JP4893310B2 - 光学装置、鏡筒、露光装置、及びデバイスの製造方法 - Google Patents
光学装置、鏡筒、露光装置、及びデバイスの製造方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP4893310B2 JP4893310B2 JP2006543129A JP2006543129A JP4893310B2 JP 4893310 B2 JP4893310 B2 JP 4893310B2 JP 2006543129 A JP2006543129 A JP 2006543129A JP 2006543129 A JP2006543129 A JP 2006543129A JP 4893310 B2 JP4893310 B2 JP 4893310B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- optical element
- optical
- holding member
- element holding
- support
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03F—PHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
- G03F7/00—Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
- G03F7/70—Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
- G03F7/708—Construction of apparatus, e.g. environment aspects, hygiene aspects or materials
- G03F7/70808—Construction details, e.g. housing, load-lock, seals or windows for passing light in or out of apparatus
- G03F7/70833—Mounting of optical systems, e.g. mounting of illumination system, projection system or stage systems on base-plate or ground
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B7/00—Mountings, adjusting means, or light-tight connections, for optical elements
- G02B7/18—Mountings, adjusting means, or light-tight connections, for optical elements for prisms; for mirrors
- G02B7/182—Mountings, adjusting means, or light-tight connections, for optical elements for prisms; for mirrors for mirrors
- G02B7/1822—Mountings, adjusting means, or light-tight connections, for optical elements for prisms; for mirrors for mirrors comprising means for aligning the optical axis
- G02B7/1827—Motorised alignment
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B13/00—Optical objectives specially designed for the purposes specified below
- G02B13/14—Optical objectives specially designed for the purposes specified below for use with infrared or ultraviolet radiation
- G02B13/143—Optical objectives specially designed for the purposes specified below for use with infrared or ultraviolet radiation for use with ultraviolet radiation
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B17/00—Systems with reflecting surfaces, with or without refracting elements
- G02B17/02—Catoptric systems, e.g. image erecting and reversing system
- G02B17/06—Catoptric systems, e.g. image erecting and reversing system using mirrors only, i.e. having only one curved mirror
- G02B17/0647—Catoptric systems, e.g. image erecting and reversing system using mirrors only, i.e. having only one curved mirror using more than three curved mirrors
- G02B17/0663—Catoptric systems, e.g. image erecting and reversing system using mirrors only, i.e. having only one curved mirror using more than three curved mirrors off-axis or unobscured systems in which not all of the mirrors share a common axis of rotational symmetry, e.g. at least one of the mirrors is warped, tilted or decentered with respect to the other elements
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03F—PHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
- G03F7/00—Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
- G03F7/70—Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
- G03F7/70691—Handling of masks or workpieces
- G03F7/70766—Reaction force control means, e.g. countermass
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03F—PHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
- G03F7/00—Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
- G03F7/70—Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
- G03F7/708—Construction of apparatus, e.g. environment aspects, hygiene aspects or materials
- G03F7/70858—Environment aspects, e.g. pressure of beam-path gas, temperature
- G03F7/709—Vibration, e.g. vibration detection, compensation, suppression or isolation
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Public Health (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Environmental & Geological Engineering (AREA)
- Epidemiology (AREA)
- Toxicology (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Atmospheric Sciences (AREA)
- Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
- Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
- Mounting And Adjusting Of Optical Elements (AREA)
- Eyeglasses (AREA)
Description
即ち、投影露光装置を高解像度化するには、開口数NAの向上と、光源の短波長化が求められる。KrFエキシマレーザ(λ=248nm)、ArFエキシマレーザ(λ=193nm)、及びF2エキシマレーザ(λ=157nm)のように、光源の短波長化は進んでいる。光源の短波長化に対応するため、石英ガラスやフッ化カルシウムのような透過率の高い素材からなる光学素子が用いられる。鏡筒の内部空間に窒素やヘリウムで満たして、透過率を高める技術も知られている。
第1、第2の方法では、各部材に大きな変更を加えることなしに実施できる。第3の方法では、本来の光学設計を変更せずに実施できるとともに、光学素子であるミラーM2にバランスウエイトM2cを一体に設けた場合には、質量が質量中心M2dに近接するため、質量中心M2dを中心とした回転モーメントが小さくなる。また、接着剤などを用いることがないのでパージを妨げるガス発生源となることもない。一方、インナーリング42にバランスウエイトBWを設ける場合は、加工が容易である。特に別部材で形成する場合は、質量や位置の調整が容易であり、光学装置の組み付け後においても調整が可能となる。さらに、インナーリングはパラレルリンク機構41のエンドイフェクタとしての機能を有するため、Z軸方向の運動の中心となるインナーリングにバランスウエイトBWを配置することは望ましい。もちろん、光学素子と光学素子保持部材、ミラーM2とインナーリング42の両者にバランスウエイトM2b,BWを設けてもよい。光学素子に別部材を固定するような方法も条件によっては可能である。また、図示は省略するが光学素子保持部材を構成するミラー保持部材44にバランスウエイトBWを設けるようにしてもよい。バランスウエイトBWは、突起のような「正の質量を有する部分」及び凹部や切り欠きのような「負の質量を有する部分」を含む。バランスウェイトBWを設けることは、元の構成に「正の質量を有する部分」を付加すること、及び、元の構成を部分的に削除すること、すなわち凹部や切り欠きを形成することを含む。
Claims (21)
- 光軸を有する光学装置であって、
前記光軸に関して非対称形状の光学素子と、
前記光学素子を保持する光学素子保持部材と、
前記光学素子保持部材を支持する少なくとも3つの支持部材とを備え、
前記光学素子保持部材及び前記光学素子の少なくとも一方は、前記光学素子保持部材と前記光学素子との合計重量が、前記少なくとも3つの支持部材に対して、当該光学装置の安定性を損なわない範囲内で均等に加わるように構成されることを特徴とする光学装置。 - 前記少なくとも3つの支持部材は前記光学素子保持部材を少なくとも3つの支持位置でそれぞれ支持するものであり、前記光学素子保持部材と前記光学素子との質量中心は、前記光学素子保持部材及び前記光学素子の少なくとも一方を移動することで、前記少なくとも3つの支持位置に対して変位するように構成されることを特徴とする請求項1に記載の光学装置。
- 前記少なくとも3つの支持部材は前記光学素子保持部材を少なくとも3つの支持位置でそれぞれ支持するものであり、前記光学素子保持部材と前記光学素子との質量中心は、前記少なくとも3つの支持位置のうちの3つの支持位置によって形成される三角形の内心と一致することを特徴とする請求項1に記載の光学装置。
- 前記少なくとも3つの支持部材は前記光学素子保持部材を少なくとも3つの支持位置でそれぞれ支持するものであり、前記光学素子保持部材及び前記光学素子の少なくとも一方は、前記3つの支持位置を含む基準面に対する、前記光学素子保持部材及び前記光学素子を含む光学ユニットの質量中心を通る前記基準面の垂線と前記基準面との交点が、前記3つの支持位置によって形成される三角形の内部に位置する関係になるように構成されることを特徴とする請求項1に記載の光学装置。
- 前記交点は、前記三角形の内心と一致することを特徴とする請求項4に記載の光学装置。
- 前記少なくとも3つの支持部材は前記光学素子保持部材を少なくとも3つの支持位置でそれぞれ支持するものであり、前記光学素子保持部材及び前記光学素子の少なくとも一方は、前記光学素子保持部材と前記光学素子との質量中心が、前記少なくとも3つの支持位置のうちの3つの支持位置によって形成される三角形を含む基準面上に位置するように構成されることを特徴とする請求項1に記載の光学装置。
- 前記少なくとも3つの支持部材は前記光学素子保持部材を少なくとも3つの支持位置でそれぞれ支持するものであり、前記光学素子保持部材及び前記光学素子の少なくとも一方は、前記光学素子保持部材と前記光学素子とを含む光学ユニットの慣性主軸のうちの少なくとも1つの慣性主軸が、前記少なくとも3つの支持位置を含む基準面と平行に位置されるように構成されることを特徴とする請求項1に記載の光学装置。
- 前記少なくとも3つの支持部材は前記光学素子保持部材を少なくとも3つの支持位置でそれぞれ支持するものであり、前記光学素子保持部材及び前記光学素子の少なくとも一方は、前記光学素子保持部材と前記光学素子とを含む光学ユニットの慣性主軸のうちの少なくとも一つの慣性主軸が、前記少なくとも3つの支持位置を含む基準面上に位置するように構成されることを特徴とする請求項1に記載の光学装置。
- 前記少なくとも3つの支持部材は前記光学素子保持部材を少なくとも3つの支持位置でそれぞれ支持するものであり、前記光学素子保持部材及び前記光学素子の少なくとも一方は、前記光学素子保持部材と前記光学素子とを含む光学ユニットの慣性主軸のうちの少なくとも一つの慣性主軸が、前記少なくとも3つの支持位置のうちの3つの支持位置によって形成される三角形と交差するように構成されることを特徴とする請求項1に記載の光学装置。
- 前記慣性主軸のすべてが前記三角形と交差することを特徴とする請求項9に記載の光学装置。
- 前記光学素子保持部材及び前記光学素子の少なくとも一方はバランスウエイトを含むことを特徴とする請求項1〜10の何れか一項に記載の光学装置。
- 前記バランスウエイトは、前記光学素子保持部材及び前記光学素子の少なくとも一方に一体に形成されたことを特徴とする請求項11に記載の光学装置。
- 光軸を有する光学装置であって、
前記光軸に関して非対称形状の光学素子と、
前記光学素子を保持する光学素子保持部材と、
前記光学素子保持部材を支持する少なくとも3つの支持部材と、
前記光学素子保持部材及び前記光学素子の少なくとも一つに設けられるバランスウェイトと
を備える光学装置。 - 前記バランスウェイトは、前記光学素子保持部材及び前記光学素子の重量が前記少なくとも3つの支持部材に対して、当該光学装置の安定性を損なわない範囲で均等に分配されて作用するように、前記光学素子保持部材及び前記光学素子の少なくとも一つの重量バランスを調整することを特徴とする請求項13に記載の光学装置。
- 前記光学素子保持部材及び前記光学素子の少なくとも一方は、前記光学素子保持部材に保持された前記光学素子の重量が、前記少なくとも3つの支持部材のそれぞれに対して、当該光学装置の安定性を損なわない範囲内で均等に加わるように構成されることを特徴とする請求項13に記載の光学装置。
- 前記バランスウエイトは、前記光学素子保持部材及び前記光学素子の少なくとも一つに一体に形成された突出部である請求項14に記載の光学装置。
- 前記バランスウエイトは、前記光学素子保持部材及び前記光学素子の少なくとも一部に設けられた切り欠きである請求項14に記載の光学装置。
- 光軸を有する光学装置であって、
前記光軸に関して非対称形状の光学素子と、
前記光学素子を保持する光学素子保持部材と、
前記光学素子保持部材を支持する少なくとも3つの支持部材とを備え、
前記3つの支持部材は、前記光学素子保持部材及び前記光学素子の重量が前記少なくとも3つの支持部材に対して、当該光学装置の安定性を損なわない範囲内で均等に分配されるように、前記3つの支持部材の間隔が不均一に配置されることを特徴とする光学装置。 - 請求項1〜18の何れか一項に記載の光学装置を備えることを特徴とする鏡筒。
- マスク上に形成されたパターンの像を投影光学系を介して基板上に露光する露光装置において、前記投影光学系は、請求項19に記載の鏡筒を備えることを特徴とする露光装置。
- リソグラフィ工程を含むデバイスの製造方法において、前記リソグラフィ工程で請求項20に記載の露光装置を用いて露光を行うことを特徴とするデバイスの製造方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2006543129A JP4893310B2 (ja) | 2004-10-26 | 2005-10-24 | 光学装置、鏡筒、露光装置、及びデバイスの製造方法 |
Applications Claiming Priority (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2004311482 | 2004-10-26 | ||
| JP2004311482 | 2004-10-26 | ||
| JP2006543129A JP4893310B2 (ja) | 2004-10-26 | 2005-10-24 | 光学装置、鏡筒、露光装置、及びデバイスの製造方法 |
| PCT/JP2005/019495 WO2006046507A1 (ja) | 2004-10-26 | 2005-10-24 | 光学装置、鏡筒、露光装置、及びデバイスの製造方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPWO2006046507A1 JPWO2006046507A1 (ja) | 2008-05-22 |
| JP4893310B2 true JP4893310B2 (ja) | 2012-03-07 |
Family
ID=36227746
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2006543129A Active JP4893310B2 (ja) | 2004-10-26 | 2005-10-24 | 光学装置、鏡筒、露光装置、及びデバイスの製造方法 |
Country Status (8)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US7692884B2 (ja) |
| EP (1) | EP1806610B1 (ja) |
| JP (1) | JP4893310B2 (ja) |
| KR (1) | KR101249598B1 (ja) |
| CN (1) | CN101048690A (ja) |
| AT (1) | ATE538404T1 (ja) |
| TW (1) | TWI409516B (ja) |
| WO (1) | WO2006046507A1 (ja) |
Families Citing this family (34)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE102004025832A1 (de) * | 2004-05-24 | 2005-12-22 | Carl Zeiss Smt Ag | Optikmodul für ein Objektiv |
| DE102006038455A1 (de) * | 2006-08-16 | 2008-02-21 | Carl Zeiss Smt Ag | Optisches System für die Halbleiterlithographie |
| US7898204B2 (en) * | 2007-01-05 | 2011-03-01 | Active Precision, Inc. | High-speed substrate manipulator |
| EP1950594A1 (de) | 2007-01-17 | 2008-07-30 | Carl Zeiss SMT AG | Abbildende Optik, Projektionsbelichtunsanlage für die Mikrolithographie mit einer derartigen abbildenden Optik, Verfahren zur Herstellung eines mikrostrukturierten Bauteils mit einer derartigen Projektionsbelichtungsanlage, durch das Herstellungsverfahren gefertigtes mikrostrukturiertes Bauelement sowie Verwendung einer derartigen abbildenden Optik |
| DE102007047109A1 (de) * | 2007-10-01 | 2009-04-09 | Carl Zeiss Smt Ag | Optisches System, insbesondere Projektionsobjektiv der Mikrolithographie |
| DE102008033340B3 (de) | 2008-07-16 | 2010-04-08 | Carl Zeiss Smt Ag | Abbildende Optik |
| KR100930832B1 (ko) * | 2009-03-26 | 2009-12-10 | 삼성탈레스 주식회사 | 광학 부재 정렬 장치 |
| NL2004425A (en) * | 2009-04-27 | 2010-10-28 | Asml Netherlands Bv | Lithographic apparatus and method. |
| EP2598931B1 (en) * | 2010-07-30 | 2020-12-02 | Carl Zeiss SMT GmbH | Imaging optical system and projection exposure installation for microlithography with an imaging optical system of this type |
| WO2012084675A1 (en) | 2010-12-20 | 2012-06-28 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Arrangement for mounting an optical element |
| NL2009902A (en) * | 2011-12-27 | 2013-07-01 | Asml Netherlands Bv | Lithographic apparatus and device manufacturing method. |
| CN102540386B (zh) * | 2012-02-07 | 2013-09-18 | 中国科学院光电技术研究所 | 一种动镜弹性支撑装置 |
| DE102012202170A1 (de) * | 2012-02-14 | 2013-06-13 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Positionsmanipulator für ein optisches Bauelement |
| US10586625B2 (en) | 2012-05-14 | 2020-03-10 | Asml Netherlands B.V. | Vacuum chamber arrangement for charged particle beam generator |
| CN105652609B (zh) * | 2012-07-13 | 2018-12-04 | 株式会社尼康 | 曝光装置及曝光方法 |
| JP6051640B2 (ja) * | 2012-07-19 | 2016-12-27 | コニカミノルタ株式会社 | 光学部材の保持構造、光学装置及び画像形成装置 |
| CN104076612B (zh) * | 2013-03-27 | 2016-04-20 | 上海微电子装备有限公司 | 重载荷柔性支撑装置 |
| CN103676065B (zh) * | 2013-10-31 | 2016-01-06 | 中国科学院上海光学精密机械研究所 | 大口径透镜的调整固定装置 |
| WO2015071438A1 (en) | 2013-11-14 | 2015-05-21 | Mapper Lithography Ip B.V. | Multi-electrode electron optics |
| DE102014218969A1 (de) | 2014-09-22 | 2016-04-28 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Optische Anordnung einer mikrolithographischen Projektionsbelichtungsanlage |
| WO2017207016A1 (en) * | 2016-05-30 | 2017-12-07 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Optical imaging arrangement with a piezoelectric device |
| CN109212712B (zh) * | 2017-07-07 | 2022-03-29 | 台湾东电化股份有限公司 | 驱动机构 |
| US10678018B2 (en) * | 2017-10-23 | 2020-06-09 | Magna Electronics Inc. | Camera for vehicle vision system with replaceable lens |
| DE102018200178A1 (de) * | 2018-01-08 | 2019-01-10 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Projektionsbelichtungsanlage mit reduzierter parasitärer Deformation von Komponenten |
| DE102018200956A1 (de) * | 2018-01-22 | 2018-12-27 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Optisches Element zur Strahlführung von Abbildungslicht bei der Projektionslithographie |
| DE102018200954A1 (de) | 2018-01-22 | 2019-07-25 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Optisches Element zur Strahlführung von Abbildungslicht bei der Projektionslithographie |
| EP3896488A4 (en) * | 2018-12-18 | 2022-01-12 | SZ DJI Technology Co., Ltd. | LASER SENSING DEVICE AND UNMANNED AIR VEHICLE |
| JP7297555B2 (ja) * | 2019-06-27 | 2023-06-26 | キヤノン株式会社 | 調整方法及び保持装置 |
| CN110703454B (zh) * | 2019-09-02 | 2021-11-02 | 中国航空工业集团公司洛阳电光设备研究所 | 一种不对称透镜的装调方法 |
| CN110794546A (zh) * | 2019-11-24 | 2020-02-14 | 北京长峰科威光电技术有限公司 | 一种六轴并联压电致动镜框姿态自动调节系统及方法 |
| DE102019219274A1 (de) * | 2019-12-10 | 2021-01-21 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Spiegel für eine Projektionsbelichtungsanlage, Projektionsoptik und Projektionsbelichtungsanlage für die Halbleitertechnologie |
| CN113204095A (zh) * | 2021-04-30 | 2021-08-03 | 长光卫星技术有限公司 | 一种适用于空间相机的轻质量多功能次镜支撑结构 |
| CN115980962A (zh) * | 2022-11-30 | 2023-04-18 | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 | 一种聚光结构、装置以及系统 |
| DE102023212554A1 (de) | 2023-12-12 | 2025-01-23 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Baugruppe für eine optische Komponente |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH10256147A (ja) * | 1997-03-13 | 1998-09-25 | Nikon Corp | 露光装置 |
| JP2002267907A (ja) * | 2001-03-14 | 2002-09-18 | Canon Inc | 光学要素支持方法、光学系の調整方法、露光装置の調整方法、光学要素支持装置、光学系および露光装置 |
| JP2004343101A (ja) * | 2003-04-25 | 2004-12-02 | Canon Inc | 駆動機構、それを有する露光装置、デバイスの製造方法 |
Family Cites Families (13)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6043863A (en) * | 1996-11-14 | 2000-03-28 | Nikon Corporation | Holder for reflecting member and exposure apparatus having the same |
| JPH11315883A (ja) * | 1998-04-30 | 1999-11-16 | Canon Inc | 除振装置、露光装置およびデバイス製造方法 |
| JPH11345761A (ja) * | 1998-05-29 | 1999-12-14 | Nikon Corp | 走査型露光装置 |
| US6940582B1 (en) * | 1999-09-20 | 2005-09-06 | Nikon Corporation | Parallel link mechanism, exposure system and method of manufacturing the same, and method of manufacturing devices |
| KR20030056817A (ko) * | 2001-12-28 | 2003-07-04 | 삼성전기주식회사 | 광픽업 액츄에이터 |
| JP2004034101A (ja) | 2002-07-04 | 2004-02-05 | Kawasaki Heavy Ind Ltd | スキンパスミルの制御方法およびスキンパスミル |
| CN100462762C (zh) * | 2002-07-31 | 2009-02-18 | 佳能株式会社 | 保持器,曝光装置及设备的制造方法 |
| JP2004138926A (ja) * | 2002-10-21 | 2004-05-13 | Nikon Corp | 投影光学系および該投影光学系を備えた露光装置 |
| JP2004253105A (ja) * | 2003-02-21 | 2004-09-09 | Noritoshi Yomoda | 情報記録読取装置における情報検出ヘッド駆動機構 |
| JP3944095B2 (ja) * | 2003-02-26 | 2007-07-11 | キヤノン株式会社 | 保持装置 |
| US7760452B2 (en) * | 2003-04-25 | 2010-07-20 | Canon Kabushiki Kaisha | Driving apparatus, optical system, exposure apparatus and device fabrication method |
| JP4649136B2 (ja) * | 2003-07-31 | 2011-03-09 | キヤノン株式会社 | アクチュエータ、露光装置及びデバイス製造方法 |
| JP2007528125A (ja) * | 2004-02-25 | 2007-10-04 | カール ツァイス エスエムテー アクチェンゲゼルシャフト | 少なくとも一つの光学部品で構成される機器 |
-
2005
- 2005-10-24 CN CNA200580036490XA patent/CN101048690A/zh active Pending
- 2005-10-24 AT AT05795711T patent/ATE538404T1/de active
- 2005-10-24 US US11/666,166 patent/US7692884B2/en active Active
- 2005-10-24 JP JP2006543129A patent/JP4893310B2/ja active Active
- 2005-10-24 EP EP05795711A patent/EP1806610B1/en active Active
- 2005-10-24 KR KR1020077004007A patent/KR101249598B1/ko active Active
- 2005-10-24 WO PCT/JP2005/019495 patent/WO2006046507A1/ja active Application Filing
- 2005-10-25 TW TW094137266A patent/TWI409516B/zh active
Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH10256147A (ja) * | 1997-03-13 | 1998-09-25 | Nikon Corp | 露光装置 |
| JP2002267907A (ja) * | 2001-03-14 | 2002-09-18 | Canon Inc | 光学要素支持方法、光学系の調整方法、露光装置の調整方法、光学要素支持装置、光学系および露光装置 |
| JP2004343101A (ja) * | 2003-04-25 | 2004-12-02 | Canon Inc | 駆動機構、それを有する露光装置、デバイスの製造方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| KR101249598B1 (ko) | 2013-04-01 |
| WO2006046507A1 (ja) | 2006-05-04 |
| ATE538404T1 (de) | 2012-01-15 |
| JPWO2006046507A1 (ja) | 2008-05-22 |
| KR20070063503A (ko) | 2007-06-19 |
| US20080055756A1 (en) | 2008-03-06 |
| TW200630659A (en) | 2006-09-01 |
| TWI409516B (zh) | 2013-09-21 |
| EP1806610A4 (en) | 2010-09-29 |
| EP1806610B1 (en) | 2011-12-21 |
| US7692884B2 (en) | 2010-04-06 |
| CN101048690A (zh) | 2007-10-03 |
| EP1806610A1 (en) | 2007-07-11 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP4893310B2 (ja) | 光学装置、鏡筒、露光装置、及びデバイスの製造方法 | |
| US9664873B2 (en) | Positioning unit and apparatus for adjustment of an optical element | |
| JP4656448B2 (ja) | 投影光学装置及び露光装置 | |
| US7420752B2 (en) | Holding apparatus | |
| WO1999026278A1 (fr) | Dispositif d'exposition, procede de fabrication associe, et procede d'exposition | |
| JPWO2007086557A1 (ja) | 光学部材保持装置、光学部材の位置調整方法、及び露光装置 | |
| US20240176249A1 (en) | Optical element, projection optical unit and projection exposure apparatus | |
| JP2005175177A (ja) | 光学装置及び露光装置 | |
| JP2003227986A (ja) | 光学要素の位置決め方法及び装置、投影光学系、並びに露光装置 | |
| JP4650619B2 (ja) | 駆動ユニット、光学ユニット、光学装置、並びに露光装置 | |
| US7589911B2 (en) | Technique for positioning optical system element | |
| JP2005276933A (ja) | 光学部材保持装置、光学ユニット及び露光装置 | |
| JPWO2005091343A1 (ja) | ミラー、位置合わせ方法、光学ユニットの製造方法及び光学ユニット、並びに露光装置 | |
| JP2005236258A (ja) | 光学装置およびデバイス製造方法 | |
| JP5424013B2 (ja) | 光学系及び露光装置 | |
| HK1100375A (en) | Optical system, lens barrel, exposure system, and production method for device | |
| JP2007201342A (ja) | 光学部材保持装置、光学ユニット、及び露光装置 | |
| JP2006128212A (ja) | 光学素子保持装置、鏡筒及び露光装置並びにデバイスの製造方法 | |
| JP2006108618A (ja) | 光学系の光学特性の計測方法、光学特性計測装置、露光装置並びにデバイスの製造方法 | |
| JP2009141333A (ja) | 光学素子の位置決め装置 | |
| WO2008110212A1 (en) | Optical imaging arrangement |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20081001 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20110830 |
|
| A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20111031 |
|
| TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20111122 |
|
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
| A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20111205 |
|
| R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 4893310 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20150106 Year of fee payment: 3 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20150106 Year of fee payment: 3 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |