[go: up one dir, main page]

KR20240010313A - System and method for testing input circuit of electronic control unit - Google Patents

System and method for testing input circuit of electronic control unit Download PDF

Info

Publication number
KR20240010313A
KR20240010313A KR1020220087722A KR20220087722A KR20240010313A KR 20240010313 A KR20240010313 A KR 20240010313A KR 1020220087722 A KR1020220087722 A KR 1020220087722A KR 20220087722 A KR20220087722 A KR 20220087722A KR 20240010313 A KR20240010313 A KR 20240010313A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
input circuit
voltage value
capacitor
voltage
time
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
KR1020220087722A
Other languages
Korean (ko)
Other versions
KR102817775B1 (en
Inventor
노승관
Original Assignee
주식회사 현대케피코
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 주식회사 현대케피코 filed Critical 주식회사 현대케피코
Priority to KR1020220087722A priority Critical patent/KR102817775B1/en
Publication of KR20240010313A publication Critical patent/KR20240010313A/en
Application granted granted Critical
Publication of KR102817775B1 publication Critical patent/KR102817775B1/en
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/317Testing of digital circuits
    • G01R31/31725Timing aspects, e.g. clock distribution, skew, propagation delay
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B60VEHICLES IN GENERAL
    • B60RVEHICLES, VEHICLE FITTINGS, OR VEHICLE PARTS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • B60R16/00Electric or fluid circuits specially adapted for vehicles and not otherwise provided for; Arrangement of elements of electric or fluid circuits specially adapted for vehicles and not otherwise provided for
    • B60R16/02Electric or fluid circuits specially adapted for vehicles and not otherwise provided for; Arrangement of elements of electric or fluid circuits specially adapted for vehicles and not otherwise provided for electric constitutive elements
    • B60R16/023Electric or fluid circuits specially adapted for vehicles and not otherwise provided for; Arrangement of elements of electric or fluid circuits specially adapted for vehicles and not otherwise provided for electric constitutive elements for transmission of signals between vehicle parts or subsystems
    • B60R16/0231Circuits relating to the driving or the functioning of the vehicle
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R19/00Arrangements for measuring currents or voltages or for indicating presence or sign thereof
    • G01R19/10Measuring sum, difference or ratio
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/317Testing of digital circuits
    • G01R31/31712Input or output aspects
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/317Testing of digital circuits
    • G01R31/3181Functional testing
    • G01R31/3183Generation of test inputs, e.g. test vectors, patterns or sequences
    • G01R31/318307Generation of test inputs, e.g. test vectors, patterns or sequences computer-aided, e.g. automatic test program generator [ATPG], program translations, test program debugging
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/36Arrangements for testing, measuring or monitoring the electrical condition of accumulators or electric batteries, e.g. capacity or state of charge [SoC]
    • G01R31/385Arrangements for measuring battery or accumulator variables
    • G01R31/387Determining ampere-hour charge capacity or SoC

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Automation & Control Theory (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Debugging And Monitoring (AREA)

Abstract

According to the present invention, an input circuit test system of an electronic control device comprises: an input circuit including at least one resistor and at least one capacitor; a microprocessor measuring a charging voltage and a discharging voltage of the capacitor of the input circuit; a driving circuit selectively applying a VCC voltage and a GND voltage to an input terminal of the input circuit according to control of the microprocessor; and a watchdog timer that applies a driving signal to the driving circuit. The microprocessor transmits a watchdog signal required from the watchdog timer at predetermined time intervals to activate the driving signal, detects a charging voltage value of the capacitor after a preset time when the VCC voltage is applied to the input circuit, detects a discharging voltage value of the capacitor after a preset time when the GND voltage is applied to the input circuit, and transmits a difference between the charging voltage value and the discharging voltage value to an external reading device when a charging/discharging test time required according to time constants of the resistor and the capacitor exceed a disable time according to accumulation of error counts of the watchdog timer.

Description

전자제어장치의 입력회로 검사 시스템 및 방법{System and method for testing input circuit of electronic control unit}{System and method for testing input circuit of electronic control unit}

본 발명은 전자제어장치의 기능을 검사하는 시스템 및 방법에 관한 것으로, 보다 상세하게는 전자제어장치의 입력회로를 검사하는 시스템 및 방법에 관한 것이다.The present invention relates to a system and method for inspecting the function of an electronic control device, and more specifically, to a system and method for inspecting an input circuit of an electronic control device.

일반적으로, 차량에는 주행 상태에 따른 차량 제어 및 안전성 향상을 위한 엔진, 자동 변속기, ABS 등의 상태를 감시하고 제어하는 전자제어장치(ECU; Electronic Control Unit)가 탑재되고 있다.Generally, vehicles are equipped with an electronic control unit (ECU) that monitors and controls the status of the engine, automatic transmission, ABS, etc. to improve vehicle control and safety according to driving conditions.

전자제어장치는 엔진 점화 시기, 연료 분사, 공회전, 한계값 설정 등의 기능을 제어하고, 구동 계통, 제동 계통, 조향 계통 등 차량 구동과 관련된 전반적인 부분을 제어할 수 있다.The electronic control device controls functions such as engine ignition timing, fuel injection, idling, and limit value settings, and can control overall aspects related to vehicle driving, such as the drive system, braking system, and steering system.

선행기술인 등록특허 제10-1515011호에는, 전자제어장치를 구성하는 입력회로, 마이크로프로세서, 워치독 타이머의 기능 등을 통합하여 검사하는 시스템 및 방법에 개시되어 있다. 상기 선행문헌에 의하면, 전자제어장치의 기능 검사가 시작되기 전에 마이크로프로세서가 워치독 타이머의 동작을 중지시키고 검사를 수행한다.Patent No. 10-1515011, which is a prior art, discloses a system and method for integrated inspection of the functions of the input circuit, microprocessor, and watchdog timer that constitute the electronic control device. According to the prior literature, before the functional test of the electronic control device begins, the microprocessor stops the operation of the watchdog timer and performs the test.

그러나 위와 같이 기능 검사시마다 워치독 타이머의 동작을 중지시킬 경우 워치독 타이머의 제어 시간에 따른 사이클 타임의 증가와 시스템 안정성 문제가 발생할 수 있다. 또한 입력회로의 저항 및 커패시터의 시정수가 큰 경우 기능 검사에 소요되는 시간이 일정 시간 이상 요구되어 검사가 불가능한 경우도 있다. 또한 기능 검사 이후에 다시 워치독 타이머를 인에이블(enable)하여 에러 카운트가 감소할 때까지 기다려야 하는 시간도 발생하게 된다.However, if the operation of the watchdog timer is stopped every time a function is checked as above, the cycle time may increase depending on the control time of the watchdog timer and problems with system stability may occur. Additionally, if the resistance of the input circuit and the time constant of the capacitor are large, the time required for functional testing may be longer than a certain amount of time, making testing impossible in some cases. Additionally, after the functional test, it takes time to enable the watchdog timer again and wait until the error count decreases.

등록특허 제10-1515011호 (2015년 5월 4일 공고)Registered Patent No. 10-1515011 (announced on May 4, 2015)

본 발명이 이루고자 하는 기술적 과제는, 워치독 타이머의 동작을 중지시키지 않으면서 입력회로의 저항 및 커패시터의 시정수에 따라 요구되는 검사 시간에도 불구하고 입력회로의 기능을 검사할 수 있는 전자제어장치의 입력회로 검사 시스템 및 방법을 제공하는 데 있다.The technical problem to be achieved by the present invention is to provide an electronic control device that can test the function of an input circuit despite the test time required according to the resistance of the input circuit and the time constant of the capacitor without stopping the operation of the watchdog timer. The purpose is to provide an input circuit inspection system and method.

상기 기술적 과제를 해결하기 위한 본 발명에 따른 전자제어장치의 입력회로 검사 시스템은, 적어도 하나 이상의 저항 및 커패시터를 포함하는 입력회로; 상기 입력회로의 커패시터의 충전 전압 및 방전 전압을 측정하는 마이크로프로세서; 상기 마이크로프로세서의 제어에 따라 상기 입력회로의 입력단에 VCC 전압과 GND 전압을 선택적으로 인가하는 구동회로; 및 상기 구동회로에 구동 신호를 인가하는 워치독 타이머를 포함하고, 상기 마이크로프로세서는, 상기 워치독 타이머에서 요구되는 워치독 신호를 일정 시간 간격으로 전송하여 상기 구동 신호를 활성화하고, 상기 입력회로에 VCC 전압이 인가되고 기 설정된 시간 후 상기 커패시터의 충전 전압 값을 검출하고, 상기 입력회로에 GND 전압이 인가되고 기 설정된 시간 후 상기 커패시터의 방전 전압 값을 검출하며, 상기 저항 및 커패시터의 시정수에 따라 요구되는 충방전 검사 시간이 상기 워치독 타이머의 에러 카운트 누적에 따른 디스에이블 시간을 초과하는 경우, 상기 충전 전압 값과 상기 방전 전압 값의 차이를 외부 판독장치로 전송하는 것을 특징으로 한다.An input circuit inspection system for an electronic control device according to the present invention for solving the above technical problem includes an input circuit including at least one resistor and a capacitor; a microprocessor that measures the charging and discharging voltages of the capacitor of the input circuit; a driving circuit that selectively applies VCC voltage and GND voltage to the input terminal of the input circuit under the control of the microprocessor; and a watchdog timer that applies a driving signal to the driving circuit, wherein the microprocessor transmits a watchdog signal required by the watchdog timer at regular time intervals to activate the driving signal, and transmits a watchdog signal required by the watchdog timer at regular time intervals, and transmits a watchdog timer to the input circuit. Detects the charging voltage value of the capacitor after the VCC voltage is applied and a preset time, detects the discharge voltage value of the capacitor after a preset time after the GND voltage is applied to the input circuit, and determines the time constant of the resistor and capacitor. Accordingly, when the required charge/discharge test time exceeds the disable time according to the error count accumulation of the watchdog timer, the difference between the charge voltage value and the discharge voltage value is transmitted to an external reading device.

상기 마이크로프로세서는, 상기 저항 및 커패시터의 시정수에 따라 요구되는 충방전 검사 시간이 상기 워치독 타이머의 에러 카운트 누적에 따른 디스에이블 시간을 초과하지 않는 경우, 상기 충전 전압 값 및 상기 방전 전압 값을 상기 외부 판독장치로 전송할 수 있다.The microprocessor, when the charge/discharge test time required according to the time constants of the resistor and the capacitor does not exceed the disable time according to the error count accumulation of the watchdog timer, determines the charge voltage value and the discharge voltage value. It can be transmitted to the external reading device.

상기 마이크로프로세서가, 상기 입력회로에 VCC 전압이 인가되고 기 설정된 시간 후 상기 커패시터의 충전 전압 값을 검출하고, 상기 입력회로에 GND 전압이 인가되고 기 설정된 시간 후 상기 커패시터의 방전 전압 값을 검출하는 데 걸리는 시간은, 상기 워치독 타이머의 에러 카운트 누적에 따른 디스에이블 시간 이내일 수 있다.The microprocessor detects the charging voltage value of the capacitor after a preset time after the VCC voltage is applied to the input circuit, and detects the discharge voltage value of the capacitor after a preset time after the GND voltage is applied to the input circuit. The time taken may be within the disable time according to the accumulation of error counts of the watchdog timer.

상기 저항 및 커패시터의 시정수에 따라 요구되는 충방전 검사 시간이 상기 워치독 타이머의 에러 카운트 누적에 따른 디스에이블 시간을 초과하는 경우, 상기 충전 전압 값은 충전 완료 전의 전압이고, 상기 방전 전압 값은 방전 완료 전의 전압일 수 있다.If the charge/discharge test time required according to the time constants of the resistor and capacitor exceeds the disable time according to the error count accumulation of the watchdog timer, the charge voltage value is the voltage before charging is completed, and the discharge voltage value is This may be the voltage before discharge is complete.

상기 저항 및 커패시터의 시정수에 따라 요구되는 충방전 검사 시간이 상기 워치독 타이머의 에러 카운트 누적에 따른 디스에이블 시간을 초과하지 않는 경우, 상기 충전 전압 값은 충전 완료된 전압이고, 상기 방전 전압 값은 방전 완료된 전압일 수 있다.If the charge/discharge test time required according to the time constants of the resistor and the capacitor does not exceed the disable time according to the error count accumulation of the watchdog timer, the charge voltage value is the charging completed voltage, and the discharge voltage value is It may be a voltage at which discharge has been completed.

상기 외부 판독장치는 상기 충전 전압 값과 상기 방전 전압 값의 차이에 기초하여 상기 입력회로의 정상 여부를 판정할 수 있다.The external reading device may determine whether the input circuit is normal based on the difference between the charging voltage value and the discharging voltage value.

상기 기술적 과제를 해결하기 위한 본 발명에 따른 전자제어장치의 입력회로 검사 방법은, 적어도 하나 이상의 저항 및 커패시터를 포함하는 입력회로와, 상기 입력회로의 커패시터의 충전 전압 및 방전 전압을 측정하는 마이크로프로세서와, 상기 마이크로프로세서의 제어에 따라 상기 입력회로의 입력단에 VCC 전압과 GND 전압을 선택적으로 인가하는 구동회로, 및 상기 구동회로에 구동 신호를 인가하는 워치독 타이머를 포함하는 전자제어장치의 입력회로를 검사하는 방법으로서, 상기 입력회로의 입력단과 상기 구동회로의 출력단을 연결하는 단계; 상기 워치독 타이머에서 요구되는 워치독 신호를 일정 시간 간격으로 전송하여 상기 구동 신호를 활성화하는 단계; 상기 입력회로의 입력단에 VCC 전압이 인가되도록 상기 구동회로를 제어하고, 기 설정된 시간 후 상기 커패시터의 충전 전압 값을 검출하는 단계; 상기 입력회로의 입력단에 GND 전압이 인가되도록 상기 구동회로를 제어하고, 기 설정된 시간 후 상기 커패시터의 방전 전압 값을 검출하는 단계; 및 상기 저항 및 커패시터의 시정수에 따라 요구되는 충방전 검사 시간이 상기 워치독 타이머의 에러 카운트 누적에 따른 디스에이블 시간을 초과하는 경우, 상기 충전 전압 값과 상기 방전 전압 값의 차이를 외부 판독장치로 전송하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 한다.The input circuit inspection method of an electronic control device according to the present invention for solving the above technical problem includes an input circuit including at least one resistor and a capacitor, and a microprocessor for measuring the charge voltage and discharge voltage of the capacitor of the input circuit. and an input circuit of an electronic control device including a driving circuit that selectively applies a VCC voltage and a GND voltage to the input terminal of the input circuit under the control of the microprocessor, and a watchdog timer that applies a driving signal to the driving circuit. A method of checking, comprising: connecting an input terminal of the input circuit and an output terminal of the driving circuit; activating the driving signal by transmitting a watchdog signal required by the watchdog timer at regular time intervals; Controlling the driving circuit so that a VCC voltage is applied to the input terminal of the input circuit, and detecting the charging voltage value of the capacitor after a preset time; Controlling the driving circuit so that a GND voltage is applied to the input terminal of the input circuit, and detecting the discharge voltage value of the capacitor after a preset time; And when the charge/discharge test time required according to the time constant of the resistor and the capacitor exceeds the disable time according to the error count accumulation of the watchdog timer, an external reading device determines the difference between the charge voltage value and the discharge voltage value. Characterized in that it includes the step of transmitting to.

상기 전자제어장치의 입력회로 검사 방법은, 상기 저항 및 커패시터의 시정수에 따라 요구되는 충방전 검사 시간이 상기 워치독 타이머의 에러 카운트 누적에 따른 디스에이블 시간을 초과하지 않는 경우, 상기 충전 전압 값 및 상기 방전 전압 값을 상기 외부 판독장치로 전송하는 단계를 더 포함할 수 있다.The input circuit inspection method of the electronic control device includes, when the charging and discharging inspection time required according to the time constants of the resistor and the capacitor does not exceed the disable time according to the error count accumulation of the watchdog timer, the charging voltage value And it may further include transmitting the discharge voltage value to the external reading device.

상기 입력회로에 VCC 전압이 인가되고 기 설정된 시간 후 상기 커패시터의 충전 전압 값을 검출하고, 상기 입력회로에 GND 전압이 인가되고 기 설정된 시간 후 상기 커패시터의 방전 전압 값을 검출하는 데 걸리는 시간은, 상기 워치독 타이머의 에러 카운트 누적에 따른 디스에이블 시간 이내일 수 있다.The time taken to detect the charging voltage value of the capacitor after the VCC voltage is applied to the input circuit and a preset time, and to detect the discharge voltage value of the capacitor after the GND voltage is applied to the input circuit and a preset time is, It may be within the disable time according to the error count accumulation of the watchdog timer.

상기 저항 및 커패시터의 시정수에 따라 요구되는 충방전 검사 시간이 상기 워치독 타이머의 에러 카운트 누적에 따른 디스에이블 시간을 초과하는 경우, 상기 충전 전압 값은 충전 완료 전의 전압이고, 상기 방전 전압 값은 방전 완료 전의 전압일 수 있다.If the charge/discharge test time required according to the time constants of the resistor and capacitor exceeds the disable time according to the error count accumulation of the watchdog timer, the charge voltage value is the voltage before charging is completed, and the discharge voltage value is This may be the voltage before discharge is complete.

상기 저항 및 커패시터의 시정수에 따라 요구되는 충방전 검사 시간이 상기 워치독 타이머의 에러 카운트 누적에 따른 디스에이블 시간을 초과하지 않는 경우, 상기 충전 전압 값은 충전 완료된 전압이고, 상기 방전 전압 값은 방전 완료된 전압일 수 있다.If the charge/discharge test time required according to the time constants of the resistor and the capacitor does not exceed the disable time according to the error count accumulation of the watchdog timer, the charge voltage value is the charging completed voltage, and the discharge voltage value is It may be a voltage at which discharge has been completed.

상기 전자제어장치의 입력회로 검사 방법은, 상기 외부 판독장치가 상기 충전 전압 값과 상기 방전 전압 값의 차이에 기초하여 상기 입력회로의 정상 여부를 판정하는 단계를 더 포함할 수 있다.The method of inspecting the input circuit of the electronic control device may further include the step of the external reading device determining whether the input circuit is normal based on the difference between the charging voltage value and the discharging voltage value.

상기된 본 발명에 의하면, 워치독 타이머의 동작을 중지시키지 않으면서 입력회로의 저항 및 커패시터의 시정수에 따라 요구되는 검사 시간에도 불구하고 입력회로의 저항 및 커패시터의 기능을 검사할 수 있다.According to the present invention described above, the function of the resistance and capacitor of the input circuit can be tested despite the test time required according to the time constant of the resistance and capacitor of the input circuit without stopping the operation of the watchdog timer.

도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른, 전자제어장치의 입력회로 검사 시스템의 구성을 나타낸다.
도 2a는 입력회로의 저항 및 커패시터의 일 예를 나타낸다.
도 2b는 도 2a의 저항 및 커패시터에 따른 충방전 특성을 나타낸다.
도 3a는 입력회로의 저항 및 커패시터의 다른 예를 나타낸다.
도 3b는 도 3b의 저항 및 커패시터에 따른 충방전 특성과 본 발명의 실시예에 따라 검출되는 충전 전압 값 및 방전 전압 값을 나타낸다.
도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른, 전자제어장치의 입력회로 검사 방법의 흐름도를 나타낸다.
Figure 1 shows the configuration of an input circuit inspection system for an electronic control device according to an embodiment of the present invention.
Figure 2a shows an example of the resistor and capacitor of the input circuit.
Figure 2b shows charge/discharge characteristics according to the resistance and capacitor of Figure 2a.
Figure 3a shows another example of a resistor and capacitor in an input circuit.
FIG. 3B shows charging and discharging characteristics according to the resistor and capacitor of FIG. 3B and charging and discharging voltage values detected according to an embodiment of the present invention.
Figure 4 shows a flowchart of a method for inspecting an input circuit of an electronic control device according to an embodiment of the present invention.

이하에서는 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예들을 상세히 설명한다. 이하 설명 및 첨부된 도면들에서 실질적으로 동일한 구성요소들은 각각 동일한 부호들로 나타냄으로써 중복 설명을 생략하기로 한다. 또한 본 발명을 설명함에 있어 관련된 공지기능 혹은 구성에 대한 구체적인 설명이 본 발명의 요지를 불필요하게 흐릴 수 있다고 판단되는 경우 그에 대한 상세한 설명은 생략하기로 한다.Hereinafter, preferred embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the drawings. In the following description and the accompanying drawings, substantially the same components are denoted by the same symbols to avoid redundant description. Additionally, when describing the present invention, if it is determined that a detailed description of a related known function or configuration may unnecessarily obscure the gist of the present invention, the detailed description thereof will be omitted.

도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른, 전자제어장치의 입력회로 검사 시스템의 구성을 나타낸다.Figure 1 shows the configuration of an input circuit inspection system for an electronic control device according to an embodiment of the present invention.

본 실시예에 따른 전자제어장치의 입력회로 검사 시스템은, 입력회로(10), 마이크로프로세서(20), 구동회로(30), 워치독 타이머(40)로 구성된 전자제어장치와, 상기 전자제어장치와 네트워크(50)를 통해 연결된 외부 판독장치(60)를 포함한다.The input circuit inspection system of the electronic control device according to this embodiment includes an electronic control device consisting of an input circuit 10, a microprocessor 20, a driving circuit 30, and a watchdog timer 40, and the electronic control device. and an external reading device 60 connected through a network 50.

입력회로(10)는 적어도 하나 이상의 저항 및 커패시터를 포함하여 구성된다. 여기서, 입력회로(10)의 기능 검사를 위해 입력회로(10)의 입력단은 구동회로(30)의 출력단과 연결될 수 있다.The input circuit 10 includes at least one resistor and a capacitor. Here, in order to test the function of the input circuit 10, the input terminal of the input circuit 10 may be connected to the output terminal of the driving circuit 30.

구동회로(30)는 마이크로프로세서(20)의 제어에 따라 입력회로(10)의 입력단에 VCC 전압과 GND 전압을 선택적으로 인가한다. 구체적으로, 구동회로(30)는 VCC 전압과 GND 전압을 선택적으로 인가하기 위한 전원과 상기 전원들 사이를 스위칭하는 스위치로 구성될 수 있으며, 마이크로프로세서(20)의 제어에 따라 VCC 전원 또는 GND 전원이 출력되도록 스위칭 동작을 수행한다.The driving circuit 30 selectively applies the VCC voltage and the GND voltage to the input terminal of the input circuit 10 under the control of the microprocessor 20. Specifically, the driving circuit 30 may be composed of a power source for selectively applying the VCC voltage and the GND voltage and a switch for switching between the power sources, and may be configured to use the VCC power or the GND power according to the control of the microprocessor 20. Perform a switching operation so that this is output.

마이크로프로세서(20)는 입력회로(10)의 충전 전압 및 방전 전압을 측정한다. 구체적으로, 마이크로프로세서(20)는 구동회로(30)에 의해 입력회로(10)에 VCC 전압이 인가되고 기 설정된 시간 후 커패시터(C2)의 충전 전압 값을 검출할 수 있다. 또한, 마이크로프로세서(20)는 구동회로(30)에 의해 입력회로(10)에 GND 전압이 인가되고 기 설정된 시간 후 커패시터(C2)의 방전 전압 값을 검출할 수 있다.The microprocessor 20 measures the charging and discharging voltages of the input circuit 10. Specifically, the microprocessor 20 may detect the charging voltage value of the capacitor C 2 after the VCC voltage is applied to the input circuit 10 by the driving circuit 30 and a preset time. Additionally, the microprocessor 20 may detect the discharge voltage value of the capacitor C 2 after the GND voltage is applied to the input circuit 10 by the driving circuit 30 and a preset time.

워치독 타이머(40)는 마이크로프로세서(20)의 오동작을 감지하는 기능을 수행한다. 예컨대, 워치독 타이머(40)는 마이크로프로세서(20)가 할당된 특정 태스크를 수행하는 중 오류가 발생하여 태스크 처리가 지연되는 것을 방지하기 위하여, 기 설정된 일정 시간(워치독 타임) 내에 마이크로프로세서(20)로부터 워치독 신호를 수신한다. 만일 워치독 타임 이내에 마이크로프로세서(20)로부터 워치독 신호가 수신되지 않는 경우에 워치독 타이머(40)는 에러 카운트 누적에 따라 마이크로프로세서(20)로 리셋 신호를 전송하여 오류 발생으로 인해 프로세스 처리가 지연되는 것을 방지할 수 있다.The watchdog timer 40 performs a function of detecting malfunction of the microprocessor 20. For example, the watchdog timer 40 operates the microprocessor (20) within a preset certain time (watchdog time) in order to prevent task processing from being delayed due to an error occurring while the microprocessor 20 is performing a specific assigned task. 20) Receive the watchdog signal from. If a watchdog signal is not received from the microprocessor 20 within the watchdog time, the watchdog timer 40 transmits a reset signal to the microprocessor 20 according to the error count accumulation to prevent process processing due to an error. Delays can be prevented.

마이크로프로세서(20)는 워치독 타이머(40)에서 요구되는 워치독 신호를 일정 시간 간격(워치독 타임)으로 전송하는데, 이와 같은 워치독 신호가 정상적으로 몇회 이상 전송되면 워치독 타이머(40)에서는 에러 카운트 감소에 따라 구동회로(30)를 활성화시키는 구동 신호(인에이블 신호)가 생성된다. 워치독 타이머(40)에서 구동 신호가 생성되면, 구동회로(30)로 전송되어 구동회로(30)가 동작할 수 있는 상태가 된다.The microprocessor 20 transmits the watchdog signal required by the watchdog timer 40 at regular time intervals (watchdog time). If this watchdog signal is normally transmitted more than a few times, the watchdog timer 40 generates an error. As the count decreases, a driving signal (enable signal) that activates the driving circuit 30 is generated. When a driving signal is generated in the watchdog timer 40, it is transmitted to the driving circuit 30 and the driving circuit 30 is in an operable state.

앞서 설명한 바와 같이, 선행기술에서는 전자제어장치의 기능 검사가 시작되기 전에 워치독 타이머(40)의 동작을 중지시키고 검사를 수행하였다. 그러나 기능 검사시마다 워치독 타이머(40)의 동작을 중지시킬 경우 워치독 타이머(40)의 제어 시간에 따른 사이클 타임 증가와 시스템 안정성 문제가 발생할 수 있다. As described above, in the prior art, before the functional test of the electronic control device begins, the operation of the watchdog timer 40 is stopped and the test is performed. However, if the operation of the watchdog timer 40 is stopped every time a function is checked, the cycle time may increase depending on the control time of the watchdog timer 40 and problems with system stability may occur.

또한, 입력회로(10)의 저항 및 커패시터의 시정수가 큰 경우 기능 검사에 소요되는 시간이 일정 시간 요구되어 검사가 불가능한 경우도 있다.Additionally, if the time constant of the resistance and capacitor of the input circuit 10 is large, the functional test may require a certain amount of time, making the test impossible.

도 2a는 입력회로(10)의 저항 및 커패시터의 일 예를 나타내고, 도 2b는 도 2a의 저항 및 커패시터에 따른 충방전 특성을 나타낸다. 도 2a 및 2b를 참조하면, 저항(R2) 및 커패시터(C2)의 시정수는 약 0.324ms로서 약 7.5ms 내에 충전 완료 및 방전 완료가 가능하다. 워치독 타이머(40)에서 에러 카운트가 1개 증가하는 시간이 3.7ms이고 에러 카운트가 5개가 되면 인에이블 신호가 소멸된다고 가정하면, 에러 카운트 누적에 따른 디스에이블 시간은 3.7ms×5=18.5ms가 된다. 따라서 도 2a와 같은 저항(R2) 및 커패시터(C2)의 경우 요구되는 충방전 검사 시간이 워치독 타이머(40)의 에러카운트 누적에 따른 디스에이블 시간을 초과하지 않으므로 검사가 가능하다. 물론 에러카운트 누적에 따른 디스에이블 시간은 워치독 타이머(40)의 사양 또는 설계에 따라 다양하게 정해질 수 있다.FIG. 2A shows an example of the resistance and capacitor of the input circuit 10, and FIG. 2B shows charging and discharging characteristics according to the resistance and capacitor of FIG. 2A. Referring to FIGS. 2A and 2B, the time constant of the resistor (R 2 ) and the capacitor (C 2 ) is about 0.324 ms, allowing charging and discharging to be completed within about 7.5 ms. Assuming that the time for the error count to increase by 1 in the watchdog timer 40 is 3.7 ms and that the enable signal disappears when the error count reaches 5, the disable time due to error count accumulation is 3.7 ms × 5 = 18.5 ms. It becomes. Therefore, in the case of the resistor (R 2 ) and capacitor (C 2 ) as shown in FIG. 2A, inspection is possible because the required charging and discharging inspection time does not exceed the disable time due to the accumulation of error counts of the watchdog timer 40. Of course, the disable time according to error count accumulation can be determined in various ways depending on the specifications or design of the watchdog timer 40.

도 3a는 입력회로의 저항 및 커패시터의 다른 예를 나타내고, 도 3b는 도 3b의 저항 및 커패시터에 따른 충방전 특성을 나타낸다. 도 3a 및 3b를 참조하면, 저항(R2) 및 커패시터(C2)의 시정수는 약 47ms로서 충전 완료 및 방전 완료에 필요한 시간은 약 550ms가 된다. 따라서 워치독 타이머(40)의 에러카운트 누적에 따른 디스에이블 시간 18.5ms 내에 충방전 검사를 수행할 수 없다.Figure 3a shows another example of the resistor and capacitor of the input circuit, and Figure 3b shows charge and discharge characteristics according to the resistor and capacitor of Figure 3b. Referring to FIGS. 3A and 3B, the time constant of the resistor (R 2 ) and the capacitor (C 2 ) is about 47 ms, and the time required to complete charging and discharging is about 550 ms. Therefore, the charge/discharge test cannot be performed within the disable time of 18.5 ms due to the accumulation of error counts of the watchdog timer 40.

이에 본 발명의 실시예에서는, 워치독 타이머(40)의 동작을 중지시키지 않고, 입력회로(10)의 저항 및 커패시터의 시정수에 따라 요구되는 충방전 검사 시간이 워치독 타이머의 에러 카운트 누적에 따른 디스에이블 시간을 초과하지 않는 경우와 초과하는 경우에 따라 서로 다른 방식의 제1 검사모드 또는 제2 검사모드로 충방전 검사를 수행한다. 제1 검사모드든 제2 검사모드든 충방전 검사에 걸리는 시간은 워치독 타이머의 에러 카운트 누적에 따른 디스에이블 시간 이내가 된다.Accordingly, in an embodiment of the present invention, the operation of the watchdog timer 40 is not stopped, and the charge/discharge inspection time required according to the resistance of the input circuit 10 and the time constant of the capacitor is adjusted to the error count accumulation of the watchdog timer. Depending on the case where the disable time is not exceeded and when it is exceeded, the charge/discharge test is performed using different methods of the first test mode or the second test mode. The time taken for the charge/discharge test, whether in the first test mode or the second test mode, is within the disable time according to the accumulation of error counts of the watchdog timer.

제1 검사모드는 입력회로(10)의 저항 및 커패시터의 시정수에 따라 요구되는 충방전 검사 시간이 워치독 타이머의 에러 카운트 누적에 따른 디스에이블 시간을 초과하지 않는 경우이다. 제1 검사모드에서 마이크로프로세서(20)는, 입력회로(10)에 VCC 전압이 인가되고 기 설정된 시간 후 커패시터의 충전 완료된 충전 전압 값을 검출하고, 입력회로(10)에 GND 전압이 인가되고 기 설정된 시간 후 커패시터의 방전 완료된 방전 전압 값을 검출한다. 그리고 마이크로프로세서(20)는 충전 전압 값과 방전 전압 값을 외부 판독장치(60)로 전송하고, 외부 판독장치(60)는 충전 전압 값과 방전 전압 값에 기초하여 입력 회로(10)의 정상 여부를 판정한다.The first test mode is a case where the charge/discharge test time required according to the resistance of the input circuit 10 and the time constant of the capacitor does not exceed the disable time according to the error count accumulation of the watchdog timer. In the first test mode, the microprocessor 20 detects the fully charged charging voltage value of the capacitor after a preset time after the VCC voltage is applied to the input circuit 10, and the GND voltage is applied to the input circuit 10. After the set time, the discharge voltage value of the capacitor when discharge is completed is detected. Then, the microprocessor 20 transmits the charging voltage value and the discharging voltage value to the external reading device 60, and the external reading device 60 determines whether the input circuit 10 is normal based on the charging voltage value and the discharging voltage value. decide.

제2 검사모드는 입력회로(10)의 저항 및 커패시터의 시정수에 따라 요구되는 충방전 검사 시간이 워치독 타이머의 에러 카운트 누적에 따른 디스에이블 시간을 초과하는 경우이다. 제2 검사모드에서 마이크로프로세서(20)는, 입력회로(10)에 VCC 전압이 인가되고 기 설정된 시간 후 커패시터의 충전 완료 전 충전 전압 값을 검출하고, 입력회로(10)에 GND 전압이 인가되고 기 설정된 시간 후 커패시터의 방전 완료 전 방전 전압 값을 검출한다. 예컨대 도 3b에 도시된 바와 같이, 충전 완료 전에 약 2.2V의 충전 전압이 검출되고, 방전 완료 전에 약 1.2V의 방전 전압이 검출된다. 그리고 마이크로프로세서(20)는 충전 전압 값과 방전 전압 값의 차이를 계산하여 외부 판독장치(60)로 전송하고, 외부 판독장치(60)는 충전 전압 값과 방전 전압 값의 차이에 기초하여 입력 회로(10)의 정상 여부를 판정한다. 예컨대 충전 전압 값과 방전 전압 값의 차이가 특정 정상 범위 내에 들어오는 경우 정상으로 판정된다.The second test mode is when the charging/discharging test time required according to the resistance of the input circuit 10 and the time constant of the capacitor exceeds the disable time according to the error count accumulation of the watchdog timer. In the second test mode, the microprocessor 20 detects the charging voltage value before the charging of the capacitor is completed after a preset time after the VCC voltage is applied to the input circuit 10, and the GND voltage is applied to the input circuit 10. After a preset time, the discharge voltage value before the discharge of the capacitor is completed is detected. For example, as shown in FIG. 3B, a charging voltage of approximately 2.2V is detected before completion of charging, and a discharge voltage of approximately 1.2V is detected before completion of discharging. Then, the microprocessor 20 calculates the difference between the charging voltage value and the discharging voltage value and transmits it to the external reading device 60, and the external reading device 60 operates an input circuit based on the difference between the charging voltage value and the discharging voltage value. Determine whether (10) is normal. For example, if the difference between the charging voltage value and the discharging voltage value is within a certain normal range, it is determined to be normal.

일 실시예에서, 제1 검사모드와 제2 검사모드는 검사 대상인 입력회로(10)의 저항 및 커패시터의 시정수에 따라 요구되는 충방전 검사 시간과 워치독 타이머(40)의 에러 카운트 누적에 따른 디스에이블 시간을 비교하여 사용자에 의해 설정될 수 있다. 이 경우 전자제어장치의 입력회로 검사 시스템은 제1 검사모드와 제2 검사모드의 설정을 위한 사용자 인터페이스를 구비할 수 있다.In one embodiment, the first test mode and the second test mode are based on the charging and discharging test time required according to the time constant of the resistance and capacitor of the input circuit 10, which is the test target, and the error count accumulation of the watchdog timer 40. It can be set by the user by comparing the disable time. In this case, the input circuit inspection system of the electronic control device may be provided with a user interface for setting the first inspection mode and the second inspection mode.

다른 실시예에서, 입력회로(10)의 저항 및 커패시터의 값 또는 시정수를 입력받고, 저항 및 커패시터의 시정수에 따라 요구되는 충방전 검사 시간을 산출하는 로직 또는 룩업테이블을 구성하여, 마이크로프로세서(20)가 산출된 요구 충방전 검사 시간과 워치독 타이머(40)의 에러 카운트 누적에 따른 디스에이블 시간을 비교하여 제1 검사모드와 제2 검사모드를 선택할 수 있다. 이 경우 전자제어장치의 입력회로 검사 시스템은 입력회로(10)의 저항 및 커패시터의 값 또는 시정수를 입력받기 위한 사용자 인터페이스를 구비할 수 있다.In another embodiment, the values or time constants of the resistance and capacitor of the input circuit 10 are input, and logic or a lookup table is configured to calculate the required charge/discharge test time according to the time constants of the resistance and capacitor, so that the microprocessor The first test mode and the second test mode can be selected by comparing the required charge/discharge test time calculated by (20) with the disable time according to the error count accumulation of the watchdog timer (40). In this case, the input circuit inspection system of the electronic control device may be provided with a user interface for receiving the values or time constants of the resistance and capacitor of the input circuit 10.

도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른, 전자제어장치의 입력회로 검사 방법의 흐름도를 나타낸다.Figure 4 shows a flowchart of a method for inspecting an input circuit of an electronic control device according to an embodiment of the present invention.

410단계에서, 입력회로(10)의 입력단과 구동회로(30)의 출력단이 전기적으로 연결된다.In step 410, the input terminal of the input circuit 10 and the output terminal of the driving circuit 30 are electrically connected.

420단계에서, 워치독 타이머(40)가 구동회로(30)에 구동 신호(인에이블 신호)를 인가한다. 구체적으로, 마이크로프로세서(20)가 워치독 타이머(40)로 워치독 신호를 정상적으로 몇회 이상 전송하면 워치독 타이머(40)에서는 에러 카운트 감소에 따라 구동회로(30)를 활성화시키는 구동 신호가 생성되어 구동회로(30)에 인가된다.In step 420, the watchdog timer 40 applies a driving signal (enable signal) to the driving circuit 30. Specifically, when the microprocessor 20 normally transmits the watchdog signal to the watchdog timer 40 more than a few times, the watchdog timer 40 generates a drive signal to activate the drive circuit 30 as the error count decreases. It is applied to the driving circuit 30.

430단계에서, 입력회로(10)의 저항 및 커패시터의 시정수에 따라 요구되는 충방전 검사 시간이 워치독 타이머(40)의 에러 카운트 누적에 따른 디스에이블 시간을 초과하는지 판단되어, 초과하지 않는 경우 제1 모드로서 440단계 내지 455단계가 수행되고, 초과하는 경우 제2 모드로서 460단계 내지 480단계가 수행된다.In step 430, it is determined whether the charge/discharge test time required according to the resistance of the input circuit 10 and the time constant of the capacitor exceeds the disable time according to the error count accumulation of the watchdog timer 40, and if it does not exceed the disable time according to the error count accumulation of the watchdog timer 40. Steps 440 to 455 are performed as the first mode, and if it exceeds, steps 460 to 480 are performed as the second mode.

입력회로(10)의 저항 및 커패시터의 시정수에 따라 요구되는 충방전 검사 시간이 워치독 타이머(40)의 에러 카운트 누적에 따른 디스에이블 시간을 초과하지 않으면, 440단계에서, 마이크로프로세서(20)는 입력회로(10)의 입력단에 VCC 전압이 인가되도록 구동회로(30)를 제어하고, 기 설정된 시간 후 커패시터의 충전 전압 값을 검출한다. 여기서 검출되는 충전 전압 값은 충전 완료된 전압이 된다.If the charge/discharge test time required according to the resistance of the input circuit 10 and the time constant of the capacitor does not exceed the disable time according to the error count accumulation of the watchdog timer 40, in step 440, the microprocessor 20 Controls the driving circuit 30 so that the VCC voltage is applied to the input terminal of the input circuit 10, and detects the charging voltage value of the capacitor after a preset time. The charging voltage value detected here becomes the fully charged voltage.

445단계에서, 마이크로프로세서(20)는 입력회로(10)의 입력단에 GND 전압이 인가되도록 구동회로(30)를 제어하고, 기 설정된 시간 후 커패시터의 방전 전압 값을 검출한다. 여기서 검출되는 방전 전압 값은 방전 완료된 전압이 된다.In step 445, the microprocessor 20 controls the driving circuit 30 so that the GND voltage is applied to the input terminal of the input circuit 10, and detects the discharge voltage value of the capacitor after a preset time. The discharge voltage value detected here becomes the voltage at which discharge has been completed.

450단계에서, 마이크로프로세서(20)는 검출된 충전 전압 값과 방전 전압 값을 디지털 신호로 변환하여 네트워크(50)를 통해 외부 판독장치(60)로 전송한다.In step 450, the microprocessor 20 converts the detected charging and discharging voltage values into digital signals and transmits them to the external reading device 60 through the network 50.

455단계에서, 외부 판독장치(60)는 충전 전압 값과 방전 전압 값에 기초하여 입력회로(10)의 정상 여부를 판정한다.In step 455, the external reading device 60 determines whether the input circuit 10 is normal based on the charging voltage value and the discharging voltage value.

입력회로(10)의 저항 및 커패시터의 시정수에 따라 요구되는 충방전 검사 시간이 워치독 타이머(40)의 에러 카운트 누적에 따른 디스에이블 시간을 초과하면, 460단계에서, 마이크로프로세서(20)는 입력회로(10)의 입력단에 VCC 전압이 인가되도록 구동회로(30)를 제어하고, 기 설정된 시간 후 커패시터의 충전 전압 값을 검출한다. 여기서 검출되는 충전 전압 값은 충전 완료 전의 전압이 된다. 그리고 마이크로프로세서(20)는 검출된 충전 전압 값을 디지털 신호로 변환하여 저장한다.If the charge/discharge test time required according to the resistance of the input circuit 10 and the time constant of the capacitor exceeds the disable time according to the error count accumulation of the watchdog timer 40, in step 460, the microprocessor 20 The driving circuit 30 is controlled so that the VCC voltage is applied to the input terminal of the input circuit 10, and the charging voltage value of the capacitor is detected after a preset time. The charging voltage value detected here is the voltage before charging is completed. Then, the microprocessor 20 converts the detected charging voltage value into a digital signal and stores it.

465단계에서, 마이크로프로세서(20)는 입력회로(10)의 입력단에 GND 전압이 인가되도록 구동회로(30)를 제어하고, 기 설정된 시간 후 커패시터의 방전 전압 값을 검출한다. 여기서 검출되는 방전 전압 값은 방전 완료 전의 전압이 된다. 그리고 마이크로프로세서(20)는 검출된 방전 전압 값을 디지털 신호로 변환하여 저장한다.In step 465, the microprocessor 20 controls the driving circuit 30 so that the GND voltage is applied to the input terminal of the input circuit 10, and detects the discharge voltage value of the capacitor after a preset time. The discharge voltage value detected here is the voltage before discharge is completed. Then, the microprocessor 20 converts the detected discharge voltage value into a digital signal and stores it.

470단계에서, 마이크로프로세서(20)는 충전 전압 값과 방전 전압 값의 차이를 계산한다.In step 470, the microprocessor 20 calculates the difference between the charging voltage value and the discharging voltage value.

475단계에서, 마이크로프로세서(20)는 충전 전압 값과 방전 전압 값의 차이를 네트워크(50)를 통해 외부 판독장치(60)로 전송한다. 이때 마이크로프로세서(20)는, 전송되는 값이 충전 전압 값과 방전 전압 값의 차이임을 나타내는 정보를 함께 전송할 수 있다.In step 475, the microprocessor 20 transmits the difference between the charging voltage value and the discharging voltage value to the external reading device 60 through the network 50. At this time, the microprocessor 20 may also transmit information indicating that the transmitted value is the difference between the charging voltage value and the discharging voltage value.

480단계에서, 외부 판독장치(60)는 충전 전압 값과 방전 전압 값의 차이에 기초하여 입력회로(10)의 정상 여부를 판정한다. 예컨대 외부 판독장치(60)는 충전 전압 값과 방전 전압 값의 차이가 특정 정상 범위 내에 들어오는 경우 정상으로 판정할 수 있다. In step 480, the external reading device 60 determines whether the input circuit 10 is normal based on the difference between the charging voltage value and the discharging voltage value. For example, the external reading device 60 may determine that the difference between the charging voltage value and the discharging voltage value is normal if it falls within a certain normal range.

본 발명의 실시예에 의하면, 워치독 타이머의 동작을 중지시키지 않으므로 워치독 타이머의 제어 시간에 따른 사이클 타임이 요구되지 않으며, 워치독 타이머의 기능이 계속적으로 수행되므로 시스템이 안정적으로 동작할 수 있다. 또한 입력회로의 저항 및 커패시터의 시정수가 큰 경우 요구되는 검사 시간에도 불구하고 워치독 타이머의 에러 카운트 누적에 따른 디스에이블 시간 내에 입력회로의 기능을 검사할 수 있다.According to an embodiment of the present invention, since the operation of the watchdog timer is not stopped, a cycle time according to the control time of the watchdog timer is not required, and the function of the watchdog timer is continuously performed, so the system can operate stably. . In addition, when the resistance and time constant of the capacitor of the input circuit are large, the function of the input circuit can be tested within the disable time due to the accumulation of error counts of the watchdog timer, despite the required test time.

본 발명에 첨부된 블록도의 각 블록과 흐름도의 각 단계의 조합들은 컴퓨터 프로그램 인스트럭션들에 의해 수행될 수도 있다. 이들 컴퓨터 프로그램 인스트럭션들은 범용 컴퓨터, 특수용 컴퓨터 또는 기타 프로그램 가능한 데이터 프로세싱 장비의 프로세서에 탑재될 수 있으므로, 컴퓨터 또는 기타 프로그램 가능한 데이터 프로세싱 장비의 프로세서를 통해 수행되는 그 인스트럭션들이 블록도의 각 블록 또는 흐름도의 각 단계에서 설명된 기능들을 수행하는 수단을 생성하게 된다. 이들 컴퓨터 프로그램 인스트럭션들은 특정 방식으로 기능을 구현하기 위해 컴퓨터 또는 기타 프로그램 가능한 데이터 프로세싱 장비를 지향할 수 있는 컴퓨터 이용 가능 또는 컴퓨터 판독 가능 메모리에 저장되는 것도 가능하므로, 그 컴퓨터 이용가능 또는 컴퓨터 판독 가능 메모리에 저장된 인스트럭션들은 블록도의 각 블록 또는 흐름도 각 단계에서 설명된 기능을 수행하는 인스트럭션 수단을 내포하는 제조 품목을 생산하는 것도 가능하다. 컴퓨터 프로그램 인스트럭션들은 컴퓨터 또는 기타 프로그램 가능한 데이터 프로세싱 장비 상에 탑재되는 것도 가능하므로, 컴퓨터 또는 기타 프로그램 가능한 데이터 프로세싱 장비 상에서 일련의 동작 단계들이 수행되어 컴퓨터로 실행되는 프로세스를 생성해서 컴퓨터 또는 기타 프로그램 가능한 데이터 프로세싱 장비를 수행하는 인스트럭션들은 블록도의 각 블록 및 흐름도의 각 단계에서 설명된 기능들을 실행하기 위한 단계들을 제공하는 것도 가능하다. Combinations of each block of the block diagram and each step of the flow diagram attached to the present invention may be performed by computer program instructions. Since these computer program instructions can be mounted on the processor of a general-purpose computer, special-purpose computer, or other programmable data processing equipment, the instructions performed through the processor of the computer or other programmable data processing equipment are shown in each block of the block diagram or flow diagram. Each step creates the means to perform the functions described. These computer program instructions may also be stored in computer-usable or computer-readable memory that can be directed to a computer or other programmable data processing equipment to implement a function in a particular manner, so that the computer-usable or computer-readable memory The instructions stored in can also produce manufactured items containing instruction means that perform the functions described in each block of the block diagram or each step of the flow diagram. Computer program instructions can also be mounted on a computer or other programmable data processing equipment, so that a series of operational steps are performed on the computer or other programmable data processing equipment to create a process that is executed by the computer, thereby generating a process that is executed by the computer or other programmable data processing equipment. Instructions that perform processing equipment may also provide steps for executing functions described in each block of the block diagram and each step of the flow diagram.

또한, 각 블록 또는 각 단계는 특정된 논리적 기능(들)을 실행하기 위한 하나 이상의 실행 가능한 인스트럭션들을 포함하는 모듈, 세그먼트 또는 코드의 일부를 나타낼 수 있다. 또, 몇 가지 대체 실시예들에서는 블록들 또는 단계들에서 언급된 기능들이 순서를 벗어나서 발생하는 것도 가능함을 주목해야 한다. 예컨대, 잇달아 도시되어 있는 두 개의 블록들 또는 단계들은 사실 실질적으로 동시에 수행되는 것도 가능하고 또는 그 블록들 또는 단계들이 때때로 해당하는 기능에 따라 역순으로 수행되는 것도 가능하다.Additionally, each block or each step may represent a module, segment, or portion of code that includes one or more executable instructions for executing specified logical function(s). Additionally, it should be noted that in some alternative embodiments it is possible for the functions mentioned in the blocks or steps to occur out of order. For example, two blocks or steps shown in succession may in fact be performed substantially simultaneously, or the blocks or steps may sometimes be performed in reverse order depending on the corresponding function.

이상의 설명은 본 발명의 기술 사상을 예시적으로 설명한 것에 불과한 것으로서, 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 본 발명의 본질적인 특성에서 벗어나지 않는 범위에서 다양한 수정 및 변형이 가능할 것이다. 따라서, 본 발명에 개시된 실시예들은 본 발명의 기술 사상을 한정하기 위한 것이 아니라 설명하기 위한 것이고, 이러한 실시예에 의하여 본 발명의 기술 사상의 범위가 한정되는 것은 아니다. 본 발명의 보호 범위는 아래의 청구범위에 의하여 해석되어야 하며, 그와 동등한 범위 내에 있는 모든 기술사상은 본 발명의 권리범위에 포함되는 것으로 해석되어야 할 것이다.The above description is merely an illustrative explanation of the technical idea of the present invention, and various modifications and variations will be possible to those skilled in the art without departing from the essential characteristics of the present invention. Accordingly, the embodiments disclosed in the present invention are not intended to limit the technical idea of the present invention, but are for illustrative purposes, and the scope of the technical idea of the present invention is not limited by these embodiments. The scope of protection of the present invention shall be interpreted in accordance with the claims below, and all technical ideas within the equivalent scope shall be construed as being included in the scope of rights of the present invention.

Claims (12)

적어도 하나 이상의 저항 및 커패시터를 포함하는 입력회로;
상기 입력회로의 커패시터의 충전 전압 및 방전 전압을 측정하는 마이크로프로세서;
상기 마이크로프로세서의 제어에 따라 상기 입력회로의 입력단에 VCC 전압과 GND 전압을 선택적으로 인가하는 구동회로; 및
상기 구동회로에 구동 신호를 인가하는 워치독 타이머를 포함하고,
상기 마이크로프로세서는,
상기 워치독 타이머에서 요구되는 워치독 신호를 일정 시간 간격으로 전송하여 상기 구동 신호를 활성화하고,
상기 입력회로에 VCC 전압이 인가되고 기 설정된 시간 후 상기 커패시터의 충전 전압 값을 검출하고, 상기 입력회로에 GND 전압이 인가되고 기 설정된 시간 후 상기 커패시터의 방전 전압 값을 검출하며,
상기 저항 및 커패시터의 시정수에 따라 요구되는 충방전 검사 시간이 상기 워치독 타이머의 에러 카운트 누적에 따른 디스에이블 시간을 초과하는 경우, 상기 충전 전압 값과 상기 방전 전압 값의 차이를 외부 판독장치로 전송하는 것을 특징으로 하는 전자제어장치의 입력회로 검사 시스템.
An input circuit including at least one resistor and a capacitor;
a microprocessor that measures the charging and discharging voltages of the capacitor of the input circuit;
a driving circuit that selectively applies VCC voltage and GND voltage to the input terminal of the input circuit under the control of the microprocessor; and
It includes a watchdog timer that applies a driving signal to the driving circuit,
The microprocessor,
Activating the driving signal by transmitting the watchdog signal required by the watchdog timer at regular time intervals,
Detecting the charging voltage value of the capacitor after the VCC voltage is applied to the input circuit and a preset time, and detecting the discharge voltage value of the capacitor after a preset time after the GND voltage is applied to the input circuit,
If the charge/discharge test time required according to the time constants of the resistor and capacitor exceeds the disable time according to the error count accumulation of the watchdog timer, the difference between the charge voltage value and the discharge voltage value is read by an external reading device. An input circuit inspection system for an electronic control device characterized by transmitting.
제1항에 있어서,
상기 마이크로프로세서는,
상기 저항 및 커패시터의 시정수에 따라 요구되는 충방전 검사 시간이 상기 워치독 타이머의 에러 카운트 누적에 따른 디스에이블 시간을 초과하지 않는 경우, 상기 충전 전압 값 및 상기 방전 전압 값을 상기 외부 판독장치로 전송하는 것을 특징으로 하는 전자제어장치의 입력회로 검사 시스템.
According to paragraph 1,
The microprocessor,
If the charge/discharge test time required according to the time constants of the resistor and capacitor does not exceed the disable time according to the error count accumulation of the watchdog timer, the charge voltage value and the discharge voltage value are transmitted to the external reading device. An input circuit inspection system for an electronic control device characterized by transmitting.
제1항에 있어서,
상기 마이크로프로세서가, 상기 입력회로에 VCC 전압이 인가되고 기 설정된 시간 후 상기 커패시터의 충전 전압 값을 검출하고, 상기 입력회로에 GND 전압이 인가되고 기 설정된 시간 후 상기 커패시터의 방전 전압 값을 검출하는 데 걸리는 시간은, 상기 워치독 타이머의 에러 카운트 누적에 따른 디스에이블 시간 이내인 것을 특징으로 하는 전자제어장치의 입력회로 검사 시스템.
According to paragraph 1,
The microprocessor detects the charging voltage value of the capacitor after a preset time after the VCC voltage is applied to the input circuit, and detects the discharge voltage value of the capacitor after a preset time after the GND voltage is applied to the input circuit. An input circuit inspection system for an electronic control device, characterized in that the time taken is within the disable time according to the error count accumulation of the watchdog timer.
제1항에 있어서,
상기 저항 및 커패시터의 시정수에 따라 요구되는 충방전 검사 시간이 상기 워치독 타이머의 에러 카운트 누적에 따른 디스에이블 시간을 초과하는 경우, 상기 충전 전압 값은 충전 완료 전의 전압이고, 상기 방전 전압 값은 방전 완료 전의 전압인 것을 특징으로 하는 전자제어장치의 입력회로 검사 시스템.
According to paragraph 1,
If the charge/discharge test time required according to the time constants of the resistor and capacitor exceeds the disable time according to the error count accumulation of the watchdog timer, the charge voltage value is the voltage before charging is completed, and the discharge voltage value is An input circuit inspection system for an electronic control device, characterized in that the voltage is before completion of discharge.
제1항에 있어서,
상기 저항 및 커패시터의 시정수에 따라 요구되는 충방전 검사 시간이 상기 워치독 타이머의 에러 카운트 누적에 따른 디스에이블 시간을 초과하지 않는 경우, 상기 충전 전압 값은 충전 완료된 전압이고, 상기 방전 전압 값은 방전 완료된 전압인 것을 특징으로 하는 전자제어장치의 입력회로 검사 시스템.
According to paragraph 1,
If the charge/discharge test time required according to the time constants of the resistor and the capacitor does not exceed the disable time according to the error count accumulation of the watchdog timer, the charge voltage value is the charging completed voltage, and the discharge voltage value is An input circuit inspection system for an electronic control device, characterized in that the voltage is completely discharged.
제1항에 있어서,
상기 외부 판독장치는 상기 충전 전압 값과 상기 방전 전압 값의 차이에 기초하여 상기 입력회로의 정상 여부를 판정하는 것을 특징으로 하는 전자제어장치의 입력회로 검사 시스템.
According to paragraph 1,
The external reading device determines whether the input circuit is normal based on the difference between the charging voltage value and the discharging voltage value.
적어도 하나 이상의 저항 및 커패시터를 포함하는 입력회로와, 상기 입력회로의 커패시터의 충전 전압 및 방전 전압을 측정하는 마이크로프로세서와, 상기 마이크로프로세서의 제어에 따라 상기 입력회로의 입력단에 VCC 전압과 GND 전압을 선택적으로 인가하는 구동회로, 및 상기 구동회로에 구동 신호를 인가하는 워치독 타이머를 포함하는 전자제어장치의 입력회로를 검사하는 방법에 있어서,
상기 입력회로의 입력단과 상기 구동회로의 출력단을 연결하는 단계;
상기 워치독 타이머에서 요구되는 워치독 신호를 일정 시간 간격으로 전송하여 상기 구동 신호를 활성화하는 단계;
상기 입력회로의 입력단에 VCC 전압이 인가되도록 상기 구동회로를 제어하고, 기 설정된 시간 후 상기 커패시터의 충전 전압 값을 검출하는 단계;
상기 입력회로의 입력단에 GND 전압이 인가되도록 상기 구동회로를 제어하고, 기 설정된 시간 후 상기 커패시터의 방전 전압 값을 검출하는 단계; 및
상기 저항 및 커패시터의 시정수에 따라 요구되는 충방전 검사 시간이 상기 워치독 타이머의 에러 카운트 누적에 따른 디스에이블 시간을 초과하는 경우, 상기 충전 전압 값과 상기 방전 전압 값의 차이를 외부 판독장치로 전송하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 전자제어장치의 입력회로 검사 방법.
An input circuit including at least one resistor and a capacitor, a microprocessor for measuring the charge voltage and discharge voltage of the capacitor of the input circuit, and a VCC voltage and a GND voltage at the input terminal of the input circuit under the control of the microprocessor. In a method of inspecting an input circuit of an electronic control device including a drive circuit that selectively applies a drive signal, and a watchdog timer that applies a drive signal to the drive circuit,
Connecting the input terminal of the input circuit and the output terminal of the driving circuit;
activating the driving signal by transmitting a watchdog signal required by the watchdog timer at regular time intervals;
Controlling the driving circuit so that the VCC voltage is applied to the input terminal of the input circuit, and detecting the charging voltage value of the capacitor after a preset time;
Controlling the driving circuit so that a GND voltage is applied to the input terminal of the input circuit, and detecting the discharge voltage value of the capacitor after a preset time; and
If the charge/discharge test time required according to the time constants of the resistor and capacitor exceeds the disable time due to error count accumulation of the watchdog timer, the difference between the charge voltage value and the discharge voltage value is read by an external reading device. A method of inspecting an input circuit of an electronic control device, comprising the step of transmitting.
제7항에 있어서,
상기 저항 및 커패시터의 시정수에 따라 요구되는 충방전 검사 시간이 상기 워치독 타이머의 에러 카운트 누적에 따른 디스에이블 시간을 초과하지 않는 경우, 상기 충전 전압 값 및 상기 방전 전압 값을 상기 외부 판독장치로 전송하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 전자제어장치의 입력회로 검사 방법.
In clause 7,
If the charge/discharge test time required according to the time constants of the resistor and capacitor does not exceed the disable time according to the error count accumulation of the watchdog timer, the charge voltage value and the discharge voltage value are transmitted to the external reading device. A method of inspecting an input circuit of an electronic control device, further comprising the step of transmitting.
제7항에 있어서,
상기 입력회로에 VCC 전압이 인가되고 기 설정된 시간 후 상기 커패시터의 충전 전압 값을 검출하고, 상기 입력회로에 GND 전압이 인가되고 기 설정된 시간 후 상기 커패시터의 방전 전압 값을 검출하는 데 걸리는 시간은, 상기 워치독 타이머의 에러 카운트 누적에 따른 디스에이블 시간 이내인 것을 특징으로 하는 전자제어장치의 입력회로 검사 방법.
In clause 7,
The time taken to detect the charging voltage value of the capacitor after the VCC voltage is applied to the input circuit and a preset time, and to detect the discharge voltage value of the capacitor after the GND voltage is applied to the input circuit and a preset time is, A method of inspecting an input circuit of an electronic control device, characterized in that it is within the disable time according to the accumulation of error counts of the watchdog timer.
제7항에 있어서,
상기 저항 및 커패시터의 시정수에 따라 요구되는 충방전 검사 시간이 상기 워치독 타이머의 에러 카운트 누적에 따른 디스에이블 시간을 초과하는 경우, 상기 충전 전압 값은 충전 완료 전의 전압이고, 상기 방전 전압 값은 방전 완료 전의 전압인 것을 특징으로 하는 전자제어장치의 입력회로 검사 방법.
In clause 7,
If the charge/discharge test time required according to the time constants of the resistor and capacitor exceeds the disable time according to the error count accumulation of the watchdog timer, the charge voltage value is the voltage before charging is completed, and the discharge voltage value is A method of inspecting an input circuit of an electronic control device, characterized in that the voltage is before completion of discharge.
제7항에 있어서,
상기 저항 및 커패시터의 시정수에 따라 요구되는 충방전 검사 시간이 상기 워치독 타이머의 에러 카운트 누적에 따른 디스에이블 시간을 초과하지 않는 경우, 상기 충전 전압 값은 충전 완료된 전압이고, 상기 방전 전압 값은 방전 완료된 전압인 것을 특징으로 하는 전자제어장치의 입력회로 검사 방법.
In clause 7,
If the charge/discharge test time required according to the time constants of the resistor and the capacitor does not exceed the disable time according to the error count accumulation of the watchdog timer, the charge voltage value is the charging completed voltage, and the discharge voltage value is A method of inspecting an input circuit of an electronic control device, characterized in that the voltage is completely discharged.
제7항에 있어서,
상기 외부 판독장치가 상기 충전 전압 값과 상기 방전 전압 값의 차이에 기초하여 상기 입력회로의 정상 여부를 판정하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 전자제어장치의 입력회로 검사 방법.
In clause 7,
An input circuit inspection method for an electronic control device, further comprising the step of the external reading device determining whether the input circuit is normal based on the difference between the charging voltage value and the discharging voltage value.
KR1020220087722A 2022-07-15 2022-07-15 System and method for testing input circuit of electronic control unit Active KR102817775B1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020220087722A KR102817775B1 (en) 2022-07-15 2022-07-15 System and method for testing input circuit of electronic control unit

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020220087722A KR102817775B1 (en) 2022-07-15 2022-07-15 System and method for testing input circuit of electronic control unit

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20240010313A true KR20240010313A (en) 2024-01-23
KR102817775B1 KR102817775B1 (en) 2025-06-05

Family

ID=89713650

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020220087722A Active KR102817775B1 (en) 2022-07-15 2022-07-15 System and method for testing input circuit of electronic control unit

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR102817775B1 (en)

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101515011B1 (en) 2013-10-25 2015-05-04 주식회사 현대케피코 Integrated function test system of electronic control unit and method thereof
KR20160086787A (en) * 2016-07-06 2016-07-20 주식회사 현대케피코 Test System for Digital Circuit of Electronic Control Device and Method thereof

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101515011B1 (en) 2013-10-25 2015-05-04 주식회사 현대케피코 Integrated function test system of electronic control unit and method thereof
KR20160086787A (en) * 2016-07-06 2016-07-20 주식회사 현대케피코 Test System for Digital Circuit of Electronic Control Device and Method thereof

Also Published As

Publication number Publication date
KR102817775B1 (en) 2025-06-05

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US11146098B2 (en) Precharge control apparatus
KR960001292B1 (en) Monitoring method and monitoring circuit device of computer control-operating device
KR101977431B1 (en) Method and device for monitoring a voltage supply for a vehicle system
US9389128B2 (en) Temperature detection device
EP0701928B1 (en) Testing of an airbag squib resistor
JPH05147477A (en) Vehicular control device
JP2013061863A (en) Electronic control device
KR102423301B1 (en) Apparatus and method for preventing short
KR20010022447A (en) System and method for testing a circuit device for controlling an automobile passenger protection mechanism
US11008988B2 (en) Electronic control device and abnormality/normality determination method of electronic control device
US8762792B2 (en) Event monitor having switch matrix, separate counter, and compare circuitry
US11074089B2 (en) Switch state determining device
US6188225B1 (en) Circuit and method for checking the contacting of a switch or pushbutton
KR102817775B1 (en) System and method for testing input circuit of electronic control unit
JP2019052943A (en) Electronic controller
KR102307034B1 (en) Method and apparatus for disconnecting at least one ignition output stage for a firing cap of a pyrotechnic protection means for a vehicle
US9639410B2 (en) Load-control backup signal generation circuit
CN119543041A (en) Overcurrent protection self-test circuit and overcurrent protection self-test method
JP7143797B2 (en) Power control device for in-vehicle camera module
US20190178928A1 (en) Electronic control device
US12276691B2 (en) Device and method for monitoring function circuit and outputting result of monitoring
EP0486222A2 (en) Improvements in and relating to microprocessor based systems
KR20250132874A (en) Inspection system and method for agricultural machinery electronic control devices
KR20160086787A (en) Test System for Digital Circuit of Electronic Control Device and Method thereof
KR101515011B1 (en) Integrated function test system of electronic control unit and method thereof

Legal Events

Date Code Title Description
PA0109 Patent application

Patent event code: PA01091R01D

Comment text: Patent Application

Patent event date: 20220715

PA0201 Request for examination
PG1501 Laying open of application
PE0902 Notice of grounds for rejection

Comment text: Notification of reason for refusal

Patent event date: 20240926

Patent event code: PE09021S01D

E701 Decision to grant or registration of patent right
PE0701 Decision of registration

Patent event code: PE07011S01D

Comment text: Decision to Grant Registration

Patent event date: 20250526

GRNT Written decision to grant
PR0701 Registration of establishment

Comment text: Registration of Establishment

Patent event date: 20250602

Patent event code: PR07011E01D

PR1002 Payment of registration fee

Payment date: 20250602

End annual number: 3

Start annual number: 1

PG1601 Publication of registration