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WO2008010120A3 - Balayage d'un faisceau appliqué à la détection optique - Google Patents

Balayage d'un faisceau appliqué à la détection optique Download PDF

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WO2008010120A3
WO2008010120A3 PCT/IB2007/052499 IB2007052499W WO2008010120A3 WO 2008010120 A3 WO2008010120 A3 WO 2008010120A3 IB 2007052499 W IB2007052499 W IB 2007052499W WO 2008010120 A3 WO2008010120 A3 WO 2008010120A3
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substrate
scanning
focusing element
irradiation beam
excitation irradiation
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PCT/IB2007/052499
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WO2008010120A2 (fr
Inventor
Dijk Erik M H P Van
Marius I Boamfa
Marcello L M Balistreri
Reinhold Wimberger-Friedl
Original Assignee
Koninkl Philips Electronics Nv
Dijk Erik M H P Van
Marius I Boamfa
Marcello L M Balistreri
Reinhold Wimberger-Friedl
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Application filed by Koninkl Philips Electronics Nv, Dijk Erik M H P Van, Marius I Boamfa, Marcello L M Balistreri, Reinhold Wimberger-Friedl filed Critical Koninkl Philips Electronics Nv
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    • G01N21/62—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light
    • G01N21/63—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light optically excited
    • G01N21/64—Fluorescence; Phosphorescence
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Abstract

Système de détection (100) permettant de balayer un substrat (8) d'un faisceau de rayonnement d'excitation dans le but de détecter des sites de luminescence. Le balayage est réalisé à l'aide d'un déflecteur optique (5) servant à faire varier un angle d'incidence du faisceau de rayonnement d'excitation sur un élément de focalisation unique (7) placé dans un trajet de rayonnement entre le déflecteur (5) et le substrat (8). La variation de l'angle d'incidence sur l'élément de focalisation unique (7) permet de déplacer le foyer du faisceau de rayonnement d'excitation dans le plan focal de l'élément de focalisation (7) dans lequel est placé le substrat (8) et donc d'assurer un balayage rapide du faisceau de rayonnement d'excitation. Dans un mode de réalisation préféré, on superpose un mouvement de balayage supplémentaire dans une direction sensiblement différente pour permettre le balayage d'un secteur pertinent du substrat (8). Le mouvement de balayage supplémentaire peut être obtenu à l'aide d'un système optique en deux parties où seuls l'élément de focalisation unique (7) et le déflecteur optique (5) sont mobiles par rapport au substrat (8), les autres composants optiques restant fixes par rapport à ce dernier au cours du balayage.
PCT/IB2007/052499 2006-07-17 2007-06-27 Balayage d'un faisceau appliqué à la détection optique WO2008010120A2 (fr)

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EP06117295 2006-07-17
EP06117295.3 2006-07-17

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WO2008010120A2 WO2008010120A2 (fr) 2008-01-24
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