KR20210149492A

KR20210149492A - System and method for checking of plate forming and computer-readable reading medium thereor

Info

Publication number: KR20210149492A
Application number: KR1020200066605A
Authority: KR
Inventors: 권순도; 김태곤
Original assignee: 대우조선해양 주식회사
Priority date: 2020-06-02
Filing date: 2020-06-02
Publication date: 2021-12-09
Anticipated expiration: 2040-06-02
Also published as: KR102432444B1

Abstract

본 발명은 곡가공된 제품의 형상을 계측하여 3차원 모델을 형성하고, 3차원 모델의 임의의 측정점에 대하여 자유롭게 단면도를 생성하여 3차원 모델과 3차원 설계 이미지 간의 오차를 산출하여 곡가공의 완성도에 대한 검사를 수행하는 곡가공 검사 시스템 및 방법에 관한 것이다. 본 발명의 실시예에 따른 곡가공 검사 시스템은, 곡가공 대상물의 형상을 계측하여 3차원 모델링 이미지를 형성하고, 곡가공 대상물의 3차원 설계 이미지를 저장하며, 3차원 모델링 이미지로부터 제1 기준점, 제1 기준축 및 다수의 제1 기준면에 대한 정보를 형성하고, 3차원 설계 이미지로부터 제2 기준점, 제2 기준축 및 다수의 제2 기준면에 대한 정보를 형성하며, 다수의 제1 기준면 및 다수의 제2 기준면을 이용하여 3차원 모델링 이미지 및 3차원 설계 이미지의 매칭을 수행하고, 측정점에 대한 다수의 비교 평면을 설정하며, 다수의 비교 평면을 이용하여 3차원 모델링 이미지와 3차원 설계 이미지 사이의 높이값 차이 및 픽셀수를 산출하고, 높이값 차이 및 픽셀수를 이용하여 오차값을 생성한다.The present invention measures the shape of a curved product to form a three-dimensional model, and freely creates a cross-sectional view for any measurement point of the three-dimensional model, and calculates the error between the three-dimensional model and the three-dimensional design image, thereby completing the curved processing It relates to a grain processing inspection system and method for performing the inspection. The bending inspection system according to an embodiment of the present invention forms a three-dimensional modeling image by measuring the shape of a curved object, stores a three-dimensional design image of the curved object, and a first reference point from the three-dimensional modeling image, Forms information on a first reference axis and a plurality of first reference planes, forms information on a second reference point, a second reference axis, and a plurality of second reference planes from a three-dimensional design image, and forms information on a plurality of first reference planes and a plurality of second reference planes Matching the 3D modeling image and the 3D design image using the second reference plane of Calculate the height value difference and the number of pixels, and generate an error value using the height value difference and the number of pixels.

Description

Grain processing inspection system and method, a computer program for executing the method on a computer is recorded, a computer-readable recording medium

본 발명은 조선소의 곡가공 공정에 사용되는 곡가공 검사 시스템 및 방법, 동 방법을 컴퓨터에서 실행하기 위한 컴퓨터 프로그램이 기록된, 컴퓨터 판독 가능한 기록 매체에 관한 것으로, 특히 곡가공된 제품의 형상을 계측하여 3차원 모델을 형성하고, 3차원 모델의 임의의 측정점에 대하여 자유롭게 단면도를 생성하여 3차원 모델과 3차원 설계 이미지 간의 오차를 산출하여 곡가공의 완성도에 대한 검사를 수행하는 곡가공 검사 시스템 및 방법, 동 방법을 컴퓨터에서 실행하기 위한 컴퓨터 프로그램이 기록된, 컴퓨터 판독 가능한 기록 매체에 관한 것이다.The present invention relates to a grain processing inspection system and method used in a grain processing process in a shipyard, and a computer program for executing the method on a computer recorded on a computer-readable recording medium, and in particular, to measure the shape of a curved product A curved processing inspection system that forms a three-dimensional model by forming a three-dimensional model, generates a cross-section freely for any measurement point of the three-dimensional model, calculates an error between the three-dimensional model and a three-dimensional design image, and performs an inspection on the completeness of the curved processing; and It relates to a method and a computer-readable recording medium in which a computer program for executing the method in a computer is recorded.

일반적으로 선박의 외판을 가공하는 방법에는 크게 열간 가공과 냉간 가공의 두가지 방법이 주로 사용되고 있다. 일반적으로, 프레스(press)나 롤러(roller) 등을 이용하는 기계적 냉간 가공방법은, 제어의 편의성 때문에 한쪽 방향으로만 일정한 곡률을 갖는 완만하고 단순한 외판의 곡면 가공과 이중 곡면 외판의 1차가공에서 주로 이용되고 있다. 가열에 의한 잔류 열탄소성 변형을 이용하는 열간 가공방법은 마무리 작업 및 이중 곡면 외판의 2차가공, 용접 변형 제거 등의 작업에 주로 이용되고 있다.In general, two methods are mainly used for processing the shell of a ship: hot working and cold working. In general, the mechanical cold working method using a press or a roller, etc. is mainly used in the curved processing of a gentle and simple outer plate having a constant curvature in only one direction because of the convenience of control and the primary processing of a double curved outer plate. is being used The hot working method using residual thermoelastic deformation by heating is mainly used for finishing work, secondary processing of double curved skin plates, and welding deformation removal.

종래에 사용되고 있는 열간 가공방법을 선박의 외판가공에 적용할 때 판 위의 일정한 방향으로 열을 가한다고 하여 선상 가열 방법(line heating process)이라고 불려진다. 이러한 선상 가열방법은 전적으로 수작업에 의해 수행되는데, 곡면가공을 수행하기 위해서는 가열 위치, 가열 속도, 냉각 위치, 냉각 속도 등 여러 가공 정보를 설정해야 한다.When the conventionally used hot working method is applied to the shell plate processing of a ship, it is called a line heating process because heat is applied in a certain direction on the plate. This linear heating method is performed entirely by hand. In order to perform curved surface processing, various processing information such as heating position, heating rate, cooling position, and cooling rate must be set.

상기한 가공방법에 의해서 곡가공된 제품의 완성도를 평가하기 위해 목재로 만들어진 템플릿을 이용하여 곡가공된 면 위에 템플릿을 대어보고 그 오차값을 파악하는 방식을 이용하였다. 이러한 방식에서는 설계 데이터로부터 템플릿을 만들게 되는데 템플릿이 놓여져야 하는 곳의 위치가 정해져 있어, 템플릿 위치를 정확히 마킹하고 확인해야 한다. 즉, 임의의 위치에서 곡가공된 제품의 곡량을 확인할 수 없는 문제점이 있었다.In order to evaluate the completeness of the product curved by the above-described processing method, a template made of wood was used to place the template on the curved surface and determine the error value. In this way, a template is created from design data, and the location where the template should be placed is determined, so the location of the template must be accurately marked and confirmed. That is, there was a problem in that it was not possible to check the amount of the product curved in an arbitrary position.

최근 곡가공 작업 또한 수작업에서 벗어나 로봇과 같은 장비를 이용하여 기계화되고 있는데, 이러한 기계화된 곡가공 작업 환경하에서도 기존처럼 템플릿을 이용하여 곡가공된 제품의 곡가공 완성도를 파악하고 있다. 따라서, 곡가공된 제품의 형상 데이터를 통해 3차원 설계 이미지와 보다 용이한 방법으로 비교하기 위한 방법을 필요로 한다.Recently, the bending work has also been mechanized using equipment such as robots, away from manual work. Even in this mechanized bending work environment, the completion of the bending process of products that have been processed using a template is being grasped as before. Therefore, there is a need for a method for comparing the shape data of a curved product with a 3D design image in an easier way.

본 발명이 이루고자 하는 기술적 과제는, 곡가공 된 제품의 형상을 계측하여 3차원 모델을 형성하고, 3차원 모델의 임의의 측정점에 대하여 자유롭게 단면도를 생성하여 3차원 모델과 3차원 설계 이미지 간의 오차를 산출하여 곡가공의 완성도에 대한 검사를 수행하는 곡가공 검사 시스템 및 방법, 동 방법을 컴퓨터에서 실행하기 위한 컴퓨터 프로그램이 기록된, 컴퓨터 판독 가능한 기록 매체를 제공하는 것이다.The technical problem to be achieved by the present invention is to form a three-dimensional model by measuring the shape of a curved product, and to freely create a cross-sectional view for any measurement point of the three-dimensional model, thereby reducing the error between the three-dimensional model and the three-dimensional design image. It is to provide a computer readable recording medium in which a computer program for executing a processing inspection system and method for calculating and inspecting the completeness of processing, and a computer program for executing the method on a computer are recorded.

본 발명의 실시예에 따른　곡가공 검사 시스템은, 곡가공 대상물의 형상을 계측하여 3차원 모델링 이미지를 형성하는 모델링 서버; 상기 곡가공 대상물의 3차원 설계 이미지를 저장하는 설계 서버; 및 상기 3차원 모델링 이미지로부터 제1 기준점, 제1 기준축 및 다수의 제1 기준면에 대한 정보를 형성하고, 상기 3차원 설계 이미지로부터 제2 기준점, 제2 기준축 및 다수의 제2 기준면에 대한 정보를 형성하며, 상기 다수의 제1 기준면 및 상기 다수의 제2 기준면을 이용하여 상기 3차원 모델링 이미지 및 상기 3차원 설계 이미지의 매칭을 수행하고, 측정점에 대한 다수의 비교 평면을 설정하며, 상기 다수의 비교 평면을 이용하여 상기 3차원 모델링 이미지와 상기 3차원 설계 이미지 사이의 높이값 차이 및 픽셀수를 산출하고, 상기 높이값 차이 및 상기 픽셀수를 이용하여 오차값을 생성하는 프로세서를 포함한다.　 bending inspection system according to an embodiment of the present invention, a modeling server for forming a three-dimensional modeling image by measuring the shape of the object to be processed; a design server for storing a three-dimensional design image of the object to be processed; and forming information about a first reference point, a first reference axis, and a plurality of first reference planes from the three-dimensional modeling image, and a second reference point, a second reference axis, and a plurality of second reference planes from the three-dimensional design image. forming information, matching the three-dimensional modeling image and the three-dimensional design image using the plurality of first reference planes and the plurality of second reference planes, setting a plurality of comparison planes for measurement points, and the and a processor for calculating a height value difference and the number of pixels between the 3D modeling image and the 3D design image by using a plurality of comparison planes, and generating an error value using the height value difference and the number of pixels. .

또한, 상기 프로세서는, 상기 3차원 모델링 이미지로부터 4개의 모서리 꼭지점을 나타내는 4개의 특징점의 좌표를 추출하고, 상기 4개의 특징점 상호간의 거리를 산출하며, 상기 4개의 특징점 상호간의 거리 중 최대 길이값을 갖는 특징점 2개를 상기 제1 기준점으로 추출하고, 상기 제1 기준점을 직선으로 연결하여 상기 제1 기준축으로 설정하며, 상기 4개의 특징점 중 상기 제1 기준축을 지나지 않는 2개의 특징점 중 높이가 높은 특징점과 상기 제1 기준축을 지나는 평면을 상기 다수의 제1 기준면 중 제1-1 기준면으로 설정하고, 상기 제1 기준축을 포함하면서 상기 제1-1 기준면과 수직으로 교차하는 제1-2 기준면을 설정하고, 상기 제1-1 및 제1-2 기준면과 상호 직교하며 상기 2개의 제1 기준점 중 어느 하나의 제1 기준점을 지나는 제1-3 기준면을 설정할 수 있다.In addition, the processor extracts coordinates of four feature points representing four corner vertices from the three-dimensional modeling image, calculates a distance between the four feature points, and determines a maximum length value among the distances between the four feature points. Two feature points having two feature points are extracted as the first reference point, and the first reference point is connected with a straight line to set the first reference axis, and among the four feature points, the two feature points that do not pass the first reference axis have the highest height. A plane passing through the feature point and the first reference axis is set as a 1-1 reference plane among the plurality of first reference planes, and a 1-2 reference plane that includes the first reference axis and intersects the 1-1 reference plane perpendicularly is obtained. set, the 1-3 reference planes that are orthogonal to the 1-1 and 1-2 reference planes and pass through one of the two first reference points may be set.

또한, 상기 프로세서는, 상기 3차원 설계 이미지로부터 4개의 모서리 꼭지점을 나타내는 4개의 특징점의 좌표를 추출하고, 상기 4개의 특징점 상호간의 거리를 산출하며, 상기 4개의 특징점 상호간의 거리 중 최대 길이값을 갖는 특징점 2개를 상기 제2 기준점으로 추출하고, 상기 제2 기준점을 직선으로 연결하여 상기 제2 기준축으로 설정하며, 상기 4개의 특징점 중 상기 제2 기준축을 지나지 않는 2개의 특징점 중 높이가 가장 높은 특징점과 상기 제2 기준축을 지나는 평면을 상기 다수의 제2 기준면 중 제2-1 기준면으로 설정하고, 상기 제2 기준축을 포함하면서 상기 제2-1 기준면과 수직으로 교차하는 제2-2 기준면을 설정하고, 상기 제2-1 및 제2-2 기준면과 상호 직교하며 상기 2개의 제2 기준점 중 어느 하나의 제2 기준점을 지나는 제2-3 기준면을 설정할 수 있다.In addition, the processor extracts coordinates of four feature points representing four corner vertices from the three-dimensional design image, calculates a distance between the four feature points, and determines a maximum length value among the distances between the four feature points Two feature points having two feature points are extracted as the second reference point, the second reference point is connected with a straight line and set as the second reference axis, and among the four feature points, the height is the highest among the two feature points that do not pass the second reference axis. A plane passing through the high feature point and the second reference axis is set as a 2-1 reference plane among the plurality of second reference planes, and a 2-2 reference plane including the second reference axis and perpendicular to the 2-1 reference plane is set. may be set, and a 2-3rd reference plane that is orthogonal to the 2-1 and 2-2 reference planes and passes through a second reference point of any one of the two second reference points may be set.

또한, 상기 프로세서는, 상기 제1 및 제2 기준축을 일치시키고, 상기 제1-1 내지 제1-3 기준면과 상기 제2-1 내지 제2-3 기준면을 일치시켜서 상기 3차원 모델링 이미지와 상기 3차원 설계 이미지를 매칭시키며, 상기 제1-2 및 제2-2 기준면을 일 좌표축을 기준으로 상기 측정점의 거리로 이격하여 상기 다수의 비교 평면 중 제1 비교 평면을 형성하고, 상기 제1 비교 평면에 상기 제1 및 제2 기준축을 투영시키며, 상기 제1-3 및 제2-3 기준면을 타 좌표축을 기준으로 상기 측정점의 거리로 이격하여 상기 다수의 비교 평면 중 제2 비교 평면을 형성하고, 상기 제1 비교 평면을 기준으로 단면도를 추출하며, 상기 단면도에서 상기 제2 비교 평면을 기준으로 상기 3차원 모델링 이미지와 상기 3차원 설계 이미지의 높이값 차이를 산출하고, 상기 단면도에서 상기 제1 및 제2 기준축을 기준으로 상기 측정점의 일 좌표값에 해당하는 픽셀수를 산출하며, 상기 픽셀수와 상기 일 좌표값에 해당하는 물리적 길이를 매칭하여 환산 계수를 산출하고, 상기 높이값 차이 및 상기 환산 계수를 이용하여 상기 오차값을 산출할 수 있다.In addition, the processor is configured to match the first and second reference axes, and match the 1-1 to 1-3 reference planes and the 2-1 to 2-3 reference planes to match the 3D modeling image and the Matching the three-dimensional design image, and spaced apart the 1-2 and 2-2 reference planes by a distance of the measurement point based on one coordinate axis to form a first comparison plane among the plurality of comparison planes, and the first comparison The first and second reference axes are projected on a plane, and the first 1-3 and 2-3 reference planes are spaced apart from the other coordinate axes by the distance of the measurement point to form a second comparison plane among the plurality of comparison planes, , extracting a cross-sectional view based on the first comparison plane, calculating a height difference between the three-dimensional modeling image and the three-dimensional design image based on the second comparison plane in the cross-sectional view, and calculating the first difference in the cross-sectional view and calculating the number of pixels corresponding to one coordinate value of the measurement point based on a second reference axis, calculating a conversion coefficient by matching the number of pixels and a physical length corresponding to the one coordinate value, and calculating the height difference and the The error value may be calculated using a conversion factor.

본 발명의 실시예에 따른 곡가공 검사 방법은, 곡가공 대상물의 형상을 계측하여 3차원 모델링 이미지를 형성하는 단계; 상기 곡가공 대상물의 3차원 설계 이미지를 저장하는 단계; 상기 3차원 모델링 이미지로부터 제1 기준점, 제1 기준축 및 다수의 제1 기준면에 대한 정보를 형성하는 단계; 상기 3차원 설계 이미지로부터 제2 기준점, 제2 기준축 및 다수의 제2 기준면에 대한 정보를 형성하는 단계; 상기 다수의 제1 기준면 및 상기 다수의 제2 기준면을 이용하여 상기 3차원 모델링 이미지 및 상기 3차원 설계 이미지의 매칭을 수행하는 단계;측정점에 대한 다수의 비교 평면을 설정하는 단계; 상기 다수의 비교 평면을 이용하여 상기 3차원 모델링 이미지와 상기 3차원 설계 이미지 사이의 높이값 차이 및 픽셀수를 산출하는 단계; 및 상기 높이값 차이 및 상기 픽셀수를 이용하여 오차값을 생성하는 단계를 포함한다.A curved processing inspection method according to an embodiment of the present invention comprises the steps of measuring a shape of a curved object to form a three-dimensional modeling image; storing a three-dimensional design image of the curved object; forming information on a first reference point, a first reference axis, and a plurality of first reference planes from the three-dimensional modeling image; forming information on a second reference point, a second reference axis, and a plurality of second reference planes from the three-dimensional design image; performing matching of the 3D modeling image and the 3D design image using the plurality of first reference planes and the plurality of second reference planes; setting a plurality of comparison planes for measurement points; calculating a difference in height values and the number of pixels between the three-dimensional modeling image and the three-dimensional design image by using the plurality of comparison planes; and generating an error value using the height difference and the number of pixels.

또한, 상기 3차원 모델링 이미지로부터 상기 제1 기준점, 상기 제1 기준축 및 상기 다수의 제1 기준면에 대한 정보를 형성하는 단계는, 상기 3차원 모델링 이미지로부터 4개의 모서리 꼭지점을 나타내는 4개의 특징점의 좌표를 추출하는 단계; 상기 4개의 특징점 상호간의 거리를 산출하는 단계; 상기 4개의 특징점 상호간의 거리 중 최대 길이값을 갖는 특징점 2개를 상기 제1 기준점으로 추출하는 단계; 상기 제1 기준점을 직선으로 연결하여 상기 제1 기준축으로 설정하는 단계; 상기 4개의 특징점 중 상기 제1 기준축을 지나지 않는 2개의 특징점 중 높이가 높은 특징점과 상기 제1 기준축을 지나는 평면을 상기 다수의 제1 기준면 중 제1-1 기준면으로 설정하는 단계; 상기 제1 기준축을 포함하면서 상기 제1-1 기준면과 수직으로 교차하는 제1-2 기준면을 설정하는 단계; 및 상기 제1-1 및 제1-2 기준면과 상호 직교하며 상기 2개의 제1 기준점 중 어느 하나의 제1 기준점을 지나는 제1-3 기준면을 설정하는 단계를 포함할 수 있다.In addition, the step of forming information about the first reference point, the first reference axis, and the plurality of first reference planes from the three-dimensional modeling image includes four feature points representing four corner vertices from the three-dimensional modeling image. extracting coordinates; calculating a distance between the four feature points; extracting two feature points having a maximum length value among the distances between the four feature points as the first reference point; setting the first reference point as the first reference axis by connecting the first reference point with a straight line; setting a high-height feature point among two feature points that do not pass the first reference axis among the four feature points and a plane passing through the first reference axis as a 1-1 reference plane among the plurality of first reference planes; setting a 1-2 reference plane that includes the first reference axis and perpendicularly intersects the 1-1 reference plane; and setting a 1-3 reference plane that is orthogonal to the 1-1 and 1-2 reference planes and passes through a first reference point of any one of the two first reference points.

또한, 상기 3차원 설계 이미지로부터 상기 제2 기준점, 상기 제2 기준축 및 상기 다수의 제2 기준면에 대한 정보를 형성하는 단계는, 상기 3차원 설계 이미지로부터 4개의 모서리 꼭지점을 나타내는 4개의 특징점의 좌표를 추출하는 단계; 상기 4개의 특징점 상호간의 거리를 산출하는 단계; 상기 4개의 특징점 상호간의 거리 중 최대 길이값을 갖는 특징점 2개를 상기 제2 기준점으로 추출하는 단계; 상기 제2 기준점을 직선으로 연결하여 상기 제2 기준축으로 설정하는 단계; 상기 4개의 특징점 중 상기 제2 기준축을 지나지 않는 2개의 특징점 중 높이가 가장 높은 특징점과 상기 제2 기준축을 지나는 평면을 상기 다수의 제2 기준면 중 제2-1 기준면으로 설정하는 단계; 상기 제2 기준축을 포함하면서 상기 제2-1 기준면과 수직으로 교차하는 제2-2 기준면을 설정하는 단계; 및 상기 제2-1 및 제2-2 기준면과 상호 직교하며 상기 2개의 제2 기준점 중 어느 하나의 제2 기준점을 지나는 제2-3 기준면을 설정하는 단계를 포함할 수 있다.In addition, the step of forming information about the second reference point, the second reference axis, and the plurality of second reference planes from the three-dimensional design image includes four feature points representing four corner vertices from the three-dimensional design image. extracting coordinates; calculating a distance between the four feature points; extracting two feature points having a maximum length value among the distances between the four feature points as the second reference point; setting the second reference point as the second reference axis by connecting the second reference point with a straight line; setting a feature point having the highest height among two feature points that do not pass the second reference axis among the four feature points and a plane passing through the second reference axis as a 2-1 reference plane among the plurality of second reference planes; setting a 2-2 reference plane that includes the second reference axis and perpendicularly intersects the 2-1 reference plane; and setting a 2-3rd reference plane that is orthogonal to the 2-1 and 2-2 reference planes and passes through a second reference point of any one of the two second reference points.

또한, 상기 높이값 차이 및 상기 픽셀수를 이용하여 오차값을 생성하는 단계는, 상기 제1 및 제2 기준축을 일치시키는 단계; 상기 제1-1 내지 제1-3 기준면과 상기 제2-1 내지 제2-3 기준면을 일치시켜서 상기 3차원 모델링 이미지와 상기 3차원 설계 이미지를 매칭시키는 단계; 상기 제1-2 및 제2-2 기준면을 일 좌표축을 기준으로 상기 측정점의 거리로 이격하여 상기 다수의 비교 평면 중 제1 비교 평면을 형성하는 단계; 상기 제1 비교 평면에 상기 제1 및 제2 기준축을 투영시키는 단계; 상기 제1-3 및 제2-3 기준면을 타 좌표축을 기준으로 상기 측정점의 거리로 이격하여 상기 다수의 비교 평면 중 제2 비교 평면을 형성하는 단계; 상기 제1 비교 평면을 기준으로 단면도를 추출하는 단계; 상기 단면도에서 상기 제2 비교 평면을 기준으로 상기 3차원 모델링 이미지와 상기 3차원 설계 이미지의 상기 높이값 차이를 산출하는 단계; 상기 단면도에서 상기 제1 및 제2 기준축을 기준으로 상기 측정점의 일 좌표값에 해당하는 상기 픽셀수를 산출하는 단계; 상기 픽셀수와 상기 일 좌표값에 해당하는 물리적 길이를 매칭하여 환산 계수를 산출하는 단계; 및 상기 높이값 차이 및 상기 환산 계수를 이용하여 상기 오차값을 산출하는 단계를 포함할 수 있다.In addition, generating an error value using the difference in height and the number of pixels may include matching the first and second reference axes; matching the three-dimensional modeling image and the three-dimensional design image by matching the 1-1 to 1-3 reference planes with the 2-1 to 2-3 reference planes; forming a first comparison plane among the plurality of comparison planes by separating the 1-2 and 2-2 reference planes by a distance of the measurement point based on one coordinate axis; projecting the first and second reference axes onto the first comparison plane; forming a second comparison plane among the plurality of comparison planes by separating the 1-3 and 2-3 reference planes by a distance from the measurement point with respect to another coordinate axis; extracting a cross-sectional view based on the first comparison plane; calculating a difference between the height values of the 3D modeling image and the 3D design image based on the second comparison plane in the cross-sectional view; calculating the number of pixels corresponding to one coordinate value of the measurement point based on the first and second reference axes in the cross-sectional view; calculating a conversion coefficient by matching the number of pixels and a physical length corresponding to the one coordinate value; and calculating the error value using the height difference and the conversion coefficient.

일 실시예로서, 본 발명에 따른 곡가공 검사 방법을 컴퓨터에서 실행하기 위한 컴퓨터 프로그램이 기록된, 컴퓨터 판독 가능한 기록 매체를 제공할 수 있다.As an embodiment, it is possible to provide a computer-readable recording medium in which a computer program for executing the grain processing inspection method according to the present invention in a computer is recorded.

본 발명의 실시예들에 따르면, 곡가공된 대상물의 가공 완성도를 확인하기 위하여 실제 형상 이미지와 설계 이미지 간의 이미지 매칭 방법을 제공할 수 있다. 실제 형상 이미지와 설계 이미지 간의 이미지 매칭 방법을 이용하여 곡가공된 대상물의 가공 완성도를 손쉽게 확인할 수 있다. 또한, 곡가공된 대상물의 측정점을 자유롭게 설정하여 곡가공된 대상물의 가공 완성도를 확인할 수 있다.According to embodiments of the present invention, it is possible to provide an image matching method between the actual shape image and the design image in order to confirm the processing completion of the curved object. Using the image matching method between the actual shape image and the design image, it is possible to easily check the processing completeness of the curved object. In addition, it is possible to freely set the measurement point of the curved object to check the processing completion of the curved object.

도 1은 본 발명의 실시예에 따른 곡가공 검사 시스템의 구성을 보이는 예시도이다.
도 2는 본 발명의 실시예에 따른 곡가공 환경을 보이는 예시도이다.
도 3은 본 발명의 실시예에 따른 기준점, 기준축 및 기준면 설정 알고리즘을 보이는 예시도이다.
도 4a 내지 도 4d는 본 발명의 실시예에 따른 오차값 생성 알고리즘을 보이는 예시도이다.
도 5는 본 발명의 실시예에 따른 곡가공 검사 방법의 절차를 보이는 흐름도이다.1 is an exemplary view showing the configuration of a curved processing inspection system according to an embodiment of the present invention.
2 is an exemplary view showing a curved processing environment according to an embodiment of the present invention.
3 is an exemplary diagram showing a reference point, reference axis, and reference plane setting algorithm according to an embodiment of the present invention.
4A to 4D are exemplary views showing an error value generating algorithm according to an embodiment of the present invention.
5 is a flowchart showing a procedure of a curved processing inspection method according to an embodiment of the present invention.

이하, 첨부한 도면을 참고로 하여 본 발명의 실시예에 대하여 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자가 용이하게 실시할 수 있도록 상세히 설명한다. 본 발명은 여러 가지 상이한 형태로 구현될 수 있으며 여기에서 설명하는 실시예에 한정되지 않는다.Hereinafter, with reference to the accompanying drawings, the embodiments of the present invention will be described in detail so that those of ordinary skill in the art to which the present invention pertains can easily implement them. The present invention may be embodied in many different forms and is not limited to the embodiments described herein.

도 1은 본 발명의 실시예에 따른 곡가공 검사 시스템의 구성을 보이는 예시도이고, 도 2는 본 발명의 실시예에 따른 곡가공 환경을 보이는 예시도이다.1 is an exemplary diagram showing the configuration of a curved processing inspection system according to an embodiment of the present invention, Figure 2 is an exemplary diagram showing a curved processing environment according to an embodiment of the present invention.

도 1에 도시한 바와 같이, 곡가공 검사 시스템(100)은, 모델링 서버(110), 설계 서버(120), 프로세서(130), 데이터베이스(140), 곡가공 대상물(150), 가열 수단(160), 가스 공급부(170), 크레인(180) 및 지지 수단(190)을 포함할 수 있다. 일 실시예에 따르면, 곡가공 검사 시스템(100)의 이 구성요소들 중 적어도 하나가 생략되거나, 다른 구성요소가 곡가공 검사 시스템(100)에 추가될 수 있다. 아울러, 추가적으로(additionally) 또는 대체적으로(alternatively), 일부의 구성요소들이 통합되어 구현되거나, 단수 또는 복수의 개체로 구현될 수 있다.1, the grain processing inspection system 100, the modeling server 110, the design server 120, the processor 130, the database 140, the processing object 150, the heating means 160 ), a gas supply unit 170 , a crane 180 , and a support means 190 . According to an embodiment, at least one of these components of the bending inspection system 100 may be omitted, or another component may be added to the bending inspection system 100 . In addition, additionally (additionally) or alternatively (alternatively), some of the components may be implemented as integrated, or may be implemented as a singular or a plurality of entities.

모델링 서버(110)는, 곡가공 대상물(150)의 형상을 계측하여 3차원 모델링 이미지를 형성할 수 있다. 일 실시예에 따르면, 모델링 서버(110)는, 곡가공 대상물(150)의 외형을 촬영하기 위한 다수의 카메라를 포함하고, 다수의 카메라에서 형성된 곡가공 대상물(150)의 이미지 데이터를 합성하여 3차원 모델링 이미지를 형성할 수 있지만, 이에 한정되지 않는다.The modeling server 110 may measure the shape of the curved object 150 to form a three-dimensional modeling image. According to an embodiment, the modeling server 110 includes a plurality of cameras for photographing the appearance of the object 150, and synthesizes image data of the object 150 formed by the plurality of cameras to form 3 It may form a dimensional modeling image, but is not limited thereto.

설계 서버(120)는, 곡가공 대상물(150)의 3차원 설계 이미지를 저장할 수 있다. 일 실시예에 따르면, 설계 서버(120)는 네트워크를 통하여 선주사, 선박 설계 회사 등으로부터 곡가공 대상물(150)의 3차원 설계 이미지를 수신하여 저장할 수 있다.The design server 120 may store a three-dimensional design image of the object 150 to be processed. According to an embodiment, the design server 120 may receive and store the 3D design image of the curved object 150 from a shipowner, a ship design company, or the like through a network.

프로세서(130)는, 모델링 서버(110)에서 형성된 3차원 모델링 이미지로부터 제1 기준점, 제1 기준축 및 다수의 제1 기준면에 대한 정보를 형성할 수 있다. 또한, 프로세서(130)는, 설계 서버(120)로부터 수신된 3차원 설계 이미지로부터 제2 기준점, 제2 기준축 및 다수의 제2 기준면에 대한 정보를 형성할 수 있다. 3차원 모델링 이미지 및 3차원 설계 이미지로부터 기준점, 기준축 및 다수의 기준면을 설정하기 위한 알고리즘에 대한 상세한 설명은 후술하도록 한다.The processor 130 may form information on the first reference point, the first reference axis, and the plurality of first reference planes from the 3D modeling image formed by the modeling server 110 . In addition, the processor 130 may form information on the second reference point, the second reference axis, and the plurality of second reference planes from the 3D design image received from the design server 120 . A detailed description of an algorithm for setting a reference point, a reference axis, and a plurality of reference planes from a three-dimensional modeling image and a three-dimensional design image will be described later.

또한, 프로세서(130)는, 다수의 제1 기준면 및 다수의 제2 기준면을 이용하여 3차원 모델링 이미지 및 3차원 설계 이미지의 매칭을 수행할 수 있다. 또한, 프로세서(130)는, 임의의 측정점에 대하여 다수의 비교 평면을 설정할 수 있다. 아울러, 프로세서(130)는, 다수의 비교 평면을 이용하여 3차원 모델링 이미지와 3차원 설계 이미지 사이의 높이값 차이 및 픽셀수를 산출하고, 산출된 높이값 차이 및 픽셀수를 이용하여 오차값을 생성할 수 있다. 프로세서(130)의 오차값 생성 알고리즘에 대한 상세한 설명은 후술하도록 한다. Also, the processor 130 may match the 3D modeling image and the 3D design image using the plurality of first reference planes and the plurality of second reference planes. In addition, the processor 130 may set a plurality of comparison planes for an arbitrary measurement point. In addition, the processor 130 calculates the height value difference and the number of pixels between the three-dimensional modeling image and the three-dimensional design image using a plurality of comparison planes, and calculates the error value using the calculated height value difference and the number of pixels. can create A detailed description of the error value generating algorithm of the processor 130 will be described later.

아울러, 프로세서(130)는, 3차원 모델링 이미지의 임의의 측정점에 대하여 오차값을 생성할 수 있고, 생성된 오차값을 이용하여서는 곡가공의 완성도를 평가할 수 있다.In addition, the processor 130 may generate an error value for an arbitrary measurement point of the 3D modeling image, and may evaluate the degree of completion of the curved processing by using the generated error value.

데이터베이스(140)는, 다양한 데이터를 저장할 수 있다. 데이터베이스(140)에 저장되는 데이터는, 곡가공 검사 시스템(100)의 적어도 하나의 구성요소에 의해 획득되거나, 처리되거나, 사용되는 데이터로서, 소프트웨어(예를 들어: 프로그램)를 포함할 수 있다. 데이터베이스(140)는, 휘발성 및/또는 비휘발성 메모리를 포함할 수 있다. 일 실시예로서, 데이터베이스(140)는, 모델링 서버(110)로부터 수신된 3차원 모델링 이미지 및 설계 서버(120)로부터 수신된 곡가공 대상물(150)의 3차원 설계 이미지를 저장할 수 있다.The database 140 may store various data. The data stored in the database 140 is data obtained, processed, or used by at least one component of the grain processing inspection system 100 , and may include software (eg: a program). Database 140 may include volatile and/or non-volatile memory. As an embodiment, the database 140 may store the 3D modeling image received from the modeling server 110 and the 3D design image of the music processing object 150 received from the design server 120 .

본 발명에서, 프로그램은 데이터베이스(140)에 저장되는 소프트웨어로서, 곡가공 검사 시스템(100)의 리소스를 제어하기 위한 운영체제, 어플리케이션 및/또는 어플리케이션이 곡가공 검사 시스템(100)의 리소스들을 활용할 수 있도록 다양한 기능을 어플리케이션에 제공하는 미들 웨어 등을 포함할 수 있다. 일 실시예에 따르면, 데이터베이스(140)는 프로세서(130)와는 별도로 클라우드(Cloud) 환경에서 구현될 수도 있지만 이에 한정되지 않고, 데이터베이스(140)가 프로세서(130)내에 구비될 수도 있다.In the present invention, a program is software stored in the database 140 , so that an operating system, an application and/or an application for controlling the resources of the grain processing inspection system 100 can utilize the resources of the grain processing inspection system 100 . It may include middleware that provides various functions to applications. According to an embodiment, the database 140 may be implemented in a cloud environment separately from the processor 130 , but is not limited thereto, and the database 140 may be provided in the processor 130 .

곡가공 대상물(150)은 선체의 외판 제작에 사용되는 다양한 철판 재료들을 포함할 수 있다. 일 실시예에 따르면, 선체의 외판은 선박의 내구성을 향상시키기 위해서 후판(厚板)으로 이루어지며 대략 50% 이상의 곡면을 필요로 하기 때문에 곡가공 공정이 필수적으로 수행되어야 한다.The curved object 150 may include various iron plate materials used for manufacturing the shell of the hull. According to one embodiment, the shell plate of the hull is made of a thick plate in order to improve the durability of the ship, and since it requires a curved surface of about 50% or more, the bending process must be performed inevitably.

선체의 외판은 프레스 등을 이용한 냉간 가공과, 가스 토치 등의 가열 수단(160)을 이용한 열간 가공을 통해서 제작될 수 있다. 가스 공급부(170)는, 가열 수단(160)을 이용한 열간 가공이 가능하도록 가열 수단(160)에 원료를 공급할 수 있다. 일 실시예에 따르면, 가스 공급부(170)는, 아르곤, 헬륨 등 일반적인 조건 하에서는 다른 원소와 거의 화합하지 않는 가스를 가열 수단(160)에 공급할 수 있지만, 이에 한정되지 않는다.The outer plate of the hull may be manufactured through cold working using a press or the like, and hot working using a heating means 160 such as a gas torch. The gas supply unit 170 may supply a raw material to the heating unit 160 to enable hot processing using the heating unit 160 . According to an embodiment, the gas supply unit 170 may supply a gas that hardly combines with other elements under general conditions such as argon and helium to the heating means 160 , but is not limited thereto.

크레인(180)은, 가열 수단(160)을 이용한 곡가공 대상물(150)의 열간 가공 시 가열 수단(160)의 자유로운 이동이 가능하도록 할 수 있다. 일 실시예로서, 크레인(180)은 겐트리 크레인을 포함할 수 있고, 가열 수단(160)은 자유도 4의 이동성을 가질 수 있지만, 이에 한정되지 않는다. 즉, 가열 수단(160)은, 크레인(180)에 의해서 곡가공 대상물(150)을 기준으로 상하좌우 방향으로의 이동 및 일 축을 기준으로 한 회전이 가능하도록 설치될 수 있다.The crane 180 may enable free movement of the heating means 160 during hot working of the curved object 150 using the heating means 160 . As an embodiment, the crane 180 may include a gantry crane, and the heating means 160 may have mobility of 4 degrees of freedom, but is not limited thereto. That is, the heating means 160 may be installed by the crane 180 to move in vertical, horizontally, left and right directions based on the curved object 150 and to rotate about one axis.

도 3은 본 발명의 실시예에 따른 기준점, 기준축 및 기준면 설정 알고리즘을 보이는 예시도이다.3 is an exemplary diagram showing a reference point, reference axis, and reference plane setting algorithm according to an embodiment of the present invention.

프로세서(130)는, 3차원 모델링 이미지로부터 제1 기준점, 제1 기준축 및 다수의 제1 기준면에 대한 정보를 형성할 수 있다.The processor 130 may form information on the first reference point, the first reference axis, and the plurality of first reference planes from the 3D modeling image.

프로세서(130)는, 도 3의 (a)에 도시한 바와 같이, 3차원 모델링 이미지로부터 4개의 모서리 꼭지점을 나타내는 4개의 특징점의 좌표를 추출할 수 있다. 일 실시예에 따르면, 프로세서(130)는, 3차원 모델링 이미지의 4개의 모서리를 4개의 특징점 P1, P2, P3, P4의 좌표로 추출할 수 있다.As shown in (a) of FIG. 3 , the processor 130 may extract coordinates of four feature points indicating four corner vertices from the three-dimensional modeling image. According to an embodiment, the processor 130 may extract four corners of the 3D modeling image as coordinates of four feature points P1, P2, P3, and P4.

또한, 프로세서(130)는, 도 3의 (b)에 도시한 바와 같이, 추출된 4개의 특징점(P1, P2, P3, P4) 상호간의 거리를 산출할 수 있다. 일 실시예에 따르면, 프로세서(130)는, P1과 P2 사이의 거리(L1), P2와 P3 사이의 거리(L2), P3와 P4 사이의 거리(L3), P4와 P1 사이의 거리(L4)를 각각 산출할 수 있다.Also, as shown in FIG. 3B , the processor 130 may calculate a distance between the four extracted feature points P1 , P2 , P3 , and P4 . According to an embodiment, the processor 130 is configured to: a distance between P1 and P2 (L1), a distance between P2 and P3 (L2), a distance between P3 and P4 (L3), and a distance between P4 and P1 (L4). ) can be calculated individually.

프로세서(130)는, 도 3의 (c)에 도시한 바와 같이, 4개의 특징점 상호간의 거리 중 최대 길이값을 갖는 특징점 2개를 제1 기준점으로 추출할 수 있다. 일 실시예에 따르면, 프로세서(130)는, L1, L2, L3, L4 중 최대 길이값(L-max)을 갖는 L1의 특징점 P1과 P2를 제1 기준점(R_Pt1, R_Pt2)으로 추출할 수 있다.As shown in (c) of FIG. 3 , the processor 130 may extract two feature points having the maximum length value among the distances between the four feature points as the first reference point. According to an embodiment, the processor 130 may extract the feature points P1 and P2 of L1 having the maximum length value (L-max) among L1, L2, L3, and L4 as the first reference points R_Pt1 and R_Pt2. .

또한, 프로세서(130)는, 도 3의 (d)에 도시한 바와 같이, 제1 기준점(R_Pt1, R_Pt2)을 직선으로 연결하여 제1 기준축을 설정할 수 있다. 일 실시예에 따르면, 프로세서(130)는, 제1 기준점인 R_Pt1과 R_Pt2를 직선으로 연결하여 제1 기준축인 R_Ax를 설정할 수 있다.Also, as shown in FIG. 3D , the processor 130 may set the first reference axis by connecting the first reference points R_Pt1 and R_Pt2 with a straight line. According to an embodiment, the processor 130 may set the first reference axis R_Ax by connecting R_Pt1 and R_Pt2, which are the first reference points, in a straight line.

프로세서(130)는, 도 3의 (e) 및 (f)에 도시한 바와 같이, 4개의 특징점(P1, P2, P3, P4) 중 높이가 가장 높은 특징점과 제1 기준축을 지나는 평면을 다수의 제1 기준면 중 제1-1 기준면으로 설정할 수 있다. 일 실시예에 따르면, 프로세서(130)는, 4개의 특징점 P1, P2, P3, P4 중 높이가 가장 높은 특징점(R_Pt_zmax)인 P4와 제1 기준축 R_Ax을 모두 지나는 평면을 제1-1 기준면 R_PL_xy로 설정할 수 있다.The processor 130, as shown in (e) and (f) of Figure 3, the four feature points (P1, P2, P3, P4), the height of the highest feature point and a plurality of planes passing through the first reference axis It may be set as a 1-1 reference plane among the first reference planes. According to an embodiment, the processor 130 is configured to move a plane passing through all of the four feature points P1, P2, P3, and P4, which is the highest feature point (R_Pt_zmax), P4, and the first reference axis R_Ax, the 1-1 reference plane R_PL_xy. can be set to

또한, 프로세서(130)는, 도 3의 (g)에 도시한 바와 같이, 제1 기준축(R_Ax)을 포함하면서 제1-1 기준면과 수직으로 교차하는 제1-2 기준면을 설정할 수 있다. 일 실시예에 따르면, 프로세서(130)는, 제1 기준축인 R_Ax를 포함하면서 제1-1 기준면인 R_PL_xy와 수직으로 교차하는 면을 제1-2 기준면인 R_PL_zx로 설정할 수 있다.Also, as shown in FIG. 3G , the processor 130 may set a 1-2 th reference plane that includes the first reference axis R_Ax and perpendicularly intersects the 1-1 reference plane. According to an embodiment, the processor 130 may set a plane that includes R_Ax, which is the first reference axis, and which vertically intersects with R_PL_xy, which is the 1-1 reference plane, as R_PL_zx, which is the 1-2 reference plane.

프로세서(130)는, 도 3의 (h)에 도시한 바와 같이, 제1-1 및 제1-2 기준면(R_PL_xy, R_PL_zx)과 상호 직교하며, 2개의 제1 기준점(R_Pt1 및 R_Pt2) 중 어느 하나의 제1 기준점(R_Pt1)을 지나는 제1-3 기준면(R_PL_yz)을 설정할 수 있다. 일 실시예에 따르면, 프로세서(130)는, 제1-1 및 제1-2 기준면인 R_PL_xy 및 R_PL_zx와 상호 직교하며, 2개의 제1 기준점(R_Pt1 및 R_Pt2) 중 어느 하나의 제1 기준점인 R_Pt1을 지나는 평면을 제1-3 기준면인 R_PL_yz로 설정할 수 있다.As shown in (h) of FIG. 3 , the processor 130 is orthogonal to the 1-1 and 1-2 reference planes R_PL_xy and R_PL_zx, and any one of the two first reference points R_Pt1 and R_Pt2 A 1-3 reference plane R_PL_yz passing through one first reference point R_Pt1 may be set. According to an embodiment, the processor 130 is orthogonal to R_PL_xy and R_PL_zx, which are the 1-1 and 1-2 reference planes, and R_Pt1, which is a first reference point of any one of the two first reference points R_Pt1 and R_Pt2. A plane passing through can be set as R_PL_yz, which is the 1-3 reference plane.

또한, 프로세서(130)는, 앞서 3차원 모델링 이미지로부터 제1 기준점, 제1 기준축 및 다수의 제1 기준면에 대한 정보를 형성하는 방법과 동일한 방법으로, 3차원 설계 이미지로부터 제2 기준점, 제2 기준축 및 다수의 제2 기준면에 대한 정보를 형성할 수 있다.In addition, the processor 130, the second reference point, the second reference point from the three-dimensional design image in the same way as the method of forming information about the first reference point, the first reference axis, and the plurality of first reference planes from the three-dimensional modeling image above. Information on two reference axes and a plurality of second reference planes may be formed.

프로세서(130)는, 도 3의 (a)에 도시한 바와 같이, 3차원 설계 이미지로부터 4개의 모서리 꼭지점을 나타내는 4개의 특징점의 좌표를 추출할 수 있다. 일 실시예에 따르면, 프로세서(130)는, 3차원 모델링 이미지의 4개의 모서리를 4개의 특징점 P1, P2, P3, P4의 좌표로 추출할 수 있지만, 이에 한정되지 않는다.As shown in (a) of FIG. 3 , the processor 130 may extract coordinates of four feature points indicating four corner vertices from the three-dimensional design image. According to an embodiment, the processor 130 may extract four corners of the 3D modeling image as coordinates of four feature points P1, P2, P3, and P4, but is not limited thereto.

또한, 프로세서(130)는, 도 3의 (b)에 도시한 바와 같이, 추출된 4개의 특징점(P1, P2, P3, P4) 상호간의 거리를 산출할 수 있다. 일 실시예에 따르면, 프로세서(130)는, P1과 P2 사이의 거리(L1), P2와 P3 사이의 거리(L2), P3와 P4 사이의 거리(L3), P4와 P1 사이의 거리(L4)를 각각 산출할 수 있다.Also, as shown in FIG. 3B , the processor 130 may calculate a distance between the four extracted feature points P1 , P2 , P3 , and P4 . According to an embodiment, the processor 130 is configured to: a distance L1 between P1 and P2, a distance L2 between P2 and P3, a distance L3 between P3 and P4, and a distance L4 between P4 and P1 ) can be calculated individually.

프로세서(130)는, 도 3의 (c)에 도시한 바와 같이, 4개의 특징점 상호간의 거리 중 최대 길이값을 갖는 특징점 2개를 제2 기준점으로 추출할 수 있다. 일 실시예에 따르면, 프로세서(130)는, L1, L2, L3, L4 중 최대 길이값(L-max)을 갖는 L1의 특징점 P1과 P2를 제2 기준점(R_Pt1, R_Pt2)으로 추출할 수 있다.As shown in (c) of FIG. 3 , the processor 130 may extract two feature points having a maximum length value among the distances between the four feature points as the second reference point. According to an embodiment, the processor 130 may extract the feature points P1 and P2 of L1 having the maximum length value (L-max) among L1, L2, L3, and L4 as the second reference points R_Pt1 and R_Pt2. .

또한, 프로세서(130)는, 도 3의 (d)에 도시한 바와 같이, 제2 기준점(R_Pt1, R_Pt2)을 직선으로 연결하여 제2 기준축을 설정할 수 있다. 일 실시예에 따르면, 프로세서(130)는, 제2 기준점인 R_Pt1과 R_Pt2를 직선으로 연결하여 제2 기준축인 R_Ax를 설정할 수 있다.Also, as shown in FIG. 3D , the processor 130 may set the second reference axis by connecting the second reference points R_Pt1 and R_Pt2 with a straight line. According to an embodiment, the processor 130 may set the second reference axis R_Ax by connecting R_Pt1 and R_Pt2, which are the second reference points, in a straight line.

프로세서(130)는, 도 3의 (e) 및 (f)에 도시한 바와 같이, 4개의 특징점(P1, P2, P3, P4) 중 높이가 가장 높은 특징점과 제2 기준축을 지나는 평면을 다수의 제2 기준면 중 제2-1 기준면으로 설정할 수 있다. 일 실시예에 따르면, 프로세서(130)는, 4개의 특징점 P1, P2, P3, P4 중 높이가 가장 높은 특징점(R_Pt_zmax)인 P4와 제2 기준축 R_Ax을 모두 지나는 평면을 제2-1 기준면(R_PL_xy)으로 설정할 수 있다.The processor 130, as shown in (e) and (f) of Figure 3, the four feature points (P1, P2, P3, P4), the height of the highest feature point and a plurality of planes passing through the second reference axis It may be set as the 2-1 reference plane among the second reference planes. According to an embodiment, the processor 130 is configured to move a plane passing both P4, which is the highest feature point (R_Pt_zmax) among the four feature points P1, P2, P3, and P4, and the second reference axis R_Ax to the 2-1 reference plane ( R_PL_xy) can be set.

또한, 프로세서(130)는, 도 3의 (g)에 도시한 바와 같이, 제2 기준축(R_Ax)을 포함하면서 제2-1 기준면(R_PL_xy)과 수직으로 교차하는 제2-2 기준면(R_PL_zx)을 설정할 수 있다. 일 실시예에 따르면, 프로세서(130)는, 제2 기준축인 R_Ax를 포함하면서 제2-1 기준면인 R_PL_xy와 수직으로 교차하는 면을 제2-2 기준면인 R_PL_zx로 설정할 수 있다.Also, as shown in (g) of FIG. 3 , the processor 130 includes a second reference axis R_Ax and a second-second reference plane R_PL_zx that vertically intersects with the second-first reference plane R_PL_xy. ) can be set. According to an embodiment, the processor 130 may set a plane that includes R_Ax as the second reference axis and perpendicularly intersects with R_PL_xy as the 2-1 reference plane as R_PL_zx as the 2-2 reference plane.

프로세서(130)는, 도 3의 (h)에 도시한 바와 같이, 제2-1 및 제2-2 기준면(R_PL_xy, R_PL_zx)과 상호 직교하며, 2개의 제2 기준점(R_Pt1, R_Pt2) 중 어느 하나의 제2 기준점(R_Pt1)을 지나는 제2-3 기준면(R_PL_yz)을 설정할 수 있다. 일 실시예에 따르면, 프로세서(130)는, 제2-1 및 제2-2 기준면인 R_PL_xy 및 R_PL_zx와 상호 직교하며, 2개의 제2 기준점(R_Pt1 및 R_Pt2) 중 어느 하나의 제2 기준점인 R_Pt1을 지나는 평면을 제2-3 기준면인 R_PL_yz로 설정할 수 있다.As shown in (h) of FIG. 3 , the processor 130 is orthogonal to the 2-1 and 2-2 reference planes R_PL_xy and R_PL_zx, and any one of the two second reference points R_Pt1 and R_Pt2 A 2-3 th reference plane R_PL_yz passing through one second reference point R_Pt1 may be set. According to an embodiment, the processor 130 is orthogonal to R_PL_xy and R_PL_zx, which are the 2-1 and 2-2 reference planes, and R_Pt1, which is a second reference point of any one of the two second reference points R_Pt1 and R_Pt2. A plane passing through may be set as R_PL_yz, which is a 2-3 reference plane.

도 4a 내지 도 4d는 본 발명의 실시예에 따른 오차값 생성 알고리즘을 보이는 예시도이다.4A to 4D are exemplary views showing an error value generating algorithm according to an embodiment of the present invention.

도 4a 내지 도 4d에 도시한 바와 같이, 프로세서(130)는, 높이값 차이 및 픽셀수를 이용하여 오차값을 생성할 수 있다.4A to 4D , the processor 130 may generate an error value using the height difference and the number of pixels.

프로세서(130)는, 도 4a에 도시한 바와 같이, 설정된 제1 및 제2 기준축을 서로 일치시킬 수 있다. 일 실시예에 따르면, 프로세서(130)는, 3차원 모델링 이미지에서 설정된 제1 기준축(R_Ax) 및 3차원 설계 이미지에서 설정된 제2 기준축(R_Ax)을 서로 일치시킬 수 있다. 또한, 프로세서(130)는, 제1-1 내지 제1-3 기준면과 제2-1 내지 제2-3 기준면을 일치시켜서 3차원 모델링 이미지와 3차원 설계 이미지를 매칭시킬 수 있다. 일 실시예에 따르면, 프로세서(130)는, 3차원 모델링 이미지에서 설정된 제1-1 내지 제1-3 기준면(R_PL_xy, R_PL_zx, R_PL_yz)과 3차원 설계 이미지에서 설정된 제2-1 내지 제2-3 기준면(R_PL_xy, R_PL_zx, R_PL_yz)을 일치시켜서 노란색으로 표시된 3차원 모델링 이미지와 파란색으로 표시된 3차원 설계 이미지를 매칭시킬 수 있다.The processor 130 may match the set first and second reference axes with each other, as shown in FIG. 4A . According to an embodiment, the processor 130 may match the first reference axis R_Ax set in the 3D modeling image and the second reference axis R_Ax set in the 3D design image with each other. Also, the processor 130 may match the 3D modeling image and the 3D design image by matching the 1-1 to 1-3 reference planes with the 2-1 to 2-3 reference planes. According to an embodiment, the processor 130 is configured to configure the 1-1 to 1-3 reference planes R_PL_xy, R_PL_zx, and R_PL_yz set in the 3D modeling image and the 2-1 to 2-th reference planes set in the 3D design image. By matching the three reference planes (R_PL_xy, R_PL_zx, R_PL_yz), the 3D modeling image shown in yellow and the 3D design image shown in blue can be matched.

프로세서(130)는, 도 4b에 도시한 바와 같이, 제1-2 및 제2-2 기준면을 일 좌표축을 기준으로 측정점의 거리로 이격하여 다수의 비교 평면 중 제1 비교 평면을 형성할 수 있고, 제1 비교 평면에 제1 및 제2 기준축을 투영시킬 수 있다. 일 실시예에 따르면, 프로세서(130)는, 제1-2 및 제2-2 기준면인 R_PL_zx를 일 좌표축(예를 들어, y축)을 기준으로 임의의 측정점까지의 거리인 y만큼 평행 이동시켜서 제1 비교 평면인 C_PL_zx를 형성할 수 있고, 제1 비교 평면(C_PL_zx)에 제1 및 제2 기준축인 R_Ax(L_max)를 투영시킬 수 있다.The processor 130 may form a first comparison plane among a plurality of comparison planes by separating the 1-2 and 2-2 reference planes by a distance of a measurement point based on one coordinate axis, as shown in FIG. 4B , , the first and second reference axes may be projected onto the first comparison plane. According to an embodiment, the processor 130 parallelly moves R_PL_zx, which is the first-second and second-second reference planes, by y, which is the distance to an arbitrary measurement point with respect to one coordinate axis (eg, the y-axis). A first comparison plane C_PL_zx may be formed, and R_Ax(L_max), which are first and second reference axes, may be projected onto the first comparison plane C_PL_zx.

또한, 프로세서(130)는, 도 4c에 도시한 바와 같이, 제1-3 및 제2-3 기준면을 타 좌표축을 기준으로 측정점의 거리로 이격하여 다수의 비교 평면 중 제2 비교 평면을 형성할 수 있다. 일 실시예에 따르면, 프로세서(130)는, 제1-3 및 제2-3 기준면인 R_PL_yz를 타 좌표축(예를 들어, x축)을 기준으로 임의의 측정점까지의 거리인 x만큼 평행 이동시켜서 제2 비교 평면인 C_PL_yz를 형성할 수 있다.In addition, as shown in FIG. 4C , the processor 130 is configured to form a second comparison plane among a plurality of comparison planes by separating the 1-3 and 2-3 reference planes by the distance of the measurement points based on the other coordinate axes. can According to an embodiment, the processor 130 parallelly moves R_PL_yz, which is the 1-3 th and 2-3 th reference planes, by x, which is the distance to an arbitrary measurement point with respect to another coordinate axis (eg, the x-axis). A second comparison plane C_PL_yz may be formed.

도 4d에 도시한 바와 같이, 프로세서(130)는, 제1 비교 평면을 기준으로 단면도를 추출하고, 추출된 단면도에서 제2 비교 평면을 기준으로 3차원 모델링 이미지와 3차원 설계 이미지의 높이값 차이를 산출할 수 있다. 일 실시예에 따르면, 프로세서(130)는, 제1 비교 평면인 C_PL_zx을 기준으로 단면도를 추출할 수 있고, 추출된 단면도에서는 직선 형태로 나타나는 제2 비교 평면인 C_PL_yz을 기준으로 3차원 모델링 이미지와 3차원 설계 이미지의 높이값 차이인 b를 산출할 수 있다. 예를 들어, 높이값 차이인 b는 이미지의 픽셀수를 나타낼 수 있다.As shown in FIG. 4D , the processor 130 extracts a cross-sectional view based on the first comparison plane, and the difference in height between the three-dimensional modeling image and the three-dimensional design image based on the second comparison plane in the extracted cross-sectional view. can be calculated. According to an embodiment, the processor 130 may extract a cross-sectional view based on the first comparison plane C_PL_zx, and from the extracted cross-sectional view, the 3D modeling image and the second comparison plane C_PL_yz appearing in a straight line form It is possible to calculate b, which is the difference between the height values of the three-dimensional design image. For example, b, which is a height difference, may indicate the number of pixels in an image.

또한, 프로세서(130)는, 추출된 단면도에서 제1 및 제2 기준축을 기준으로 측정점의 일 좌표값에 해당하는 이미지 픽셀수를 산출할 수 있다. 일 실시예에 따르면, 프로세서(130)는, 추출된 단면도에서 제1 및 제2 기준축인 L_max를 기준으로 측정점의 일 좌표값(예를 들어, y좌표)에 해당하는 이미지 픽셀수를 나타내는 a를 산출할 수 있다.Also, the processor 130 may calculate the number of image pixels corresponding to one coordinate value of the measurement point based on the first and second reference axes in the extracted cross-sectional view. According to an embodiment, the processor 130 indicates the number of image pixels corresponding to one coordinate value (eg, y-coordinate) of the measurement point based on L_max, which is the first and second reference axes, in the extracted cross-sectional view. can be calculated.

프로세서(130)는, 산출된 이미지 픽셀수와 일 좌표값에 해당하는 물리적 길이를 매칭하여 환산 계수를 산출할 수 있다. 일 실시예에 따르면, 프로세서(130)는, 산출된 이미지 픽셀수 a와 일 좌표값(예를 들어, y좌표)에 해당하는 물리적 길이인 y를 매칭하여 환산 계수인 k를 산출할 수 있다. 예를 들어, 환산 계수 k는 y를 a로 나누어서 산출할 수 있다.The processor 130 may calculate a conversion coefficient by matching the calculated number of image pixels and a physical length corresponding to one coordinate value. According to an embodiment, the processor 130 may calculate a conversion coefficient k by matching the calculated number of image pixels a and a physical length y corresponding to one coordinate value (eg, y-coordinate). For example, the conversion coefficient k can be calculated by dividing y by a.

또한, 프로세서(130)는, 산출된 높이값 차이 및 환산 계수를 이용하여 오차값을 산출할 수 있다. 일 실시예에 따르면, 프로세서(130)는, 산출된 높이값 차이인 b에 산출된 환산 계수인 k를 곱하여 실제 오차값인 Δz를 산출할 수 있다.Also, the processor 130 may calculate an error value by using the calculated height difference and the conversion coefficient. According to an embodiment, the processor 130 may calculate the actual error value Δz by multiplying the calculated height difference b by the calculated conversion coefficient k.

도 5는 본 발명의 실시예에 따른 곡가공 검사 방법의 절차를 보이는 흐름도이다. 도 5의 흐름도에서 프로세스 단계들, 방법 단계들, 알고리즘들 등이 순차적인 순서로 설명되었지만, 그러한 프로세스들, 방법들 및 알고리즘들은 임의의 적합한 순서로 작동하도록 구성될 수 있다. 다시 말하면, 본 발명의 다양한 실시예들에서 설명되는 프로세스들, 방법들 및 알고리즘들의 단계들이 본 발명에서 기술된 순서로 수행될 필요는 없다. 또한, 일부 단계들이 비동시적으로 수행되는 것으로서 설명되더라도, 다른 실시예에서는 이러한 일부 단계들이 동시에 수행될 수 있다. 또한, 도면에서의 묘사에 의한 프로세스의 예시는 예시된 프로세스가 그에 대한 다른 변화들 및 수정들을 제외하는 것을 의미하지 않으며, 예시된 프로세스 또는 그의 단계들 중 임의의 것이 본 발명의 다양한 실시예들 중 하나 이상에 필수적임을 의미하지 않으며, 예시된 프로세스가 바람직하다는 것을 의미하지 않는다.5 is a flowchart showing a procedure of a curved processing inspection method according to an embodiment of the present invention. Although process steps, method steps, algorithms, etc. are described in a sequential order in the flowchart of FIG. 5 , such processes, methods, and algorithms may be configured to operate in any suitable order. In other words, the steps of the processes, methods, and algorithms described in various embodiments of the invention need not be performed in the order described herein. Also, although some steps are described as being performed asynchronously, in other embodiments some of these steps may be performed concurrently. Further, the exemplification of a process by description in the drawings does not imply that the exemplified process excludes other changes and modifications thereto, and that the illustrated process or any of its steps may be used in any of the various embodiments of the present invention. It is not meant to be essential to one or more, nor does it imply that the illustrated process is preferred.

도 5에 도시한 바와 같이, 단계(S510)에서, 곡가공 대상물의 형상을 계측하여 3차원 모델링 이미지가 형성된다. 예를 들어, 도 1 내지 도 5를 참조하면, 모델링 서버(110)는, 곡가공 대상물(150)의 다양한 방향에서의 이미지를 계측하여 곡가공 대상물의 3차원 모델링 이미지를 형성할 수 있다. 일 실시예에 따르면, 모델링 서버(110)는, 곡가공 대상물(150)의 외형을 촬영하기 위한 다수의 카메라를 포함할 수 있다.As shown in FIG. 5 , in step S510 , a three-dimensional modeling image is formed by measuring the shape of the object to be processed. For example, referring to FIGS. 1 to 5 , the modeling server 110 may measure images in various directions of the curved object 150 to form a three-dimensional modeling image of the curved object 150 . According to an embodiment, the modeling server 110 may include a plurality of cameras for photographing the appearance of the object 150 to be processed.

단계(S520)에서, 곡가공 대상물의 3차원 설계 이미지가 저장된다. 예를 들어, 도 1 내지 도 5를 참조하면, 설계 서버(120)는, 곡가공 대상물(150)을 형성하기 위한 3차원 모델링 이미지를 저장할 수 있다. 일 실시예에 따르면, 설계 서버(120)는, 네트워크를 통하여 선주사, 선박 설계 회사 등으로부터 곡가공 대상물(150)의 3차원 설계 이미지를 수신하여 저장할 수 있다.In step S520, a three-dimensional design image of the object to be processed is stored. For example, referring to FIGS. 1 to 5 , the design server 120 may store a 3D modeling image for forming the curved object 150 . According to an embodiment, the design server 120 may receive and store the 3D design image of the curved object 150 from a shipowner, a ship design company, or the like through a network.

단계(S530)에서, 3차원 모델링 이미지로부터 제1 기준점, 제1 기준축 및 다수의 제1 기준면에 대한 정보가 형성된다. 예를 들어, 도 1 내지 도 5를 참조하면, 프로세서(130)는, 모델링 서버(110)로부터 수신한 3차원 모델링 이미지로부터 제1 기준점, 제1 기준축 및 다수의 제1 기준면에 대한 정보를 형성할 수 있다.In step S530, information about a first reference point, a first reference axis, and a plurality of first reference planes is formed from the three-dimensional modeling image. For example, referring to FIGS. 1 to 5 , the processor 130 receives information about a first reference point, a first reference axis, and a plurality of first reference planes from the 3D modeling image received from the modeling server 110 . can be formed

단계(S540)에서, 3차원 설계 이미지로부터 제2 기준점, 제2 기준축 및 다수의 제2 기준면에 대한 정보가 형성된다. 예를 들어, 도 1 내지 도 5를 참조하면, 프로세서(130)는, 설계 서버(120)로부터 수신한 3차원 설계 이미지로부터 제2 기준점, 제2 기준축 및 다수의 제2 기준면에 대한 정보를 형성할 수 있다.In step S540 , information on a second reference point, a second reference axis, and a plurality of second reference planes is formed from the three-dimensional design image. For example, referring to FIGS. 1 to 5 , the processor 130 receives information about a second reference point, a second reference axis, and a plurality of second reference planes from the 3D design image received from the design server 120 . can be formed

단계(S550)에서, 다수의 제1 기준면 및 다수의 제2 기준면을 이용하여 3차원 모델링 이미지 및 3차원 설계 이미지의 매칭이 수행된다. 예를 들어, 도 1 내지 도 5를 참조하면, 프로세서(130)는, 다수의 제1 기준면 및 다수의 제2 기준면을 이용하여 3차원 모델링 이미지 및 3차원 설계 이미지의 매칭을 수행할 수 있다.In step S550 , the 3D modeling image and the 3D design image are matched using the plurality of first reference planes and the plurality of second reference planes. For example, referring to FIGS. 1 to 5 , the processor 130 may match a 3D modeling image and a 3D design image using a plurality of first reference planes and a plurality of second reference planes.

단계(S560)에서, 측정점에 대한 다수의 비교 평면이 설정된다. 예를 들어, 도 1 내지 도 5를 참조하면, 프로세서(130)는, 임의의 측정점에 대한 다수의 비교 평면을 설정할 수 있다. 일 실시예에 따르면, 프로세서(130)는, 단계 S530에서 형성된 다수의 제1 기준면 및 단계 S540에서 형성된 다수의 제2 기준면을 임의의 측정점까지 평행 이동하여 다수의 비교 평면을 설정할 수 있다.In step S560, a plurality of comparison planes for the measurement point are set. For example, referring to FIGS. 1 to 5 , the processor 130 may set a plurality of comparison planes for an arbitrary measurement point. According to an embodiment, the processor 130 may set a plurality of comparison planes by moving the plurality of first reference planes formed in step S530 and the plurality of second reference planes formed in step S540 in parallel to an arbitrary measurement point.

단계(S570)에서, 다수의 비교 평면을 이용하여 3차원 모델링 이미지와 3차원 설계 이미지 사이의 높이값 차이 및 픽셀수가 산출된다. 예를 들어, 도 1 내지 도 5를 참조하면, 프로세서(130)는, 단계 S560에서 설정된 다수의 비교 평면을 이용하여 3차원 모델링 이미지와 3차원 설계 이미지 사이의 높이값 차이 및 픽셀수를 산출할 수 있다.In step S570, the difference in height values and the number of pixels between the 3D modeling image and the 3D design image are calculated using a plurality of comparison planes. For example, referring to FIGS. 1 to 5 , the processor 130 calculates the height difference and the number of pixels between the 3D modeling image and the 3D design image using the plurality of comparison planes set in step S560. can

단계(S580)에서, 높이값 차이 및 픽셀수를 이용하여 오차값이 생성된다. 예를 들어, 도 1 내지 도 5를 참조하면, 프로세서(130)는, 단계 S570에서 산출된 3차원 모델링 이미지와 3차원 설계 이미지 사이의 높이값 차이 및 픽셀수를 이용하여 오차값을 생성할 수 있다. 일 실시예에 따르면, 프로세서(130)는, S560 내지 S580의 절차를 반복하여 측정점을 변경하면서 오차값을 생성할 수 있고, 생성된 오차값을 이용하여 곡가공 완성도를 평가할 수 있다.In step S580, an error value is generated using the height difference and the number of pixels. For example, referring to FIGS. 1 to 5 , the processor 130 may generate an error value using the difference in height between the 3D modeling image and the 3D design image calculated in step S570 and the number of pixels. have. According to an embodiment, the processor 130 may generate an error value while changing the measurement point by repeating the procedures of S560 to S580, and may evaluate the degree of completion of curved processing using the generated error value.

이상, 본 발명을 도면에 도시된 실시예를 참조하여 설명하였다. 그러나, 본 발명은 이에 한정되지 않고 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에 의해 본 발명과 균등한 범위에 속하는 다양한 변형예 또는 다른 실시예가 가능하다. 따라서, 본 발명의 진정한 보호범위는 이어지는 특허청구범위에 의해 정해져야 할 것이다.In the above, the present invention has been described with reference to the embodiments shown in the drawings. However, the present invention is not limited thereto, and various modifications or other embodiments within the scope equivalent to the present invention are possible by those of ordinary skill in the art to which the present invention pertains. Accordingly, the true scope of protection of the present invention should be defined by the following claims.

100: 곡가공 검사 시스템 110: 모델링 서버
120: 설계 서버 130: 프로세서
140: 데이터베이스 150: 곡가공 대상물
160: 가열 수단 170: 가스 공급부
180: 크레인 190: 지지 수단100: grain processing inspection system 110: modeling server
120: design server 130: processor
140: database 150: grain processing object
160: heating means 170: gas supply unit
180: crane 190: support means

Claims

A grain processing inspection system comprising:
a modeling server that measures the shape of a curved object to form a three-dimensional modeling image;
a design server for storing a three-dimensional design image of the object to be processed; and
Information on a first reference point, a first reference axis, and a plurality of first reference planes is formed from the three-dimensional modeling image, and information on a second reference point, a second reference axis, and a plurality of second reference planes from the three-dimensional design image forming, matching the three-dimensional modeling image and the three-dimensional design image using the plurality of first reference planes and the plurality of second reference planes, setting a plurality of comparison planes for measurement points, and the plurality of A processor for calculating the height value difference and the number of pixels between the three-dimensional modeling image and the three-dimensional design image using the comparison plane of , and generating an error value using the height value difference and the number of pixels,
grain processing inspection system.

The method of claim 1,
The processor is
Extracting the coordinates of four feature points representing four corner vertices from the three-dimensional modeling image, calculating the distance between the four feature points, and selecting two feature points having a maximum length value among the distances between the four feature points. Extracted as a first reference point, connecting the first reference point with a straight line to set it as the first reference axis, among the four characteristic points, a characteristic point having a high height among two characteristic points that do not pass the first reference axis and the first reference point A plane passing through the axis is set as a 1-1 reference plane among the plurality of first reference planes, and a 1-2 reference plane including the first reference axis and perpendicularly intersecting the 1-1 reference plane is set, and the first -1 and 1-2 reference planes are mutually orthogonal to each other and setting a 1-3 reference plane passing through the first reference point of any one of the two first reference points,
grain processing inspection system.

3. The method of claim 2,
The processor is
Extracting the coordinates of four feature points representing four corner vertices from the three-dimensional design image, calculating the distance between the four feature points, and selecting two feature points having a maximum length value among the distances between the four feature points Extracted as a second reference point, connecting the second reference point with a straight line to set the second reference axis, among the four characteristic points, the highest characteristic point among the two characteristic points that do not pass the second reference axis and the second A plane passing through the reference axis is set as a 2-1 reference plane among the plurality of second reference planes, and a 2-2 reference plane including the second reference axis and perpendicularly intersecting the 2-1 reference plane is set, and the second reference plane is set as the second reference plane. Setting a 2-3rd reference plane that is mutually orthogonal to the 2-1 and 2-2 reference planes and passes the second reference point of any one of the two second reference points,
grain processing inspection system.

4. The method of claim 3,
The processor is
Matching the 3D modeling image and the 3D design image by matching the first and second reference axes, and matching the 1-1 to 1-3 reference planes with the 2-1 to 2-3 reference planes to form a first comparison plane among the plurality of comparison planes by separating the 1-2 and 2-2 reference planes by a distance of the measurement point based on one coordinate axis, and the first and second reference planes on the first comparison plane A second reference axis is projected, and the 1-3 and 2-3 reference planes are spaced apart from each other by a distance of the measurement point with respect to the other coordinate axes to form a second comparison plane among the plurality of comparison planes, and the first comparison plane extracts a cross-sectional view based on , calculates a height difference between the three-dimensional modeling image and the three-dimensional design image based on the second comparison plane in the cross-section, and the first and second reference axes in the cross-sectional view calculates the number of pixels corresponding to one coordinate value of the measurement point, matches the number of pixels and the physical length corresponding to the one coordinate value to calculate a conversion coefficient, and uses the height difference and the conversion coefficient to calculate the to calculate the error value,
grain processing inspection system.

A grain processing inspection method comprising:
measuring the shape of the curved object to form a three-dimensional modeling image;
storing a three-dimensional design image of the curved object;
forming information on a first reference point, a first reference axis, and a plurality of first reference planes from the three-dimensional modeling image;
forming information on a second reference point, a second reference axis, and a plurality of second reference planes from the three-dimensional design image;
matching the 3D modeling image and the 3D design image using the plurality of first reference planes and the plurality of second reference planes;
establishing a plurality of comparison planes for the measurement points;
calculating a difference in height values and the number of pixels between the three-dimensional modeling image and the three-dimensional design image by using the plurality of comparison planes; and
generating an error value using the height difference and the number of pixels;
grain processing inspection method.

6. The method of claim 5,
The step of forming information about the first reference point, the first reference axis, and the plurality of first reference planes from the three-dimensional modeling image includes:
extracting coordinates of four feature points representing four corner vertices from the three-dimensional modeling image;
calculating a distance between the four feature points;
extracting two feature points having a maximum length value among the distances between the four feature points as the first reference point;
setting the first reference point as the first reference axis by connecting the first reference point with a straight line;
setting a high-height feature point among two feature points that do not pass the first reference axis among the four feature points and a plane passing through the first reference axis as a 1-1 reference plane among the plurality of first reference planes;
setting a 1-2 reference plane that includes the first reference axis and perpendicularly intersects the 1-1 reference plane; and
and setting a 1-3 th reference plane that is orthogonal to the 1-1 and 1-2 reference planes and passes through a first reference point of any one of the two first reference points,
grain processing inspection method.

7. The method of claim 6,
The step of forming information about the second reference point, the second reference axis, and the plurality of second reference planes from the three-dimensional design image includes:
extracting coordinates of four feature points representing four corner vertices from the three-dimensional design image;
calculating a distance between the four feature points;
extracting two feature points having a maximum length value among the distances between the four feature points as the second reference point;
setting the second reference point as the second reference axis by connecting the second reference point with a straight line;
setting a feature point having the highest height among two feature points that do not pass the second reference axis among the four feature points and a plane passing through the second reference axis as a 2-1 reference plane among the plurality of second reference planes;
setting a 2-2 reference plane that includes the second reference axis and perpendicularly intersects the 2-1 reference plane; and
Comprising the step of setting a 2-3th reference plane that is mutually orthogonal to the 2-1 and 2-2 reference planes and passes through a second reference point of any one of the two second reference points,
grain processing inspection method.

8. The method of claim 7,
The step of generating an error value using the height difference and the number of pixels comprises:
matching the first and second reference axes;
matching the three-dimensional modeling image and the three-dimensional design image by matching the 1-1 to 1-3 reference planes with the 2-1 to 2-3 reference planes;
forming a first comparison plane among the plurality of comparison planes by separating the 1-2 and 2-2 reference planes by a distance of the measurement point based on one coordinate axis;
projecting the first and second reference axes onto the first comparison plane;
forming a second comparison plane among the plurality of comparison planes by separating the 1-3 and 2-3 reference planes by a distance from the measurement point with respect to another coordinate axis;
extracting a cross-sectional view based on the first comparison plane;
calculating a difference between the height values of the 3D modeling image and the 3D design image based on the second comparison plane in the cross-sectional view;
calculating the number of pixels corresponding to one coordinate value of the measurement point based on the first and second reference axes in the cross-sectional view;
calculating a conversion coefficient by matching the number of pixels and a physical length corresponding to the one coordinate value; and
Comprising the step of calculating the error value using the height difference and the conversion coefficient,
grain processing inspection method.

A computer program for executing the grain processing inspection method according to any one of claims 5 to 8 on a computer is recorded, a computer readable recording medium.