KR20230082275A - Apparatus for real-time measurement of three-dimensional distribution of particles, and Apparatus for real-time analysis using the same - Google Patents
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- 239000002245 particle Substances 0.000 title claims abstract description 139
- 238000005259 measurement Methods 0.000 title claims abstract description 93
- 238000010223 real-time analysis Methods 0.000 title claims description 6
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 claims abstract description 4
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 16
- 238000012790 confirmation Methods 0.000 claims description 14
- 238000009434 installation Methods 0.000 claims description 14
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 claims description 4
- 238000000034 method Methods 0.000 description 11
- 238000003491 array Methods 0.000 description 5
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 4
- 239000010419 fine particle Substances 0.000 description 3
- 229920006395 saturated elastomer Polymers 0.000 description 3
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 2
- 230000003749 cleanliness Effects 0.000 description 2
- 239000000356 contaminant Substances 0.000 description 2
- 230000014509 gene expression Effects 0.000 description 2
- 230000009466 transformation Effects 0.000 description 2
- 238000000844 transformation Methods 0.000 description 2
- 241001270131 Agaricus moelleri Species 0.000 description 1
- 241001274197 Scatophagus argus Species 0.000 description 1
- 230000008033 biological extinction Effects 0.000 description 1
- 239000006227 byproduct Substances 0.000 description 1
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- 238000002834 transmittance Methods 0.000 description 1
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N15/00—Investigating characteristics of particles; Investigating permeability, pore-volume or surface-area of porous materials
- G01N15/02—Investigating particle size or size distribution
- G01N15/0205—Investigating particle size or size distribution by optical means
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N15/00—Investigating characteristics of particles; Investigating permeability, pore-volume or surface-area of porous materials
- G01N15/10—Investigating individual particles
- G01N15/14—Optical investigation techniques, e.g. flow cytometry
- G01N15/1434—Optical arrangements
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N15/00—Investigating characteristics of particles; Investigating permeability, pore-volume or surface-area of porous materials
- G01N15/10—Investigating individual particles
- G01N15/14—Optical investigation techniques, e.g. flow cytometry
- G01N15/1434—Optical arrangements
- G01N2015/144—Imaging characterised by its optical setup
- G01N2015/1445—Three-dimensional imaging, imaging in different image planes, e.g. under different angles or at different depths, e.g. by a relative motion of sample and detector, for instance by tomography
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- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Dispersion Chemistry (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
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Abstract
본 발명은 입자의 3차원 분포 실시간 측정 장치에 관한 것으로서, 내부 공간을 갖는 챔버, 및 복수 개의 입자측정모듈을 포함하여 이루어진다. 입자측정모듈은 측정용 광을 조사(irradiation)하는 발광부, 및 측정용 광을 수신하는 수광부를 포함하여 이루어지며, 복수 개의 입자측정모듈은 일 방향으로 나란하게 배치된다. 또한, 입자측정모듈 어레이는 서로 직교하는 x, y, z축 방향 각각에 대하여, 그 방향으로 나란하게 배치될 수도 있다. 측정 대상 입자가 존재하는 챔버에 적어도 일 방향으로 나란하게 입자측정모듈 어레이를 배치하므로, 입자 측정이 가능한 영역이 크게 확장된다. 각 입자측정모듈 어레이가 배치되는 방향은 서로 직교하는 2축 또는 3축 등으로 다양하게 구성될 수 있으므로, 입자의 분포를 3차원적으로 파악할 수도 있다. 또한, 수광부가 측정용 광을 슬릿을 통해 적절히 제한하여 수신함에 따라, 고감도 광 디텍터의 포화를 방지하여 입자 측정의 정확도를 개선할 수 있다.The present invention relates to an apparatus for measuring a three-dimensional distribution of particles in real time, and includes a chamber having an internal space and a plurality of particle measurement modules. The particle measuring module includes a light emitting unit for irradiating light for measurement and a light receiving unit for receiving light for measurement, and a plurality of particle measurement modules are arranged side by side in one direction. In addition, the particle measurement module array may be arranged side by side with respect to each of the x, y, and z-axis directions orthogonal to each other. Since the array of particle measurement modules is disposed parallel to at least one direction in the chamber in which the particles to be measured are present, the region in which particles can be measured is greatly expanded. Since the direction in which each particle measurement module array is disposed may be configured in various ways such as two axes or three axes orthogonal to each other, the distribution of particles may be grasped three-dimensionally. In addition, since the light receiving unit appropriately restricts and receives measurement light through the slit, saturation of the high-sensitivity photodetector is prevented, thereby improving particle measurement accuracy.
Description
본 발명은 입자의 3차원 분포를 실시간으로 측정하고 분석하는 장치에 관한 것으로서, 더욱 상세하게는 측정 대상 입자가 존재하는 챔버 또는 공간에 광의 송수신이 가능한 다수의 입자측정모듈을 배치하여, 입자의 개수와 3차원 분포 등 다양한 입자 존재 상태를 실시간 측정할 수 있도록 한다.The present invention relates to a device for measuring and analyzing a three-dimensional distribution of particles in real time, and more particularly, by arranging a plurality of particle measuring modules capable of transmitting and receiving light in a chamber or space where particles to be measured are present, It enables real-time measurement of various particle existence states such as and 3D distribution.
미세 입자의 측정이 필요한 다양한 분야들이 있다. 예를 들어, 반도체나 LCD를 제작하는 나노 수준의 고도 정밀 공정은 공정 챔버 내에서 이루어지는데, 미세한 오염 입자들은 공정이 수행되는 챔버 내부의 청정도를 떨어뜨릴 뿐 아니라, 비슷한 크기의 선폭을 갖는 패턴 상에 달라붙어 패턴을 손상시킬 수 있다.There are various fields in which the measurement of fine particles is required. For example, a nano-level high-precision process for manufacturing semiconductors or LCDs is performed in a process chamber, and fine contaminant particles not only reduce the cleanliness of the chamber where the process is performed, but also form patterns with similar line widths. may stick to it and damage the pattern.
챔버 내부의 청정도 저하 및 패턴 손상은 공정의 수율을 심각하게 저하할 수 있기 때문에 엄격하게 제한된 조건에서 공정이 이루어지고 있으며, 공정의 부산물 또는 설비의 기계적 마모 등에 의해 발생하는 입자에 대한 감시가 필수적이다.Since deterioration in cleanliness and pattern damage in the chamber can seriously reduce the yield of the process, the process is performed under strictly limited conditions, and it is essential to monitor particles generated by by-products of the process or mechanical wear of equipment. am.
챔버 내에서 공정 중 발생하는 오염 입자를 광학적 장치를 이용하여 측정하는 기술이 개시된 바 있으며, 이를 이용하여 실시간으로 설비 내의 특정 챔버에 대한 입자 개수 분포 상태가 측정될 수 있다.A technique for measuring contaminant particles generated during a process in a chamber using an optical device has been disclosed, and the distribution of the number of particles in a specific chamber in a facility can be measured in real time.
이와 관련하여, 대한민국 등록특허 10-1857950호는 플로우 채널로 유입된 입자에 광을 조사하고, 이때 발생되는 산란광과 소멸광의 강도를 이용하여 입자의 크기를 측정하는 장치를 개시하고 있다.In this regard, Korean Patent Registration No. 10-1857950 discloses a device for irradiating light onto particles introduced into a flow channel and measuring the size of the particles using the intensities of scattered light and evanescent light generated at this time.
이 장치는 플랫 탑(Flat-top) 모듈을 이용하여 입사광을 r축 방향으로 균일하게 하여, 정확한 입자 크기 측정이 가능하게 한다.This device uses a flat-top module to make incident light uniform in the r-axis direction, enabling accurate particle size measurement.
그러나, 상기 등록특허 10-1857950호와 같은 종래의 입자 측정 장치는 대부분 레이저 광을 한 지점에 집속시키므로, 그 지점에 대해서만 입자를 측정할 수 있어서, 측정 대상 입자가 존재하는 공간에 대한 폭넓은 입자 분포 측정이 어렵다는 문제가 있다. 특히, 종래의 입자 측정 장치는 3차원적인 입자 분포 측정에 적용하기 어렵다.However, since most of the conventional particle measuring devices such as those in Patent Registration No. 10-1857950 focus laser light on one point, particles can be measured only at that point, and thus a wide range of particles can be measured in the space where the particles to be measured exist. There is a problem with measuring the distribution. In particular, it is difficult to apply the conventional particle measuring device to 3-dimensional particle distribution measurement.
또한, 광학적 방식을 이용하여 미세한 입자를 측정하기 위해서는 고감도 광 검출기를 사용해야 하는데, 고감도 광 검출기는 포화 레벨(saturation level)이 낮아, 쉽게 포화되는 중요한 문제가 있다. 그러나, 종래 입자 측정 장치는 이러한 문제를 적절히 해결하지 못하고 있다.In addition, in order to measure fine particles using an optical method, a high-sensitivity photodetector must be used. However, the high-sensitivity photodetector has a low saturation level and is easily saturated. However, conventional particle measuring devices do not adequately solve these problems.
이에 본 발명은 상기와 같은 문제점을 해결하기 위하여 안출된 것으로서, 측정 대상 입자가 존재하는 공간에서 입자 측정이 가능한 영역을 확장시킴과 아울러 해당 공간에 대한 3차원적 입자 분포 등 입자 존재 상태를 더욱 다양하게 파악할 수 있도록 하는, 입자의 3차원 분포 실시간 측정 장치, 및 입자의 3차원 분포 실시간 분석 장치를 제공하는 데 그 목적이 있다.Accordingly, the present invention has been devised to solve the above problems, and expands the area in which particles can be measured in the space where the particles to be measured exist, as well as providing more diverse states of particle existence, such as three-dimensional particle distribution in the space. An object of the present invention is to provide a device for measuring a three-dimensional distribution of particles in real time, and a device for analyzing a three-dimensional distribution of particles in real time.
상기와 같은 목적을 달성하기 위하여, 본 발명에 따른 입자의 3차원 분포 실시간 측정 장치는, 내부 공간을 갖는 챔버; 및 상기 챔버의 내부 공간으로 측정용 광을 조사하고 상기 측정용 광을 수신하는, 복수 개의 입자측정모듈을 포함하여 이루어질 수 있다. 이때, 상기 복수 개의 입자측정모듈은 일 방향으로 나란하게 배치된다.In order to achieve the above object, an apparatus for measuring a three-dimensional distribution of particles in real time according to the present invention includes a chamber having an inner space; and a plurality of particle measuring modules for radiating light for measurement into the inner space of the chamber and receiving the light for measurement. At this time, the plurality of particle measurement modules are arranged side by side in one direction.
본 발명에 따른 입자의 3차원 분포 실시간 측정 장치의 다른 실시예는, n(n은 2 이상의 정수)개의 서로 다른 방향 각각에 대하여, 그 방향으로 나란하게 배치되는 복수 개의 입자측정모듈을 포함하도록 구성될 수 있다.Another embodiment of the real-time measuring device for the three-dimensional distribution of particles according to the present invention is configured to include a plurality of particle measurement modules arranged side by side in n (n is an integer of 2 or more) different directions, respectively, in the respective directions. It can be.
여기서, 상기 n개의 서로 다른 방향은 모두 서로에 대하여 직교하는 방향으로 구성될 수 있다.Here, the n different directions may all be orthogonal to each other.
상기 입자측정모듈은, 상기 측정용 광을 조사(irradiation)하는 발광부; 및 상기 측정용 광을 수신하는 수광부를 포함할 수 있다.The particle measurement module may include a light emitting unit for irradiating the measurement light; and a light receiving unit receiving the light for measurement.
상기 발광부는 상기 챔버의 외벽에 형성된 투명창을 통해 상기 챔버의 내부 공간에 광을 조사하도록 구성될 수 있다.The light emitting unit may be configured to emit light into an inner space of the chamber through a transparent window formed on an outer wall of the chamber.
상기 발광부는 광원; 및 상기 광원에서 발생된 광을 평행광의 형태로 만드는 콜리메이션 렌즈를 포함하여 이루어질 수 있다.The light emitting unit may include a light source; and a collimation lens that converts light generated from the light source into parallel light.
상기 수광부는, 상기 측정용 광의 파워(power)를 저감시키는 슬릿부; 및 상기 슬릿부를 통과한 광을 검출하는 검출부를 포함할 수 있다.The light receiving unit may include a slit unit reducing power of the measurement light; And it may include a detector for detecting the light passing through the slit.
이때, 상기 슬릿부는 상기 검출부의 포화를 방지할 수 있는 정도로 상기 측정용 광의 파워를 저감시킬 수 있다.In this case, the slit unit may reduce the power of the light for measurement to an extent capable of preventing saturation of the detection unit.
상기 슬릿부는 상기 발광부에서 조사된 측정용 광의 일부만을 슬릿을 통해 통과시키도록 구성될 수 있다.The slit part may be configured to pass only a part of light for measurement emitted from the light emitting part through the slit.
이때, 상기 슬릿은 직선 형태를 갖고, 입자의 주요 흐름에 수직 방향으로 형성될 수 있다.At this time, the slit may have a straight shape and be formed in a direction perpendicular to the main flow of particles.
본 발명에 따른 입자의 3차원 분포 실시간 측정 장치는, 상기 발광부와 수광부가 평행하게 배치될 수 있도록 하는 설치상태 확인부를 더 포함할 수 있다.The apparatus for measuring the three-dimensional distribution of particles in real time according to the present invention may further include an installation state confirmation unit that allows the light emitting unit and the light receiving unit to be arranged in parallel.
상기 설치상태 확인부의 일 실시예는, 상기 측정용 광의 일부를 반사시키는 광 분배부; 및 상기 광 분배부에 의해 반사된 광을 검출하는 위치확인부를 포함하여 구성될 수 있다.An embodiment of the installation state confirmation unit may include a light distribution unit that reflects a part of the light for measurement; and a positioning unit detecting the light reflected by the light distribution unit.
상기 설치상태 확인부의 다른 실시예는, 상기 챔버에 상기 발광부 또는 수광부를 체결할 수 있도록 하는 체결부; 및 상기 체결부에 상기 발광부 또는 수광부가 장착된 상태를 감지하는 장착상태 감지부를 포함하여 구성될 수 있다.Another embodiment of the installation state confirmation unit includes a fastening unit for fastening the light emitting unit or the light receiving unit to the chamber; and a mounting state detecting unit for detecting a state in which the light emitting unit or the light receiving unit is mounted in the fastening unit.
본 발명에 따른 입자의 3차원 분포 실시간 분석 장치는, 상기 입자의 3차원 분포 실시간 측정 장치; 및 상기 각 입자측정모듈의 수광부에서 수신된 광을 분석하여, 상기 챔버의 내부 공간에 존재하는 입자의 개수와 3차원 분포 중 하나 이상을 파악하는 입자분포 분석부를 포함하여 이루어진다.The device for real-time analysis of the 3-dimensional distribution of particles according to the present invention includes: a device for measuring the 3-dimensional distribution of the particles in real time; and a particle distribution analysis unit analyzing the light received from the light receiving unit of each of the particle measurement modules to determine at least one of the number and 3D distribution of particles present in the inner space of the chamber.
본 발명에 따른 입자의 3차원 분포 실시간 측정 장치는, 측정 대상 입자가 존재하는 챔버에 적어도 일 방향으로 나란하게 여러 개의 입자측정모듈을 배치하므로, 입자 측정이 가능한 영역이 크게 확장된다.Since the apparatus for measuring the 3D distribution of particles in real time according to the present invention arranges a plurality of particle measurement modules parallel to each other in at least one direction in a chamber in which the particles to be measured exist, the region in which particles can be measured is greatly expanded.
특히, 여러 개의 입자측정모듈이 나란하게 배치되는 방향은 필요에 따라 서로 직교하는 2축 또는 3축 등으로 다양하게 구성될 수 있으므로, 입자의 분포를 3차원적으로 파악할 수도 있다.In particular, since the direction in which several particle measuring modules are arranged side by side can be configured in various ways such as two or three axes orthogonal to each other as needed, the distribution of particles can be grasped three-dimensionally.
또한, 각 입자측정모듈을 구성하는 수광부가 발광부에서 조사된 측정용 광을 슬릿을 통해 적절히 제한하여 수신하면, 미세한 입자 측정이 가능하도록 측정용 광의 세기를 높이면서도, 고감도 수광부의 포화를 방지하여 광 감지 성능은 유지할 수 있으므로, 입자 측정의 정확도를 개선할 수 있다.In addition, when the light receiving unit constituting each particle measurement module properly restricts and receives the measurement light emitted from the light emitting unit through the slit, the intensity of the measurement light is increased to enable measurement of fine particles while preventing saturation of the highly sensitive light receiving unit. Since the photo-sensing performance can be maintained, the accuracy of particle measurement can be improved.
도 1은 본 발명에 따른 입자의 3차원 분포 실시간 측정 장치에 관한 실시예,
도 2는 입자측정모듈 어레이가 일 방향(z 방향)으로 배치된 실시예,
도 3은 도 2에 보인 실시예를 단면으로 나타낸 예,
도 4는 입자측정모듈 어레이가 두 방향(z 방향, x 방향)으로 배치된 실시예,
도 5는 발광부와 수광부에 관한 구체적인 일 실시예,
도 6은 설치상태 확인부에 관한 일 실시예,
도 7은 설치상태 확인부에 관한 다른 실시예,
도 8은 설치상태 확인부에 관한 또 다른 실시예,
도 9는 본 발명에 따른 입자의 3차원 분포 실시간 분석 장치에 관한 실시예이다.1 is an embodiment of an apparatus for measuring a three-dimensional distribution of particles in real time according to the present invention;
2 is an embodiment in which the particle measurement module array is arranged in one direction (z direction);
Figure 3 is an example showing the embodiment shown in Figure 2 in cross section;
4 is an embodiment in which the particle measurement module array is arranged in two directions (z direction and x direction);
5 is a specific embodiment of a light emitting unit and a light receiving unit;
6 is an embodiment related to an installation state confirmation unit;
7 is another embodiment related to the installation state confirmation unit,
8 is another embodiment related to the installation state confirmation unit,
9 is an embodiment of an apparatus for real-time analysis of a three-dimensional distribution of particles according to the present invention.
본 발명은 다양한 변환을 가할 수 있고 여러 가지 실시 예를 가질 수 있는 바, 특정 실시 예들을 도면에 예시하고 상세 설명에서 세부적인 내용을 설명하고자 한다. 그러나, 이는 본 발명을 특정한 실시 형태에 대해 한정하려는 것이 아니며, 본 발명의 사상 및 기술 범위에 포함되는 모든 변환, 균등물 내지 대체물을 포함하는 것으로 이해되어야 한다.Since the present invention can apply various transformations and have various embodiments, specific embodiments will be illustrated in the drawings and detailed descriptions will be given in the detailed description. However, it should be understood that this is not intended to limit the present invention to specific embodiments, and includes all transformations, equivalents, and substitutes included in the spirit and scope of the present invention.
본 발명을 설명함에 있어서 관련된 공지 기술에 대한 구체적인 설명이 본 발명의 요지를 흐릴 수 있다고 판단되는 경우 그 상세한 설명을 생략한다.In describing the present invention, if it is determined that a detailed description of related known technologies may obscure the gist of the present invention, the detailed description will be omitted.
본 출원에서 사용한 용어는 단지 특정한 실시예를 설명하기 위해 사용된 것으로, 본 발명을 한정하려는 의도가 아니다. 단수의 표현은 문맥상 명백하게 다르게 뜻하지 않는 한, 복수의 표현을 포함한다.Terms used in this application are only used to describe specific embodiments, and are not intended to limit the present invention. Singular expressions include plural expressions unless the context clearly dictates otherwise.
본 출원에서, "포함하다" 또는 "가지다" 등의 용어는 명세서상에 기재된 특징, 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부품 또는 이들을 조합한 것이 존재함을 지정하려는 것이지, 하나 또는 그 이상의 다른 특징들이나 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부품 또는 이들을 조합한 것들의 존재 또는 부가 가능성을 미리 배제하지 않는 것으로 이해되어야 한다.In this application, the terms "include" or "have" are intended to designate that there is a feature, number, step, operation, component, part, or combination thereof described in the specification, but one or more other features It should be understood that the presence or addition of numbers, steps, operations, components, parts, or combinations thereof is not precluded.
제1, 제2 등의 용어는 다양한 구성요소들을 설명하는데 사용될 수 있지만, 상기 구성요소들은 상기 용어들에 의해 한정되어서는 안 된다. 상기 용어들은 하나의 구성요소를 다른 구성요소로부터 구별하는 목적으로만 사용된다. Terms such as first and second may be used to describe various components, but the components should not be limited by the terms. These terms are only used for the purpose of distinguishing one component from another.
도 1을 참조하자면, 본 발명에 따른 입자의 3차원 분포 실시간 측정 장치(100)는, 내부 공간을 갖는 챔버(110), 및 복수 개의 입자측정모듈(120)을 포함하여 이루어진다.Referring to FIG. 1 , an
챔버(110)는 크기, 재질, 형태, 기능 등에 관계없이 다양한 종류일 수 있으며, 챔버(110)의 내부 공간(111)에 측정 대상 입자가 존재한다.The
측정 대상 입자가 존재하는 챔버(110)의 내부 공간은 진공으로 유지될 수 있지만, 이에 한정되는 것은 아니다. 측정 대상 입자가 존재하는 어떠한 공간을 형성하는 것이더라도 챔버(110)의 역할을 할 수 있다.The inner space of the
특히, 복수 개의 입자측정모듈(120)은 일 방향으로 나란하게 배치되며, 각각의 입자측정모듈(120)은 챔버(110)의 내부 공간(111)으로 측정용 광을 조사하고, 챔버(110)의 내부 공간(111)을 통과한 측정용 광을 수신하도록 구성된다.In particular, a plurality of
이하에서는, 설명의 편의를 위하여, 일 방향으로 나란하게 배치된 복수 개의 입자측정모듈(120)을 입자측정모듈 어레이라 칭하기로 한다.Hereinafter, for convenience of description, a plurality of
각 입자측정모듈(120)이 나란하게 배치되는 방향은 필요에 따라 다양하게 결정될 수 있다.Directions in which the respective
도 2는 입자측정모듈 어레이가 일 방향으로 배치된 실시예이고, 도 3은 이 실시예에서 챔버(110)의 내부 공간(111)을 나타낸 예이다.FIG. 2 is an example in which the particle measurement module array is arranged in one direction, and FIG. 3 is an example showing the
도 2와 도 3에 보인 실시예에서 각 입자측정모듈(120)이 나란하게 배치되는 방향을 z축 방향이라고 할 때, 입자측정모듈 어레이가 배치된 그곳에서 z축 방향의 2차원 분포를 측정할 수 있게 된다. In the embodiment shown in FIGS. 2 and 3, when the direction in which the
그러나, 각 입자측정모듈(120)이 나란하게 배치되는 방향은 반드시 한 방향일 필요는 없다.However, the direction in which the respective
즉, 둘 이상의 서로 다른 방향 각각에 대하여, 그 방향으로 나란히 배치되는 복수 개의 입자측정모듈(120)을 포함하도록 구성될 수 있다.That is, with respect to each of two or more different directions, it may be configured to include a plurality of
도 4는 z축 방향뿐 아니라 x축 방향으로도 복수 개의 입자측정모듈(120)이 나란하게 배치된 실시예를 보인 것이다. 물론, y축 방향으로도 복수 개의 입자측정모듈(120)이 나란하게 배치될 수 있다.4 shows an embodiment in which a plurality of
이와 같이 여러 방향으로 입자측정모듈 어레이를 배치함에 따라, 챔버(110)의 내부 공간(111)에서 입자의 3차원 분포를 측정할 수 있다.As the particle measurement module arrays are arranged in various directions in this way, the 3D distribution of particles in the
본 발명에 따른 입자의 3차원 분포 실시간 측정 장치는, n(n은 2 이상의 정수)개의 서로 다른 방향 각각에 대하여, 그 방향으로 나란하게 배치되는 복수 개의 입자측정모듈(120)을 포함하도록 구성될 수 있다.The apparatus for measuring the three-dimensional distribution of particles in real time according to the present invention is configured to include a plurality of
여기서, n개의 서로 다른 방향은 다양하게 구성될 수 있다. 하나의 예로서 n개의 서로 다른 방향은 모두 서로에 대하여 직교하도록 구성될 수 있다.Here, n different directions may be configured in various ways. As an example, n different directions may all be configured to be orthogonal to each other.
도 2 내지 도 4에는 z축 방향과 x축 방향으로 각각 하나의 입자측정모듈 어레이가 포함된 실시예가 나타나 있지만, 각 방향에 대하여 입자측정모듈 어레이가 복수 개 배치될 수도 있다.2 to 4 show an embodiment in which one particle measurement module array is included in each of the z-axis direction and the x-axis direction, but a plurality of particle measurement module arrays may be disposed in each direction.
예를 들어, 필요에 따라서는, z축 방향으로 2개 이상의 입자측정모듈이 구비될 수 있다. 이때, 각 방향에 대응하는 입자측정모듈 어레이의 개수가 모두 동일해야 하는 것도 아니다.For example, if necessary, two or more particle measurement modules may be provided in the z-axis direction. At this time, the number of particle measurement module arrays corresponding to each direction does not all have to be the same.
도 5는 입자측정모듈(120)에 관한 일 실시예를 보인 것으로서, 입자측정모듈은 측정 대상 입자(30)가 존재하는 챔버(110)의 내부 공간(111)으로 측정용 광을 조사(irradiation)하는 발광부(120), 및 측정용 광을 수신하는 수광부(122)를 포함하여 구성될 수 있다.5 shows an embodiment of the
이때, 발광부(121)는 챔버(110)의 외벽에 형성된 투명창(113)을 통해 챔버(110)의 내부 공간(111)에 광을 조사하도록 구성될 수 있다.At this time, the
발광부(121)와 수광부(122)는 직선상에 평행하게 놓여야 하며, 발광부(121)와 수광부(122)의 위치는 서로 바뀔 수 있다.The
투명창(113)은 요구되는 광 투과도가 확보될 수 있는 광학용 윈도우를 사용하여 구성될 수 있다.The
발광부(121)와 수광부(122)는 다양하게 구성될 수 있다.The
구체적인 예로서, 발광부(121)는 광을 발생시키는 광원(121-1), 및 광원(121-1)에서 발생된 광을 평행광의 형태로 만드는 콜리메이션 렌즈(121-2)를 포함하여 이루어질 수 있다.As a specific example, the
이러한 실시예에서 측정 대상 입자(30)가 존재하는 챔버(110)의 내부 공간(111)으로 조사되는 측정용 광(191)은 평행광의 형태를 가지게 된다.In this embodiment, the
평행광(collimation beam)의 예로서 설명하지만, 발광부(121)는 집속 광, 면 광 등 다양한 형태의 측정용 광을 조사하도록 구성될 수도 있다.Although described as an example of collimation beam, the
수광부(122)는 측정용 광(191)의 파워(power)를 저감시키는 슬릿부(122-1), 및 슬릿부(122-1)를 통과한 광을 검출하는 검출부(122-2)를 포함하여 이루어질 수 있다.The
슬릿부(122-1)가 측정용 광의 파워를 저감시키는 주요 이유는 광을 검출하는 검출부(122-2)가 포화되는 상황을 방지하기 위한 것이며, 슬릿부(122-1)는 검출부(122-2)의 포화를 방지할 수 있는 정도로 측정용 광의 파워를 저감시키도록 구성될 수 있다.The main reason why the slit unit 122-1 reduces the power of light for measurement is to prevent the detection unit 122-2 that detects light from being saturated, and the slit unit 122-1 reduces the power of the detection unit 122-2. 2) may be configured to reduce the power of light for measurement to an extent capable of preventing saturation.
슬릿부(122-1)는 발광부(121)에서 조사된 측정용 광의 일부만을 슬릿(122-11)을 통해 통과시키도록 구성될 수 있다. 즉, 슬릿(122-11)은 입사되는 측정용 광의 특정 비율에 해당하는 광만 받아들이게 한다.The slit part 122-1 may be configured to pass only a part of light for measurement emitted from the
슬릿(122-11)의 두께, 길이, 방향, 형태 등은 다양하게 구성될 수 있다.The thickness, length, direction, and shape of the slit 122-11 may be configured in various ways.
하나의 예로서, 슬릿(122-11)은 직선 형태를 갖고, 입자의 주요 흐름에 수직 방향으로 형성될 수 있다. 또한, 슬릿(122-11)의 두께는 광원(121-1)의 크기와 유사한 직경으로 구성될 수 있다.As an example, the slits 122 - 11 may have a straight shape and may be formed in a direction perpendicular to the main flow of particles. In addition, the thickness of the slit 122-11 may be configured to have a diameter similar to the size of the light source 121-1.
슬릿(122-11)을 통해 측정용 광의 특정 비율에 해당하는 광만 받아들이는 주된 이유는 감도가 높은 Photo Multiplier Tube(PMT) 등을 사용할 수 있도록 하기 위한 것이다.The main reason for accepting only light corresponding to a specific ratio of light for measurement through the slit 122-11 is to enable the use of a highly sensitive Photo Multiplier Tube (PMT).
슬릿(122-11)의 크기는, 다음의 수학식 1과 같이, PMT가 포화 상태가 되는 한계 파워 값과 측정용 광(입사광)의 파워에 의해 결정될 수 있다.The size of the slit 122-11 may be determined by a limiting power value at which the PMT becomes saturated and the power of light (incident light) for measurement, as shown in Equation 1 below.
이러한 관계는 입사광의 형태와 슬릿 위치에서의 광 면적 등에 따라 변형될 수 있다.This relationship can be modified according to the shape of the incident light and the light area at the slit position.
발광부(121)에서 조사된 측정용 광(191)을 수광부(122)에서 정확하게 검출하기 위해서는 발광부(121)와 수광부(122)가 평행하게 배치될 수 있어야 한다.In order for the
본 발명에 따른 입자의 3차원 분포 실시간 측정 장치(100)는, 각 입자측정모듈(120)의 발광부(121)와 수광부(122)가 평행하게 배치될 수 있도록 하는 설치상태 확인부를 더 포함하여 이루어질 수 있다.The
도 6은 설치상태 확인부(130)의 일 실시예를 보인 것으로서, 측정용 광(191)의 일부를 반사시키는 광 분배부(131), 및 광 분배부(131)에 의해 반사된 광을 검출하는 위치확인부(132)를 포함하여 구성될 수 있다.6 shows an embodiment of the installation
광 분배부(131)는 수광되는 측정용 광(191)의 일정 비율을 위치확인부(132)로 전달하며, 이를 위하여 수광부(122)의 검출부(122-2) 전단에 배치될 수 있다.The
발광부(121)와 수광부(122)가 평행하게 배치되지 않으면, 발광부(121)에서 조사된 측정용 광(191)이 수광부(122)로 수신되는 정도가 감소될 것이므로, 위치확인부(132)를 통해 검출되는 광을 분석하여, 발광부(121)와 수광부(122)가 평행하게 배치되었는지 확인할 수 있다.If the
이때, 발광부(121)와 수광부(122) 중 하나 이상의 위치가 조절 가능하게 구성된다면, 위치확인부(132)에서의 검출 결과에 따라, 발광부(121)와 수광부(122)의 평행도가 자동으로 조절되도록 구성될 수도 있다.At this time, if the position of at least one of the
도 7은 설치상태 확인부(140)의 다른 실시예를 보인 것으로서, 챔버(110)에 발광부(121) 또는 수광부(122)를 체결할 수 있도록 하는 체결부(141), 및 체결부(141)에 발광부(121) 또는 수광부(122)가 장착된 상태를 감지하는 장착상태 감지부(142)를 포함하여 구성될 수 있다.7 shows another embodiment of the installation
체결부(141)는 발광부(121) 또는 수광부(122)를 챔버(110)의 특정 위치에 체결하여 장착할 수 있도록 하기 위하여, 나사 방식, 자석 방식, 끼움 방식 등 다양한 구조로 구성될 수 있다.The
장착상태 감지부(142)는 발광부(121) 또는 수광부(122)가 체결부(141)에 장착된 상태를 감지할 수 있도록, 자기장 감지, 광 감지, 압력 감지 등 다양한 센싱 방식을 사용하여 구성될 수 있다.The mounting
도 8은 설치상태 확인부(150)의 또 다른 실시예를 보인 것으로서, 발광부(121)와 수광부(122)가 해당 위치에 장착되면, 반드시 평행이 유지될 수 있도록, 발광부(121)와 수광부(122)를 체결시켜 장착하는 체결부(151)를 챔버(110)의 해당 위치에 형성할 수 있다.8 shows another embodiment of the installation
이때, 각 체결부(151)에는 발광부(121)와 수광부(122)를 체결하여 장착할 수 있도록 체결 공간(152)이 형성된다.At this time, a
즉, 체결부(151)에 발광부(121)와 수광부(122)를 크기에 맞게 체결할 수 있는 체결 공간(152)을 형성함으로써, 발광부(121)와 수광부(122)의 위치를 구조적으로 구속하는 방법을 사용할 수 있다.That is, by forming a
도 9를 참조하자면, 본 발명에 따른 입자의 3차원 분포 실시간 분석 장치(200)는, 위에서 설명한 입자의 3차원 분포 실시간 측정 장치(100)에 관한 각 실시예, 및 각 입자측정모듈(120)의 수광부(122)에서 수신된 광을 분석하여, 챔버(110)의 내부 공간(111)에 존재하는 입자의 개수와 3차원 분포 중 하나 이상을 파악하는 입자분포 분석부(170)를 포함하여 이루어질 수 있다.Referring to FIG. 9, the
입자측정모듈(120)의 발광부(121)에서 조사된 측정용 광은 경로 상에 있는 입자(30)에 의해 흡수 및 산란되고, 입자 크기의 특정 비율만큼 소멸된다.The light for measurement emitted from the
이때, 입자 하나에 의해 소멸된 에너지(Eremoved)는 미 이론(Mie theory)에 의하여 다음 수학식 2와 같이 표현될 수 있다.At this time, the energy (E removed ) dissipated by one particle can be expressed as in Equation 2 below according to Mie theory.
여기서, I0는 입사광의 강도 σext는 'extinction cross section'이다.Here, I 0 is the intensity of the incident light, and σ ext is the 'extinction cross section'.
또한, σext는 흡수 및 산란에 의한 합이므로, 다음의 수학식 3으로 표현될 수 있다.In addition, since σ ext is the sum of absorption and scattering, it can be expressed by Equation 3 below.
여기서, σabs는 'absorption cross section', σscat는 'total scattering cross section'이다.Here, σ abs is 'absorption cross section' and σ scat is 'total scattering cross section'.
이와 같이, 발광부(121)에서 발생된 측정용 광은 입자에 충돌하고, 이로 인해 영향을 받은 광을 수광부(122)에서 수신한 후, 입자분포 분석부(170)는 미 이론을 이용하여 입자의 크기를 계산할 수 있다. 소멸된 광의 강도 크기를 입자 크기로 변환할 수 있으며, 신호의 빈도로 입자의 개수를 파악할 수 있다.In this way, the light for measurement generated by the
즉, 하나 이상의 입자측정모듈 어레이를 적절한 위치에 배치하여, 각 위치별 입자의 존재뿐 아니라, 입자의 공간적 분포를 파악할 수 있다.That is, by arranging one or more particle measurement module arrays at appropriate positions, not only the presence of particles at each position but also the spatial distribution of the particles can be grasped.
입자측정모듈 어레이를 둘 이상의 서로 다른 방향으로 여러 개 배치하면, 각 입자측정모듈 어레이에서 동시에 측정되는 신호를 수집하여, 입자의 정확한 위치 정보를 획득할 수도 있다.If a plurality of particle measurement module arrays are disposed in two or more different directions, signals simultaneously measured in each particle measurement module array may be collected to obtain accurate positional information of particles.
상기에서는 본 발명을 특정의 바람직한 실시예에 관련하여 도시하고 설명하였지만, 이하의 특허청구범위에 의해 마련되는 본 발명의 기술적 특징이나 분야를 이탈하지 않는 한도 내에서 본 발명이 다양하게 개조 및 변화될 수 있다는 것은 당업계에서 통상의 지식을 가진 자에게 명백한 것이다.In the above, the present invention has been shown and described in relation to specific preferred embodiments, but the present invention can be variously modified and changed without departing from the technical features or fields of the present invention provided by the claims below. It is clear to those skilled in the art that it can be.
30: 입자
100: 입자의 3차원 분포 실시간 측정 장치
110: 챔버
111: 내부 공간
113: 투명창
120: 입자측정모듈
121: 발광부
121-1: 광원
121-2: 콜리메이션 렌즈
122: 수광부
122-1: 슬릿부
122-11: 슬릿
122-2: 검출부
130, 140, 150: 설치상태 확인부
131: 광 분배부
132: 위치확인부
141, 151: 체결부
142: 장착상태 감지부
152: 체결 공간
170: 입자분포 분석부
191: 측정용 광
200: 입자의 3차원 분포 실시간 분석 장치30: particle
100: Real-time measuring device for 3-dimensional distribution of particles
110: chamber
111: inner space
113: transparent window
120: particle measurement module
121: light emitting part
121-1: light source
121-2: collimation lens
122: light receiving unit
122-1: slit portion
122-11: slit
122-2: detection unit
130, 140, 150: installation status confirmation unit
131: optical distribution unit
132: positioning unit
141, 151: fastening part
142: mounting state detection unit
152: fastening space
170: particle distribution analysis unit
191: light for measurement
200: 3D distribution real-time analysis device of particles
Claims (12)
상기 챔버의 내부 공간으로 측정용 광을 조사하고, 상기 측정용 광을 수신하는, 복수 개의 입자측정모듈을 포함하고,
상기 복수 개의 입자측정모듈은 일 방향으로 나란하게 배치되는 것을 특징으로 하는 입자의 3차원 분포 실시간 측정 장치.a chamber having an inner space; and
A plurality of particle measuring modules for radiating light for measurement into the inner space of the chamber and receiving the light for measurement;
The plurality of particle measuring modules are arranged side by side in one direction.
상기 챔버의 내부 공간으로 측정용 광을 조사하고, 상기 측정용 광을 수신하는, 복수 개의 입자측정모듈을 포함하고,
상기 복수 개의 입자 측정 모듈은,
n(n은 2 이상의 정수)개의 서로 다른 방향 각각에 대하여, 그 방향으로 나란하게 배치되는 복수 개의 입자측정모듈을 포함하도록 구성되는, 입자의 3차원 분포 실시간 측정 장치.a chamber having an inner space; and
A plurality of particle measuring modules for radiating light for measurement into the inner space of the chamber and receiving the light for measurement;
The plurality of particle measurement modules,
An apparatus for measuring a three-dimensional distribution of particles in real time, configured to include a plurality of particle measurement modules arranged side by side in n (n is an integer of 2 or more) different directions, respectively.
상기 n개의 서로 다른 방향은 모두 서로에 대하여 직교하는 방향인, 입자의 3차원 분포 실시간 측정 장치.According to claim 2,
The n different directions are all directions orthogonal to each other, a device for measuring a three-dimensional distribution of particles in real time.
상기 입자측정모듈은,
상기 측정용 광을 조사(irradiation)하는 발광부; 및
상기 측정용 광을 수신하는 수광부를 포함하는, 입자의 3차원 분포 실시간 측정 장치.According to any one of claims 1 to 3,
The particle measurement module,
a light emitting unit for irradiating the measurement light; and
A device for measuring a three-dimensional distribution of particles in real time, comprising a light receiving unit for receiving the light for measurement.
상기 발광부는 상기 챔버의 외벽에 형성된 투명창을 통해 상기 챔버의 내부 공간에 광을 조사하도록 구성되는, 입자의 3차원 분포 실시간 측정 장치According to claim 4,
The light emitting unit is configured to irradiate light into the inner space of the chamber through a transparent window formed on an outer wall of the chamber, a device for measuring a three-dimensional distribution of particles in real time
상기 발광부는 광원; 및
상기 광원에서 발생된 광을 평행광의 형태로 만드는 콜리메이션 렌즈를 포함하여 이루어지는, 입자의 3차원 분포 실시간 측정 장치.According to claim 4,
The light emitting unit may include a light source; and
A three-dimensional distribution real-time measuring device comprising a collimation lens that makes the light generated from the light source in the form of parallel light.
상기 수광부는,
상기 측정용 광의 파워(power)를 저감시키는 슬릿부; 및
상기 슬릿부를 통과한 광을 검출하는 검출부를 포함하고,
상기 슬릿부는 상기 검출부의 포화를 방지할 수 있는 정도로 상기 측정용 광의 파워를 저감시키는, 입자의 3차원 분포 실시간 측정 장치.According to claim 4,
The light receiving unit,
a slit unit reducing power of the light for measurement; and
A detection unit for detecting light passing through the slit unit;
The slit unit reduces the power of the measurement light to an extent capable of preventing saturation of the detection unit, a three-dimensional distribution real-time measuring device of particles.
상기 슬릿부는 상기 발광부에서 조사된 측정용 광의 일부만을 슬릿을 통해 통과시키도록 구성되고,
상기 슬릿은 직선 형태를 갖고, 입자의 주요 흐름에 수직 방향으로 형성되는, 입자의 3차원 분포 실시간 측정 장치.According to claim 7,
The slit part is configured to pass only a part of light for measurement irradiated from the light emitting part through the slit,
The slit has a straight line shape and is formed in a direction perpendicular to the main flow of particles, a real-time measurement device for a three-dimensional distribution of particles.
상기 발광부와 수광부가 평행하게 배치될 수 있도록 하는 설치상태 확인부를 더 포함하는, 입자의 3차원 분포 실시간 측정 장치.According to claim 4,
The apparatus for measuring the three-dimensional distribution of particles in real time, further comprising an installation state confirmation unit allowing the light emitting unit and the light receiving unit to be disposed in parallel.
상기 설치상태 확인부는,
상기 측정용 광의 일부를 반사시키는 광 분배부; 및
상기 광 분배부에 의해 반사된 광을 검출하는 위치확인부를 포함하는, 입자의 3차원 분포 실시간 측정 장치.According to claim 9,
The installation state confirmation unit,
a light distribution unit that reflects some of the light for measurement; and
A device for measuring a three-dimensional distribution of particles in real time, including a positioning unit for detecting the light reflected by the light distribution unit.
상기 설치상태 확인부는,
상기 챔버에 상기 발광부 또는 수광부를 체결할 수 있도록 하는 체결부; 및
상기 체결부에 상기 발광부 또는 수광부가 장착된 상태를 감지하는 장착상태 감지부를 포함하는, 입자의 3차원 분포 실시간 측정 장치.According to claim 9,
The installation state confirmation unit,
a fastening unit for fastening the light emitting unit or the light receiving unit to the chamber; and
An apparatus for measuring a three-dimensional distribution of particles in real time, including a mounting state detection unit for detecting a state in which the light emitting unit or the light receiving unit is mounted on the fastening unit.
상기 각 입자측정모듈의 수광부에서 수신된 광을 분석하여, 상기 챔버의 내부 공간에 존재하는 입자의 개수와 3차원 분포 중 하나 이상을 파악하는 입자분포 분석부를 포함하는, 입자의 3차원 분포 실시간 분석 장치.The apparatus for measuring the three-dimensional distribution of particles according to claim 4 in real time; and
Real-time analysis of 3D distribution of particles, including a particle distribution analysis unit for analyzing the light received from the light receiving unit of each particle measurement module to determine at least one of the number and 3D distribution of particles present in the inner space of the chamber Device.
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| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
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| Country | Link |
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| KR (1) | KR20230082275A (en) |
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| KR101857950B1 (en) | 2016-06-21 | 2018-05-16 | 한국표준과학연구원 | High accuracy real-time particle counter |
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| KR101857950B1 (en) | 2016-06-21 | 2018-05-16 | 한국표준과학연구원 | High accuracy real-time particle counter |
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| PA0109 | Patent application |
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|
| PA0201 | Request for examination | ||
| PG1501 | Laying open of application | ||
| E902 | Notification of reason for refusal | ||
| PE0902 | Notice of grounds for rejection |
Comment text: Notification of reason for refusal Patent event date: 20230724 Patent event code: PE09021S01D |
|
| E902 | Notification of reason for refusal | ||
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|
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