KR20210128306A - Wafer-transfer apparatus - Google Patents
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Abstract
본 발명은 진공 챔버와 그 내부에 이송 장치를 구비하는 이송 시스템에 관한 것으로서, 더욱 상세하게는 챔버 내에서 이송으로 인해 발생되는 분진 등에 의한 이송 대상물의 오염을 최소화하는 이송 시스템에 관한 것이다.
본 발명에 의하면, 기판을 더욱 많은 프로세스 챔버로 이송하여 전달할 수 있는 이송 장치를 구비하며, 이에 따라 프로세스 챔버 역시 필요에 따라 용이하게 추가 배치가 가능한 기판 이송 및 처리 시스템을 제공한다. 또한 별도의 오염 제거 장비를 사용하지 않고도, 이송 중 진공 챔버 내에서 발생하는 분진 등으로 인한 이송 대상물의 오염을 최소화시키는 이송 시스템을 제공한다.The present invention relates to a transport system having a vacuum chamber and a transport device therein, and more particularly, to a transport system that minimizes contamination of an object to be transported by dust generated during transport in the chamber.
Advantageous Effects of Invention According to the present invention, there is provided a substrate transport and processing system that includes a transport device capable of transporting and transporting substrates to more process chambers, and thus the process chambers can also be easily additionally disposed as needed. In addition, there is provided a transfer system that minimizes contamination of a transfer object due to dust generated in a vacuum chamber during transfer without using a separate decontamination equipment.
Description
본 발명은 기판 이송 장치에 관한 것으로서, 더욱 상세하게는 진공 챔버 내에서, 공정 처리를 수행할 프로세스 챔버로 기판을 이송하는 기판 이송 장치에 관한 것이다.The present invention relates to a substrate transfer apparatus, and more particularly, to a substrate transfer apparatus that transfers a substrate from a vacuum chamber to a process chamber to be processed.
종래 기판 처리 시스템에서는, 공정을 수행하는 프로세스 챔버로 기판을 전달할 때, 공급할 수 있는 프로세스 챔버의 위치가, 링크의 회전 반경 내에 한정되어, 기판이 공급되어 공정이 동시에 수행될 수 있는 프로세스 챔버의 갯수 역시 한정될 수 밖에 없는 문제점이 있었다.In a conventional substrate processing system, when transferring a substrate to a process chamber for performing a process, the position of the process chamber that can be supplied is limited within the rotation radius of the link, so the number of process chambers to which the substrate can be supplied and the process can be performed simultaneously There was also a problem that had to be limited.
본 발명은 이와 같은 문제점을 해결하기 위해 창안된 것으로서, 기판을 더욱 많은 프로세스 챔버로 이송하여 전달할 수 있는 이송 장치를 구비하며, 이에 따라 프로세스 챔버 역시 필요에 따라 용이하게 추가 배치가 가능한 기판 이송 및 처리 시스템을 제공하는데 그 목적이 있다.The present invention has been devised to solve such a problem, and includes a transfer device capable of transferring and transferring substrates to more process chambers, and thus, transfer and processing of substrates in which the process chambers can also be easily additionally placed if necessary. The purpose is to provide a system.
또한 별도의 오염 제거 장비를 사용하지 않고도, 이송 중 진공 챔버 내에서 발생하는 분진 등으로 인한 이송 대상물의 오염을 최소화시키는 이송 시스템을 제공하는데 그 목적이 있다.Another object of the present invention is to provide a transfer system that minimizes contamination of an object to be transferred due to dust, etc. generated in a vacuum chamber during transfer, without using a separate decontamination equipment.
이와 같은 목적을 달성하기 위하여 본 발명에 따른 기판 이송 장치는, 로드락 챔버(load lock chamber)로부터 기판을 전달받고, 전달받은 기판을 프로세스 챔버(process chamber)로 전달하는 기판 전달부; 상기 기판 전달부가 특정 프로세스 챔버로 이동해야 할 경우, 상기 기판 전달부가 주행하는 이송 레일; 및, 상기 기판 전달부를 구동하는 구동부로 전력을 전달하는 케이블을 포함한다.In order to achieve the above object, a substrate transfer apparatus according to the present invention includes a substrate transfer unit that receives a substrate from a load lock chamber and transfers the received substrate to a process chamber; a transfer rail on which the substrate transfer unit travels when the substrate transfer unit needs to move to a specific process chamber; and a cable for transferring power to a driving unit for driving the substrate transfer unit.
상기 기판 전달부는, 이송할 대상물인 반도체 기판이 탑재되는 기판 탑재부; 상기 기판 탑재부가 일단에 구비되고, 상기 기판 탑재부가 기판을 받아서 특정 지점에 전달하도록 상기 기판 탑재부의 위치를 이동시키는 기판 탑재 링크; 상기 기판 탑재 링크의 움직임을 구동하는 구동부; 및, 상기 기판 탑재부, 상기 기판 탑재 링크 및, 상기 구동부를 하부에서 지지하는 기판 탑재부 판을 포함할 수 있다.The substrate transfer unit may include: a substrate mounting unit on which a semiconductor substrate, which is an object to be transferred, is mounted; a substrate mounting link provided at one end of the substrate mounting unit and configured to move the position of the substrate mounting unit so that the substrate mounting unit receives the substrate and transfers the substrate to a specific point; a driving unit for driving the movement of the substrate mounting link; and a substrate mounting unit plate supporting the substrate mounting unit, the substrate mounting link, and the driving unit from a lower portion.
상기 기판 탑재부 및 기판 탑재 링크는 2쌍이 구비되고, 상기 2개의 기판 탑재 링크는 각각 별도로 제어될 수 있다.Two pairs of the substrate mounting unit and the substrate mounting link may be provided, and the two substrate mounting links may be separately controlled.
상기 기판 이송 장치와 상기 로드락 챔버 간의 기판 전달시, 또는 상기 기판 이송 장치와 상기 프로세스 챔버 간의 기판 전달시, 필요에 따라 상기 2개의 기판 탑재부가 동시에 전달을 수행하거나, 또는 상기 2개의 기판 탑재부 중 1개의 기판 탑재부가 전달을 수행하도록 제어될 수 있다.When transferring a substrate between the substrate transfer apparatus and the load lock chamber, or when transferring a substrate between the substrate transfer apparatus and the process chamber, if necessary, the two substrate mounting units perform the transfer at the same time, or one of the two substrate mounting units One substrate mount can be controlled to perform the transfer.
상기 구동부는, 상기 기판 탑재부 판 전체를 회전시키는 회전 구동부; 및, 기판 탑재 링크를 구동시키는 핸드(hand) 구동부를 포함할 수 있다.The driving unit may include: a rotation driving unit rotating the entire substrate mounting unit plate; and a hand driving unit for driving the substrate mounting link.
상기 기판 전달부를 상기 이송 레일을 따라 주행하도록 동작하는 이송 링크; 및, 상기 이송 링크를 구동하는 주행 구동부를 더 포함할 수 있다.a transfer link operable to travel the substrate transfer unit along the transfer rail; And, it may further include a driving driving unit for driving the transfer link.
상기 이송 링크는, 2개 이상의 이송 링크 암(arm); 최하단의 이송 링크 암(arm)이 연결되고, 바닥의 일 지점에 고정된 이송 링크 하단 연결부; 최상단의 이송 링크 암(arm)이 연결되고, 상기 기판 탑재부 판 하부면에 고정된 이송 링크 상단 연결부; 및, 상기 각 이송 링크 암(arm)이 서로 연결된 이송 링크 암(arm) 간 연결부를 포함할 수 있고, 상기 이송 링크 암(arm)은, 상기 이송 링크 암(arm) 간 연결부, 상기 하단 연결부 또는 상기 상단 연결부를 중심으로 회전 가능하며, 이러한 회전 동작을 통해서 상기 이송 링크가 상기 기판 전달부를 상기 이송 레일을 따라 주행시킬 수 있다.The transfer link includes at least two transfer link arms; The lowermost transfer link arm is connected, the lower transfer link connection portion fixed to a point on the floor; a transfer link upper connection part connected to an uppermost transfer link arm and fixed to a lower surface of the board mounting part; and a connecting portion between transfer link arms to which the respective transfer link arms are connected to each other, wherein the transfer link arm may include a connecting portion between the transfer link arms, the lower connecting portion, or It is rotatable about the upper connection part, and through this rotational operation, the transport link may drive the substrate transfer part along the transport rail.
상기 이송 링크 하단 연결부, 상기 이송 링크 암(arm) 간 연결부 및, 상기 이송 링크 상단 연결부는, 내부에 밀봉된 자성유체를 구비할 수 있다.The lower connecting portion of the transfer link, the connecting portion between the transfer link arms, and the upper connecting portion of the transfer link may include a magnetic fluid sealed therein.
상기 케이블은, 설치를 위한 별도의 구조물의 설치의 필요없이, 상기 이송 링크 하단 연결부, 상기 이송 링크 암(arm) 간 연결부 및, 상기 이송 링크 상단 연결부의 중공부를 관통하여 상부의 구동부로 연결될 수 있다.The cable may be connected to the upper driving unit through the hollow portion of the lower connecting portion of the transfer link, the connecting portion between the transfer link arms, and the upper connecting portion of the transfer link, without the need for installing a separate structure for installation. .
상기 기판 전달부, 상기 이송 레일, 상기 케이블, 상기 이송 링크는, 진공 챔버(chamber) 내에 구비될 수 있다.The substrate transfer unit, the transfer rail, the cable, and the transfer link may be provided in a vacuum chamber.
상기 이송 레일과 상기 기판 전달부가 맞닿는 부분에 레일 덮개를 구비하고, 상기 레일 덮개는, 이송 레일을 측면 부분까지 감싸는 형상으로서, 상기 레일 덮개와 상기 이송 레일 사이의 마찰로 발생하는 분진이 상기 레일 덮개와 상기 이송 레일 사이의 틈을 따라 아래 방향으로 떨어지도록 하여, 진공 챔버 상부의 이송 대상물인 기판에는 분진의 영향이 거의 미치지 않도록 하는 구조일 수 있다.A rail cover is provided at a portion where the transfer rail and the substrate transfer unit abut, and the rail cover has a shape that surrounds the transfer rail to a side portion, and dust generated by friction between the rail cover and the transfer rail is the rail cover. and the substrate to be transferred in the upper part of the vacuum chamber by falling in a downward direction along a gap between the transfer rail and may have a structure such that the influence of dust hardly occurs.
상기 기판 이송 장치는, 상기 기판 전달부가 상,하로 이동할 수 있는 승강 가이드를 더 포함할 수 있다.The substrate transfer apparatus may further include a lifting guide capable of moving the substrate transfer unit up and down.
본 발명에 의하면, 기판을 더욱 많은 프로세스 챔버로 이송하여 전달할 수 있는 이송 장치를 구비하며, 이에 따라 프로세스 챔버 역시 필요에 따라 용이하게 추가 배치가 가능한 기판 이송 및 처리 시스템을 제공하는 효과가 있다.Advantageous Effects of Invention According to the present invention, there is provided a transfer device capable of transferring and transferring substrates to more process chambers, and accordingly, there is an effect of providing a substrate transfer and processing system in which the process chambers can also be easily additionally disposed if necessary.
또한 별도의 오염 제거 장비를 사용하지 않고도, 이송 중 진공 챔버 내에서 발생하는 분진 등으로 인한 이송 대상물의 오염을 최소화시키는 이송 시스템을 제공하는 효과가 있다.In addition, there is an effect of providing a transport system that minimizes contamination of an object to be transported due to dust, etc. generated in a vacuum chamber during transport without using a separate contamination removal equipment.
도 1은 본 발명의 기판 이송 및 처리 시스템을 나타내는 도면.
도 2는 본 발명의 기판 이송 장치를 도시한 도면.
도 3은 도 2의 기판 이송 장치에서 챔버 덮개를 제거한 상태를 도시한 도면.
도 4는 도 2의 기판 이송 장치를 정면에서 바라본 단면도로서, 동력전달 구조를 도시한 도면.
도 5는 도 4의 기판 이송 장치에서 이송 레일의 덮개 구조를 도시한 도면.
도 6은 도 2의 기판 이송 장치를 정면에서 바라본 단면도로서, 전력전달 구조를 도시한 도면.1 shows a substrate transport and processing system of the present invention;
Figure 2 is a view showing a substrate transfer apparatus of the present invention.
3 is a view illustrating a state in which the chamber cover is removed from the substrate transfer apparatus of FIG. 2 .
FIG. 4 is a cross-sectional view of the substrate transport apparatus of FIG. 2 viewed from the front, illustrating a power transmission structure;
FIG. 5 is a view illustrating a cover structure of a transfer rail in the substrate transfer apparatus of FIG. 4 .
6 is a cross-sectional view of the substrate transfer apparatus of FIG. 2 viewed from the front, showing a power transmission structure.
이하 첨부된 도면을 참조로 본 발명의 바람직한 실시예를 상세히 설명하기로 한다. 이에 앞서, 본 명세서 및 청구범위에 사용된 용어나 단어는 통상적이거나 사전적인 의미로 한정해서 해석되어서는 아니되며, 발명자는 그 자신의 발명을 가장 최선의 방법으로 설명하기 위해 용어의 개념을 적절하게 정의할 수 있다는 원칙에 입각하여 본 발명의 기술적 사상에 부합하는 의미와 개념으로 해석되어야만 한다. 따라서, 본 명세서에 기재된 실시예와 도면에 도시된 구성은 본 발명의 가장 바람직한 일 실시예에 불과할 뿐이고 본 발명의 기술적 사상을 모두 대변하는 것은 아니므로, 본 출원시점에 있어서 이들을 대체할 수 있는 다양한 균등물과 변형예들이 있을 수 있음을 이해하여야 한다.Hereinafter, preferred embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings. Prior to this, the terms or words used in the present specification and claims should not be construed as being limited to conventional or dictionary meanings, and the inventor should properly understand the concept of the term in order to best describe his invention. Based on the principle that it can be defined, it should be interpreted as meaning and concept consistent with the technical idea of the present invention. Therefore, the configuration shown in the embodiments and drawings described in the present specification is only the most preferred embodiment of the present invention and does not represent all of the technical spirit of the present invention, so at the time of the present application, various It should be understood that there may be equivalents and variations.
도 1은 본 발명의 기판 이송 및 처리 시스템(1000)을 나타내는 도면으로서, 도 1(a)가 본 발명의 기판 이송 및 처리 시스템(1000)이며, 도 1(b)는 이와 대비되는 종래 기판 이송 및 처리 시스템이다.1 is a view showing a substrate transport and
도 1(a)를 참조하면, 본 발명의 기판 이송 및 처리 시스템(1000)은, 기판(wafer)에 대한 증착 공정 등을 수행하는 프로세스 챔버(process chamber)(300), 각 프로세스 챔버(300)로 기판을 이송하여 전달하는 기판 이송 장치(100), 프로세스 챔버(300)에 전달할 기판을 기판 이송 장치(100)에 제공하는 로드락 챔버(load lock chamber)(200) 및, 공정이 수행될 기판을 보관하고, 공정 수행을 위해 기판을 로드락 챔버(200)로 공급하는 기판 공급 장치(400)를 포함한다.Referring to FIG. 1A , the substrate transport and
기판 공급 장치(400)는, 기판 보관부(410)인 후프(houp)(410)에서 기판을 보관하고, 또한 공정 수행을 위해, 후프(410)에서 보관 중이던 기판을 꺼내어 로드락 챔버(300)로 공급한다. 이때 기판 공급 장치(400) 내부의 이송 로봇(420)이 그와 같은 기판의 전달 역할을 수행한다. 기판 공급 장치(400)는 또한 이와 같은 기판의 공급 과정에서의 기판의 위치를 맞추는 위치정렬기 및, 로드락 챔버(200)로의 전달을 위한 도어 개폐기를 포함하며, 이송 로봇의 링크 암(arm)은 로드락 챔버(200)의 내부로 주입되어, 로드락 챔버(200) 내에 기판을 전달하게 된다.The
기판 공급 장치(400) 내부는 대기가 존재하여 대기압 상태이며, 기판 공급 장치(400)의 이송 로봇의 링크 암(arm)이 로드락 챔버(200)의 내부로 주입되어 로드락 챔버(200) 내에 기판을 전달하는 경우, 로드락 챔버(200) 내부 역시 대기압 상태에 있게 된다. 로드락 챔버(200)가 기판을 전달받은 투입구를 닫은 후에는, 로드락 챔버(200) 내부는, 기판 이송 장치(100) 내부와 동일하게 진공상태로 전환하고, 기판 이송 장치(100) 방향의 기판 전달 입구를 개방한 후 기판 이송 장치(100)로 기판을 전달하게 된다. 이 경우에는 기판 이송 장치(100)의 기판 탑재 링크(112)가 이동하여 기판 탑재부(111)가 로드락 챔버(200) 내로 이동하고, 로드락 챔버(200)의 기판을 기판 탑재부(111)에 탑재한 후, 기판 탑재 링크(112) 및 기판 탑재부(111)가 다시 기판 이송 장치(100)의 챔버 내부로 이동 복귀하여 기판을 기판 이송 장치(100)의 챔버 내부로 들여 오게 된다. 또한 로드락 챔버(200)는, 상하로 1단 또는 2단 이상, 그리고 각 단마다 좌우로 2개의 로드락(load lock), 즉, 기판을 보유하는 부분을 가질 수 있으며, 기판 이송 장치(100)가 2단 이상의 로드락으로 구성된 로드락 챔버(200)로부터 기판을 전달받는 방법에 대하여는 후술한다.Atmospheric pressure exists inside the
도 1(b)의 종래 시스템에서는 이와 같이 들여온 기판을 공급할 수 있는 프로세스 챔버(630)의 위치가, 도시된 바와 같이 이송 장치(610)의 회전 반경 내에 한정되어, 기판이 공급되어 공정이 동시에 수행될 수 있는 프로세스 챔버의 갯수 역시 한정될 수 밖에 없는 문제점이 있었다.In the conventional system of FIG. 1( b ), the position of the
그러나 도 1(a)의 본 발명의 기판 이송 및 처리 시스템(1000)은, 기판 이송 장치(100)의 이송 링크(130)가 이송 레일(120)을 통해 이동하여 기판을 이송할 수 있는 구조로서, 이로 인하여 도 1(a)에 도시된 바와 같이 필요에 따라 더욱 많은 프로세스 챔버(300)를 설치할 수 있는 차별점이 있다. 도 1(a)에는 기판 이송 장치(100)의 양측에 나란하게 각각 6개씩 12개의 프로세스 챔버(300)를 배치하였으나, 기판 이송 장치(100)의 이송 기능에 의해 더욱 다양한 갯수의 프로세스 챔버(300)를 배치할 수 있다.However, in the substrate transfer and
이러한 프로세스 챔버(300)의 증설은, 2개, 4개, ... 등 짝수개씩 증설도 가능하지만, 1개, 3개, ... 등 홀수개씩의 증설도 가능하다. 또한, 기판 이송 장치(100)의 양측에 각각 짝수개의 프로세스 챔버(300)가 구비될 수도 있고, 홀수개의 프로세스 챔버(300)가 구비될 수도 있을 뿐 아니라, 기판 이송 장치(100)의 양측에 설치되는 프로세스 챔버(300)가 도 1에 도시된 것과 같이 반드시 같은 갯수로 설치되어야 하는 것도 아니다.The
이와 같은 탄력적인 설치가 가능한 이유는, 기판 이송 장치(100)는, 단부에 기판 탑재부(111)가 구비된 기판 탑재 링크(112), 즉, 기판 탑재 링크(112)-기판 탑재부(111) 쌍을 2개 구비하고(도 3 참조), 그 2개의 기판 탑재 링크(112)는 각각 별개로 제어되기 때문이다. 즉, 2개의 기판 탑재 링크(112)가 각각 별개로 제어되기 때문에, 기판 이송 장치(100)와 로드락 챔버(200) 간에, 또는 기판 이송 장치(100)와 프로세스 챔버(300) 간에, 2개의 기판 탑재 링크(112)가 모두 기판의 전달을 동시에 수행할 수도 있고, 또는 그 중 1개의 기판 탑재 링크(112)만 기판의 전달을 수행할 수도 있으며, 이러한 이유로 프로세스 챔버(300)가 반드시 짝수개로 설치될 필요가 없는 것이다.The reason for such a flexible installation is that the
도 1(a)에서 세 지점에 도시한 기판 전달부(110)는, 이송 레일(120)을 따라 이동한 세 지점에서의 움직임을 하나의 도면에 도시한 것이다.The
이러한 기판 이송 장치(100)는, 로드락 챔버(200) 및 프로세스 챔버(300)와 같이, 진공 챔버를 구비하여, 진공 상태에서 기판의 이송 및, 진공 상태의 프로세스 챔버(300)로의 전달이 이루어지게 된다. 이러한 기판 이송 장치(100)의 구성에 대하여는 이하 도 2 내지 도 6을 참조하여 상세히 후술하기로 한다.The
도 2는 기판 이송 장치(100)를 도시한 도면이고, 도 3은 도 2의 기판 이송 장치(l00)에서 챔버 덮개를 제거한 상태를 도시한 도면이며, 도 4는 도 2의 기판 이송 장치(100)를 챔버 덮개가 덮인 상태로 정면에서 바라본 단면도로서, 동력전달 구조를 도시한 도면이다.FIG. 2 is a view illustrating the
기판 탑재부(111)에는 이송할 대상물인 반도체 기판 등이 탑재되며, 기판 탑재 링크(112)의 움직임에 의해 기판을 받아서 전달할 수 있도록 한다. 실제로 도 2에서 도면부호 111은 기판을 가리키고 있으나, 편의상, 기판을 받치고 있어 보이지 않는 부분인 기판 탑재부를 111로 표시하는 것으로 한다.A semiconductor substrate, which is an object to be transferred, is mounted on the
기판 탑재 링크(112)는 다수의 암(arm)들이 연결되어 이루어질 수 있고, 그 암(arm)들이 연결된 각 부분을 중심으로, 연결된 암(arm)들이 서로 자유롭게 회전할 수 있다. 예를 들어 기판 탑재 링크(112)가 구동되어 기판 탑재부(111)가 이동하여 로드락(load lock) 챔버(200)로부터 도 3의 화살표(1) 방향으로 기판을 넘겨받고, 또한 역시 기판 탑재 링크(112)의 구동에 의해 도 3과 같은 위치로 기판 탑재부(111)가 이동하여 화살표(2) 방향으로 기판을 프로세스 챔버(300)에 전달할 수 있다. 로드락(200)은, 상,하 2단 이상으로 구성될 수 있는데, 이 경우, 도 4의 승강 가이드(guide)(170)를 따라 기판 전달부(110)가 상,하로 움직이면서 로드락(200)의 해당 단으로부터 기판을 전달받거나, 프로세스 챔버(300)로부터 넘겨받은, 작업이 끝난 기판을 다시 로드락(200)의 해당 단으로 기판을 전달해줄 수 있는 위치로 이동하게 된다.The
도시된 바와 같이 기판 탑재 링크(112)-기판 탑재부(111) 쌍은 2개 존재하는데, 이러한 2개의 기판 탑재 링크(112)는, 도 1을 참조하여 전술한 바와 같이, 각각 별개로 제어되며, 따라서, 기판 이송 장치(100)와 로드락 챔버(200) 간에, 또는 기판 이송 장치(100)와 프로세스 챔버(300) 간에, 2개의 기판 탑재 링크(112)가 모두 기판의 전달을 동시에 수행할 수도 있고, 또는 그 중 1개의 기판 탑재 링크(112)만 기판의 전달을 수행할 수도 있다.As shown, there are two pairs of the substrate mounting link 112 - the
또한 각각의 기판 탑재부(111)는 상하 2단으로 구성될 수 있다. 이에 따라 기판 이송 장치(100)는 프로세스 챔버(300)와 기판을 전달하는 경우, 예를 들어 기판 탑재부(111)의 1단에는 처리할 기판을 놓고, 2단은 빈 상태로 프로세스 챔버(300) 내로 이동하여, 1단의 기판은 프로세스 챔버(300)로 전달하고, 2단에는 프로세스 챔버(300)에서 처리 완료된 기판을 전달받아 옴으로써, 기판 탑재부(111)의 한번의 이동으로 기판의 전달과 기판의 수령을 수행하여 작업시간을 단축하는 효과가 있다.In addition, each
마찬가지로 로드락 챔버(200)와의 사이에서도, 예를 들어 기판 탑재부(111)의 2단에는 처리완료된 기판을 놓고, 1단은 빈 상태로 로드락 챔버(200) 내로 이동하여, 2단의 기판은 로드락 챔버(200)로 전달하고, 1단에는 로드락 챔버(200)로부터, 처리할 기판을 전달받아 옴으로써, 역시 기판 탑재부(111)의 한번의 이동으로 기판의 전달과 기판의 수령을 수행하여 작업시간을 단축하는 효과가 있다.Similarly, between the
구동부(113)는, 기판 탑재부 판(115) 전체를 회전시키는 회전 구동부(113.1) 및 기판 탑재 링크(112)를 구동시키는 핸드(hand) 구동부(113.2)를 포함한다.The driving
기판 전달부(110)는 이송 레일(120) 위를 이동하면서, 이송 레일(120) 위의 여러 지점에서 전술한 바와 같은 방식으로 기판을 전달해줄 수 있다. 이 경우 도 3에 도시된 바와 같이 이송 링크(130)의 움직임에 의해 기판 전달부(110)가 이송 레일(120) 위를 움직일 수 있으나, 다른 실시예에서는 이와 같은 이송 링크(130) 없이, 기판 전달부(110) 하부에 별도의 구동 장치가 구비되어 기판 전달부(110) 스스로가 이송 레일(120)을 따라 운행하도록 구성될 수도 있다.The
도 3의 경우, 이송 링크(130) 역시, 기판 탑재 링크(112)와 유사한 방식으로 다수의 암(arm)들(131,132,133)이 연결되어 이루어질 수 있고, 그 연결된 각 부분을 중심으로, 연결된 각 암(arm)들이 서로 자유롭게 회전할 수 있다. In the case of FIG. 3 , the
이송 링크(130)는, 최하단의 이송 링크 암(arm)(131)이 연결되고, 챔버 바닥의 일 지점에 고정된 이송 링크 하단 연결부(134), 최상단의 이송 링크 암(arm)(133)이 연결되고, 기판 탑재부 판(115) 하부면에 고정된 이송 링크 상단 연결부(137), 각 이송 링크 암(arm)(131,132,133) 들이 서로 연결된 이송 링크 암(arm) 간 연결부(135,136)를 포함하고, 각 이송 링크 암(arm)(131,132,133)은, 이송 링크 하단 연결부(134), 이송 링크 상단 연결부(137), 또는 이송 링크 암(arm) 간 연결부(135,136)를 중심으로 회전 가능하도록 구성된다.The
이송 링크(130)의 각 암(arm)(131,132,133)들이 연결된 연결부(134,135,136,137, 도 3 및 도 4 참조)는, 내부에 자성유체가 구비된 페로실(ferroseal)로 구성될 수 있다. 이와 같은 연결부(134,135,136,137)를 구성하는 페로실(ferroseal)은, 대기와 진공 공간을 완벽히 분리하며, 자기장을 사용하여 회전 운동을 진공 환경으로 전달한다. 페로실 내부의 자력은 강자성 유체가 완전히 밀봉되도록 하여 가스가 들어가지 못하도록 하며, 고속 토크 전송을 효과적으로 처리하고 고속 기능, 낮은 드래그 토크, 저속 및 시동 중 부드러운 움직임을 제공하는 장점이 있다.The connecting
주행 구동부(150)는 기판 전달부(110)가 이송 레일(120)을 따라 주행하도록 구동하는 모터를 포함할 수 있다. 즉, 도 3 및 도 4에서 이송 링크(130)의 각 암(arm) 들(131,132,133))이 연결되어 회전하는 부분인 연결부(134,135,136,137) 들을 중심으로 회전하면서, 기판 전달부(110)가 이송 레일(120)을 따라 주행하도록 구동되는 것이다. 주행 중, 특정 위치에 있는 프로세스 챔버(300)에 멈추어, 해당 프로세스 챔버(300)로 기판을 전달하여 주게 된다.The
도 5는 도 4의 이송 시스템(100)에서 이송 레일(120)의 덮개 구조를 도시한 도면이다.FIG. 5 is a view illustrating a cover structure of the
본 발명의 기판 이송 장치(100)는, 진공 챔버(160) 내에서 동작하므로, 진공 챔버(160)의 오염을 방지하는 것이 매우 중요하다. 기판 이송 장치(100)에서 발생할 수 있는 대부분의 분진(particle)들은 주로 기판 전달부(110)가 이송 레일(120) 상을 주행하면서 기판 전달부(110)와 이송 레일(120)이 마찰되는 부분(10)에서 발생한다.Since the
도 5는 도 4에서의 마찰 부분(10)을 확대한 도면으로서, 도 5를 참조하면, 본 발명은 이송 레일(120)과 기판 전달부(110)가 맞닿는 부분에 레일 덮개(114)를 구비한다. 레일 덮개(114)는 이송 레일(120)을 측면 부분까지 감싸고 있는데, 이와 같은 구조로 인하여 레일 덮개(114)와 이송 레일(120) 사이의 마찰로 발생하는 분진은 레일 덮개(114)와 이송 레일(120) 사이의 틈(121)을 따라 아래 방향으로 흘러나오고 대부분 밑으로 떨어지게 된다. 따라서 진공 챔버(160) 상부의 이송 대상물인 기판에는 분진의 영향이 거의 미치지 않도록 하는 가운데 이송이 수행되도록 하는 장점이 있다.5 is an enlarged view of the
도 6은 도 2의 기판 이송 장치(100)를 덮개가 덮인 상태로 정면에서 바라본 단면도로서, 전력전달 구조를 도시한 도면이다.6 is a cross-sectional view of the
케이블(140)은 기판 전달부(110)를 구동하는 구동부의 모터로 전력을 전달하는 케이블과, 구동부 모터 엔코더(encoder)에 신호를 전달하는 케이블을 포함하며, 도 6에 도시된 바와 같이 하단부로부터 상부의 구동부(113)로 연결된다.The
이송 링크(130)의 각 암(arm)(131,132,133) 들의 연결부(134,135,136,137)인 각 페로실(ferroseal) 들의 중심축에는 상하를 관통하는 중공부가 구비되는데, 도 6에 도시된 바와 같이 케이블(140)은 이러한 각 연결부인 페로실(134,135,136,137) 들의 중공부를 관통하여 상부의 구동부(113)로 연결되는 것이다. 즉, 기판 전달부(110)와 연결되는 이러한 케이블(140)의 처리를 위해 별도의 구조물을 설치해야 하는 번거로움이 없이, 기판 이송 중인 이송 링크(130)의 페로실(134,135,136,137)들을 통과하는 구성을 취하여, 설치의 간편함과 비용의 절감을 가져올 수 있다.The central axis of each ferroseal that is the
또한 그러한 별도의 구조물 설치시 기판 이송 장치(100)의 진공 챔버 내에 분진이 발생할 염려가 있으므로, 그러한 분진의 원인이 되는 구조물을 설치하지 않게되는 장점도 있다.In addition, since there is a concern that dust may be generated in the vacuum chamber of the
100: 진공 챔버와 그 내부에 이송 장치를 구비하는 이송 시스템
110: 기판 전달부
111: 기판 탑재부
112: 기판 탑재 링크
113: 구동부
113.1: 회전 구동부
113.2: 핸드(hand) 구동부
114: 레일 덮개
115: 기판 탑재부 판
120: 이송 레일
130: 이송 링크
131,132,133: 이송 링크 암(arm)
134: 이송 링크 하단 연결부
135,136 : 이송 링크 암(arm) 간 연결부
137: 이송 링크 상단 연결부
140: 케이블
150: 주행 구동부
160: 진공 챔버(chamber)
161: 진공 부분
170: 승강 가이드
180: 감속기
200: 로드락 챔버(load lock chamber)
300: 프로세스 챔버(process chamber)
400: 기판 공급 장치
410: 기판 보관부
420: 이송 로봇
600: 종래 기판 이송 및 처리 시스템
610: 이송 장치
630: 프로세스 챔버
1000: 본 발명의 기판 이송 및 처리 시스템100: a vacuum chamber and a transport system having a transport device therein
110: substrate transfer unit
111: substrate mounting unit
112: board mounting link
113: driving unit
113.1: rotary drive
113.2: hand drive
114: rail cover
115: substrate mounting plate
120: transport rail
130: transport link
131,132,133: transport link arm (arm)
134: transfer link lower connection
135,136: connection between transfer link arms
137: transfer link upper connection
140: cable
150: driving driving unit
160: vacuum chamber (chamber)
161: vacuum part
170: elevating guide
180: reducer
200: load lock chamber (load lock chamber)
300: process chamber
400: substrate supply device
410: substrate storage unit
420: transport robot
600: conventional substrate transport and processing system
610: transfer device
630: process chamber
1000: substrate transport and processing system of the present invention
Claims (12)
로드락 챔버(load lock chamber)로부터 기판을 전달받고, 전달받은 기판을 프로세스 챔버(process chamber)로 전달하는 기판 전달부;
상기 기판 전달부가 특정 프로세스 챔버로 이동해야 할 경우, 상기 기판 전달부가 주행하는 이송 레일; 및,
상기 기판 전달부를 구동하는 구동부로 전력을 전달하는 케이블
을 포함하는 기판 이송 장치.A substrate transfer device comprising:
a substrate transfer unit receiving a substrate from a load lock chamber and transferring the received substrate to a process chamber;
a transfer rail on which the substrate transfer unit travels when the substrate transfer unit needs to move to a specific process chamber; and,
A cable that transmits power to a driving unit that drives the substrate transfer unit
A substrate transfer device comprising a.
상기 기판 전달부는,
이송할 대상물인 반도체 기판이 탑재되는 기판 탑재부;
상기 기판 탑재부가 일단에 구비되고, 상기 기판 탑재부가 기판을 받아서 특정 지점에 전달하도록 상기 기판 탑재부의 위치를 이동시키는 기판 탑재 링크;
상기 기판 탑재 링크의 움직임을 구동하는 구동부; 및,
상기 기판 탑재부, 상기 기판 탑재 링크 및, 상기 구동부를 하부에서 지지하는 기판 탑재부 판
을 포함하는 것을 특징으로 하는 기판 이송 장치.The method according to claim 1,
The substrate transfer unit,
a substrate mounting unit on which a semiconductor substrate, which is an object to be transferred, is mounted;
a substrate mounting link provided at one end of the substrate mounting unit and configured to move the position of the substrate mounting unit so that the substrate mounting unit receives the substrate and transfers the substrate to a specific point;
a driving unit for driving the movement of the substrate mounting link; and,
The substrate mounting unit, the substrate mounting link, and the substrate mounting unit plate supporting the driving unit from a lower portion
A substrate transport apparatus comprising a.
상기 기판 탑재부 및 기판 탑재 링크는 2쌍이 구비되고,
상기 2개의 기판 탑재 링크는 각각 별도로 제어되는 것
을 특징으로 하는 기판 이송 장치.3. The method according to claim 2,
Two pairs of the substrate mounting unit and the substrate mounting link are provided,
the two board mount links are each controlled separately
A substrate transfer device, characterized in that.
상기 기판 이송 장치와 상기 로드락 챔버 간의 기판 전달시, 또는 상기 기판 이송 장치와 상기 프로세스 챔버 간의 기판 전달시,
필요에 따라 상기 2개의 기판 탑재부가 동시에 전달을 수행하거나, 또는 상기 2개의 기판 탑재부 중 1개의 기판 탑재부가 전달을 수행하도록 제어되는 것
을 특징으로 하는 기판 이송 장치.4. The method according to claim 3,
When transferring a substrate between the substrate transfer apparatus and the load lock chamber, or when transferring a substrate between the substrate transfer apparatus and the process chamber,
If necessary, the two substrate mounting units perform transfer at the same time, or one of the two substrate mounting units is controlled to perform transfer
A substrate transfer device, characterized in that.
상기 구동부는,
상기 기판 탑재부 판 전체를 회전시키는 회전 구동부; 및,
기판 탑재 링크를 구동시키는 핸드(hand) 구동부
를 포함하는 것을 특징으로 하는 기판 이송 장치.3. The method according to claim 2,
The drive unit,
a rotation driving unit for rotating the entire substrate mounting unit plate; and,
A hand drive that drives the board mounting link
A substrate transport apparatus comprising a.
상기 기판 전달부를 상기 이송 레일을 따라 주행하도록 동작하는 이송 링크; 및,
상기 이송 링크를 구동하는 주행 구동부
를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 기판 이송 장치.The method according to claim 1,
a transfer link operable to travel the substrate transfer unit along the transfer rail; and,
Travel driving unit for driving the transport link
Substrate transport apparatus, characterized in that it further comprises.
상기 이송 링크는,
2개 이상의 이송 링크 암(arm);
최하단의 이송 링크 암(arm)이 연결되고, 바닥의 일 지점에 고정된 이송 링크 하단 연결부;
최상단의 이송 링크 암(arm)이 연결되고, 상기 기판 탑재부 판 하부면에 고정된 이송 링크 상단 연결부; 및,
상기 각 이송 링크 암(arm)이 서로 연결된 이송 링크 암(arm) 간 연결부
를 포함하고,
상기 이송 링크 암(arm)은,
상기 이송 링크 암(arm) 간 연결부, 상기 하단 연결부 또는 상기 상단 연결부를 중심으로 회전 가능하며, 이러한 회전 동작을 통해서 상기 이송 링크가 상기 기판 전달부를 상기 이송 레일을 따라 주행시키는 것
을 특징으로 하는 기판 이송 장치.7. The method of claim 6,
The transfer link is
two or more transfer link arms;
The lowermost transfer link arm is connected, the lower transfer link connection portion fixed to a point on the floor;
a transfer link upper connection part connected to an uppermost transfer link arm and fixed to a lower surface of the board mounting part; and,
A connection part between the transfer link arms to which the respective transfer link arms are connected to each other
including,
The transfer link arm (arm),
The transfer link arm is rotatable around the connecting portion, the lower connecting portion, or the upper connecting portion, and the transfer link causes the substrate transfer unit to travel along the transfer rail through this rotational operation.
A substrate transfer device, characterized in that.
상기 이송 링크 하단 연결부, 상기 이송 링크 암(arm) 간 연결부 및, 상기 이송 링크 상단 연결부는,
내부에 밀봉된 자성유체를 구비하는 것
을 특징으로 하는 기판 이송 장치.8. The method of claim 7,
The lower connecting portion of the transfer link, the connecting portion between the transfer link arms, and the upper connecting portion of the transfer link,
Having a magnetic fluid sealed therein
A substrate transfer device, characterized in that.
상기 케이블은,
설치를 위한 별도의 구조물의 설치의 필요없이, 상기 이송 링크 하단 연결부, 상기 이송 링크 암(arm) 간 연결부 및, 상기 이송 링크 상단 연결부의 중공부를 관통하여 상부의 구동부로 연결되는 것
을 특징으로 하는 기판 이송 장치.8. The method of claim 7,
The cable is
Without the need for the installation of a separate structure for installation, the transfer link lower connection part, the connection part between the transfer link arms, and the transfer link upper connection part through the hollow part to be connected to the upper driving part
A substrate transfer device, characterized in that.
상기 기판 전달부, 상기 이송 레일, 상기 케이블, 상기 이송 링크는,
진공 챔버(chamber) 내에 구비되는 것
을 특징으로 하는 기판 이송 장치.8. The method of claim 7,
The substrate transfer unit, the transfer rail, the cable, and the transfer link,
provided in a vacuum chamber
A substrate transfer device, characterized in that.
상기 이송 레일과 상기 기판 전달부가 맞닿는 부분에 레일 덮개를 구비하고,
상기 레일 덮개는,
이송 레일을 측면 부분까지 감싸는 형상으로서, 상기 레일 덮개와 상기 이송 레일 사이의 마찰로 발생하는 분진이 상기 레일 덮개와 상기 이송 레일 사이의 틈을 따라 아래 방향으로 떨어지도록 하여, 진공 챔버 상부의 이송 대상물인 기판에는 분진의 영향이 거의 미치지 않도록 하는 구조인 것
을 특징으로 하는 기판 이송 장치.8. The method of claim 7,
A rail cover is provided at a portion in which the transfer rail and the substrate transfer unit abut;
The rail cover,
As a shape that surrounds the transfer rail to the side portion, the dust generated by friction between the rail cover and the transfer rail falls downward along the gap between the rail cover and the transfer rail, so that the object to be transferred on the upper part of the vacuum chamber It has a structure so that the influence of dust hardly occurs on the phosphor substrate.
A substrate transfer device, characterized in that.
상기 기판 전달부가 상,하로 이동할 수 있는 승강 가이드
를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 기판 이송 장치.The method according to claim 1,
Elevating guide that the substrate transfer unit can move up and down
Substrate transport apparatus, characterized in that it further comprises.
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| PA0109 | Patent application |
Patent event code: PA01091R01D Comment text: Patent Application Patent event date: 20200713 |
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Comment text: Notification of reason for refusal Patent event date: 20211028 Patent event code: PE09021S01D |
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| E902 | Notification of reason for refusal | ||
| PE0902 | Notice of grounds for rejection |
Comment text: Notification of reason for refusal Patent event date: 20220706 Patent event code: PE09021S01D |
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| AMND | Amendment | ||
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Comment text: Final Notice of Reason for Refusal Patent event date: 20230313 Patent event code: PE09021S02D |
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| AMND | Amendment | ||
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| PE0601 | Decision on rejection of patent |
Patent event date: 20230531 Comment text: Decision to Refuse Application Patent event code: PE06012S01D Patent event date: 20230313 Comment text: Final Notice of Reason for Refusal Patent event code: PE06011S02I Patent event date: 20220706 Comment text: Notification of reason for refusal Patent event code: PE06011S01I Patent event date: 20211028 Comment text: Notification of reason for refusal Patent event code: PE06011S01I |
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Patent event code: PE08012E01D Comment text: Decision on Dismissal of Amendment Patent event date: 20230531 Patent event code: PE08011R01I Comment text: Amendment to Specification, etc. Patent event date: 20230515 Patent event code: PE08011R01I Comment text: Amendment to Specification, etc. Patent event date: 20230201 Patent event code: PE08011R01I Comment text: Amendment to Specification, etc. Patent event date: 20221006 Patent event code: PE08011R01I Comment text: Amendment to Specification, etc. Patent event date: 20220228 |
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| X091 | Application refused [patent] | ||
| AMND | Amendment | ||
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Patent event code: PX09011S01I Patent event date: 20230531 Comment text: Decision to Refuse Application Patent event code: PX09012R01I Patent event date: 20230515 Comment text: Amendment to Specification, etc. Patent event code: PX09012R01I Patent event date: 20230201 Comment text: Amendment to Specification, etc. Patent event code: PX09012R01I Patent event date: 20221006 Comment text: Amendment to Specification, etc. Patent event code: PX09012R01I Patent event date: 20220228 Comment text: Amendment to Specification, etc. |
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| PX0601 | Decision of rejection after re-examination |
Comment text: Decision to Refuse Application Patent event code: PX06014S01D Patent event date: 20231025 Comment text: Amendment to Specification, etc. Patent event code: PX06012R01I Patent event date: 20231004 Comment text: Decision to Refuse Application Patent event code: PX06011S01I Patent event date: 20230531 Comment text: Amendment to Specification, etc. Patent event code: PX06012R01I Patent event date: 20230515 Comment text: Final Notice of Reason for Refusal Patent event code: PX06013S02I Patent event date: 20230313 Comment text: Amendment to Specification, etc. Patent event code: PX06012R01I Patent event date: 20230201 Comment text: Amendment to Specification, etc. Patent event code: PX06012R01I Patent event date: 20221006 Comment text: Notification of reason for refusal Patent event code: PX06013S01I Patent event date: 20220706 Comment text: Amendment to Specification, etc. Patent event code: PX06012R01I Patent event date: 20220228 Comment text: Notification of reason for refusal Patent event code: PX06013S01I Patent event date: 20211028 |
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| X601 | Decision of rejection after re-examination |