KR20210066147A - CMP head test apparatus - Google Patents
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- 239000012530 fluid Substances 0.000 claims abstract description 43
- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims abstract description 26
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 11
- 238000003780 insertion Methods 0.000 claims description 9
- 230000037431 insertion Effects 0.000 claims description 9
- 239000012528 membrane Substances 0.000 description 7
- 230000009471 action Effects 0.000 description 5
- 230000006870 function Effects 0.000 description 5
- 230000008569 process Effects 0.000 description 5
- 230000008878 coupling Effects 0.000 description 3
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 description 3
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 description 3
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 3
- 239000000463 material Substances 0.000 description 3
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 2
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 2
- 238000005498 polishing Methods 0.000 description 2
- 238000003825 pressing Methods 0.000 description 2
- 230000000903 blocking effect Effects 0.000 description 1
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 1
- 230000008859 change Effects 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 1
- 239000002861 polymer material Substances 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- 239000002002 slurry Substances 0.000 description 1
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 1
- 238000006467 substitution reaction Methods 0.000 description 1
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 1
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-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B24—GRINDING; POLISHING
- B24B—MACHINES, DEVICES, OR PROCESSES FOR GRINDING OR POLISHING; DRESSING OR CONDITIONING OF ABRADING SURFACES; FEEDING OF GRINDING, POLISHING, OR LAPPING AGENTS
- B24B37/00—Lapping machines or devices; Accessories
- B24B37/34—Accessories
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- B24B—MACHINES, DEVICES, OR PROCESSES FOR GRINDING OR POLISHING; DRESSING OR CONDITIONING OF ABRADING SURFACES; FEEDING OF GRINDING, POLISHING, OR LAPPING AGENTS
- B24B37/00—Lapping machines or devices; Accessories
- B24B37/005—Control means for lapping machines or devices
- B24B37/0053—Control means for lapping machines or devices detecting loss or breakage of a workpiece during lapping
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- B24B—MACHINES, DEVICES, OR PROCESSES FOR GRINDING OR POLISHING; DRESSING OR CONDITIONING OF ABRADING SURFACES; FEEDING OF GRINDING, POLISHING, OR LAPPING AGENTS
- B24B57/00—Devices for feeding, applying, grading or recovering grinding, polishing or lapping agents
- B24B57/02—Devices for feeding, applying, grading or recovering grinding, polishing or lapping agents for feeding of fluid, sprayed, pulverised, or liquefied grinding, polishing or lapping agents
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Abstract
본 발명은 씨엠피 해드 검사 장치에 관한 것이다.
본 발명의 실시 예를 따르는 씨엠피 해드 검사 장치는, 몸체; 상기 몸체 상에 배치된 지지부재; 상기 지지부재에 의해 지지되고 유체를 공급하는 유체홀을 포함하는 샤프트; 씨엠피 해드를 지지하는 해드스테이션; 및 상기 유체홀을 통해 배출되는 유체를 공급하는 유체공급부재;를 포함한다. The present invention relates to a CMP head inspection device.
CMP head inspection apparatus according to an embodiment of the present invention, the body; a support member disposed on the body; a shaft supported by the support member and including a fluid hole for supplying a fluid; a head station supporting the CMP head; and a fluid supply member for supplying the fluid discharged through the fluid hole.
Description
본 발명은 씨엠피 해드 검사 장치에 관한 것이다. The present invention relates to a CMP head inspection device.
반도체 제조 시 수반되는 평탄화 공정인 씨엠피(CMP, Chemical Mechanical Polishing) 공정은 씨엠피 장치에 의해 수행된다. A CMP (Chemical Mechanical Polishing) process, which is a planarization process involved in semiconductor manufacturing, is performed by a CMP apparatus.
상기 씨엠피 공정은 회전하는 플레이튼 상에 패드를 부착하고, 상기 패드 위에 해드를 이용하여 웨이퍼를 가압 및 회전함으로써 이루어진다. 이때, 웨이퍼 표면에 형성된 막의 종류에 따라 슬러리를 패드 위에 분사한다.The CMP process is performed by attaching a pad on a rotating platen and pressing and rotating the wafer using a head on the pad. At this time, the slurry is sprayed onto the pad according to the type of film formed on the wafer surface.
상기 해드는 웨이퍼를 가압하기 위해 챔버를 포함하고 있으며, 상기 챔버는 동심원을 이루는 복수의 구역으로 나누어 있는 것이 일반적이다. 상기 챔버는 멤브레인이라고 하는 가요성 재질의 막 내에 유체를 주입함으로써 형성될 수 있다. 이와 같이 복수의 구역으로 나누어진 챔버를 이용하여, 웨이퍼의 각 영역에 대한 가압조건을 조절할 수 있다.The head includes a chamber for pressing the wafer, and the chamber is generally divided into a plurality of zones forming concentric circles. The chamber may be formed by injecting a fluid into a membrane made of a flexible material called a membrane. By using the chamber divided into a plurality of zones as described above, it is possible to adjust the pressurization conditions for each area of the wafer.
씨엠피 공정에서 가장 중요한 것은 웨이퍼의 각 부분의 연마율을 정확하게 제어하는 것이다. 이를 위해서는 상기 해드의 멤브레인을 통해 웨이퍼로 전달되는 압력을 정확하게 제어하는 것이 중요하다. The most important thing in the CMP process is to precisely control the polishing rate of each part of the wafer. To this end, it is important to accurately control the pressure transferred to the wafer through the membrane of the head.
그러나, 씨엠피 해드의 각 부품의 불량 또는 조립 불량 등에 의해 씨엠피 해드의 멤브레인을 통해 웨이퍼로 전달되는 압력이 씨엠피 해드 및 조립자마다 상이할 수 있고, 이 경우 제품 불량이 발생할 수 있다. However, the pressure transmitted to the wafer through the membrane of the CMP head may be different for each CMP head and assemblers due to defective or assembly defects of each component of the CMP head, and in this case, product defects may occur.
본 발명은 씨엠피 해드의 불량여부를 손쉽게 판단할 수 있는 씨엠피 해드 검사 장치를 제공함을 목적으로 한다. An object of the present invention is to provide a CMP head inspection apparatus capable of easily determining whether the CMP head is defective.
또한, 씨엠피 해드를 정확한 위치에 배치하여 검사의 정확도를 높일 수 있다. In addition, it is possible to increase the accuracy of the inspection by arranging the CMP head in an accurate position.
또한, 씨엠피 해드의 각 챔버에 의해 실제 웨이퍼로 전달되는 압력을 측정할 수 있다. In addition, it is possible to measure the pressure transferred to the actual wafer by each chamber of the CMP head.
본 발명의 실시 예를 따르는 씨엠피 해드 검사 장치는, 몸체; 상기 몸체 상에 배치된 지지부재; 상기 지지부재에 의해 지지되고 유체를 공급하는 유체홀을 포함하는 샤프트; 씨엠피 해드를 지지하는 해드스테이션; 및 상기 유체홀을 통해 배출되는 유체를 공급하는 유체공급부재;를 포함한다. CMP head inspection apparatus according to an embodiment of the present invention, the body; a support member disposed on the body; a shaft supported by the support member and including a fluid hole for supplying a fluid; a head station supporting the CMP head; and a fluid supply member for supplying the fluid discharged through the fluid hole.
상기 지지부재는 상기 몸체 상에 배치된 지지대, 및 상기 지지대 상에 배치되고 상기 샤프트를 지지하는 지지판을 포함할 수 있다. The support member may include a support disposed on the body, and a support plate disposed on the support and supporting the shaft.
상기 지지대는 하부에 배치된 가드레일을 포함하고, 상기 해드스테이션의 측면은 상기 가드레일에 끼워져 배치되고, 상기 해드스테이션은 상기 가드레일을 따라 이동하며, 외부로부터 상기 샤프트 및 몸체 사이의 공간으로 이동 가능하도록 배치될 수 있다. The support includes a guard rail disposed below, a side surface of the head station is fitted to the guard rail, and the head station moves along the guard rail, and moves from the outside into the space between the shaft and the body. It can be arranged to be possible.
상기 해드스테이션은 받침판, 및 상기 받침판 상에 배치되고 씨엠피 해드를 둘러싸는 복수의 측판을 포함하고, 상기 복수의 측판은 서로 이격되어 배치될 수 있다. The head station may include a support plate and a plurality of side plates disposed on the support plate and surrounding the CMP head, and the plurality of side plates may be disposed to be spaced apart from each other.
상기 받침판의 측면 중 상기 측판이 이격된 부분에 대응하는 부분은 ㄷ자 모양으로 패인 홈을 포함할 수 있다. A portion of the side of the support plate corresponding to the spaced apart portion of the side plate may include a U-shaped recessed groove.
상기 씨엠피 해드의 샤프트를 들어올려 상기 씨엠피 해드의 샤프트를 상기 샤프트에 맞닿게 위치시키는 지그를 더 포함할 수 있다. It may further include a jig for lifting the shaft of the CMP head to position the shaft of the CMP head in contact with the shaft.
상기 지그는 일단이 씨엠피 해드 샤프트의 하부에 삽입되는 삽입부, 상기 삽입부의 타단에 일단이 연결되고 씨엠피 해드 하우징에 맞닿는 지그작용부 및 상기 지그작용부의 타단에 연결된 손잡이를 포함하고, 상기 삽입부는 일단에 곡면을 갖고, 두께가 타단으로부터 일단으로 갈수록 작아지도록 경사진 형상일 수 있다.The jig includes an insertion part having one end inserted into the lower part of the CMP head shaft, a jig acting part having one end connected to the other end of the insertion part and contacting the CMP head housing, and a handle connected to the other end of the jig acting part, The portion may have a curved surface at one end, and may have an inclined shape such that the thickness decreases from the other end to the one end.
본 발명의 다른 실시 예를 따르는 씨엠피 해드 검사 장치는,상기 받침판 상에 배치되고, 씨엠피 해드가 받침판을 가압하는 압력을 측정하는 압력측정부재를 더 포함할 수 있다. The CMP head inspection apparatus according to another embodiment of the present invention may further include a pressure measuring member disposed on the support plate and measuring the pressure at which the CMP head presses the support plate.
본 발명의 실시 예를 따르는 씨엠피 해드 검사 장치는 씨엠피 해드의 불량여부를 손쉽게 판단할 수 있다. The CMP head inspection apparatus according to an embodiment of the present invention can easily determine whether the CMP head is defective.
또한, 씨엠피 해드를 정확한 위치에 배치하여 검사의 정확도를 높일 수 있다. In addition, it is possible to increase the accuracy of the inspection by arranging the CMP head in an accurate position.
또한, 씨엠피 해드의 각 챔버에 의해 실제 웨이퍼로 전달되는 압력을 측정할 수 있다. In addition, it is possible to measure the pressure transferred to the actual wafer by each chamber of the CMP head.
도 1은 본 발명의 실시 예를 따르는 씨엠피 해드 검사 장치를 도시한 것이다.
도 2 및 도 3의 도 1의 씨엠피 해드 검사 장치에 씨엠피 해드를 장착한 모습을 도시한 것이다.
도 4는 도 1의 부분확대도이다.
도 5 내지 도 7은 씨엠피 해드가 장착되는 과정을 도시한 것이다.
도 8은 해드스테이션을 도시한 것이다.
도 9는 지그를 도시한 것이다.
도 10은 지그를 사용하여 씨엠피 해드의 샤프트를 샤프트에 맞닿게 위치시키는 모습을 도시한 것이다.
도 11은 본 발명의 다른 실시 예를 따르는 씨엠피 해드 검사 장치를 도시한 것이다.
도 12는 압력측정부재를 도시한 것이다. 1 illustrates a CMP head inspection apparatus according to an embodiment of the present invention.
2 and 3 show a state in which the CMP head is mounted in the CMP head inspection apparatus of FIG. 1 .
FIG. 4 is a partially enlarged view of FIG. 1 .
5 to 7 show a process in which the CMP head is mounted.
8 shows a head station.
9 shows a jig.
10 shows a state in which the shaft of the CMP head is placed in contact with the shaft using a jig.
11 shows a CMP head inspection apparatus according to another embodiment of the present invention.
12 shows a pressure measuring member.
도 1은 본 발명의 실시 예를 따르는 씨엠피 해드 검사 장치(100)를 도시한 것이다. 도 2 및 도 3의 도 1의 씨엠피 해드 검사 장치(100)에 씨엠피 해드(1000)를 장착한 모습을 도시한 것이다. 도 4는 도 1의 부분 확대도이다.1 illustrates a CMP
본 발명의 실시 예를 따르는 씨엠피 해드 검사 장치(100)는, 몸체(110); 상기 몸체(110) 상에 배치된 지지부재(120); 상기 지지부재(120)에 의해 지지되고 유체를 공급하는 유체홀을 포함하는 샤프트(130); 씨엠피 해드(1000)를 지지하는 해드스테이션(140); 및 상기 유체홀을 통해 배출되는 유체를 공급하는 유체공급부재;를 포함한다. CMP
몸체(110)는 해드스테이션(140), 액츄에이터 등의 구성을 지지하는 역할을 수행하고, 작업자가 편하게 작업하기 위한 높이 및 공간을 제공하는 기능을 수행한다. 상기 몸체(110)는 프레임 및 상기 프레임에 배치된 벽면을 포함할 수 있다. 상기 프레임 내부에는 유체공급부재, 제어부재, 레귤에레이터, 오토밸브 등의 부재가 배치될 수 있다. 상기 몸체(110)의 재질이나 형상은 특별히 제한되지 않는다. The
샤프트(130)는 유체공급부재에서 공급된 유체를 씨엠피 해드(1000)에 제공하는 유체홀을 포함한다. 또한 샤프트(130)는 해드스테이션(140)을 통해 샤프트(130)의 아래 공간으로 이동한 씨엠피 해드(1000)의 샤프트와 결합되어, 상기 씨엠피 해드(1000) 내부로 상기 유체를 공급할 수 있다. 상기 샤프트(130)는 상기 씨엠피 해드(1000)의 샤프트에 결합이 용이하기 위해, 상기 씨엠피 해드(1000)의 샤프트의 형상에 대응한 형상을 가질 수 있다. 일 예에서, 상기 샤프트(130)는 원기둥 형상이며, 씨엠피 해드(1000)의 샤프트에 맞닿는 부분(일단)은 결합부재(180)가 결속되도록 하기 위해 외부 방향으로 돌출된 부분을 가질 수 있다. 또한, 상기 샤프트(130)의 타단은 유체공급부재로부터 연결된 배관이 배치할 수 있다. The
유체공급부재는 유체홀을 통해 씨엠피 해드(1000)로 이동하는 유체를 공급한다. 상기 공급된 유체는 씨엠피 해드(1000)의 멤브레인 내부로 공급된다. 상기 유체공급부재는 펌프, 유체가 이동하는 관, 유체가 이동하는 량을 측정하는 레귤레이터 및 유체의 이동을 차단하는 밸브를 포함할 수 있고, 상기 유체는 기체일 수 있다. 상기 펌프, 레귤레이터 및 밸브는 제어부재에 연결되어 제어부재의 명령에 의해 제어될 수 있다. 상기 펌프, 레귤레이터 및 밸브는 몸체(110) 내부에 배치될 수 있다. The fluid supply member supplies the fluid moving to the CMP head 1000 through the fluid hole. The supplied fluid is supplied into the membrane of the
지지부재(120)는 샤프트(130) 및 상기 샤프트(130)에 결합된 씨엠피 해드(1000)를 안정적으로 지지하는 기능을 수행한다. 도 4를 참조하면, 상기 지지부재(120)는 상기 몸체(110) 상에 배치된 지지대(121), 및 상기 지지대(121) 상에 배치되고 상기 샤프트(130)를 지지하는 지지판(122)을 포함할 수 있다. 이 경우, 상기 지지대(121) 및 지지판(122)은 ㄷ 자 형상일 수 있다.The
또한, 상기 지지대(121)는 하부에 배치된 가드레일(121a)을 포함하고, 상기 해드스테이션(140)의 측면은 상기 가드레일(121a)에 끼워져 배치되고, 상기 해드스테이션(140)은 상기 가드레일(121a)을 따라 이동하며, 외부로부터 상기 샤프트(130) 및 몸체(110) 사이의 공간으로 이동 가능하도록 배치될 수 있다. 상기 가드레일(121a)은 해드스테이션(140)이 이동하는 경로를 제공하며, 몸체(110)에 강하게 고정된 지지대(121)의 하부에 배치됨으로써 해드스테이션(140)이 안정적이고 정확하게 이동할 수 있도록 할 수 있다. 상기 가드레일(121a)은 지지대(121)의 하부에 형성된 트렌치(trench) 또는 지지대(121)의 하부에 배치된 레일부재일 수 있다. 상기 가드레일(121a)이 지지대(121)의 하부에 형성된 트렌치인 경우, 해드스테이션(140)은 사익 가드레일(121a)에 끼워져 이동할 수 있다. In addition, the
또한, 상기 지지대(121)는 해드스테이션(140)을 정해진 위치에 정확하게 고정하기 위한 고정부재를 더 포함할 수 있다. 상기 고정부재는 가드레일(121a)의 일단에 배치될 수 있다. In addition, the
또한, 샤프트(130)에 유체를 공급하기 위한 배관 등의 구성이 상기 지지대(121) 및 지지판(122)을 따라 배치되므로, 보다 안정적인 테스트 공간을 확보할 수 있다. In addition, since a configuration such as a pipe for supplying a fluid to the
상기 지지대(121)는 안정적인 해드스테이션(140) 이동 및 테스트 공간 제공을 위해, 몸체(110)에 닿는 부분의 길이가 길고, 상부로 갈수록 좁아지는 형상(삼각형 또는 사다리꼴 형상)을 가질 수 있다. The
일 실시 예는 해드스테이션(140)의 위치를 감지하는 센서를 더 포함할 수 있다. 제어부재는 상기 센서에 의해 해드스테이션(140)이 테스트 위치로 이동한 것이 감지된 경우에만 유체공급부재에서 유체를 공급하도록 할 수 있다. 상기 센서는 광센서일 수 있으며, 지지부재(120)의 지지대(121)에 배치되거나, 몸체(110) 상에 배치될 수 있다. 상기 센서는 발광부 및 수광부를 포함할 수 있다. 발광부에서 방출된 빛이 해드스테이션(140)에 부착된 반사판에 반사되어 수광부에서 수광됨으로써 해드스테이션(140)이 테스트 위치로 이동하였음을 판별할 수 있다. 또는 발광부에서 방출된 빛이 해드스테이션(140)에 의해 가려져 수광부에서 수광되지 않음으로써 해드스테이션(140)이 테스트 위치로 이동하였음을 판별할 수 있다.An embodiment may further include a sensor for detecting the position of the
이와 같은 구성을 통해, 씨엠피 해드(1000)가 테스트 공간으로 손쉽게 이동할 수 있고, 상기 씨엠피 해드(1000)가 샤프트(130)에 결합한 상태에서 유체가 공급되어 해드스테이션(140)을 가압하더라도 상기 씨엠피 해드(1000)의 위치를 안정적으로 유지할 수 있다. Through this configuration, the
씨엠피 해드(1000)가 결합되는 방법은 도 1 내지 도 3 및 도 5 내지 도 7을 통해 보다 쉽게 이해할 수 있다. 테스트 공간의 외부에 배치된 해드스테이션(140)(도 1)에 씨엠피 해드(1000)를 장착한 후(도 2), 상기 해드스테이션(140)을 가드레일(121a)을 이용하여 테스트 공간으로 이동한다(도 3). 샤프트(130)에 대응하는 위치에 씨엠피 해드(1000)의 샤프트가 위치하도록 배치한 후(도 5), 지그(150)를 이용하여 씨엠피 해드(1000)의 샤프트 블록(1100)을 들어올린 다음(도 6), 결합부재(180)를 이용하여 샤프트(130) 및 씨엠피 해드(1000)의 샤프트를 결합한다(도 7). A method in which the
도 8은 해드스테이션(140)을 도시한 것이다. 해드스테이션(140)은 씨엠피 해드(1000)를 지지하는 기능을 수행한다. 상기 해드스테이션(140)은 받침판(141), 및 상기 받침판(141) 상에 배치되고 씨엠피 해드(1000)를 둘러싸는 복수의 측판(142)을 포함하고, 상기 복수의 측판(142)은 서로 이격되어 배치될 수 있다. 8 shows the
도 1 내지 도 3을 참조하면, 씨엠피 해드(1000)에 대한 테스트가 수행되는 공간은 샤프트(130) 및 몸체(110) 사이의 공간(샤프트(130) 하부 공간)이며, 해드스테이션(140)은 상기 샤프트(130)의 하부 공간은 물론, 상기 샤프트(130)의 하부 공간에서 벗어난 영역(외부)으로 이동할 수 있다. 이와 같은 구성을 통해 작업자가 씨엠피 해드(1000)를 상기 해드스테이션(140) 상에 손쉽게 배치할 수 있다. 1 to 3 , the space in which the test for the
상기 복수의 측판(142)은 서로 이격되어 배치됨으로써 작업자가 씨엠피 해드(1000)를 잡을 수 있는 공간을 제공할 수 있다. 또한, 상기 받침판(141)은 상기 받침판(141)의 측면 중 상기 측판(142)이 이격된 부분에 대응하는 부분에 배치된 ㄷ자 모양으로 패인 홈을 포함할 수 있다. 상기 ㄷ 자 홈(141a)을 통해 작업자가 씨엠피 해드(1000)를 용이하게 장작하거나 제거할 수 있다. The plurality of
상기 받침판(141) 또는 측판(142)의 일 면에 배치된 손잡이(143)를 더 포함할 수 있다. It may further include a
상기 해드스테이션(140)은 금속, 세라믹 및 고분자 물질로 이루어질 수 있으며 특별히 제한되지 않는다. The
도 9는 지그(150)를 도시한 것이다. 도 9를 참조하면, 상기 씨엠피 해드의 샤프트 블록(1100)을 들어올려 상기 씨엠피 해드(1000)의 샤프트를 상기 샤프트(130)에 맞닿게 위치시키는 지그(150)를 더 포함할 수 있다. 씨 9 shows the
상기 지그(150)는 일단이 씨엠피 해드의 샤프트의 하부에 삽입되는 삽입부(151), 상기 삽입부(151)의 타단에 일단이 연결되고 씨엠피 해드 하우징에 맞닿는 지그작용부(153) 및 상기 지그작용부(153)의 타단에 연결된 손잡이(152)를 포함할 수 있다. 상기 지그작용부(153)는 지그(150)가 지렛대로서 기능하는 중에 작용점 역할을 수행하는 구성이다. 따라서, 상기 지그작용부는 상기 손잡이(152)에 대하여 상대적으로 돌출된 형상을 가질 수 있다. 상기 삽입부(151)는 일단에 곡면을 갖고, 두께가 타단으로부터 일단으로 갈수록 작아지도록 경사진 형상일 수 있다. 이와 같은 형상을 가짐으로써, 지그(150)를 씨엠피 해드(1000)의 하부에 손쉽게 삽입하여 안정적으로 힘을 가할 수 있으며, 원하는 높이만큼 씨엠피 해드 샤프트 블럭(1100)을 들어 올릴 수 있다. The
도 10은 지그를 사용하여 씨엠피 해드의 샤프트를 샤프트에 맞닿게 위치시키는 모습을 도시한 것이다. 도 10을 참조하면, 씨엠피 해드(1000)는 씨엠피 해드 하우징(1200) 및 상기 씨엠피 해드 하우징(1200)에 대하여 상대적으로 상하 이동이 가능한 씨엠피 해드 샤프트 블록(1100)을 포함할 수 있다. 씨엠피 해드(1000) 내부에 유체가 공급되는 경우, 씨엠피 해드(1000)의 내부 챔버의 압력이 상승하여 상기 씨엠피 해드 샤프트 블록(1100)이 위쪽으로 상승하게 된다. 씨엠피 해드(1000)의 내부로 유체가 공급되지 않는 경우에는 상기 씨엠피 해드 샤프트 블록(1100)은 상하로 자유롭게 움직일 수 있다. 해드스테이션(140)을 샤프트(130) 하부로 이동한 다음, 지그(150)의 삽입부(151)를 도 10에 도시한 바와 같이 씨엠피 해드(1000)의 샤프트 하부에 삽입하고 동시에 지그작용부(153)를 씨엠피 해드 하우징(152)에 위치시킨다. 이후 손잡이를 아래쪽으로 이동시키면 지렛대 원리에 의하여 씨엠피 샤프트 블록(1100)이 위로 이동하여 샤프트(130)에 맞닿게 된다. 또한, 상기 삽입부(151)는 경사진 형상을 갖기 때문에, 상기 손잡이(152)를 아래로 이동하면서 동시에 상기 삽입부(151)를 씨엠피 해드의 샤프트 아래로 삽입하면 씨엠피 해드의 샤프트가 샤프트(130)에 맞닿은 상태로 유지된다. 이후 도 7과 같이 결합부재(180)를 이용하여 샤프트(130)와 씨엠피 해드의 샤프트를 결합한다.10 shows a state in which the shaft of the CMP head is placed in contact with the shaft using a jig. Referring to FIG. 10 , the
도 11은 본 발명의 다른 실시 예를 따르는 씨엠피 해드 검사 장치(100)를 도시한 것이다. 도 12는 도 11에 장착된 압력측정부재(160)를 도시한 것이다. 11 illustrates a CMP
본 발명의 다른 실시 예를 따르는 씨엠피 해드 검사 장치(100)는, 상기 받침판(141) 상에 배치되고, 씨엠피 해드(1000)가 받침판(141)을 가압하는 압력을 측정하는 압력측정부재(160)를 더 포함할 수 있다. The CMP
도 12을 참조하면, 압력측정부재(160)는 압력센서부(161) 및 상기 압력센서부(161)에서 측정된 정보를 제어부재로 제공하는 단자부(162)를 포함할 수 있다. 상기 압력측정부재(160)의 압력센서부(161)는 해드스테이션(140)의 받침판(141) 상에 배치되어 씨엠피 해드(1000)의 멤브레인에 맞닿도록 배치될 수 있다. 단자부(162)는 받침판(141)의 외부에 배치될 수 있다. 이를 통해 상기 멤브레인이 가압부를 가압하는 실제 압력을 측정할 수 있다. 압력센서부는 압력을 측정하는 센서로서, 가압부의 일면에 배치될 수 있도록 하기 위해 시트(sheet) 형상인 것일 수 있다. Referring to FIG. 12 , the
다른 실시 예에서, 상기 압력측정부재는 기판 및 전극을 포함하고 전기적 신호를 이용하여 압력을 측정하는 일반적인 압력센서일 수 있다. 이 경우, 상기 압력센서는 해드스테이션(140)의 받침판(141) 상부에 장착될 수 있고, 전기신호를 제어부로 전달하기 위한 전선이 받침판 상부로부터 제어부까지 연장되어 배치될 수 있다. In another embodiment, the pressure measuring member may be a general pressure sensor including a substrate and an electrode and measuring pressure using an electrical signal. In this case, the pressure sensor may be mounted on the top of the
본 발명의 일 실시 예는 제어부재를 포함할 수 있다. 제어부재는 유체공급부재의 동작을 제어하고, 각 구성으로부터 정보를 수신하는 기능을 수행한다. 또한, 해드스테이션(140)의 위치를 감지하는 센서 및 압력측정부재(160)로부터 정보를 수신할 수 있다. 상기 제어부재는 제어 대상을 제어하기 위한 프로그램이 저장된 메모리 및 저장된 프로그램을 실행하는 프로세서를 포함할 수 있다. 상기 제어부재는 필요에 따라 하나의 프로세서를 포함할 수도 있고, 복수의 프로세서를 포함할 수도 있다. 또한, 복수의 프로세서가 하나의 칩 상에 집적될 수도 있고, 물리적으로 분리될 수도 있다. 또한, 상기 제어부재는 작업자에게 시각적으로 정보를 제공하는 디스플레이부재(171) 및 작업자가 명령이나 정보를 입력할 수 있는 입력부재(172)를 포함할 수 있다.An embodiment of the present invention may include a control member. The control member controls the operation of the fluid supply member and performs a function of receiving information from each component. In addition, information may be received from a sensor detecting the position of the
본 발명은 상술한 실시 형태 및 첨부된 도면에 의해 한정되는 것이 아니며 첨부된 청구범위에 의해 한정하고자 한다. 따라서, 청구범위에 기재된 본 발명의 기술적 사상을 벗어나지 않는 범위 내에서 당 기술분야의 통상의 지식을 가진 자에 의해 다양한 형태의 치환, 변형 및 변경이 가능할 것이며, 이 또한 본 발명의 범위에 속한다고 할 것이다. The present invention is not limited by the above-described embodiments and the accompanying drawings, but is intended to be limited by the appended claims. Therefore, various types of substitution, modification and change will be possible by those skilled in the art within the scope not departing from the technical spirit of the present invention described in the claims, and it is also said that it falls within the scope of the present invention. something to do.
100: 씨엠피 해드 검사 장치
110: 몸체
120: 지지부재
121: 지지대
121a: 가드레일
122: 지지판
130: 샤프트
140: 해드스테이션
141: 받침판
141a: ㄷ자 홈
142: 측판
143: 손잡이
150: 지그
151: 삽입부
152: 지그손잡이
153: 지그작용부
160: 압력측정부재
161: 압력센서부
162: 단자부
171: 디스플레이부재
172: 입력부재
180: 겹합부재
1000: 씨엠피 해드
1100: 씨엠피 해드 샤프트 블록
1200: 씨엠피 해드 하우징100: CMP head inspection device
110: body
120: support member
121: support
121a: guard rail
122: support plate
130: shaft
140: head station
141: base plate
141a: U-shaped groove
142: side plate
143: handle
150: jig
151: insertion part
152: jig handle
153: jig action part
160: pressure measuring member
161: pressure sensor unit
162: terminal part
171: display member
172: input member
180: ply member
1000: CMP head
1100: CMP head shaft block
1200: CMP head housing
Claims (8)
상기 몸체 상에 배치된 지지부재;
상기 지지부재에 의해 지지되고 유체를 공급하는 유체홀을 포함하는 샤프트;
씨엠피 해드를 지지하는 해드스테이션; 및
상기 유체홀을 통해 배출되는 유체를 공급하는 유체공급부재;를 포함하는,
씨엠피 해드 검사 장치.
body;
a support member disposed on the body;
a shaft supported by the support member and including a fluid hole for supplying a fluid;
a head station supporting the CMP head; and
Containing, a fluid supply member for supplying the fluid discharged through the fluid hole
CMP head inspection device.
상기 지지부재는 상기 몸체 상에 배치된 지지대, 및 상기 지지대 상에 배치되고 상기 샤프트를 지지하는 지지판을 포함하는,
씨엠피 해드 검사 장치.
According to claim 1,
The support member includes a support disposed on the body, and a support plate disposed on the support and supporting the shaft,
CMP head inspection device.
상기 지지대는 하부에 배치된 가드레일을 포함하고,
상기 해드스테이션의 측면은 상기 가드레일에 끼워져 배치되고,
상기 해드스테이션은 상기 가드레일을 따라 이동하며, 외부로부터 상기 샤프트 및 몸체 사이의 공간으로 이동 가능하도록 배치된,
씨엠피 해드 검사 장치.
3. The method of claim 2,
The support includes a guard rail disposed below,
A side surface of the head station is disposed to be fitted into the guard rail,
The head station moves along the guard rail and is arranged to be movable from the outside into the space between the shaft and the body,
CMP head inspection device.
상기 해드스테이션은 받침판, 및 상기 받침판 상에 배치되고 씨엠피 해드를 둘러싸는 복수의 측판을 포함하고,
상기 복수의 측판은 서로 이격되어 배치된,
씨엠피 해드 검사 장치.
According to claim 1,
The head station includes a support plate and a plurality of side plates disposed on the support plate and surrounding the CMP head,
The plurality of side plates are spaced apart from each other,
CMP head inspection device.
상기 받침판의 측면 중 상기 측판이 이격된 부분에 대응하는 부분은 ㄷ자 모양으로 패인 홈을 포함하는,
씨엠피 해드 검사 장치.
5. The method of claim 4,
Among the side surfaces of the support plate, a portion corresponding to the spaced apart portion of the side plate includes a U-shaped recessed groove,
CMP head inspection device.
상기 씨엠피 해드의 샤프트를 들어올려 상기 씨엠피 해드의 샤프트를 상기 샤프트에 맞닿게 위치시키는 지그를 더 포함하는,
씨엠피 해드 검사 장치.
5. The method of claim 4,
Further comprising a jig for lifting the shaft of the CMP head to position the shaft of the CMP head in contact with the shaft,
CMP head inspection device.
상기 지그는 일단이 씨엠피 해드 샤프트의 하부에 삽입되는 삽입부, 상기 삽입부의 타단에 일단이 연결되고 씨엠피 해드 하우징에 맞닿는 지그작용부 및 상기 지그작용부의 타단에 연결된 손잡이를 포함하고,
상기 삽입부는 일단에 곡면을 갖고, 두께가 타단으로부터 일단으로 갈수록 작아지도록 경사진 형상인,
씨엠피 해드 검사 장치.
7. The method of claim 6,
The jig includes an insertion part having one end inserted into the lower part of the CMP head shaft, a jig acting part having one end connected to the other end of the insertion part and abutting against the CMP head housing, and a handle connected to the other end of the jig acting part,
The insert has a curved surface at one end, and is inclined so that the thickness becomes smaller from the other end to one end.
CMP head inspection device.
상기 받침판 상에 배치되고, 씨엠피 해드가 받침판을 가압하는 압력을 측정하는 압력측정부재를 더 포함하는,
씨엠피 해드 검사 장치.
5. The method of claim 4,
It is disposed on the support plate, further comprising a pressure measuring member for measuring the pressure that the CMP head presses the support plate,
CMP head inspection device.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR1020190155034A KR20210066147A (en) | 2019-11-28 | 2019-11-28 | CMP head test apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR1020190155034A KR20210066147A (en) | 2019-11-28 | 2019-11-28 | CMP head test apparatus |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| KR20210066147A true KR20210066147A (en) | 2021-06-07 |
Family
ID=76374778
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| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| KR1020190155034A Ceased KR20210066147A (en) | 2019-11-28 | 2019-11-28 | CMP head test apparatus |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| KR (1) | KR20210066147A (en) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US12337438B2 (en) | 2021-07-21 | 2025-06-24 | Ebara Corporation | Break-in processing apparatus and break-in processing method |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100977914B1 (en) | 2007-03-15 | 2010-08-24 | 어플라이드 머티어리얼스, 인코포레이티드 | Polishing head test with movable pedestal |
-
2019
- 2019-11-28 KR KR1020190155034A patent/KR20210066147A/en not_active Ceased
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100977914B1 (en) | 2007-03-15 | 2010-08-24 | 어플라이드 머티어리얼스, 인코포레이티드 | Polishing head test with movable pedestal |
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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Patent event code: PA01091R01D Comment text: Patent Application Patent event date: 20191128 |
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| PA0201 | Request for examination | ||
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Comment text: Notification of reason for refusal Patent event date: 20210224 Patent event code: PE09021S01D |
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| PE0601 | Decision on rejection of patent |
Patent event date: 20210506 Comment text: Decision to Refuse Application Patent event code: PE06012S01D Patent event date: 20210224 Comment text: Notification of reason for refusal Patent event code: PE06011S01I |
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| PG1501 | Laying open of application |