit at high frequencies.

용량(Cs)은 코일(14)이 앞뒤로 움직여 음향음을 생성할 때 시간 경과에 따라(over time) 변한다. Cs가 변하고, 테스트 신호(508)의 테스트 전류가 Cs를 통해 흐르므로, 테스트 신호(508)의 전류 레벨은 Cs에 의존하고, Cs의 값이 변함에 따라 변한다. 따라서, 코일(14)이 자석으로부터 더 멀리 이동할 때, 용량(Cs)은 감소하며, 테스트 신호(508)의 전류 레벨도 감소한다. 코일(14)이 자석을 향해 이동할 때, 용량(Cs)은 증가하며, 테스트 신호(508)의 전류 레벨도 증가한다.The capacitance Cs varies over time as the coil 14 moves back and forth to produce acoustic sound. As Cs changes and the test current of the test signal 508 flows through Cs, the current level of the test signal 508 depends on Cs and changes as the value of Cs changes. Thus, when the coil 14 moves further away from the magnet, the capacitance Cs decreases and the current level of the test signal 508 also decreases. As the coil 14 moves toward the magnet, the capacitance Cs increases and the current level of the test signal 508 also increases.

전류 측정 회로(520)가 테스트 신호 생성기(506)와 신호 결합기(510) 사이에 결합된다. 전류 측정 회로(520)는 (고정 전압 진폭 및 가변 전류를 가질 수 있는) 테스트 신호(508)의 전류 레벨을 측정하며, 테스트 신호(508)의 측정된 전류 레벨을 지시하는 전류 감지 신호(512)를 생성한다. 전류 측정 회로(520)는 예를 들어 테스트 전압 생성기(506)와 신호 결합기(510) 사이에 결합되는 직렬 저항기는 물론, 저항기 양단의 전압차를 증폭하기 위한 차동 증폭기도 포함할 수 있다.A current measurement circuit 520 is coupled between the test signal generator 506 and the signal combiner 510. The current measurement circuit 520 measures the current level of the test signal 508 (which may have a fixed voltage amplitude and a variable current) and provides a current sense signal 512 indicative of the measured current level of the test signal 508, . The current measurement circuit 520 may include, for example, a series resistor coupled between the test voltage generator 506 and the signal combiner 510, as well as a differential amplifier for amplifying the voltage difference across the resistor.

진폭 검출기(514)가 전류 감지 신호(512)를 수신하고, 전류 감지 신호(512)의 진폭을 검출한다. 이어서, 진폭 검출기(514)는 전류 감지 신호(512)의 시변 진폭을 나타내는 전류 진폭 신호(516)를 생성한다. 테스트 신호(508)의 전류 레벨이 확성기(10)의 용량(Cs)과 관련될 때, 전류 진폭 신호(516)의 순간 레벨은 또한 확성기(10)의 순간 용량(Cs)을 나타낸다. 일 실시예에서, 진폭 검출기(514)는 다이오드(D1) 및 다이오드(D1)의 출력에 결합된 커패시터(C4)를 포함한다. 다이오드(D1)는 반파 정류기로서 작용하며, 커패시터(C4)는 반파 정류 신호를 평활화하여 전류 진폭 신호(516)를 생성한다.An amplitude detector 514 receives the current sense signal 512 and detects the amplitude of the current sense signal 512. The amplitude detector 514 then generates a current amplitude signal 516 that represents the time-varying amplitude of the current sense signal 512. The instantaneous level of the current amplitude signal 516 also represents the instantaneous capacitance Cs of the loudspeaker 10 when the current level of the test signal 508 is related to the capacitance Cs of the loudspeaker 10. [ In one embodiment, the amplitude detector 514 includes a diode D1 and a capacitor C4 coupled to the output of the diode D1. Diode D1 acts as a half-wave rectifier and capacitor C4 smoothes the half-wave rectified signal to produce a current amplitude signal 516.

피드백 회로(518)는 진폭 검출기(514)의 출력에 결합되며, 전류 진폭 신호(516)를 수신한다. 피드백 회로(518)는 전류 진폭 신호(516)를, 다이어프램(16)의 변위의 정도를 나타내는 피드백 신호(408)로 변환한다. 일 실시예에서, 피드백 회로(518)는 전류 진폭 신호(516)에 대한 값들을, 다이어프램(16)의 변위의 정도를 나타내는 변위 값들에 맵핑하는 탐색표를 포함한다. 이어서, 변위 값들은 피드백 신호(408)로서 출력되는 전압들로 변환된다. 일 실시예에서, 전류 진폭 신호(516)와 다이어프램(16) 변위 간의 맵핑은 다이어프램(16) 변위 및 전류 진폭 신호(516)의 실제 측정들을 통해 미리 결정될 수 있으며, 이어서 이들은 탐색표 내에 저장된다.The feedback circuit 518 is coupled to the output of the amplitude detector 514 and receives the current amplitude signal 516. The feedback circuit 518 converts the current amplitude signal 516 into a feedback signal 408 that indicates the degree of displacement of the diaphragm 16. In one embodiment, the feedback circuit 518 includes a look-up table that maps values for the current amplitude signal 516 to displacement values that indicate the degree of displacement of the diaphragm 16. The displacement values are then converted to voltages that are output as feedback signal 408. In one embodiment, the mapping between the current amplitude signal 516 and the diaphragm 16 displacement can be predetermined through actual measurements of the diaphragm 16 displacement and current amplitude signal 516, which are then stored in the search table.

다른 실시예들에서, 피드백 회로(518)는 전류 진폭 신호(516)를, 다이어프램(16) 변위의 대략적인 정도를 나타내는 피드백 신호(408)로 변환하는 비선형 회로일 수 있다.In other embodiments, the feedback circuit 518 may be a nonlinear circuit that converts the current amplitude signal 516 into a feedback signal 408 that indicates an approximate degree of diaphragm 16 displacement.

오디오 구동기(410)는 피드백 신호(408)를 수신하고, 피드백 신호(408)를 타겟 오디오 신호(402)와 비교하여, 조정된 오디오 신호(404)의 레벨을 조정한다. 오디오 구동기(410)의 루프 이득은 타겟 오디오 신호(402) 및 피드백 신호(408)가 궁극적으로 서로 수렴하게 하여, 확성기(10)의 음향 출력이 타겟 오디오 신호(402)의 음향 출력과 매칭되는 것을 보증한다.The audio driver 410 receives the feedback signal 408 and compares the feedback signal 408 with the target audio signal 402 to adjust the level of the adjusted audio signal 404. The loop gain of the audio driver 410 causes the target audio signal 402 and the feedback signal 408 to ultimately converge to each other such that the acoustic output of the loudspeaker 10 matches the acoustic output of the target audio signal 402 Guarantee.

도 6은 일 실시예에 따른 도 5의 오디오 시스템의 신호 파형들을 나타낸다. 신호 파형들은 조정된 오디오 신호(404), 테스트 신호(508), 전류 감지 신호(512) 및 전류 진폭 신호(516)에 대해 도시된다. 조정된 오디오 신호(404)는 음성 코일(14)이 앞뒤로 움직여 음향음을 생성하게 하는 시변 전압 신호(time-varying voltage signal)이다. 코일(14)의 이동은 확성기(10)의 용량(Cs)의 변화를 생성한다. 테스트 신호(508)는 실질적으로 일정한 주파수 및 전압 진폭을 갖는다. 그러나, 전류 감지 신호(512)에 의해 표현되는 테스트 신호(508)의 전류 레벨은 용량(Cs)이 변함에 따라 변한다. 테스트 신호(508)의 변하는 전류는 전류 감지 신호(512)의 전압 레벨에서 캡처된다. 마지막으로, 전류 진폭 신호(516)는 전류 감지 신호(512)의 시변 진폭이며, 테스트 신호(508)의 변하는 전류 진폭을 나타내고, 확성기(10)의 변하는 용량(Cs)을 추적한다.Figure 6 shows signal waveforms of the audio system of Figure 5 according to one embodiment. The signal waveforms are shown for the adjusted audio signal 404, the test signal 508, the current sense signal 512, and the current amplitude signal 516. The adjusted audio signal 404 is a time-varying voltage signal that causes the voice coil 14 to move back and forth to produce a sound. The movement of the coil 14 produces a change in the capacitance Cs of the loudspeaker 10. The test signal 508 has a substantially constant frequency and voltage amplitude. However, the current level of the test signal 508 represented by the current sense signal 512 varies as the capacitance Cs changes. The varying current of the test signal 508 is captured at the voltage level of the current sense signal 512. Finally, the current amplitude signal 516 is the time-varying amplitude of the current sense signal 512 and represents the varying current amplitude of the test signal 508 and tracks the varying capacitance Cs of the loudspeaker 10. [

도 7은 다른 실시예에 따른 감소된 오디오 왜곡을 갖는 오디오 시스템의 회로도이다. 도 7의 오디오 시스템은 전류 검출기 회로(520)가 이제 확성기(10)의 다른 단자(432)에 결합된다는 점 외에는 도 6의 오디오 시스템과 유사하다. 전류 검출기 회로(520)는 여전히 커패시터(Cs)를 통해 흐르는 테스트 전류의 레벨을 검출하지만, 약간 상이한 방식으로 측정을 수행한다.7 is a circuit diagram of an audio system with reduced audio distortion according to another embodiment. The audio system of FIG. 7 is similar to the audio system of FIG. 6 except that the current detector circuit 520 is now coupled to the other terminal 432 of the loudspeaker 10. The current detector circuit 520 still detects the level of the test current flowing through the capacitor Cs, but performs the measurement in a slightly different manner.

구체적으로, 전류 검출기 회로(520)는 결합된 신호(502)의 전류를 검출한다. 결합된 신호(502)의 전류는 조정된 오디오 신호(404)의 오디오 주파수 성분들뿐만 아니라, 테스트 신호(508)의 고주파 성분도 포함한다. 테스트 신호(508)의 고주파 성분으로부터 오디오 주파수 성분들을 분리하기 위해, 전류 검출기 회로(520)는 직렬 커패시터(C5)를 포함한다. 커패시터(C5)는 검출된 전류의 오디오 주파수 성분들을 필터링하지만 테스트 신호(506)의 주파수 성분들은 통과시키는 고역 통과 필터로서 작용한다. 결과적으로, 전류 감지 신호(512)는 조정된 오디오 신호(404)가 아니라 테스트 신호(508)의 전류 레벨을 지시한다. 다른 실시예들에서, 커패시터(C5)는 전류 검출기 회로(520)와 확성기(10) 사이에 배치되어, 테스트 신호(508)의 전류 레벨의 검출 전에 오디오 주파수 성분들을 필터링할 수 있다.Specifically, the current detector circuit 520 detects the current of the combined signal 502. The current of the combined signal 502 includes not only the audio frequency components of the adjusted audio signal 404, but also the high frequency components of the test signal 508. To separate the audio frequency components from the high frequency components of the test signal 508, the current detector circuit 520 includes a series capacitor C5. Capacitor C5 acts as a high pass filter that filters the audio frequency components of the detected current but passes the frequency components of the test signal 506. [ As a result, the current sense signal 512 indicates the current level of the test signal 508, not the adjusted audio signal 404. In other embodiments, a capacitor C5 may be disposed between the current detector circuit 520 and the loudspeaker 10 to filter audio frequency components prior to detection of the current level of the test signal 508. [

도 8은 또 다른 실시예에 따른 감소된 오디오 왜곡을 갖는 오디오 시스템의 회로도이다. 도 8의 오디오 시스템은, 테스트 신호 생성기(506)가 이제 오디오 구동기(410)의 전력 공급 입력에 결합되고, 오디오 구동기(410)에 대한 전력 공급 입력을 변화시킴으로써 확성기(10)를 통해 고주파 테스트 전류가 간접적으로 흐르게 한다는 점 외에는 도 7의 오디오 시스템과 유사하다.8 is a circuit diagram of an audio system with reduced audio distortion according to another embodiment. The audio system of Figure 8 is similar to the audio system of Figure 8 except that the test signal generator 506 is now coupled to the power supply input of the audio driver 410 and is connected to the audio driver 410 via the loudspeaker 10 by changing the power supply input to the audio driver 410, 7 is similar to the audio system of Fig.

도시된 바와 같이, 오디오 구동기(410)는 배터리 또는 다른 전원과 같은 DC 전원(802)에 의해 전력이 공급된다. 테스트 신호 생성기(506)는 조정된 전력 공급 전압(power supply voltage)(804)을 생성하기 위해 커패시터(C5)를 통해 DC 전원(802)과 결합되는 테스트 신호(508)를 생성한다. 조정된 전력 공급 전압(804)은 DC 전원 전압(DC supply voltage)(802)으로부터의 DC 성분 및 테스트 신호 생성기(506)로부터의 AC 성분 양자를 갖는다. 전력 공급 신호(804)의 AC 성분은 오디오 구동기(410)의 출력을 변화시키며, 조정된 오디오 신호(404)가 테스트 신호(508)의 주파수와 매칭되는 고주파 AC 성분을 갖게 한다.As shown, the audio driver 410 is powered by a DC power source 802, such as a battery or other power source. The test signal generator 506 generates a test signal 508 that is coupled to the DC power supply 802 via the capacitor C5 to produce a regulated power supply voltage 804. The test signal The regulated power supply voltage 804 has both a DC component from the DC supply voltage 802 and an AC component from the test signal generator 506. The AC component of the power supply signal 804 changes the output of the audio driver 410 and causes the adjusted audio signal 404 to have a high frequency AC component that matches the frequency of the test signal 508.

조정된 오디오 신호(404)의 고주파 AC 성분은 고주파 테스트 전류가 확성기(10)의 커패시터(Cs)를 통해 흐르게 한다. 전류 검출 회로(520)는 테스트 전류의 전류 레벨을 측정한다. 이러한 테스트 전류의 레벨은 전류 감지 신호(512) 내에 반영되고, 진폭 검출기 회로(514)에 의해 진폭 검출되어 전류 진폭 신호(516)를 생성하며, 이어서 피드백 회로(518)에 의해 피드백 신호(408)를 생성하는 데 사용된다. 도 8의 실시예는 결합기 회로(510) 및 그의 관련된 개별 컴포넌트들의 결여로 인해 도 5 및 도 7의 이전 실시예들보다 더 간단하게 구현될 수 있다.The high frequency AC component of the adjusted audio signal 404 causes the high frequency test current to flow through the capacitor Cs of the loudspeaker 10. The current detection circuit 520 measures the current level of the test current. The level of this test current is reflected in the current sense signal 512 and is amplitude detected by the amplitude detector circuit 514 to produce a current amplitude signal 516 which is then fed back by the feedback circuit 518 to the feedback signal 408, . ≪ / RTI > The embodiment of FIG. 8 may be implemented more simply than the previous embodiments of FIGS. 5 and 7 owing to the lack of combiner circuit 510 and its associated discrete components.

도 9는 다른 실시예에 따른 확성기(10)의 물리적 도면이다. 도 9의 물리적 도면은 도 1의 도면과 유사하지만, 이제는 인쇄 회로 보드(PCB) 접지 평면(902)을 포함한다. PCB 접지 평면(902)은 예를 들어 확성기(10)가 실장되는 PCB에 대한 것일 수 있다. 다른 실시예들에서, PCB 접지 평면(902)은 확성기(10)에 인접하는 다른 접지된 물체로 대체될 수 있다. 코일(14)은 또한 PCB의 접지 평면(902)과 상호작용하는 전기장(904)을 갖는다. 전기장(904)의 강도는 코일(14) 및 다이어프램(16)이 앞뒤로 움직여 음향음을 생성함에 따라 변한다.9 is a physical diagram of a loudspeaker 10 according to another embodiment. The physical diagram of FIG. 9 is similar to that of FIG. 1, but now includes a printed circuit board (PCB) ground plane 902. The PCB ground plane 902 may be for a PCB on which the loudspeaker 10 is mounted, for example. In other embodiments, the PCB ground plane 902 may be replaced by another grounded object adjacent to the loudspeaker 10. The coil 14 also has an electric field 904 that interacts with the ground plane 902 of the PCB. The intensity of the electric field 904 changes as the coil 14 and the diaphragm 16 move back and forth to produce acoustic sound.

도 10은 일 실시예에 따른 높은 주파수들에서의 도 9의 확성기(10)의 간략화된 전기적 모델이다. 도 10의 확성기 모델은 도 3의 확성기 모델과 유사하지만, 이제 모델은 커패시터(Cs) 대신에 커패시터(Cg)를 포함한다. 커패시터(Cg)는 접지에 접속되며, 코일(14)과 PCB 접지 평면(902) 간의 전기장(904)을 나타낸다. 커패시터(Cg)의 용량은 또한 코일(14) 및 다이어프램(16)이 앞뒤로 움직여 음향음을 생성함에 따라 변한다.FIG. 10 is a simplified electrical model of the loudspeaker 10 of FIG. 9 at high frequencies according to one embodiment. The loudspeaker model of Fig. 10 is similar to the loudspeaker model of Fig. 3, but now the model includes a capacitor Cg instead of a capacitor Cs. The capacitor Cg is connected to ground and represents the electric field 904 between the coil 14 and the PCB ground plane 902. The capacitance of the capacitor Cg also changes as the coil 14 and the diaphragm 16 move back and forth to produce acoustic sound.

도 11은 추가 실시예에 따른 감소된 오디오 왜곡을 갖는 오디오 시스템의 회로도이다. 기능 레벨에서, 도 11의 오디오 시스템은 용량(Cg)을 다이어프램(16)의 변위에 대한 대용물로서 사용한다. 오디오 시스템은 용량(Cg)을 통해 전류를 측정하며, 전류를 이용하여, 조정된 오디오 신호(404)의 레벨을 조정하기 위한 피드백 신호(408)를 생성하며, 따라서 타겟 오디오 신호(402)와 다이어프램(16)의 실제 변위 간의 편차를 보상한다.11 is a circuit diagram of an audio system with reduced audio distortion according to a further embodiment. At the functional level, the audio system of FIG. 11 uses the capacitance Cg as a substitute for the displacement of the diaphragm 16. The audio system measures the current through the capacitance Cg and uses the current to generate a feedback signal 408 for adjusting the level of the adjusted audio signal 404 and thus the target audio signal 402 and the diaphragm & (16).

회로 레벨에서, 도 11의 오디오 시스템은 도 5의 오디오 시스템과 유사하지만, 이제는 조정된 차동 오디오 신호(1104)를 출력하는 차동 오디오 구동기(1110)를 포함한다. 신호 결합기(1112)도 상이하며, 이제는 오디오 구동기(1110)의 출력들과 확성기(10) 사이에 결합된 2개의 인덕터(L3, L4)를 포함한다. 인덕터들(L3, L4)은 테스트 신호(506)가 오디오 구동기(1110)의 출력들을 통해 역으로 흐르는 것을 차단하는 초크들이다.At the circuit level, the audio system of FIG. 11 is similar to the audio system of FIG. 5, but now includes a differential audio driver 1110 that outputs the adjusted differential audio signal 1104. The signal combiner 1112 is also different and now includes two inductors L3 and L4 coupled between the outputs of the audio driver 1110 and the loudspeaker 10. [ The inductors L3 and L4 are chokes that block the test signal 506 from flowing back through the outputs of the audio driver 1110. [

신호 결합기(510)는 테스트 신호(508)를 조정된 차동 오디오 신호(1104)와 결합하여 차동 결합 신호(1102)를 생성한다. 결합 신호(1102)의 조정된 오디오 신호 부분은 확성기(10)에 의해 음향음으로 변환된다. 커패시터(Cg)는 확성기(10)가 음향음을 생성함에 따라 변한다. 테스트 신호(506)는 인덕터(L4, L3)에 의해 차단되며, 따라서 테스트 신호(506)에 대해 이용 가능한 유일한 방전 경로는 커패시터(Cg)를 통하는 것이다. 전류 감지 회로(520)는 커패시터(Cg)를 통해 흐르는 테스트 전류의 양을 나타내는 테스트 신호(506)의 전류 레벨을 측정한다. 이어서, 전류 감지 회로(520)는 테스트 신호(506)의 전류 레벨을 지시하기 위한 전류 감지 신호(512)를 생성한다.The signal combiner 510 combines the test signal 508 with the adjusted differential audio signal 1104 to generate a differential combined signal 1102. The adjusted audio signal portion of the combined signal 1102 is converted to acoustic sound by the loudspeaker 10. The capacitor Cg changes as the loudspeaker 10 generates an acoustic sound. The test signal 506 is blocked by the inductors L4 and L3 and therefore the only discharge path available for the test signal 506 is through the capacitor Cg. The current sensing circuit 520 measures the current level of the test signal 506, which indicates the amount of test current flowing through the capacitor Cg. The current sensing circuitry 520 then generates a current sensing signal 512 for indicating the current level of the test signal 506. [

진폭 검출기(514)는 전류 감지 신호(512)의 진폭을 검출하고, 전류 진폭 신호(516)를 생성한다. 피드백 회로(518)는 전류 진폭 신호(516)를 수신하고, 전류 진폭 신호(516)를 이용하여, 피드백 신호(408)를 생성한다. 일 실시예에서, 피드백 회로(518)는 전류 진폭 신호(516)의 레벨들을, 피드백 신호(408)를 생성하는 데 사용되는 변위 값들에 맵핑하는 탐색표를 사용한다. 도 11의 피드백 회로(518)에 대한 탐색표는 도 5의 피드백 회로(518)에 대한 탐색표와 상이한 값들을 가질 수 있다.The amplitude detector 514 detects the amplitude of the current sense signal 512 and generates a current amplitude signal 516. The feedback circuit 518 receives the current amplitude signal 516 and uses the current amplitude signal 516 to generate the feedback signal 408. In one embodiment, the feedback circuit 518 uses a search table that maps the levels of the current amplitude signal 516 to the displacement values used to generate the feedback signal 408. The look-up table for the feedback circuit 518 of FIG. 11 may have different values from the look-up table for the feedback circuit 518 of FIG.

오디오 구동기(1110)는 타겟 오디오 신호(402) 및 피드백 신호(408)를 수신하고, 그의 2개의 입력 신호를 비교함으로써 조정된 차동 오디오 신호(1104)를 생성한다. 결과적인 조정된 오디오 신호(1104)는 타겟 오디오 신호(402)와 확성기 다이어프램(16)의 실제 이동 간의 편차를 보상한다. 결과적으로, 확성기 다이어프램(16)의 변위는 타겟 오디오 신호(402)의 변위와 매칭되어, 오디오 시스템의 오디오 충실도를 증가시킨다.The audio driver 1110 receives the target audio signal 402 and the feedback signal 408 and generates the adjusted differential audio signal 1104 by comparing the two input signals. The resulting adjusted audio signal 1104 compensates for the deviation between the target audio signal 402 and the actual movement of the loudspeaker diaphragm 16. [ As a result, the displacement of the loudspeaker diaphragm 16 is matched to the displacement of the target audio signal 402, thereby increasing the audio fidelity of the audio system.

본 개시내용을 읽으면, 통상의 기술자들은 오디오 시스템에서의 오디오 왜곡을 줄이기 위한 또 다른 추가적인 대안 설계들을 알 것이다. 따라서, 특정 실시예들 및 응용들이 도시되고 설명되었지만, 본 명세서에서 설명된 실시예들은 본 명세서에서 개시된 바로 그 구성 및 컴포넌트들로 한정되지 않으며, 본 개시내용의 사상 및 범위로부터 벗어나지 않고서 본 명세서에서 개시된 방법 및 기기의 배열, 동작 및 상세에 있어서 통상의 기술자들에게 명백할 다양한 수정들, 변경들 및 변형들이 이루어질 수 있다는 것을 이해해야 한다.Upon reading the present disclosure, one of ordinary skill in the art will know of additional alternative designs for reducing audio distortion in an audio system. Thus, while specific embodiments and applications have been shown and described, it should be understood that the embodiments described herein are not limited to the precise arrangements and components disclosed herein, but may be modified and / or modified without departing from the spirit and scope of the disclosure It should be understood that various modifications, changes, and variations will be apparent to those of ordinary skill in the art, in the arrangement, operation and details of the disclosed method and apparatus.

Claims (21)

오디오 시스템으로서,
타겟 오디오 신호 및 피드백 신호를 수신하고, 상기 타겟 오디오 신호 및 상기 피드백 신호에 응답하여 조정된 오디오 신호를 생성하도록 구성되는 오디오 구동기;
상기 조정된 오디오 신호를 음향음(acoustical sound)으로 변환하도록 구성되는 확성기;
상기 타겟 오디오 신호보다 높은 주파수를 갖는 테스트 신호를 생성하도록 구성되는 테스트 신호 생성기 - 상기 테스트 신호는 테스트 전류가 상기 확성기를 통해 흐르게 함 -;
상기 확성기를 통해 흐르는 상기 테스트 전류를 측정하고, 상기 테스트 전류를 나타내는 전류 감지 신호를 생성하도록 구성되는 전류 감지 회로; 및
상기 전류 감지 신호에 응답하여 상기 피드백 신호를 생성하도록 구성되는 피드백 회로
를 포함하는 오디오 시스템.
As an audio system,
An audio driver configured to receive a target audio signal and a feedback signal and to generate an adjusted audio signal in response to the target audio signal and the feedback signal;
A loudspeaker configured to convert the adjusted audio signal into acoustical sound;
A test signal generator configured to generate a test signal having a frequency higher than the target audio signal, the test signal causing a test current to flow through the loudspeaker;
A current sense circuit configured to measure the test current flowing through the loudspeaker and to generate a current sense signal representative of the test current; And
A feedback circuit configured to generate the feedback signal in response to the current sense signal;
≪ / RTI >
제1항에 있어서,
상기 전류 감지 회로에 결합되고, 상기 전류 감지 신호의 진폭을 나타내는 전류 진폭 신호를 생성하도록 구성되는 진폭 검출기를 더 포함하고,
상기 피드백 회로는 상기 전류 진폭 신호에 응답하여 상기 피드백 신호를 생성하도록 구성되는 오디오 시스템.
The method according to claim 1,
Further comprising an amplitude detector coupled to the current sense circuit and configured to generate a current amplitude signal representative of the amplitude of the current sense signal,
Wherein the feedback circuit is configured to generate the feedback signal in response to the current amplitude signal.
제2항에 있어서, 상기 피드백 회로는 상기 진폭 신호에 대한 값들을 상기 피드백 신호에 대한 값들에 맵핑하는 탐색표(lookup table)를 포함하는 오디오 시스템.3. The audio system of claim 2, wherein the feedback circuit comprises a lookup table that maps values for the amplitude signal to values for the feedback signal. 제2항에 있어서, 상기 피드백 회로는 상기 진폭 신호에 대해 비선형 관계를 갖도록 상기 피드백 신호를 생성하는 오디오 시스템.3. The audio system of claim 2, wherein the feedback circuit generates the feedback signal to have a nonlinear relationship to the amplitude signal. 제1항에 있어서, 상기 테스트 신호는 실질적으로 일정한 전압 진폭을 가지며, 상기 테스트 전류는 상기 확성기의 다이어프램(diaphragm)이 상기 조정된 오디오 신호를 음향음으로 변환하도록 변위될 때 시간 경과에 따라(over time) 변하는 오디오 시스템.2. The method of claim 1, wherein the test signal has a substantially constant voltage amplitude and the test current is measured over time when the diaphragm of the loudspeaker is displaced to convert the adjusted audio signal to acoustic sound. time varying audio system. 제1항에 있어서,
상기 조정된 오디오 신호와 상기 테스트 신호를 결합함으로써 결합된 신호를 생성하도록 구성되는 신호 결합기 회로를 더 포함하고,
상기 확성기는 상기 조정된 오디오 신호에 대응하는 상기 결합된 신호의 부분을 음향음으로 변환하며, 상기 테스트 신호에 대응하는 상기 결합된 신호의 부분은 상기 테스트 전류가 상기 확성기를 통해 흐르게 하는 오디오 시스템.
The method according to claim 1,
Further comprising a signal combiner circuit configured to generate a combined signal by combining the adjusted audio signal and the test signal,
Wherein the loudspeaker converts the portion of the combined signal corresponding to the adjusted audio signal to acoustic sound and the portion of the combined signal corresponding to the test signal causes the test current to flow through the loudspeaker.
제1항에 있어서,
상기 테스트 신호 생성 회로는 상기 오디오 구동기의 전력 공급 입력(power supply input)에 결합되고, 상기 테스트 신호를 이용하여 상기 오디오 구동기의 전력 공급(power supply)을 조정하여 상기 오디오 구동기에 대한 조정된 전력 공급을 생성하며, 상기 조정된 전력 공급은 상기 테스트 전류가 상기 확성기를 통해 흐르게 하는 상기 조정된 오디오 신호의 변화들을 유발하는 오디오 시스템.
The method according to claim 1,
The test signal generator circuit is coupled to a power supply input of the audio driver and uses the test signal to adjust a power supply of the audio driver to provide a regulated power supply Wherein the adjusted power supply causes changes in the adjusted audio signal causing the test current to flow through the loudspeaker.
제1항에 있어서, 상기 오디오 구동기는 상기 타겟 오디오 신호를 상기 피드백 신호와 비교하여 상기 조정된 오디오 신호를 생성하는 오디오 시스템.2. The audio system of claim 1, wherein the audio driver compares the target audio signal with the feedback signal to generate the adjusted audio signal. 제1항에 있어서, 상기 오디오 구동기는 단일 종단 구동기(single ended driver)인 오디오 시스템.The audio system of claim 1, wherein the audio driver is a single ended driver. 제1항에 있어서, 상기 오디오 구동기는 차동 구동기인 오디오 시스템.The audio system of claim 1, wherein the audio driver is a differential driver. 제1항에 있어서, 상기 전류 감지 회로는 오디오 주파수들을 차단하고 상기 테스트 신호의 주파수를 통과시키도록 구성되는 커패시터를 포함하는 오디오 시스템.2. The audio system of claim 1 wherein the current sensing circuit comprises a capacitor configured to cut off audio frequencies and pass the frequency of the test signal. 오디오 시스템에서의 동작 방법으로서,
타겟 오디오 신호 및 피드백 신호에 응답하여 조정된 오디오 신호를 생성하는 단계;
확성기를 이용하여 상기 조정된 오디오 신호를 음향음으로 변환하는 단계;
상기 타겟 오디오 신호보다 높은 주파수를 갖는 테스트 신호를 생성하는 단계 - 상기 테스트 신호는 테스트 전류가 상기 확성기를 통해 흐르게 함 -;
상기 확성기를 통해 흐르는 상기 테스트 전류를 측정하는 단계;
상기 테스트 전류를 나타내는 전류 감지 신호를 생성하는 단계; 및
상기 전류 감지 신호에 응답하여 상기 피드백 신호를 생성하는 단계
를 포함하는 방법.
A method of operation in an audio system,
Generating an adjusted audio signal in response to a target audio signal and a feedback signal;
Converting the adjusted audio signal to acoustic sound using a loudspeaker;
Generating a test signal having a frequency higher than the target audio signal, the test signal causing a test current to flow through the loudspeaker;
Measuring the test current flowing through the loudspeaker;
Generating a current sense signal representative of the test current; And
Generating the feedback signal in response to the current sense signal
≪ / RTI >
제12항에 있어서,
상기 전류 감지 신호의 진폭을 나타내는 전류 진폭 신호를 생성하는 단계를 더 포함하고,
상기 피드백 신호를 생성하는 단계는 상기 전류 진폭 신호에 응답하여 상기 피드백 신호를 생성하는 단계를 포함하는 방법.
13. The method of claim 12,
Generating a current amplitude signal representative of the amplitude of the current sense signal,
Wherein generating the feedback signal comprises generating the feedback signal in response to the current amplitude signal.
제13항에 있어서,
상기 피드백 신호를 생성하는 단계는, 탐색표를 이용하여 상기 진폭 신호에 대한 값들을 상기 피드백 신호에 대한 값들에 맵핑함으로써 상기 피드백 신호가 생성되는 것을 포함하는 방법.
14. The method of claim 13,
Wherein generating the feedback signal comprises generating the feedback signal by mapping values for the amplitude signal to values for the feedback signal using a search table.
제13항에 있어서, 상기 피드백 신호는 상기 진폭 신호에 대해 비선형 관계를 갖도록 생성되는 방법.14. The method of claim 13, wherein the feedback signal is generated to have a non-linear relationship to the amplitude signal. 제12항에 있어서, 상기 테스트 신호는 실질적으로 일정한 전압 진폭을 가지며, 상기 테스트 전류는 상기 확성기의 다이어프램이 상기 조정된 오디오 신호를 음향음으로 변환하도록 변위될 때 시간 경과에 따라 변하는 방법.13. The method of claim 12, wherein the test signal has a substantially constant voltage amplitude and the test current changes over time as the diaphragm of the loudspeaker is displaced to convert the adjusted audio signal to acoustic sound. 제12항에 있어서,
상기 조정된 오디오 신호와 상기 테스트 신호를 결합함으로써 결합된 신호를 생성하는 단계; 및
상기 조정된 오디오 신호에 대응하는 상기 결합된 신호의 부분을 음향음으로 변환하는 단계
를 더 포함하고,
상기 테스트 신호에 대응하는 상기 결합된 신호의 부분은 상기 테스트 전류가 상기 확성기를 통해 흐르게 하는 방법.
13. The method of claim 12,
Generating a combined signal by combining the adjusted audio signal and the test signal; And
Converting the portion of the combined signal corresponding to the adjusted audio signal to acoustic sound
Further comprising:
And the portion of the combined signal corresponding to the test signal causes the test current to flow through the loudspeaker.
제12항에 있어서,
상기 조정된 오디오 신호를 생성하는 오디오 구동기의 전력 공급을 조정하는 단계를 더 포함하고, 상기 테스트 신호를 이용해서 상기 전력 공급을 조정하여 조정된 전력 공급을 생성하고,
상기 조정된 전력 공급은 상기 테스트 전류가 상기 확성기를 통해 흐르게 하는 상기 조정된 오디오 신호의 변화들을 유발하는 방법.
13. The method of claim 12,
Adjusting the power supply of the audio driver generating the adjusted audio signal, adjusting the power supply using the test signal to generate a regulated power supply,
The adjusted power supply causing changes in the adjusted audio signal causing the test current to flow through the loudspeaker.
제12항에 있어서, 상기 조정된 오디오 신호는 상기 타겟 오디오 신호를 상기 피드백 신호와 비교하여 상기 조정된 오디오 신호를 생성함으로써 생성되는 방법.13. The method of claim 12, wherein the adjusted audio signal is generated by comparing the target audio signal with the feedback signal to generate the adjusted audio signal. 제12항에 있어서, 상기 조정된 오디오 신호는 단일 종단 오디오 구동기를 이용하여 생성되는 방법.13. The method of claim 12, wherein the adjusted audio signal is generated using a single-ended audio driver. 제12항에 있어서, 상기 조정된 오디오 신호는 차동 오디오 구동기를 이용하여 생성되는 방법.13. The method of claim 12, wherein the adjusted audio signal is generated using a differential audio driver.
KR1020157024696A 2013-03-12 2014-03-06 Reducing audio distortion in an audio system Ceased KR20150127619A (en)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US13/797,590 US9301071B2 (en) 2013-03-12 2013-03-12 Reducing audio distortion in an audio system
US13/797,590 2013-03-12
PCT/US2014/021425 WO2014164233A1 (en) 2013-03-12 2014-03-06 Reducing audio distortion in an audio system

Publications (1)

Publication Number Publication Date
KR20150127619A true KR20150127619A (en) 2015-11-17

Family

ID=51527119

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020157024696A Ceased KR20150127619A (en) 2013-03-12 2014-03-06 Reducing audio distortion in an audio system

Country Status (6)

Country Link
US (2) US9301071B2 (en)
EP (1) EP2974370B1 (en)
JP (2) JP6067921B2 (en)
KR (1) KR20150127619A (en)
CN (1) CN105191346B (en)
WO (1) WO2014164233A1 (en)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20200127875A (en) * 2019-05-03 2020-11-11 하만인터내셔날인더스트리스인코포레이티드 System and method for compensating for non-linear behavior for an acoustic transducer based on magnetic flux
KR20200127871A (en) * 2019-05-03 2020-11-11 하만인터내셔날인더스트리스인코포레이티드 System and method for compensating for non-linear behavior for an acoustic transducer

Families Citing this family (18)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US9386387B2 (en) * 2013-05-23 2016-07-05 Listen, Inc. Audio measurement amplifier
EP3099047A1 (en) * 2015-05-28 2016-11-30 Nxp B.V. Echo controller
EP3171515B1 (en) 2015-11-17 2020-01-08 Nxp B.V. Speaker driver
US10091573B2 (en) 2015-12-18 2018-10-02 Bose Corporation Method of controlling an acoustic noise reduction audio system by user taps
US10110987B2 (en) 2015-12-18 2018-10-23 Bose Corporation Method of controlling an acoustic noise reduction audio system by user taps
US9930440B2 (en) 2015-12-18 2018-03-27 Bose Corporation Acoustic noise reduction audio system having tap control
US9743170B2 (en) * 2015-12-18 2017-08-22 Bose Corporation Acoustic noise reduction audio system having tap control
US9766481B1 (en) * 2016-08-08 2017-09-19 Google Inc. Closed loop audio processing for bone conduction transducer
CN106303883A (en) * 2016-08-23 2017-01-04 歌尔股份有限公司 A kind of detect the method for loudspeaker voice coil vibration displacement, device and loudspeaker monomer
US10341767B2 (en) * 2016-12-06 2019-07-02 Cirrus Logic, Inc. Speaker protection excursion oversight
CN108235173A (en) * 2018-02-11 2018-06-29 钰太芯微电子科技(上海)有限公司 A kind of microphone circuit and the earphone with decrease of noise functions
US10354641B1 (en) 2018-02-13 2019-07-16 Bose Corporation Acoustic noise reduction audio system having tap control
US10903589B2 (en) * 2018-07-31 2021-01-26 United States Of America As Represented By The Secretary Of The Navy Radio frequency optical acoustic communication modem
US10805751B1 (en) * 2019-09-08 2020-10-13 xMEMS Labs, Inc. Sound producing device
US10771893B1 (en) * 2019-10-10 2020-09-08 xMEMS Labs, Inc. Sound producing apparatus
IL298211A (en) * 2020-05-18 2023-01-01 Waves Audio Ltd Control of an electrostatic acoustic device
EP3989602B1 (en) 2020-10-23 2024-12-11 Oticon Medical A/S Distortion compensation for bone anchored hearing device
US11457311B1 (en) 2021-06-22 2022-09-27 Bose Corporation System and method for determining voice coil offset or temperature

Family Cites Families (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2758532B2 (en) 1992-06-05 1998-05-28 三菱電機株式会社 Sound equipment
US5600718A (en) 1995-02-24 1997-02-04 Ericsson Inc. Apparatus and method for adaptively precompensating for loudspeaker distortions
US7039201B1 (en) 2000-10-31 2006-05-02 Leetronics Corporation Audio signal phase detection system and method
US20050031140A1 (en) * 2003-08-07 2005-02-10 Tymphany Corporation Position detection of an actuator using a capacitance measurement
US20050031139A1 (en) 2003-08-07 2005-02-10 Tymphany Corporation Position detection of an actuator using impedance
JP2005323204A (en) * 2004-05-10 2005-11-17 Atsuhito Hanamoto Motional feedback device
CN101044785A (en) * 2004-10-21 2007-09-26 皇家飞利浦电子股份有限公司 Loudspeaker feedback
JP2006279508A (en) * 2005-03-29 2006-10-12 Sony Corp Audio signal amplifier and distortion correction method
JP4448811B2 (en) * 2005-09-28 2010-04-14 日本電産ピジョン株式会社 speaker
US8401207B2 (en) * 2009-03-31 2013-03-19 Harman International Industries, Incorporated Motional feedback system
US8411877B2 (en) 2009-10-13 2013-04-02 Conexant Systems, Inc. Tuning and DAC selection of high-pass filters for audio codecs
US8731496B2 (en) 2009-12-18 2014-05-20 Quantance, Inc. Power amplifier power controller
CN103813236A (en) * 2012-11-07 2014-05-21 飞兆半导体公司 Methods and apparatus related to protection of a speaker
EP2890160B1 (en) 2013-12-24 2019-08-14 Nxp B.V. Loudspeaker controller

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20200127875A (en) * 2019-05-03 2020-11-11 하만인터내셔날인더스트리스인코포레이티드 System and method for compensating for non-linear behavior for an acoustic transducer based on magnetic flux
KR20200127871A (en) * 2019-05-03 2020-11-11 하만인터내셔날인더스트리스인코포레이티드 System and method for compensating for non-linear behavior for an acoustic transducer

Also Published As

Publication number Publication date
HK1213411A1 (en) 2016-06-30
CN105191346A (en) 2015-12-23
US10129642B2 (en) 2018-11-13
EP2974370A4 (en) 2016-03-09
JP6449219B2 (en) 2019-01-09
US9301071B2 (en) 2016-03-29
EP2974370A1 (en) 2016-01-20
EP2974370B1 (en) 2017-07-12
JP2016510966A (en) 2016-04-11
JP2017085623A (en) 2017-05-18
US20140270207A1 (en) 2014-09-18
CN105191346B (en) 2018-10-16
US20160183002A1 (en) 2016-06-23
WO2014164233A1 (en) 2014-10-09
JP6067921B2 (en) 2017-01-25

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN105191346B (en) Reduce audio distortion in audio systems
CN103379410B (en) Sensor circuit and calibration steps
US10219090B2 (en) Method and detector of loudspeaker diaphragm excursion
US7961892B2 (en) Apparatus and method for monitoring speaker cone displacement in an audio speaker
CN108668198B (en) System and method for applying sound signals to a multi-voice coil electroacoustical transducer
US9565496B2 (en) Sound reproduction device
US9301072B2 (en) Transducer with motion control
JP2012503910A (en) Bias applying device and electronic device
CN108668206B (en) Method, circuit and system for avoiding diaphragm excursion of electrokinetic acoustic transducer
US20180139551A1 (en) Capacitive membrane positioning tracking
CN108282725B (en) Integrated back cavity pressure sensing sound amplifying system and audio player
US20130156226A1 (en) Volume adjustment circuit with automatic gain control and electronic device using same
WO2012135182A1 (en) Measuring transducer displacement
CN105978510B (en) Power amplifier and input signal adjusting method
HK1213411B (en) Reducing audio distortion in an audio system
JP2003075481A (en) Impedance detection circuit and capacitance detection circuit
CN201589827U (en) Circuit break detector
CN107948903A (en) A kind of MEMS microphone tests system
KR102077092B1 (en) Grounding Structure and Grounding Method of Vacuum Tube Audio Amplifier
JP2003075486A (en) Impedance detection circuit and capacitance detection circuit and method thereof
US10254134B2 (en) Interference-insensitive capacitive displacement sensing
CN102098017B (en) Volume control circuit and device as well as multimedia equipment
CN101998206A (en) Audio compensating device
WO2020107697A1 (en) All-band magnetic sensor
TWI426787B (en) Audio compensation apparatus

Legal Events

Date Code Title Description
PA0105 International application

Patent event date: 20150909

Patent event code: PA01051R01D

Comment text: International Patent Application

PG1501 Laying open of application
PA0201 Request for examination

Patent event code: PA02012R01D

Patent event date: 20190305

Comment text: Request for Examination of Application

E902 Notification of reason for refusal
PE0902 Notice of grounds for rejection

Comment text: Notification of reason for refusal

Patent event date: 20200115

Patent event code: PE09021S01D

E601 Decision to refuse application
PE0601 Decision on rejection of patent

Patent event date: 20200609

Comment text: Decision to Refuse Application

Patent event code: PE06012S01D

Patent event date: 20200115

Comment text: Notification of reason for refusal

Patent event code: PE06011S01I