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JP2002289979A - Electronic component and its manufacturing apparatus - Google Patents

Electronic component and its manufacturing apparatus

Info

Publication number
JP2002289979A
JP2002289979A JP2001087214A JP2001087214A JP2002289979A JP 2002289979 A JP2002289979 A JP 2002289979A JP 2001087214 A JP2001087214 A JP 2001087214A JP 2001087214 A JP2001087214 A JP 2001087214A JP 2002289979 A JP2002289979 A JP 2002289979A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
substrate
electronic component
stage
block
stage block
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2001087214A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Hideo Kageyama
秀生 蔭山
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Towa Corp
Original Assignee
Towa Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Towa Corp filed Critical Towa Corp
Priority to JP2001087214A priority Critical patent/JP2002289979A/en
Publication of JP2002289979A publication Critical patent/JP2002289979A/en
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/10Bump connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/15Structure, shape, material or disposition of the bump connectors after the connecting process
    • H01L2224/16Structure, shape, material or disposition of the bump connectors after the connecting process of an individual bump connector
    • H01L2224/161Disposition
    • H01L2224/16151Disposition the bump connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
    • H01L2224/16221Disposition the bump connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
    • H01L2224/16225Disposition the bump connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation

Landscapes

  • Electric Connection Of Electric Components To Printed Circuits (AREA)
  • Structure Of Printed Boards (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an electronic component in which a deformation such as a warpage or the like in an assembling step is reduced and an apparatus for manufacturing the same at a low cost. SOLUTION: The electronic component comprises a chip-like element 7 mounted on the main surface of a substrate 3. The component further comprises a groove 5 provided at the substantially central part of a longitudinal direction on the opposite surface of the main surface of the substrate 3 to traverse the opposite surface. Thus, when the substrate 3 is heated by a heater 2 mounted on a stage 1, a warp generated by largely expanding the vicinity of the lower surface of the substrate 3 by early temperature rising as compared with the upper surface occurs at each unit of the region by about 1/2 partitioned by the groove 5 on the substrate 3. Accordingly, when an elongation amount due to the thermal expansion of the upper and lower surface sides of the substrate 3 of the region is considered, the size of the warp, that is, a warp size W1 becomes about 1/4 as compared with the warp size of the entire substrate 3 when the groove 5 is not provided on the substrate 3.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、基板の主面にチッ
プ状素子を装着することにより製造される電子部品とそ
の製造装置であって、特に、組立工程において電気的接
続の信頼性を確保することができる電子部品とその製造
装置とに関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an electronic component manufactured by mounting a chip-shaped element on a main surface of a substrate and an apparatus for manufacturing the same, and particularly, to secure reliability of electrical connection in an assembly process. The present invention relates to an electronic component that can be manufactured and an apparatus for manufacturing the same.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来の電子部品を、図5を参照して説明
する。図5(A),(B)は、従来の電子部品が組み立
てられる際に、基板がステージに載置された直後の状態
と、基板にチップ状素子が装着される直前の状態とをそ
れぞれ示す正面図である。図5(A)において、ステー
ジ100にはヒータ101が設けられ、このヒータ10
1によりステージ100は所定の温度に予熱されてい
る。基板102は、例えばガラスエポキシからなるプリ
ント基板であって、所定の回路パターン(図示なし)及
びパッド103が形成されている。図5(B)におい
て、基板102に対向して、チャック104に固定され
たチップ状素子105が配置され、チップ状素子105
の半田バンプ106と基板102のパッド103とが、
位置合わせされている。図5(B)の状態から、チャッ
ク104が下降して、チップ状素子105と基板102
とを圧接する。半田バンプ106は、加熱された基板1
02のパッド103に接触することによって溶融する。
そして、半田バンプ106は、その後に基板102の温
度が下がることによって凝固する。これにより、半田バ
ンプ106とパッド103とが電気的に接続されて、更
に所定のアンダーフィル工程を経て電子部品が完成す
る。また、基板102の寸法形状に応じて、ステージ1
00に別部材(ステージブロック)を、ボルト等を使用
して取り付ける場合もある。この場合には、ステージブ
ロックの上面に載置された基板102が、ステージブロ
ックを介して加熱される。
2. Description of the Related Art A conventional electronic component will be described with reference to FIG. FIGS. 5A and 5B show a state immediately after a substrate is placed on a stage and a state immediately before a chip-like element is mounted on a substrate when a conventional electronic component is assembled. It is a front view. In FIG. 5A, a stage 100 is provided with a heater 101.
1, the stage 100 is preheated to a predetermined temperature. The board 102 is a printed board made of, for example, glass epoxy, and has a predetermined circuit pattern (not shown) and pads 103 formed thereon. In FIG. 5B, a chip-like element 105 fixed to a chuck 104 is arranged so as to face the substrate 102, and the chip-like element 105
Of the solder bump 106 and the pad 103 of the substrate 102
Aligned. The chuck 104 is lowered from the state shown in FIG.
And press against. The solder bump 106 is formed on the heated substrate 1
02 comes into contact with the pad 103 and is melted.
Then, the solder bump 106 solidifies as the temperature of the substrate 102 decreases thereafter. As a result, the solder bumps 106 and the pads 103 are electrically connected, and an electronic component is completed through a predetermined underfill process. In addition, the stage 1
There is a case where another member (stage block) is attached to 00 using a bolt or the like. In this case, the substrate 102 placed on the upper surface of the stage block is heated via the stage block.

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記従
来の電子部品によれば、基板102を加熱する際に反り
が発生するという問題がある。すなわち、図5(B)に
示すように、基板102においては加熱された下面近傍
が上面よりも早く昇温するので、下面側がより大きく熱
膨張して、上方に向かって凹になる反り(反り寸法W
A)が発生する。この状態でチップ状素子105と基板
102とを圧接すると、基板102の中央付近で、半田
バンプ106とパッド103との電気的接続が不安定に
なり、信頼性が低下するおそれがある。また、半田バン
プ106とパッド103とが電気的に接続された場合で
あっても、常温において基板102は図5(A)のよう
な平坦な状態に戻ろうとするので、半田バンプ106と
パッド103とからなる電気的接続部に応力が加わる。
これにより、電気的接続部の信頼性が低下するおそれが
ある。また、組立工程における加熱による基板102の
反りを低減するためには、基板102の材料として、熱
膨張係数が低い材料を使用すればよい。しかし、このよ
うな材料は高価なので、低価格化の要請に反するという
問題がある。また、ステージ100にステージブロック
を取り付けた場合には、ステージブロックの上面と下面
との温度差に起因して、又はステージブロックを取り付
ける取付手段(ボルト等)に起因して、ステージブロッ
クに反りが発生する。これにより、ステージブロックの
上面で、基板102が例えば傾く等して、安定して載置
されにくくなる。したがって、半田バンプ106とパッ
ド103との電気的接続の信頼性が低下するおそれがあ
る。更に、ステージブロックの材質に低熱膨張係数の材
料を使用する場合には、このステージブロックの価格が
高価になるという問題がある。
However, according to the above-mentioned conventional electronic components, there is a problem that warpage occurs when the substrate 102 is heated. That is, as shown in FIG. 5B, in the substrate 102, the temperature near the heated lower surface rises faster than that of the upper surface, so that the lower surface side expands more thermally and becomes concave upward. Dimension W
A) occurs. If the chip-like element 105 is pressed against the substrate 102 in this state, the electrical connection between the solder bump 106 and the pad 103 becomes unstable near the center of the substrate 102, and the reliability may be reduced. Further, even when the solder bump 106 and the pad 103 are electrically connected, the substrate 102 tends to return to a flat state as shown in FIG. Stress is applied to the electrical connection portion consisting of
As a result, the reliability of the electrical connection may be reduced. Further, in order to reduce the warpage of the substrate 102 due to heating in the assembly process, a material having a low coefficient of thermal expansion may be used as the material of the substrate 102. However, since such a material is expensive, there is a problem that it is contrary to a demand for a price reduction. Also, when a stage block is mounted on the stage 100, the stage block may be warped due to a temperature difference between the upper surface and the lower surface of the stage block, or due to mounting means (bolts or the like) for mounting the stage block. appear. This makes it difficult for the substrate 102 to be stably placed on the upper surface of the stage block, for example, by being inclined. Therefore, the reliability of the electrical connection between the solder bump 106 and the pad 103 may be reduced. Further, when a material having a low coefficient of thermal expansion is used as the material of the stage block, there is a problem that the price of the stage block becomes high.

【0004】本発明は、上述の課題を解決するためにな
されたものであり、組立工程において電気的接続の信頼
性を確保することができる電子部品とその製造装置とを
提供することを目的とする。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made to solve the above-described problems, and has as its object to provide an electronic component capable of ensuring the reliability of electrical connection in an assembling process, and an apparatus for manufacturing the same. I do.

【0005】[0005]

【課題を解決するための手段】上述の技術的課題を解決
するために、本発明に係る電子部品は、基板の主面にチ
ップ状素子を装着することにより製造される電子部品で
あって、主面の反対面に設けられた開口を備えていると
ともに、開口は基板が加熱される際により大きな反りが
発生する方向に交わって設けられていることを特徴とす
る。
In order to solve the above-mentioned technical problems, an electronic component according to the present invention is an electronic component manufactured by mounting a chip-shaped element on a main surface of a substrate, An opening provided on a surface opposite to the main surface is provided, and the openings are provided so as to intersect in a direction in which greater warpage occurs when the substrate is heated.

【0006】これによれば、基板が加熱された際に、反
対面に設けられた開口により区画された領域を単位とし
て、基板の反りが発生する。したがって、熱膨張係数が
低い材料を使用することなく、開口を設けない場合に比
較して反りが低減される。更に、基板が加熱される場合
においてより大きな反りが発生する方向に沿って、開口
により基板が区画されるので、開口を設けない場合に発
生する反りのうち大きい反りが確実に低減される。
According to this, when the substrate is heated, the substrate is warped in units of a region defined by the opening provided on the opposite surface. Therefore, warpage is reduced as compared with a case where no opening is provided, without using a material having a low coefficient of thermal expansion. Further, since the substrate is defined by the openings along the direction in which greater warpage occurs when the substrate is heated, large warpage among the warpages occurring when no opening is provided is reliably reduced.

【0007】上述の技術的課題を解決するために、本発
明に係る電子部品の製造装置は、基板の主面にチップ状
素子を装着して電子部品を製造する電子部品の製造装置
であって、基板が固定されるステージと、基板の相対向
する外周に沿ってステージに各々取り付けられ、かつ、
該ステージに対して基板を押圧して固定するクランプ機
構とを備えるとともに、クランプ機構における基板に接
触する部分は該基板の主面に対して傾斜していることを
特徴とする。
In order to solve the above-mentioned technical problem, an electronic component manufacturing apparatus according to the present invention is an electronic component manufacturing apparatus for manufacturing an electronic component by mounting a chip-shaped element on a main surface of a substrate. , A stage to which the substrate is fixed, and attached to the stage along opposing peripheries of the substrate, and
A clamp mechanism for pressing and fixing the substrate to the stage, and a portion of the clamp mechanism that contacts the substrate is inclined with respect to the main surface of the substrate.

【0008】これによれば、クランプ機構の傾斜面が基
板に接触して押圧することにより、ステージに対して基
板が固定される。これにより、基板が加熱される場合に
基板が固定されるので、基板の反りが抑制される。ま
た、基板が熱膨張により伸びようとする場合に、基板の
相対向する外周に沿い、かつ、クランプ機構の傾斜面に
沿って基板が伸びるので、基板の反りやうねり等の変形
が抑制される。
According to this, the inclined surface of the clamp mechanism contacts the substrate and presses it, thereby fixing the substrate to the stage. Thereby, the substrate is fixed when the substrate is heated, so that the warpage of the substrate is suppressed. Further, when the substrate is to be expanded due to thermal expansion, the substrate extends along the opposing outer periphery of the substrate and along the inclined surface of the clamp mechanism, so that deformation such as warpage or undulation of the substrate is suppressed. .

【0009】また、本発明に係る電子部品の製造装置
は、上述の製造装置において、相対向する外周は、基板
が加熱される際により大きな反りが発生する方向に沿っ
ていることを特徴とする。
[0009] Further, an electronic component manufacturing apparatus according to the present invention, in the above-described manufacturing apparatus, is characterized in that opposing outer peripheries are along a direction in which greater warpage occurs when the substrate is heated. .

【0010】これによれば、基板が加熱される場合にお
いてより大きな反りが発生する方向に沿って、クランプ
機構の傾斜面が基板に接触して押圧することにより、ス
テージに対して基板を固定する。したがって、基板を押
圧しない場合に発生する反りのうち大きい反りが、確実
に抑制される。
[0010] According to this, the inclined surface of the clamp mechanism contacts and presses the substrate along the direction in which greater warpage occurs when the substrate is heated, thereby fixing the substrate to the stage. . Therefore, a large warp of the warp generated when the substrate is not pressed is reliably suppressed.

【0011】上述の技術的課題を解決するために、本発
明に係る電子部品の製造装置は、基板にチップ状素子を
装着して電子部品を製造する電子部品の製造装置であっ
て、基板を加熱するためのヒータブロックと、ヒータブ
ロックに載置され、かつ、主面に基板が固定されるステ
ージブロックとを備えるとともに、ステージブロックに
おいて主面の反対面に、該ステージブロックが加熱され
る際により大きな反りが発生する方向に交わって開口が
設けられていることを特徴とする。
[0011] In order to solve the above-mentioned technical problems, an electronic component manufacturing apparatus according to the present invention is an electronic component manufacturing apparatus for manufacturing an electronic component by mounting a chip-shaped element on a substrate. A heater block for heating, and a stage block mounted on the heater block and having a main surface fixed to the substrate, wherein the stage block is heated on a surface opposite to the main surface in the stage block. The opening is provided so as to intersect with the direction in which the larger warpage occurs.

【0012】これによれば、ステージブロックが加熱さ
れる場合においてより大きな反りが発生する方向に沿う
ようにして、開口によりステージブロックが区画され
る。したがって、ステージブロックが加熱された場合に
は、区画された領域を単位として反りが発生するので、
開口を設けない場合に発生する反りのうち大きい反りが
確実に低減される。
According to this, when the stage block is heated, the stage block is defined by the opening so as to be along the direction in which greater warpage occurs. Therefore, when the stage block is heated, warpage occurs in units of the partitioned area,
Among the warpages generated when no opening is provided, a large warpage is reliably reduced.

【0013】上述の技術的課題を解決するために、本発
明に係る電子部品の製造装置は、基板にチップ状素子を
装着して電子部品を製造する電子部品の製造装置であっ
て、基板を加熱するためのヒータブロックと、ヒータブ
ロックに載置され、かつ、主面に基板が固定されるステ
ージブロックと、ステージブロックの相対向する外周に
沿ってヒータブロックに各々取り付けられ、かつ、該ヒ
ータブロックに対してステージブロックを押圧して固定
するクランプ機構とを備えるとともに、クランプ機構に
おけるステージブロックに接触する部分は該ステージブ
ロックの主面に対して傾斜していることを特徴とする。
[0013] In order to solve the above-mentioned technical problem, an electronic component manufacturing apparatus according to the present invention is an electronic component manufacturing apparatus for manufacturing an electronic component by mounting a chip-shaped element on a substrate. A heater block for heating, a stage block mounted on the heater block and having a main surface fixed to the substrate, and mounted on the heater block along opposing outer peripheries of the stage block; A clamp mechanism for pressing and fixing the stage block to the block is provided, and a portion of the clamp mechanism that contacts the stage block is inclined with respect to the main surface of the stage block.

【0014】これによれば、クランプ機構の傾斜面がス
テージブロックに接触して押圧することにより、ヒータ
ブロックに対してステージブロックが固定される。これ
により、ステージブロックは加熱される際に固定される
ので、ステージブロックの反りが抑制される。また、ス
テージブロックが熱膨張により伸びようとする場合に
は、ステージブロックの相対向する外周に沿い、かつ、
クランプ機構の傾斜面に沿ってステージブロックが伸び
るので、ステージブロックの反りやうねり等の変形が抑
制される。
According to this, the stage block is fixed to the heater block by the inclined surface of the clamp mechanism coming into contact with and pressing the stage block. Thereby, since the stage block is fixed when heated, the warpage of the stage block is suppressed. When the stage block is going to expand due to thermal expansion, along the opposing outer circumference of the stage block, and
Since the stage block extends along the inclined surface of the clamp mechanism, deformation such as warpage or undulation of the stage block is suppressed.

【0015】[0015]

【発明の実施の形態】(第1の実施形態)本発明の第1
の実施形態を、図1を参照しつつ説明する。図1
(A),(B)は、本実施形態に係る電子部品が組み立
てられる際に、基板がステージに載置された直後の状態
と、基板にチップ状素子が装着される直前の状態とをそ
れぞれ示す正面図である。図1(A)において、ステー
ジ1にはヒータ2が設けられ、このヒータ2によってス
テージ1は所定の温度に予熱されている。基板3は、例
えばガラスエポキシからなるプリント基板であり、図5
に示された基板102と同一の材質・外形寸法から構成
され、回路パターン(図示なし)が形成されているとと
もに、主面(図1では上面)にはパッド4が形成されて
いる。更に、基板3には、主面の反対面において、長手
方向のほぼ中央付近に、反対面を横断するような開口と
して溝5が設けられている。図1(B)において、基板
3に対向して、チャック6に固定された、例えば半導体
チップからなるチップ状素子7が配置され、チップ状素
子7の半田バンプ8と基板3のパッド4とが位置合わせ
されている。
(First Embodiment) A first embodiment of the present invention.
Will be described with reference to FIG. Figure 1
(A) and (B) show a state immediately after the substrate is mounted on the stage and a state immediately before the chip-like element is mounted on the substrate when the electronic component according to the present embodiment is assembled. FIG. In FIG. 1A, a stage 1 is provided with a heater 2, and the heater 2 preheats the stage 1 to a predetermined temperature. The board 3 is a printed board made of, for example, glass epoxy, and FIG.
Are formed of the same material and outer dimensions as the substrate 102 shown in FIG. 1, a circuit pattern (not shown) is formed, and pads 4 are formed on the main surface (the upper surface in FIG. 1). Further, the substrate 3 is provided with a groove 5 as an opening crossing the opposite surface, substantially at the center in the longitudinal direction on the opposite surface of the main surface. In FIG. 1 (B), a chip-like element 7 made of, for example, a semiconductor chip fixed to a chuck 6 is arranged opposite to the substrate 3, and the solder bumps 8 of the chip-like element 7 and the pads 4 of the substrate 3 are arranged. Aligned.

【0016】図1(B)の状態から、チャック6が下降
して、チップ状素子7と基板3とを圧接する。半田バン
プ8は、予熱された基板3のパッド4に接触することに
よって溶融する。そして、半田バンプ8は、その後に基
板3の温度が下がることによって凝固する。これによ
り、半田バンプ8とパッド4とが電気的に接続される。
更に、所定のアンダーフィル工程を経て電子部品が完成
する。
From the state shown in FIG. 1B, the chuck 6 descends to press the chip-like element 7 and the substrate 3 against each other. The solder bumps 8 are melted by contacting the pads 4 of the preheated substrate 3. Then, the solder bumps 8 are solidified by lowering the temperature of the substrate 3 thereafter. Thereby, the solder bumps 8 and the pads 4 are electrically connected.
Further, an electronic component is completed through a predetermined underfill process.

【0017】ここで、本実施形態に係る電子部品の特徴
は、基板3には、主面の反対面において長手方向のほぼ
中央付近に、反対面を横断するように溝5が設けられて
いることである。これにより、基板3が加熱される際
に、下面近傍が上面よりも早く昇温してより大きく膨張
することによって発生する反りは、溝5により区画され
た領域、すなわち基板3の長手方向の寸法の約1/2だ
けの領域を単位として発生する。そして、この約1/2
の領域においては、上面側と下面側との熱膨張による伸
び量は、図5に示された基板102全体における上面側
と下面側との伸び量に比較して、それぞれ約1/2にな
る。したがって、この領域における基板3の反りの大き
さ、すなわち図1(B)の反り寸法W1は、図5(B)
に示された従来の基板102全体の反り寸法WAに比較
して、約1/4になる。
Here, the feature of the electronic component according to the present embodiment is that the substrate 3 is provided with the groove 5 in the vicinity of the center in the longitudinal direction on the opposite surface of the main surface so as to cross the opposite surface. That is. As a result, when the substrate 3 is heated, the warpage caused by the fact that the temperature near the lower surface rises faster than the upper surface and expands more greatly is caused by the area defined by the groove 5, that is, the dimension of the substrate 3 in the longitudinal direction. Is generated in units of about 1/2 of the area. And about 1/2
In the region of, the amount of elongation due to thermal expansion on the upper surface side and the lower surface side is about そ れ ぞ れ of the amount of elongation on the upper surface side and the lower surface side of the entire substrate 102 shown in FIG. . Therefore, the magnitude of the warpage of the substrate 3 in this region, that is, the warpage dimension W1 in FIG.
Is about 寸 法 of the warp dimension WA of the entire conventional substrate 102 shown in FIG.

【0018】以上説明したように、本実施形態によれ
ば、従来と同じ材質からなる基板3において、主面の反
対面に溝5を設けることにより、反り寸法W1が従来の
約1/4に低減される。したがって、組立工程で発生す
る反りが大きく低減されることにより、電気的接続の信
頼性が確保された電子部品を提供することができる。
As described above, according to the present embodiment, in the substrate 3 made of the same material as the conventional one, by providing the groove 5 on the surface opposite to the main surface, the warpage dimension W1 is reduced to about 1 / of the conventional one. Reduced. Therefore, it is possible to provide an electronic component in which the reliability of the electrical connection is ensured by greatly reducing the warpage generated in the assembly process.

【0019】なお、溝5を1本だけ設ける場合について
説明したが、基板3の寸法・形状に応じて、溝5を並列
に複数本だけ設けてもよい。また、溝5を格子状に設け
ることもできる。
Although the case where only one groove 5 is provided has been described, a plurality of grooves 5 may be provided in parallel according to the size and shape of the substrate 3. Further, the grooves 5 can be provided in a lattice shape.

【0020】また、基板3の主面の反対面を横断するよ
うにして溝5を設けたが、これに限らず、反対面を横断
しないように、すなわち基板3の側面に達しないように
して溝5を設けてもよい。
Although the groove 5 is provided so as to cross the surface opposite to the main surface of the substrate 3, the invention is not limited to this, and the groove 5 is not crossed, that is, does not reach the side surface of the substrate 3. A groove 5 may be provided.

【0021】また、基板3の主面の反対面において、長
手方向のほぼ中央付近に溝5を設けたが、加熱された際
に反りがより大きい方向のほぼ中央付近に設ければよ
い。例えば、基板3の材料によっては、熱膨張係数が方
向性を有する場合がある。このような場合には、基板3
の寸法形状と、方向によって異なる熱膨張係数とを考慮
して、加熱された際に反りがより大きい方向を見出し
て、その方向のほぼ中央付近に溝5を設ければよい。
Although the groove 5 is provided near the center in the longitudinal direction on the surface opposite to the main surface of the substrate 3, the groove 5 may be provided near the center in the direction in which the warp increases when heated. For example, the thermal expansion coefficient may have directionality depending on the material of the substrate 3. In such a case, the substrate 3
In consideration of the dimensions and shape and the coefficient of thermal expansion that varies depending on the direction, a direction in which the warp is larger when heated is found, and the groove 5 may be provided substantially near the center of the direction.

【0022】また、溝5は断続的であってもよい。更
に、溝5に代わる開口として、基板3を貫通するスリッ
トを、基板3の強度を低下しない程度に設けることもで
きる。この場合においては、スリットを、基板3の反対
面を横断しないように連続的に設けてもよく、又は、断
続的に設けてもよい。
The groove 5 may be intermittent. Further, as an opening in place of the groove 5, a slit penetrating the substrate 3 may be provided to such an extent that the strength of the substrate 3 is not reduced. In this case, the slits may be provided continuously so as not to cross the opposite surface of the substrate 3 or may be provided intermittently.

【0023】(第2の実施形態)本発明の第2の実施形
態を、図2を参照しつつ説明する。図2(A),(B)
は、本実施形態に係る電子部品の製造装置が使用される
際に、基板がステージに載置され、かつ固定された状態
をそれぞれ示す、正面図及び側面図である。図2(A)
において、2個のクランプ機構9が、基板3の各長辺、
すなわち相対向する2つの長辺にそれぞれ沿って、ステ
ージ1に対して進退自在に、ロック用部材10により取
り付けられている。ここで、寸法形状が異なる基板3に
対応するため、クランプ機構9が図の左右方向へ移動し
て取り付けられるように、ステージ1には複数個所にロ
ック用穴(図示なし)が設けられている。図2(B)に
おいて、クランプ機構9が基板3に接触する部分、すな
わち基板3を押圧する部分には、傾斜面11が設けられ
ている。
(Second Embodiment) A second embodiment of the present invention will be described with reference to FIG. FIG. 2 (A), (B)
FIGS. 3A and 3B are a front view and a side view, respectively, showing a state where a substrate is mounted on a stage and fixed when the electronic component manufacturing apparatus according to the embodiment is used. FIG. 2 (A)
, Two clamp mechanisms 9 are provided on each long side of the substrate 3,
That is, they are attached to the stage 1 by the locking member 10 so as to be able to advance and retreat along two opposing long sides. Here, in order to accommodate substrates 3 having different dimensions and shapes, the stage 1 is provided with locking holes (not shown) at a plurality of positions so that the clamp mechanism 9 can be moved in the left-right direction in FIG. . In FIG. 2B, an inclined surface 11 is provided at a portion where the clamp mechanism 9 contacts the substrate 3, that is, at a portion where the substrate 3 is pressed.

【0024】本実施形態によれば、ステージ1上に基板
3が載置された後に、クランプ機構9が、ステージ1に
向かって前進し、傾斜面11が基板3を押圧した状態
で、ロック用部材10を使用してステージ1に対して取
り付けられている。このことにより、基板3が加熱され
る際に発生する反りが、クランプ機構9によって抑制さ
れる。また、クランプ機構9が、基板3の各長辺に沿っ
て、すなわち加熱された際に基板3の反りがより大きい
方向に沿って設けられている。したがって、基板3が加
熱される際に発生する反りのうち大きい反りが、確実に
抑制される。また、基板3は、熱膨張により伸びようと
する場合に、相対向する2つの長辺に沿って、かつ、ク
ランプ機構9の傾斜面11に沿って、図2(A)の左右
方向に伸びる。したがって、熱膨張により伸びようとす
る基板3が、ステージ1に対して完全に固定されていな
いことにより、基板3の反りやうねり等の変形が抑制さ
れる。
According to the present embodiment, after the substrate 3 is placed on the stage 1, the clamping mechanism 9 is advanced toward the stage 1 and the locking mechanism 9 is pressed with the inclined surface 11 pressing the substrate 3. It is attached to the stage 1 using a member 10. Thereby, the warpage generated when the substrate 3 is heated is suppressed by the clamp mechanism 9. Further, the clamp mechanism 9 is provided along each long side of the substrate 3, that is, along a direction in which the substrate 3 warps more when heated. Therefore, a large warp of the warp generated when the substrate 3 is heated is reliably suppressed. When the substrate 3 is to be expanded by thermal expansion, it extends in the left-right direction in FIG. 2A along two opposing long sides and along the inclined surface 11 of the clamp mechanism 9. . Therefore, the deformation of the substrate 3, such as warpage or undulation, is suppressed because the substrate 3 that is to be expanded by thermal expansion is not completely fixed to the stage 1.

【0025】なお、熱膨張により基板3が伸びようとす
る場合に、クランプ機構9の傾斜面11に沿って基板3
を伸びやすくさせるために、基板3の稜のうちクランプ
される稜を面取りして斜面状にしておいてもよい。
When the substrate 3 is to be extended due to thermal expansion, the substrate 3 is moved along the inclined surface 11 of the clamp mechanism 9.
Of the substrate 3 may be chamfered so as to be inclined so as to easily stretch the edge.

【0026】また、溝5が設けられた基板3をクランプ
する場合について説明したが、溝5が設けられていない
基板に対しても、本実施形態を適用することができる。
Although the case where the substrate 3 provided with the groove 5 is clamped has been described, the present embodiment can also be applied to a substrate not provided with the groove 5.

【0027】また、基板3の相対向する2つの長辺のそ
れぞれに対して、クランプ機構9を2個ずつ設けた場合
を説明した。これに限らず、基板3の寸法・形状に応じ
て、各長辺に対してクランプ機構9を、中央付近にそれ
ぞれ1個設けてもよく、それぞれ3個以上設けてもよ
い。
Further, the case where two clamp mechanisms 9 are provided for each of two opposing long sides of the substrate 3 has been described. However, the present invention is not limited to this, and one or more clamp mechanisms 9 may be provided in the vicinity of the center for each long side, or three or more may be provided for each of the long sides according to the size and shape of the substrate 3.

【0028】また、基板3の各長辺に沿ってクランプ機
構9を設けることとしたが、加熱された際に反りがより
大きい方向に沿って設けてあればよい。例えば、基板3
の材料によっては、熱膨張係数が方向性を有する場合が
ある。このような場合には、基板3の寸法形状と、方向
によって異なる熱膨張係数とを考慮して、加熱された際
に反りがより大きい方向を見出して、その方向に沿って
クランプ機構9を設ければよい。
Although the clamp mechanism 9 is provided along each long side of the substrate 3, it is sufficient if the clamp mechanism 9 is provided along a direction in which the substrate is warped more when heated. For example, substrate 3
Depending on the material, the thermal expansion coefficient may have directionality. In such a case, in consideration of the size and shape of the substrate 3 and the coefficient of thermal expansion that varies depending on the direction, a direction in which the warpage is larger when heated is found, and the clamp mechanism 9 is provided along the direction. Just do it.

【0029】(第3の実施形態)本発明の第3の実施形
態を、図3を参照しつつ説明する。図3(A),(B)
は、本実施形態に係る電子部品の製造装置が使用される
際に、ステージブロックがヒータブロックに載置された
直後の状態と、基板にチップ状素子が装着される直前の
状態とをそれぞれ示す正面図である。図3(A),
(B)において、ヒータブロック12にはヒータ2が設
けられ、このヒータ2によってヒータブロック12は所
定の温度に予熱されている。ヒータブロック12の上面
には、ステージブロック13が載置されている。ステー
ジブロック13には、主面(図3では上面)の反対面に
おいて、長手方向のほぼ中央付近に、反対面を横断する
ような開口として溝14が設けられている。ステージブ
ロック13には基板15が載置され、基板15に対向し
て、チャック6に固定された、例えば半導体チップから
なるチップ状素子7が配置され、チップ状素子7の半田
バンプ8と基板15のパッド4とが位置合わせされる。
(Third Embodiment) A third embodiment of the present invention will be described with reference to FIG. FIG. 3 (A), (B)
Shows a state immediately after the stage block is mounted on the heater block and a state immediately before the chip-shaped element is mounted on the substrate when the electronic component manufacturing apparatus according to the present embodiment is used, respectively. It is a front view. FIG. 3 (A),
2B, the heater 2 is provided in the heater block 12, and the heater 2 preheats the heater block 12 to a predetermined temperature. A stage block 13 is mounted on the upper surface of the heater block 12. The stage block 13 is provided with a groove 14 as an opening crossing the opposite surface, substantially at the center in the longitudinal direction on the opposite surface of the main surface (the upper surface in FIG. 3). A substrate 15 is placed on the stage block 13, and a chip-like element 7, for example, a semiconductor chip, fixed to a chuck 6 is arranged opposite to the substrate 15, and the solder bump 8 of the chip-like element 7 and the substrate 15 Of the pad 4 is aligned.

【0030】図3(B)の状態から、第1の実施形態と
同様にして、チップ状素子7と基板15とが圧接され、
半田バンプ8とパッド4とが電気的に接続される。更
に、所定のアンダーフィル工程を経て電子部品が完成す
る。
From the state of FIG. 3B, the chip-like element 7 and the substrate 15 are pressed against each other in the same manner as in the first embodiment.
The solder bumps 8 and the pads 4 are electrically connected. Further, an electronic component is completed through a predetermined underfill process.

【0031】ここで、本実施形態に係る電子部品の製造
装置の特徴は、ステージブロック13には、主面の反対
面において長手方向のほぼ中央付近に、反対面を横断す
るように溝14が設けられていることである。これによ
り、ステージブロック13が加熱される際に、下面近傍
が上面よりも早く昇温してより大きく膨張することによ
って発生する反りは、溝14により区画された領域、す
なわちステージブロック13の長手方向の寸法の約1/
2だけの領域を単位として発生する。そして、この約1
/2の領域においては、上面側と下面側との熱膨張によ
る伸び量は、ステージブロック13に溝14がない場合
における上面側と下面側との伸び量に比較して、それぞ
れ約1/2になる。したがって、この領域におけるステ
ージブロック13の反りの大きさ、すなわち図3(B)
の反り寸法W2は、溝を有さない従来のステージブロッ
ク全体の反り寸法に比較して、約1/4になる。
Here, the feature of the electronic component manufacturing apparatus according to the present embodiment is that the stage block 13 has a groove 14 near the center in the longitudinal direction on the opposite surface of the main surface so as to cross the opposite surface. It is provided. As a result, when the stage block 13 is heated, the warpage caused by the fact that the temperature near the lower surface rises faster than the upper surface and expands more greatly is caused by the area defined by the groove 14, that is, the longitudinal direction of the stage block 13. Approximately 1 /
It occurs in units of only two areas. And this about 1
In the area of / 2, the expansion amount due to the thermal expansion of the upper surface side and the lower surface side is about 2 of the expansion amount of the upper surface side and the lower surface side when the stage block 13 does not have the groove 14, respectively. become. Therefore, the size of the warpage of the stage block 13 in this area, that is, FIG.
The warp dimension W2 of the conventional stage block having no groove is about 4 of the warp dimension of the entire stage block.

【0032】以上説明したように、本実施形態によれ
ば、従来と同じ材質からなるステージブロック13にお
いて、主面の反対面に溝14を設けることにより、反り
寸法W2が従来の約1/4に低減される。これにより、
組立工程で電気的接続の信頼性を確保することができる
電子部品の製造装置を提供することができる。
As described above, according to the present embodiment, in the stage block 13 made of the same material as the conventional one, by providing the groove 14 on the surface opposite to the main surface, the warpage dimension W2 can be reduced to about 1/4 of the conventional one. To be reduced. This allows
It is possible to provide an electronic component manufacturing apparatus capable of securing reliability of electrical connection in an assembling process.

【0033】なお、溝14を1本だけ設ける場合につい
て説明したが、ステージブロック13の寸法・形状に応
じて、溝14を並列に複数本だけ設けてもよい。また、
溝14を格子状に設けることもできる。
Although the case where only one groove 14 is provided has been described, a plurality of grooves 14 may be provided in parallel according to the size and shape of the stage block 13. Also,
The grooves 14 can be provided in a lattice shape.

【0034】また、ステージブロック13の主面の反対
面を横断するようにして溝14を設けたが、これに限ら
ず、反対面を横断しないように、すなわちステージブロ
ック13の側面に達しないようにして、溝14を設けて
もよい。
Further, the groove 14 is provided so as to cross the surface opposite to the main surface of the stage block 13. However, the present invention is not limited to this, so that the groove 14 does not cross the opposite surface, that is, does not reach the side surface of the stage block 13. Then, the groove 14 may be provided.

【0035】また、溝14は断続的であってもよい。更
に、溝14に代わる開口として、ステージブロック13
を貫通するスリットを、ステージブロック13の強度を
低下しない程度に設けることもできる。この場合におい
ては、スリットを、ステージブロック13の反対面を横
断しないように連続的に設けてもよく、又は、断続的に
設けてもよい。
The groove 14 may be intermittent. Further, as an opening replacing the groove 14, the stage block 13
May be provided to such an extent that the strength of the stage block 13 is not reduced. In this case, the slit may be provided continuously so as not to cross the opposite surface of the stage block 13, or may be provided intermittently.

【0036】(第4の実施形態)本発明の第4の実施形
態を、図4を参照しつつ説明する。図4(A),(B)
は、本実施形態に係る電子部品の製造装置が使用される
際に、ステージブロックがヒータブロックに載置され、
かつ固定された状態をそれぞれ示す、正面図及び側面図
である。図4(A),(B)に示されているように、本
実施形態は、第2の実施形態において基板を押圧して固
定していたクランプ機構9が、溝14を有するステージ
ブロック13を押圧して、ボルト等を使用せずに固定す
るものである。
(Fourth Embodiment) A fourth embodiment of the present invention will be described with reference to FIG. FIG. 4 (A), (B)
When the electronic component manufacturing apparatus according to the present embodiment is used, the stage block is placed on the heater block,
It is the front view and side view which each show the fixed state. As shown in FIGS. 4A and 4B, in the present embodiment, the clamp mechanism 9 that has pressed and fixed the substrate in the second embodiment replaces the stage block 13 having the groove 14 with the stage block 13. It is pressed and fixed without using bolts or the like.

【0037】本実施形態によれば、ヒータブロック12
上にステージブロック13が載置された後に、クランプ
機構9が、ヒータブロック12に向かって前進し、傾斜
面11がステージブロック13を押圧した状態で、ロッ
ク用部材10を使用してヒータブロック12に対して取
り付けられる。これにより、ステージブロック13が加
熱される際に発生する反りが、クランプ機構9によって
抑制される。また、クランプ機構9が、ステージブロッ
ク13の各長辺に沿って、すなわち加熱された際にステ
ージブロック13の反りがより大きい方向に沿って設け
られている。したがって、ステージブロック13が加熱
される際に発生する反りのうち大きい反りが、確実に抑
制される。また、ステージブロック13は、熱膨張によ
り伸びようとする場合において、相対向する2つの長辺
に沿って、かつ、クランプ機構9の傾斜面11に沿っ
て、図4(A)の左右方向に伸びる。したがって、熱膨
張により伸びようとするステージブロック13が、ヒー
タブロック12に対して完全に固定されていないことに
より、ステージブロック13の反りやうねり等の変形が
抑制される。
According to the present embodiment, the heater block 12
After the stage block 13 is mounted thereon, the clamp mechanism 9 moves forward toward the heater block 12, and while the inclined surface 11 presses the stage block 13, the heater block 12 is Attached to Thereby, the warpage generated when the stage block 13 is heated is suppressed by the clamp mechanism 9. Further, the clamp mechanism 9 is provided along each long side of the stage block 13, that is, along a direction in which the stage block 13 warps more when heated. Therefore, of the warpage generated when the stage block 13 is heated, a large warpage is reliably suppressed. Further, when the stage block 13 is to be extended by thermal expansion, the stage block 13 extends in the left-right direction in FIG. 4A along two opposing long sides and along the inclined surface 11 of the clamp mechanism 9. extend. Accordingly, since the stage block 13 that is to be extended by thermal expansion is not completely fixed to the heater block 12, deformation such as warpage or undulation of the stage block 13 is suppressed.

【0038】なお、熱膨張によりステージブロック13
が伸びようとする場合に、クランプ機構9の傾斜面11
に沿ってステージブロック13を伸びやすくさせるため
に、ステージブロック13の稜のうちクランプされる稜
を面取りして斜面状にしておいてもよい。
The stage block 13 is thermally expanded.
Is inclined, the inclined surface 11 of the clamp mechanism 9
In order to make the stage block 13 easily stretch along the ridge, the ridge to be clamped among the ridges of the stage block 13 may be chamfered to form a slope.

【0039】また、溝14が設けられたステージブロッ
ク13をクランプする場合について説明したが、溝14
が設けられていないステージブロックに対しても、本実
施形態を適用することができる。
The case where the stage block 13 provided with the groove 14 is clamped has been described.
This embodiment can be applied to a stage block in which is not provided.

【0040】また、ステージブロック13の相対向する
2つの長辺のそれぞれに対して、クランプ機構9を2個
ずつ設けた場合を説明した。これに限らず、ステージブ
ロック13の寸法・形状に応じて、各長辺に対してクラ
ンプ機構9を、中央付近にそれぞれ1個設けてもよく、
それぞれ3個以上設けてもよい。
Further, the case where two clamp mechanisms 9 are provided for each of two opposing long sides of the stage block 13 has been described. The present invention is not limited to this, and one clamp mechanism 9 may be provided for each long side near the center in accordance with the size and shape of the stage block 13.
Three or more of each may be provided.

【0041】また、上述の各実施形態では、四辺形の基
板又はステージブロックについて説明した。これに限ら
ず、基板又はステージブロックが長円形又は小判形の場
合にも、本発明を適用することができる。これらの場合
には、基板又はステージブロックにおいて、相対向する
2つの長辺にクランプ機構9を設ける代わりに、加熱さ
れた際に反りがより大きい方向に沿って相対向する外周
に、クランプ機構9を設ければよい。
In each of the above embodiments, the quadrilateral substrate or the stage block has been described. The present invention is not limited to this, and the present invention can be applied to a case where the substrate or the stage block is oval or oval. In these cases, instead of providing the clamp mechanism 9 on the two opposing long sides of the substrate or the stage block, the clamp mechanism 9 is provided on the opposing outer periphery along the direction in which the warp increases when heated. May be provided.

【0042】また、本発明は、上述の各実施形態に限定
されるものではなく、本発明の趣旨を逸脱しない範囲内
で、必要に応じて、任意にかつ適宜に変更・選択して採
用できるものである。
The present invention is not limited to the above-described embodiments, and can be arbitrarily and appropriately changed and selected as needed without departing from the spirit of the present invention. Things.

【0043】[0043]

【発明の効果】本発明によれば、基板又はステージブロ
ックが加熱された際に、主面の反対面に設けられた開口
により区画された領域を単位として基板又はステージブ
ロックの反りが発生するので、熱膨張係数が低い材料を
使用することなく、開口を設けない場合に比較して反り
が低減される。また、開口を設けない場合に発生する反
りのうち大きい反りが、確実に低減される。また、基板
又はステージブロックが加熱される場合に、クランプ機
構により基板又はステージブロックが固定されるので、
基板又はステージブロックの反りが抑制される。更に、
基板又はステージブロックを押圧しない場合に発生する
反りのうち大きい反りが、クランプ機構により確実に抑
制される。したがって、本発明は、組立工程における反
り等の変形が低減されることにより、電気的接続の信頼
性を確保することができる電子部品とその製造装置とを
提供することができるという、優れた実用的な効果を奏
するものである。
According to the present invention, when the substrate or the stage block is heated, the substrate or the stage block is warped in units of a region defined by the opening provided on the opposite surface of the main surface. In addition, warpage is reduced as compared with a case where no opening is provided, without using a material having a low coefficient of thermal expansion. In addition, a large warp of the warp generated when no opening is provided is reliably reduced. Also, when the substrate or the stage block is heated, the substrate or the stage block is fixed by the clamp mechanism,
Warpage of the substrate or the stage block is suppressed. Furthermore,
A large warp of the warp that occurs when the substrate or the stage block is not pressed is reliably suppressed by the clamp mechanism. Accordingly, the present invention provides an excellent practical use that can provide an electronic component and a manufacturing apparatus thereof that can ensure the reliability of electrical connection by reducing deformation such as warpage in an assembly process. It has a special effect.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】(A),(B)は、本発明の第1の実施形態に
係る電子部品が組み立てられる際に、基板がステージに
載置された直後の状態と、基板にチップ状素子が装着さ
れる直前の状態とをそれぞれ示す正面図である。
FIGS. 1A and 1B show a state immediately after a substrate is placed on a stage and a chip-like element on a substrate when an electronic component according to a first embodiment of the present invention is assembled. It is a front view which shows the state immediately before mounting | wearing, respectively.

【図2】(A),(B)は、本発明の第2の実施形態に
係る電子部品の製造装置が使用される際に、基板がステ
ージに載置され、かつ固定された状態をそれぞれ示す、
正面図及び側面図である。
FIGS. 2A and 2B show a state where a substrate is mounted on a stage and fixed when an electronic component manufacturing apparatus according to a second embodiment of the present invention is used. Show,
It is a front view and a side view.

【図3】(A),(B)は、本発明の第3の実施形態に
係る電子部品の製造装置が使用される際に、ステージブ
ロックがヒータブロックに載置された直後の状態と、基
板にチップ状素子が装着される直前の状態とをそれぞれ
示す正面図である。
FIGS. 3A and 3B show states immediately after a stage block is placed on a heater block when an electronic component manufacturing apparatus according to a third embodiment of the present invention is used; It is a front view which shows the state immediately before a chip-shaped element is mounted on a board | substrate, respectively.

【図4】(A),(B)は、本発明の第4の実施形態に
係る電子部品の製造装置が使用される際に、ステージブ
ロックがヒータブロックに載置され、かつ固定された状
態をそれぞれ示す、正面図及び側面図である。
FIGS. 4A and 4B show a state where a stage block is placed on a heater block and fixed when an electronic component manufacturing apparatus according to a fourth embodiment of the present invention is used. It is a front view and a side view which respectively show.

【図5】(A),(B)は、従来の電子部品が組み立て
られる際に、基板がステージに載置された直後の状態
と、基板にチップ状素子が装着される直前の状態とをそ
れぞれ示す正面図である。
FIGS. 5A and 5B show a state immediately after a substrate is placed on a stage and a state immediately before a chip-like element is mounted on a substrate when a conventional electronic component is assembled. It is a front view shown each.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 ステージ 2 ヒータ 3,15 基板 4 パッド 5,14 溝(開口) 6 チャック 7 チップ状素子 8 半田バンプ 9 クランプ機構 10 ロック用部材 11 傾斜面 12 ヒータブロック 13 ステージブロック W1,W2 反り寸法 Reference Signs List 1 stage 2 heater 3, 15 substrate 4 pad 5, 14 groove (opening) 6 chuck 7 chip-shaped element 8 solder bump 9 clamp mechanism 10 locking member 11 inclined surface 12 heater block 13 stage block W1, W2 warpage dimension

Claims (5)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 基板の主面にチップ状素子を装着するこ
とにより製造される電子部品であって、 前記主面の反対面に設けられた開口を備えているととも
に、 前記開口は、前記基板が加熱される際により大きな反り
が発生する方向に交わって設けられていることを特徴と
する電子部品。
1. An electronic component manufactured by mounting a chip-shaped element on a main surface of a substrate, comprising: an opening provided on a surface opposite to the main surface; An electronic component characterized by being provided so as to intersect in a direction in which a larger warpage occurs when heated.
【請求項2】 基板の主面にチップ状素子を装着して電
子部品を製造する電子部品の製造装置であって、 前記基板が固定されるステージと、 前記基板の相対向する外周に沿って前記ステージに各々
取り付けられ、かつ、該ステージに対して前記基板を押
圧して固定するクランプ機構とを備えるとともに、 前記クランプ機構における前記基板に接触する部分は該
基板の主面に対して傾斜していることを特徴とする電子
部品の製造装置。
2. An electronic component manufacturing apparatus for manufacturing an electronic component by mounting a chip-shaped element on a main surface of a substrate, comprising: a stage to which the substrate is fixed; and an opposing outer periphery of the substrate. A clamp mechanism is attached to each of the stages and presses and fixes the substrate against the stage, and a portion of the clamp mechanism that contacts the substrate is inclined with respect to a main surface of the substrate. An electronic component manufacturing apparatus characterized in that:
【請求項3】 請求項2記載の電子部品の製造装置であ
って、 前記相対向する外周は、前記基板が加熱される際により
大きな反りが発生する方向に沿っていることを特徴とす
る電子部品の製造装置。
3. The electronic component manufacturing apparatus according to claim 2, wherein the opposing outer circumferences are along a direction in which a larger warpage occurs when the substrate is heated. Parts manufacturing equipment.
【請求項4】 基板にチップ状素子を装着して電子部品
を製造する電子部品の製造装置であって、 前記基板を加熱するためのヒータブロックと、 前記ヒータブロックに載置され、かつ、主面に前記基板
が固定されるステージブロックとを備えるとともに、 前記ステージブロックにおいて前記主面の反対面に、該
ステージブロックが加熱される際により大きな反りが発
生する方向に交わって開口が設けられていることを特徴
とする電子部品の製造装置。
4. An electronic component manufacturing apparatus for manufacturing an electronic component by mounting a chip-shaped element on a substrate, comprising: a heater block for heating the substrate; a heater block mounted on the heater block; A stage block to which the substrate is fixed on a surface, and an opening is provided on a surface of the stage block opposite to the main surface so as to intersect in a direction in which greater warpage occurs when the stage block is heated. An electronic component manufacturing apparatus, comprising:
【請求項5】 基板にチップ状素子を装着して電子部品
を製造する電子部品の製造装置であって、 前記基板を加熱するためのヒータブロックと、 前記ヒータブロックに載置され、かつ、主面に前記基板
が固定されるステージブロックと、 前記ステージブロックの相対向する外周に沿って前記ヒ
ータブロックに各々取り付けられ、かつ、該ヒータブロ
ックに対して前記ステージブロックを押圧して固定する
クランプ機構とを備えるとともに、 前記クランプ機構における前記ステージブロックに接触
する部分は該ステージブロックの主面に対して傾斜して
いることを特徴とする電子部品の製造装置。
5. An electronic component manufacturing apparatus for manufacturing an electronic component by mounting a chip-shaped element on a substrate, comprising: a heater block for heating the substrate; a heater block mounted on the heater block; A stage block to which the substrate is fixed, a clamp mechanism attached to the heater block along opposing outer peripheries of the stage block, and pressing and fixing the stage block to the heater block And a portion of the clamp mechanism that contacts the stage block is inclined with respect to a main surface of the stage block.
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