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WO1998036340A1 - Circuit d'alimentation d'un composant electronique dans une machine de tests - Google Patents

Circuit d'alimentation d'un composant electronique dans une machine de tests Download PDF

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WO1998036340A1
WO1998036340A1 PCT/FR1998/000245 FR9800245W WO9836340A1 WO 1998036340 A1 WO1998036340 A1 WO 1998036340A1 FR 9800245 W FR9800245 W FR 9800245W WO 9836340 A1 WO9836340 A1 WO 9836340A1
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WO
WIPO (PCT)
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circuit
supply
elementary
circuits
power
Prior art date
Application number
PCT/FR1998/000245
Other languages
English (en)
Inventor
Gilles Iafrate
Jean-Pascal Mallet
Roland Petit
Original Assignee
Schlumberger Systemes
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Filing date
Publication date
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Priority to US09/367,376 priority patent/US6181117B1/en
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Classifications

    • G—PHYSICS
    • G05—CONTROLLING; REGULATING
    • G05F—SYSTEMS FOR REGULATING ELECTRIC OR MAGNETIC VARIABLES
    • G05F1/00—Automatic systems in which deviations of an electric quantity from one or more predetermined values are detected at the output of the system and fed back to a device within the system to restore the detected quantity to its predetermined value or values, i.e. retroactive systems
    • G05F1/10—Regulating voltage or current 
    • G05F1/46—Regulating voltage or current  wherein the variable actually regulated by the final control device is DC
    • G05F1/56—Regulating voltage or current  wherein the variable actually regulated by the final control device is DC using semiconductor devices in series with the load as final control devices
    • G05F1/59—Regulating voltage or current  wherein the variable actually regulated by the final control device is DC using semiconductor devices in series with the load as final control devices including plural semiconductor devices as final control devices for a single load

Definitions

  • the present invention relates to a supply circuit for an electronic component in a test machine.
  • the invention finds a particularly advantageous application in the field of tests, in production or in characterization, of mixed CMOS components.
  • an electronic components testing machine essentially consists of three elements: a computer which is the workstation allowing an operator to prepare, using appropriate software, the test sequences which he intends to perform on electronic components, for example at the end of a production line, in order to check their correct functioning.
  • a computer which is the workstation allowing an operator to prepare, using appropriate software, the test sequences which he intends to perform on electronic components, for example at the end of a production line, in order to check their correct functioning.
  • an electronic bay connected to the computer by a central unit, which comprises a certain number of organs aiming to generate the test sequence prepared by the operator and to compare the responses obtained with the responses provided in advance in the component proper operation.
  • a measuring head in which the electronic components to be tested are arranged.
  • the electronic bay comprises a DC power supply sub-assembly made up of as many supply circuits as necessary to supply the components under test.
  • Each supply circuit is intended to supply the electronic component considered with a direct supply current in a given range under a nominal bias voltage, + 5V for example.
  • a nominal bias voltage + 5V for example.
  • circuits are known to very low current up to 0.5A, low current up to 4A, high current up to 30A.
  • Power supply circuits currently used consist of two identical elementary circuits capable of supplying, under the same nominal polarization voltage, a direct supply current in a half range, the output terminals of said elementary circuits being connected in parallel on the electronic component to test.
  • a supply circuit in a range 8A two elementary circuits in the range 4A can be paralleled in this way.
  • each elementary supply circuit comprises, on the one hand, a regulation circuit intended to ensure that the voltage actually applied to the component is always equal to the nominal bias voltage, and, on the other hand, a circuit for power, controlled by said regulation circuit, the function of which is to supply a direct supply current in the half range, the total supply current being the sum of the currents supplied by the two elementary circuits, ie in principle twice the current supplied by each of them.
  • the two elementary circuits have independent regulation circuits which, due to dispersions of various origins (components, cable length to the measuring head), do not regulate the voltage of polarization in an identical way until causing an erratic functioning of a circuit compared to the other which can lead to the situation where an elementary circuit delivers a current in the other elementary circuit with the risk of destroying the corresponding power circuit by thermal runaway, and this without this malfunction can be perceived by the user.
  • the present invention consists of a supply circuit for an electronic component in a test machine, intended to supply to said component a direct supply current in a given range under a nominal bias voltage, said circuit d power supply comprising two identical elementary power supply circuits, each capable of supplying on a output terminal a direct supply current in a range half under said nominal bias voltage, said output terminals being connected in parallel at the level of the electronic component under test, said elementary supply circuits each comprising: a regulation circuit intended to maintain on the electronic component a bias voltage equal to the nominal bias voltage, - a power circuit, capable of being controlled by said regulating circuit, and intended to supply said direct supply current in said g half amme, remarkable in that the regulating circuit of a first elementary supply circuit, said master circuit, also controls the power circuit of the second elementary supply circuit, said slave circuit
  • the regulation of the bias voltage is ensured by a single regulation circuit, that of the master circuit.
  • the causes of static and dynamic instability mentioned above are therefore eliminated.
  • the power circuits must be as identical as possible and therefore the gain, offset and thermal drift dispersions between the two circuits are very small compared to the balance sought between the currents. Note that if a significant variation, of current for example, occurs at a given time, this would be supported equally by the two circuits. It should also be noted that even if the two elementary circuits do not play a symmetrical role, they are nevertheless identical, which allows standardization in the manufacture of the corresponding cards, which can be either master or slave circuits.
  • each elementary supply circuit comprising at least one circuit for measuring the direct supply current in the half range, the current measured by the slave circuit is added to the current measured by the master circuit by means of an adder of the master circuit.
  • Figure 1 is a diagram of a supply circuit according to the invention.
  • FIG. 2 is a diagram of a power circuit and of a measurement circuit of the supply circuit of FIG. 1.
  • the diagram in FIG. 1 represents a supply circuit for an electronic component 1 in a testing machine. Said component 1 is placed on the measuring head of the machine, which is connected to the electronic bay by cables whose length is of the order of 6m for example.
  • the supply circuit of FIG. 1 is intended to apply to a supply pin 2 a bias voltage Vcc which must be kept equal to a nominal bias voltage Vcco, equal for example to + 5V.
  • said supply circuit must be able to supply component 1 with a direct supply current I whose value depends on the operating mode of the component, such as standby mode, of low consumption, or working mode in which the current can reach very high values, up to 60A, which defines the current range of the supply circuit.
  • the supply circuit according to the invention comprises two identical elementary supply circuits 10, 10 ′, provided for supplying a DC current 1/2 d on a respective output terminal 20, 20 ′ power in a range of half, 30A for example, under said nominal bias voltage Vcco.
  • each elementary supply circuit 10, 10 ′ comprises a regulation circuit 1 1, 1 1 ′ intended to maintain on the component 1 under test a bias voltage Vcc equal to the voltage Vcco. It is understood that taking into account the length, approximately 6m, of the supply cables 3, 3 ′, the voltage Vcc actually applied to the pin 2 may vary, in particular as a function of the value of the current I.
  • the voltage regulation is generally performs by applying to a terminal 30, 30 'input circuits 10, 10' the voltage Vcc taken from the electronic component 1 by a measurement line 4, 4 ', the terminals 30, 30' being connected to an input of the regulating circuit 11, 11 ′ to which the nominal bias voltage Vcco supplied by a voltage generator 12, 12 is applied. Note on the circuits 1 1, 11 ′ for regulating the presence of a network 13, 13 ′ for compensating for the decoupling capacity C placed in parallel on the supply pin 2 of the component 1.
  • the regulating circuit 11 controls both the power circuit 14 of the master circuit 10 and the power circuit 14 'of the second elementary circuit 10', called the slave circuit.
  • switches 15, 15 ' electronically controlled, are interposed between the circuits 11, 1' of regulation and the power circuits 14, 14 'so that the output of the regulation circuit 1 1 is connected simultaneously to the inputs of the two power circuits 14, 14', the power circuit 14 'of the slave circuit 10' being disconnected from the corresponding regulation circuit 11 '. Since the regulating circuit 1 ′ is out of operation, the measurement line 4 ′ may not be connected to the supply pin 2 of the electronic component 1 under test.
  • FIG. 1 also shows that the master 10 and slave 10 ′ circuits are provided with circuits 16, 16 ′ for measuring the supply current 1/2 in the half range. The measured value of this current is available in an analog / digital converter 17, 17 'of each circuit. However, rather than successively reading the values in each converter and then summing them by the computer of the test machine, it is preferable, as shown in Figure 1, than the current measured by the slave circuit 10 'is added to the current measured by the master circuit 10 by means of an adder 18 of the master circuit 10.
  • the slave circuit 10' also includes an adder 18 ', not used, this by virtue of the principle that even if they do not play a symmetrical role, the master and slave circuits are perfectly identical for reasons of standardization.
  • the assembly in FIG. 1 is particularly advantageous for producing a supply circuit in the range 60A from power circuits 14, 14 ′ in the range 30A, which in turn can be produced by paralleling two amplifiers 14a, 14b in the range 15A, shown in FIG. 2 for circuit 14.
  • these two power amplifiers must have identical characteristics (gain, offset) as must their identical possible temperature drifts, this is why it is expected that the amplifiers 14a, 14b are mounted on the same heat sink.
  • FIG. 2 shows that in this case the measurement circuit 16 consists of two measurement circuits 16a, 16b partial whose outputs are added by an adder 16c.

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Abstract

Circuit d'alimentation d'un composant électronique (1) dans une machine de tests, destiné à fournir audit composant (1) un courant (I) d'alimentation dans une gamme donnée sous une tension nominale (Vcco) de polarisation, ledit circuit d'alimentation comprenant deux circuits élémentaires (10, 10') identiques, aptes, chacun, à fournir un courant (I/2) d'alimentation dans une gamme moitié sur des bornes (20, 20') de sortie reliées en parallèle, lesdits circuits élémentaires (10, 10') comportant, chacun: un circuit (11, 11') de régulation destiné à maintenir sur le composant (1) une tension (Vcc) de polarisation égale à la tension nominale (Vcco) de polarisation; un circuit (14, 14') de puissance, apte à être commandé par ledit circuit (11, 11') de régulation, et destiné à fournir ledit courant (I/2) d'alimentation dans ladite gamme moitié. Selon l'invention, le circuit (11) de régulation d'un premier circuit élémentaire (10) commande également le circuit (14') de puissance du deuxième circuit élémentaire (10'), le circuit (14') de puissance dudit deuxième circuit (10') étant déconnecté du circuit (11') de régulation correspondant. Application aux machines de test de composants.

Description

CIRCUIT D'ALIMENTATION D'UN COMPOSANT ÉLECTRONIQUE DANS UNE MACHINE DE TESTS
La présente invention concerne un circuit d'alimentation d'un composant électronique dans une machine de tests.
L'invention trouve une application particulièrement avantageuse dans le domaine des tests, en production ou en caractérisation, de composants CMOS mixtes
(analogiques/ numériques) à très grande échelle d'intégration, et plus spécialement les composants fonctionnant avec des courants élevés tels que microcontrôleurs ou microprocesseurs.
D'une manière générale, une machine de tests de composants électroniques est essentiellement constituée de trois éléments : un ordinateur qui est le poste de travail permettant à un opérateur de préparer, au moyen d'un logiciel approprié, les séquences de tests qu'il entend effectuer sur les composants électroniques, par exemple en sortie d'une chaîne de fabrication, afin d'en vérifier le bon fonctionnement. - une baie électronique, reliée à l'ordinateur par une unité centrale, qui comporte un certain nombre d'organes visant à générer la séquence de tests préparée par l'opérateur et à comparer les réponses obtenues aux réponses prévues à l'avance dans le cadre d'un fonctionnement conforme des composants. une tête de mesure dans laquelle sont disposés les composants électroniques à tester.
Par ailleurs, la baie électronique comprend un sous-ensemble d'alimentation en courant continu constitué d'autant de circuits d'alimentation qu'il est nécessaire pour alimenter les composants sous tests. Chaque circuit d'alimentation est destiné à fournir au composant électronique considéré un courant continu d'alimentation dans une gamme donnée sous une tension nominale de polarisation, +5V par exemple. Selon le type de composants à tester, il existe différentes gammes de courant caractérisant les circuits d'alimentation : on connaît des circuits à courant très faible jusqu'à 0,5A, à courant faible jusqu'à 4A, à courant élevé jusqu'à 30A.
Des circuits d'alimentation actuellement utilisés sont constitués de deux circuits élémentaires identiques pouvant fournir sous la même tension nominale de polarisation un courant continu d'alimentation dans une gamme moitié, les bornes de sortie desdits circuits élémentaires étant réunies en parallèle sur le composant électronique à tester. Par exemple, pour obtenir un circuit d'alimentation dans une gamme 8A, on peut mettre en parallèle de cette manière deux circuits élémentaires dans la gamme 4A.
Plus précisément, chaque circuit élémentaire d'alimentation comprend, d'une part, un circuit de régulation destiné à assurer que la tension effectivement appliquée au composant soit toujours égale à la tension nominale de polarisation, et, d'autre part, un circuit de puissance, commandé par ledit circuit de régulation, dont la fonction est de fournir un courant continu d'alimentation dans la gamme moitié, le courant total d'alimentation étant la somme des courants fournis par les deux circuits élémentaires, soit en principe le double du courant fourni par chacun d'eux.
Toutefois, ce type de montage où les deux circuits élémentaires d'alimentation sont complètement indépendants présente un certain nombre d'inconvénients.
D'une part, en fonctionnement statique, les deux circuits élémentaires ont des circuits de régulation indépendants qui, du fait de dispersions d'origines diverses (composants, longueur de câble jusqu'à la tête de mesure), ne régulent pas la tension de polarisation de manière identique jusqu'à provoquer un fonctionnement erratique d'un circuit par rapport à l'autre pouvant conduire à la situation où un circuit élémentaire débite un courant dans l'autre circuit élémentaire avec le risque de détruire le circuit de puissance correspondant par emballement thermique, et ceci, sans que ce dysfonctionnement puisse être perçu par l'utilisateur.
D'autre part, en fonctionnement dynamique, la présence sur chaque circuit de régulation d'un réseau indépendant de compensation de la capacité de découplage placée sur la broche d'alimentation du composant sous tests est à l'origine de problèmes de stabilité en fréquence non contrôlée dus à la disparité entre les deux réseaux de compensation. En conséquence, il peut se produire des oscillations de la tension de polarisation, inacceptables à cause notamment des risques d'échauffement du composant.
Cette difficulté liée à l'équilibrage entre les deux circuits élémentaires se fait d'autant plus sensible que l'on cherche à réaliser des circuits d'alimentation devant fonctionner dans une gamme de courants très élevés allant jusqu'à 60A. On sait en effet que, du fait du très haut niveau d'intégration atteint aujourd'hui, la tendance actuelle est une diminution de la tension nominale de polarisation, conséquence de la diminution de la taille des composants, et une augmentation du courant débité, conséquence de l'augmentation de leur nombre.
Une solution pour réaliser un circuit d'alimentation à très haut courant serait de n'utiliser qu'un seul circuit avec une régulation unique et un circuit de puissance unique. En effet, par définition, aucun problème d'équilibrage entre circuits élémentaires ne pourrait plus se poser. Cependant d'autres difficultés apparaîtraient, notamment de connecteurs, car il faudrait pouvoir mettre en oeuvre simultanément un plus grand nombre de broches. De plus, la liaison avec le composant à tester se faisant sur une grande distance, 6 mètres environ, il faudrait, pour éviter une chute ohmique importante, utiliser un câble de fort diamètre, incompatible pour des questions d'encombrement avec les installations existantes. Enfin, des composants fonctionnant sous de très grandes puissances posent des problèmes importants de refroidissement.
Aussi, la solution préconisée par l'invention est d'utiliser deux circuits élémentaires d'alimentation, comme dans la technique antérieure précédemment décrite, à condition toutefois de résoudre les problèmes soulevés du point de vue équilibrage par la présence de deux circuits élémentaires indépendants. A cet effet, la présente invention consiste en un circuit d'alimentation d'un composant électronique dans une machine de tests, destiné à fournir audit composant un courant continu d'alimentation dans une gamme donnée sous une tension nominale de polarisation, ledit circuit d'alimentation comprenant deux circuits élémentaires d'alimentation identiques, aptes, chacun, à fournir sur une borne de sortie un courant continu d'alimentation dans une gamme moitié sous ladite tension nominale de polarisation, lesdites bornes de sortie étant reliées en parallèle au niveau du composant électronique sous tests, lesdits circuits élémentaires d'alimentation comportant, chacun : un circuit de régulation destiné à maintenir sur le composant électronique une tension de polarisation égale à la tension nominale de polarisation, - un circuit de puissance, apte à être commandé par ledit circuit de régulation, et destiné à fournir ledit courant continu d'alimentation dans ladite gamme moitié, remarquable en ce que le circuit de régulation d'un premier circuit élémentaire d'alimentation, dit circuit-maître, commande également le circuit de puissance du deuxième circuit élémentaire d'alimentation, dit circuit-esclave, le circuit de puissance dudit circuit-esclave étant déconnecté du circuit de régulation du même circuit-esclave.
Ainsi, la régulation de la tension de polarisation est assurée par un circuit de régulation unique, celui du circuit-maître. Se trouvent alors éliminées les causes d'instabilité statique et dynamique évoquées plus haut. Bien entendu, pour obtenir un partage parfait du courant entre les deux circuits-maître et esclave, il faut que les circuits de puissance soient aussi identiques que possible et donc que les dispersions en gain, décalage (offset) et dérive thermique entre les deux circuits soient très faibles par rapport à l'équilibre recherché entre les courants. Notons que si une variation importante, de courant par exemple, se produit à un moment donné, celle-ci serait supportée à part égale par les deux circuits. Il faut également observer que même si les deux circuits élémentaires ne jouent pas un rôle symétrique, ils sont néanmoins identiques, ce qui permet une standardisation dans la fabrication des cartes correspondantes, qui peuvent être indifféremment des circuits-maître ou esclave.
Enfin, selon une caractéristique avantageuse du circuit d'alimentation conforme à l'invention, chaque circuit élémentaire d'alimentation comportant au moins un circuit de mesure du courant continu d'alimentation dans la gamme moitié, le courant mesuré par le circuit-esclave est additionné au courant mesuré par le circuit-maître au moyen d'un additionneur du circuit-maître.
On obtient de cette manière une mesure directe du courant débité au niveau du circuit d'alimentation, alors que dans la technique antérieure il faut lire successivement les valeurs du courant mesurées par chaque circuit puis faire la sommation au niveau de l'ordinateur. Il en résulte un gain de temps très sensible. La description qui va suivre en regard des dessins annexés, donnés à titre d'exemples non limitatifs, fera bien comprendre en quoi consiste l'invention et comment elle peut être réalisée. La figure 1 est un schéma d'un circuit d'alimentation conforme à l'invention.
La figure 2 est un schéma d'un circuit de puissance et d'un circuit de mesure du circuit d'alimentation de la figure 1.
Le schéma de la figure 1 représente un circuit d'alimentation d'un composant électronique 1 dans une machine de tests. Ledit composant 1 est placé sur la tête de mesure de la machine, laquelle est reliée à la baie électronique par des câbles dont la longueur est de l'ordre de 6m par exemple.
Le circuit d'alimentation de la figure 1 est destiné à appliquer sur une broche 2 d'alimentation une tension Vcc de polarisation qui doit être maintenue égale à une tension nominale Vcco de polarisation, égale par exemple à +5V. D'autre part, ledit circuit d'alimentation doit pouvoir fournir au composant 1 un courant continu I d'alimentation dont la valeur dépend du mode de fonctionnement du composant, tel que mode d'attente, de faible consommation, ou mode de travail dans lequel le courant peut atteindre des valeurs très élevées, jusqu'à 60A, qui définit la gamme en courant du circuit d'alimentation.
Comme le montre la figure 1 , le circuit d'alimentation conforme à l'invention comprend deux circuits élémentaires 10, 10' d'alimentation identiques, prévus pour fournir sur une borne 20, 20' de sortie respective un courant continu 1/2 d'alimentation dans une gamme de moitié, 30A par exemple, sous ladite tension nominale Vcco de polarisation. A cet effet, chaque circuit élémentaire 10, 10' d'alimentation comporte un circuit 1 1 , 1 1 ' de régulation destiné à maintenir sur le composant 1 sous test une tension Vcc de polarisation égale à la tension Vcco. On comprend que compte tenu de la longueur, 6m environ, des câbles 3, 3' d'alimentation, la tension Vcc effectivement appliquée sur la broche 2 puisse varier, notamment en fonction de la valeur du courant I. La régulation en tension s'effectue de manière générale en appliquant sur une borne 30, 30' d'entrée des circuits 10, 10' la tension Vcc prélevée sur le composant électronique 1 par une ligne 4, 4' de mesure, les bornes 30, 30' étant connectées à une entrée du circuit 11, 11' de régulation sur laquelle est appliquée la tension nominale Vcco de polarisation fournie par un générateur 12, 12' de tension. On notera sur les circuits 1 1 , 11' de régulation la présence d'un réseau 13, 13' de compensation de la capacité C de découplage placée en parallèle sur la broche 2 d'alimentation du composant 1.
Toutefois, afin d'éviter les instabilités que provoquerait une régulation indépendante de la tension Vcc de polarisation par chacun des circuits 11 , 11', il y a avantage, ainsi qu'on peut le voir sur la figure 1 , que seul le circuit 1 1 de régulation du circuit élémentaire 10, appelé alors circuit- maître, assure cette fonction de régulation. C'est ainsi que le circuit 1 1 de régulation commande à la fois le circuit 14 de puissance du circuit-maître 10 et le circuit 14' de puissance du deuxième circuit élémentaire 10', appelé circuit-esclave. Dans ce but, des interrupteurs 15, 15', commandés électroniquement, sont interposés entre les circuits 11 , 1 l' de régulation et les circuits 14, 14' de puissance de manière à ce que la sortie du circuit 1 1 de régulation soit reliée simultanément aux entrées des deux circuits 14, 14' de puissance, le circuit 14' de puissance du circuit-esclave 10' étant déconnecté du circuit 11' de régulation correspondant. Le circuit 1 l' de régulation étant hors- fonctionnement la ligne 4' de mesure peut ne pas être connectée à la broche 2 d'alimentation du composant électronique 1 sous test.
La figure 1 montre également que les circuits-maître 10 et esclave 10' sont munis de circuits 16, 16' de mesure du courant 1/2 d'alimentation dans la gamme moitié. La valeur mesurée de ce courant est disponible dans un convertisseur analogique /numérique 17, 17' de chaque circuit. Cependant, plutôt que de lire successivement les valeurs dans chaque convertisseur puis d'en faire la somme par l'ordinateur de la machine de tests, il est préférable, comme l'indique la figure 1, que le courant mesuré par le circuit-esclave 10' est additionné au courant mesuré par le circuit-maître 10 au moyen d'un additionneur 18 du circuit- maître 10. Bien entendu, le circuit- esclave 10' comporte également un additionneur 18', non utilisé, ceci en vertu du principe que même s'ils ne jouent pas un rôle symétrique, les circuits-maître et esclave sont parfaitement identiques pour des raisons de standardisation.
Comme cela a été mentionné plus haut, le montage de la figure 1 est particulièrement intéressant pour réaliser un circuit d'alimentation dans la gamme 60A à partir de circuits 14, 14' de puissance dans la gamme 30A, lesquels peuvent à leur tour être réalisés par mise en parallèle de deux amplificateurs 14a, 14b dans la gamme 15A, représentés sur la figure 2 pour le circuit 14. Bien entendu, ces deux amplificateurs de puissance doivent avoir des caractéristiques identiques (gain, offset) de même que doivent être identiques leurs éventuelles dérives en température, c'est pourquoi il est prévu que les amplificateurs 14a, 14b sont montés sur un même dissipateur thermique.
Corrélativement, la figure 2 montre que dans ce cas le circuit 16 de mesure est constitué de deux circuits 16a, 16b de mesure partielle dont les sorties sont additionnées par un additionneur 16c.

Claims

REVENDICATIONS
1. Circuit d'alimentation d'un composant électronique ( 1) dans une machine de tests, destiné à fournir audit composant (1) un courant continu (I) d'alimentation dans une gamme donnée sous une tension nominale (Vcco) de polarisation, ledit circuit d'alimentation comprenant deux circuits élémentaires (10, 10') d'alimentation identiques, aptes, chacun, à fournir sur une borne (20, 20') de sortie un courant continu (1/2) d'alimentation dans une gamme moitié sous ladite tension nominale de polarisation, lesdites bornes de sortie étant reliées en parallèle au niveau du composant électronique ( 1) sous tests, lesdits circuits élémentaires (10, 10') d'alimentation comportant, chacun : - un circuit (11 , 1 l') de régulation destiné à maintenir sur le composant électronique (1) une tension (Vcc) de polarisation égale à la tension nominale (Vcco) de polarisation, un circuit (14, 14') de puissance, apte à être commandé par ledit circuit (11 , 11') de régulation, et destiné à fournir ledit courant continu (1/2) d'alimentation dans ladite gamme moitié, caractérisé en ce que le circuit (1 1) de régulation d'un premier circuit élémentaire (10) d'alimentation, dit circuit- maître, commande également le circuit (14') de puissance du deuxième circuit élémentaire (10') d'alimentation, dit circuit- esclave, le circuit (14') de puissance dudit circuit-esclave ( 10') étant déconnecté du circuit (1 1 ') de régulation du même circuit-esclave.
2. Circuit d'alimentation selon la revendication 1 , caractérisé en ce que, ladite gamme donnée étant de 60A, les deux circuits élémentaires ( 10, 10') d'alimentation de la gamme 30A sont réalisés, chacun, par mise en parallèle de deux amplificateurs de puissance de 15A, montés sur un même dissipateur thermique. Circuit d'alimentation selon l'une des revendications 1 ou 2, caractérisé en ce que, chaque circuit élémentaire (10, 10') d'alimentation comportant au moins un circuit (16, 16') de mesure du courant continu (1/2) d'alimentation dans la gamme moitié, le courant mesuré par le circuit-esclave (10') est additionné au courant mesuré par le circuit-maître (10) au moyen d'un additionneur (18) du circuit- maître.
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