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JPH09260467A - Wafer attitude alignment device - Google Patents

Wafer attitude alignment device

Info

Publication number
JPH09260467A
JPH09260467A JP8888596A JP8888596A JPH09260467A JP H09260467 A JPH09260467 A JP H09260467A JP 8888596 A JP8888596 A JP 8888596A JP 8888596 A JP8888596 A JP 8888596A JP H09260467 A JPH09260467 A JP H09260467A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
wafer
cassette
attitude
aligning
rotating rollers
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP8888596A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Kazuto Ikeda
和人 池田
Hideki Kaihatsu
秀樹 開発
Tetsuo Yamamoto
哲夫 山本
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Kokusai Denki Electric Inc
Original Assignee
Kokusai Electric Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Kokusai Electric Co Ltd filed Critical Kokusai Electric Co Ltd
Priority to JP8888596A priority Critical patent/JPH09260467A/en
Publication of JPH09260467A publication Critical patent/JPH09260467A/en
Pending legal-status Critical Current

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  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】ウェーハ姿勢整合装置の機構を簡潔にすると共
に制御を簡潔にする。 【解決手段】一対の回転ローラ3,3をウェーハの下部
に当接させ、該一対の回転ローラを同方向に回転させる
ことでウェーハの姿勢合わせを行う整合ユニット67を
複数有するウェーハ姿勢整合装置に於いて、昇降自在に
支持された垂直摺動基板62に前記整合ユニットを取付
け、前記垂直摺動基板に昇降シリンダ65を連結して、
該垂直摺動基板を介して前記ウェーハ姿勢整合装置を昇
降可能としたものであり、前記昇降シリンダを伸縮させ
ることで複数のウェーハ姿勢整合装置が同時に昇降し、
ウェーハ姿勢整合装置によるウェーハの姿勢合わせが行
われる。
(57) An object of the present invention is to simplify the mechanism and control of a wafer attitude alignment device. A wafer attitude aligning apparatus having a plurality of aligning units 67 for aligning a wafer by contacting a pair of rotating rollers with a lower part of the wafer and rotating the pair of rotating rollers in the same direction. In this case, the alignment unit is attached to the vertically sliding base plate 62 that is vertically movable, and the lifting cylinder 65 is connected to the vertical sliding base plate.
The wafer attitude alignment device can be raised and lowered through the vertical sliding substrate, and a plurality of wafer attitude alignment devices are simultaneously elevated and lowered by expanding and contracting the elevating cylinder.
The wafer attitude is aligned by the wafer attitude matching device.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、半導体製造装置を
構成する1つであり、ウェーハの処理前にウェーハの姿
勢合わせを行うウェーハの姿勢整合装置に関するもので
ある。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a semiconductor manufacturing apparatus, and relates to a wafer attitude aligning apparatus for performing wafer attitude adjustment before wafer processing.

【0002】[0002]

【従来の技術】半導体素子、微細な回路パターンが形成
されるシリコンのウェーハ1は図5に示される様に円板
形状をしており、その外周部の一部にオリエンテーショ
ンフラット2と呼ばれる直線部が形成されている。ウェ
ーハ1の処理を行う場合にウェーハ1の姿勢合わせは不
可欠であるが、ウェーハ1の姿勢合わせを行う場合、前
記オリエンテーションフラット2が利用される。
2. Description of the Related Art A semiconductor device, a silicon wafer 1 on which a fine circuit pattern is formed, has a disk shape as shown in FIG. 5, and a linear portion called an orientation flat 2 is formed on a part of its outer peripheral portion. Are formed. When the wafer 1 is processed, the orientation of the wafer 1 is indispensable, but when the orientation of the wafer 1 is performed, the orientation flat 2 is used.

【0003】図4〜図6により、ウェーハの姿勢合わせ
の基本作動を説明する。
The basic operation for aligning the attitude of the wafer will be described with reference to FIGS.

【0004】ウェーハの姿勢合わせ装置は、水平に配置
された平行な2本の回転ローラ3,3と該回転ローラ
3,3の側方に平行に配置されたサイドロッド4,4を
具備し、前記回転ローラ3,3は図示しないモータによ
り回転される様になっている。又、前記回転ローラ3,
3は前記ウェーハ1の円周に当接可能であり、又サイド
ロッド4,4はウェーハの円周に略当接する様に配設さ
れている。尚、前記回転ローラ3,3は弗素系樹脂製、
前記サイドロッド4,4は石英製である。
The wafer attitude aligning device comprises two horizontally arranged parallel rotating rollers 3 and 3 and side rods 4 and 4 arranged parallel to the sides of the rotating rollers 3 and 3. The rotation rollers 3 are rotated by a motor (not shown). In addition, the rotary roller 3,
3 is capable of contacting the circumference of the wafer 1, and the side rods 4, 4 are arranged so as to substantially contact the circumference of the wafer. The rotating rollers 3 and 3 are made of fluorine resin,
The side rods 4 and 4 are made of quartz.

【0005】ウェーハ1は後述する様に、ウェーハカセ
ットに装填された状態でウェーハの姿勢合わせが行われ
る。ウェーハの姿勢合わせは、ウェーハ1が前記回転ロ
ーラ3,3、サイドロッド4,4の軸心に対して垂直の
状態で前記回転ローラ3,3に当接し、且ウェーハ1が
前記ウェーハカセットの内部で浮いた状態で行われる。
As will be described later, the wafer 1 is aligned with the wafer while it is loaded in the wafer cassette. The orientation of the wafer is such that the wafer 1 is brought into contact with the rotating rollers 3 and 3 in a state where the wafer 1 is perpendicular to the axis of the rotating rollers 3 and 3 and the side rods 4 and 4, and the wafer 1 is inside the wafer cassette. It is held in a floating state.

【0006】ウェーハ1が前記回転ローラ3,3に載置
された時、オリエンテーションフラット2が上方にあっ
たとすると、前記回転ローラ3,3を図中反時計方向に
回転させると前記ウェーハ1は時計方向に回転する。而
して、オリエンテーションフラット2が最下位置となる
とウェーハ1は両サイドのサイドロッド4,4に支持さ
れ、ウェーハ1は前記回転ローラ3,3に対して浮いた
状態となり(図6参照)、回転ローラ3,3の回転状態
に拘らずウェーハ1の回転は停止する。即ち、ウェーハ
1の姿勢合わせが完了する。ウェーハ1が多数あった場
合も同様であり、時間的なずれはあるが最終的にはオリ
エンテーションフラット2が最下位置となる姿勢に調整
される。
Assuming that the orientation flat 2 is located above when the wafer 1 is placed on the rotating rollers 3 and 3, the rotating rollers 3 and 3 are rotated counterclockwise in the figure, and the wafer 1 is rotated. Rotate in the direction. Then, when the orientation flat 2 is at the lowest position, the wafer 1 is supported by the side rods 4 and 4 on both sides, and the wafer 1 is floated with respect to the rotating rollers 3 and 3 (see FIG. 6). The rotation of the wafer 1 is stopped regardless of the rotation state of the rotating rollers 3 and 3. That is, the orientation of the wafer 1 is completed. The same applies to the case where there are a large number of wafers 1, and although there is a time lag, the orientation flat 2 is finally adjusted to the lowest position.

【0007】従来のウェーハの姿勢整合装置を具備した
半導体製造装置について図7に於いて説明する。
A conventional semiconductor manufacturing apparatus equipped with a wafer attitude adjusting device will be described with reference to FIG.

【0008】図7は半導体製造装置の内部機構を示す斜
視図であり、カセット授受機構5、カセットローダ6、
カセットストッカ7、バッファカセットストッカ8、ウ
ェーハ移載機9、ボートエレベータ10、ボート11、
炉体12、反応管13、クリーンユニット14、クリー
ンユニット15、冷却ユニット16等から成る。
FIG. 7 is a perspective view showing an internal mechanism of the semiconductor manufacturing apparatus, which includes a cassette transfer mechanism 5, a cassette loader 6, and a cassette loader 6.
Cassette stocker 7, buffer cassette stocker 8, wafer transfer machine 9, boat elevator 10, boat 11,
It comprises a furnace body 12, a reaction tube 13, a clean unit 14, a clean unit 15, a cooling unit 16 and the like.

【0009】前記カセット授受機構5は左右1対のカセ
ット受台17を有し、該カセット受台17に対応して後
述するウェーハ姿勢整合装置18が設けられている。
The cassette transfer mechanism 5 has a pair of left and right cassette receiving bases 17, and a wafer attitude aligning device 18 to be described later is provided corresponding to the cassette receiving bases 17.

【0010】前記カセットローダ6はガイドロッド20
に沿って昇降可能なスライドブロック21を有し、該ス
ライドブロック21には左右1対のカセットステージ2
2が設けられ、前記スライドブロック21はモータ23
によって回転されるスクリューロッド24に螺合し、昇
降可能となっている。前記カセットステージ22は前記
ウェーハ1を受載可能であると共に受載したウェーハ1
を前記カセット授受機構5に対して進退させ得る。
The cassette loader 6 has a guide rod 20.
Has a slide block 21 which can be moved up and down along a pair of left and right cassette stages 2
2 is provided, and the slide block 21 has a motor 23.
It can be moved up and down by being screwed into a screw rod 24 rotated by. The cassette stage 22 can receive the wafer 1 and the wafer 1 that has received the wafer 1.
Can be moved back and forth with respect to the cassette transfer mechanism 5.

【0011】前記カセットストッカ7は水平方向に横行
自在に設けられ、該カセットストッカ7は図示しないナ
ットを介してしスクリユーロッド25に螺合し、該スク
リユーロッド25を介してモータ26により横行可能と
なっている。
The cassette stocker 7 is provided so as to be horizontally traversable. The cassette stocker 7 is screwed to a screen rod 25 via a nut (not shown), and is traversed by a motor 26 via the screen rod 25. It is possible.

【0012】前記ウェーハ移載機9はガイドロッド27
に沿って昇降自在に設けられた昇降スライダ30、モー
タ28によって回転されるスクリューロッド29、ウェ
ーハハンドラ31を有し、前記昇降スライダ30と前記
スクリューロッド29とは連結し、又前記ウェーハハン
ドラ31は前記昇降スライダ30に設けられている。
The wafer transfer machine 9 has a guide rod 27.
And a screw handler 29 rotated by a motor 28, and a wafer handler 31. The elevator slider 30 and the screw rod 29 are connected to each other, and the wafer handler 31 is It is provided on the lifting slider 30.

【0013】前記ウェーハハンドラ31は複数のウェー
ハチャックプレートを有し、該ウェーハハンドラ31は
回転可能であると共に前記カセットストッカ7と前記ボ
ート11との間で往復移動可能に設けられている。
The wafer handler 31 has a plurality of wafer chuck plates, and the wafer handler 31 is rotatable and reciprocally movable between the cassette stocker 7 and the boat 11.

【0014】前記ボートエレベータ10はガイドロッド
33に沿って昇降自在に設けられた昇降スライダ34、
モータ35によって回転されるスクリューロッド36、
前記昇降スライダ34に設けられたボート受台(図示せ
ず)を有し、前記昇降スライダ34と前記スクリューロ
ッド36とは連結している。前記したボート11は前記
ボート受台に載置可能となっている。
The boat elevator 10 is provided with an elevating slider 34 which is vertically movable along a guide rod 33.
A screw rod 36 rotated by a motor 35,
A boat pedestal (not shown) is provided on the elevating slider 34, and the elevating slider 34 and the screw rod 36 are connected to each other. The boat 11 described above can be placed on the boat pedestal.

【0015】前記カセット授受機構5に設けられたウェ
ーハ姿勢整合装置18は、前記1対のカセット受台17
にそれぞれ対応して設けられる。
The wafer attitude aligning device 18 provided in the cassette transfer mechanism 5 includes the pair of cassette receiving bases 17.
It is provided corresponding to each.

【0016】図8に示される様に、カセット受台17に
基板40が設けられ、該基板40に昇降ガイド41が設
けられる。該昇降ガイド41にスライダ42が設けら
れ、該スライダ42の上端に昇降フレーム43を固着す
る。該昇降フレーム43は偏平な凹字形状をし、該昇降
フレーム43に水平に2本の弗素系樹脂製の回転ローラ
3,3が平行に設けられ、該回転ローラ3,3には溝4
4が所要のピッチ(ウェーハカセットのウェーハ装填ピ
ッチ)で刻設されている。
As shown in FIG. 8, a substrate 40 is provided on the cassette pedestal 17, and an elevating guide 41 is provided on the substrate 40. A slider 42 is provided on the elevating guide 41, and an elevating frame 43 is fixed to the upper end of the slider 42. The elevating frame 43 has a flat concave shape, and two rotating rollers 3 and 3 made of a fluorine-based resin are provided in parallel to the elevating frame 43 in parallel, and the rotating rollers 3 and 3 have a groove 4
4 are engraved at a required pitch (wafer cassette wafer loading pitch).

【0017】前記回転ローラ3,3の昇降フレーム43
より突出する一方の軸端に被動プーリ45が嵌着され
る。前記昇降フレーム43の側板に出力軸を貫通突出さ
せモータ46が設けられ、前記出力軸に駆動プーリ47
を嵌着する。前記被動プーリ45,45、前記駆動プー
リ47にベルト48を掛回し、前記モータ46の駆動に
より、前記ベルト48、前記被動プーリ45,45を介
し、前記2本の回転ローラ3,3を同方向に回転させ得
る様になっている。
A lifting frame 43 for the rotating rollers 3, 3.
The driven pulley 45 is fitted to one of the shaft ends protruding further. A motor 46 is provided on the side plate of the elevating frame 43 so as to project the output shaft therethrough.
Is fitted. A belt 48 is wound around the driven pulleys 45, 45 and the driving pulley 47, and the two rotating rollers 3, 3 are driven in the same direction by the drive of the motor 46 via the belt 48, the driven pulleys 45, 45. It can be rotated.

【0018】前記回転ローラ3,3の両側方に、石英製
のサイドロッド4,4を配設する。該サイドロッド4,
4はそれぞれ側板49に支持され、両側板49,49は
前記回転ローラ3,3の下方で連結板50によって連結
してある。前記昇降フレーム43の中央には上向きにリ
フトシリンダ51が設けられ、該リフトシリンダ51の
ロッド上端を前記連結板50に連結し、前記リフトシリ
ンダ51の突出により、前記2本のサイドロッド4,4
を回転ローラ3,3に対して上昇させる様になってい
る。
Quartz side rods 4 and 4 are arranged on both sides of the rotating rollers 3 and 3. The side rod 4,
4 are supported by side plates 49, and both side plates 49, 49 are connected by a connecting plate 50 below the rotating rollers 3, 3. A lift cylinder 51 is provided upward in the center of the elevating frame 43, the upper end of the rod of the lift cylinder 51 is connected to the connecting plate 50, and the lift cylinder 51 projects so that the two side rods 4, 4 are connected.
Is raised with respect to the rotating rollers 3 and 3.

【0019】前記基板40に水平に突出する台座52が
設けられ、該台座52に上向きに昇降シリンダ53が設
けられ、該昇降シリンダ53のロッド54の上端が前記
スライダ42に連結される。而して、前記昇降シリンダ
53の伸縮により昇降フレーム43を介して前記回転ロ
ーラ3,3、サイドロッド4,4を一体に昇降させ得る
様になっている。
A pedestal 52 protruding horizontally is provided on the substrate 40, and an elevating cylinder 53 is provided upward on the pedestal 52, and an upper end of a rod 54 of the elevating cylinder 53 is connected to the slider 42. Then, the rotation rollers 3, 3 and the side rods 4, 4 can be integrally lifted up and down through the lifting frame 43 by the expansion and contraction of the lifting cylinder 53.

【0020】尚、ウェーハカセット39はウェーハ姿勢
整合装置18の上方にセットされ、前記昇降シリンダ5
3の短縮状態、即ち前記昇降フレーム43の降下状態で
は、前記回転ローラ3,3はウェーハ1に接してなく、
前記昇降シリンダ53により昇降フレーム43を上昇さ
せると、前記回転ローラ3,3の溝55に前記ウェーハ
1の下部が当接する様になっている。
The wafer cassette 39 is set above the wafer attitude alignment device 18, and the lifting cylinder 5
In the shortened state of 3, that is, in the lowered state of the elevating frame 43, the rotating rollers 3 and 3 are not in contact with the wafer 1,
When the elevating frame 43 is raised by the elevating cylinder 53, the lower portion of the wafer 1 comes into contact with the grooves 55 of the rotating rollers 3 and 3.

【0021】而して、前述した様に回転ローラ3,3の
昇降、前記サイドロッド4,4の昇降、更に前記回転ロ
ーラ3,3の回転により前記ウェーハ1の姿勢合わせを
行う様になっている。
As described above, the attitude of the wafer 1 is adjusted by raising and lowering the rotating rollers 3 and 3, raising and lowering the side rods 4 and 4, and further rotating the rotating rollers 3 and 3. There is.

【0022】次に、上記半導体製造装置に於けるウェー
ハ1の流れについて略述する。
Next, the flow of the wafer 1 in the semiconductor manufacturing apparatus will be briefly described.

【0023】ウェーハ1の搬入、搬出はウェーハ1をウ
ェーハカセット39に装填し、ウェーハが装填されたウ
ェーハカセット39で搬送している。ウェーハカセット
39をウェーハ1が垂直な状態に保持する姿勢で前記カ
セット受台17に載置する。前記ウェーハ姿勢整合装置
18が上昇してウェーハの姿勢合わせが行われる。前記
カセットローダ6のモータ26の駆動で前記スクリュー
ロッド24を介して前記スライドブロック21を降下さ
せ、待機させる。
For loading and unloading the wafer 1, the wafer 1 is loaded in the wafer cassette 39, and the wafer cassette 39 loaded with the wafer is transported. The wafer cassette 39 is placed on the cassette pedestal 17 in a posture in which the wafer 1 is held vertically. The wafer attitude alignment device 18 moves up to align the wafer attitude. The slide block 21 is lowered by the drive of the motor 26 of the cassette loader 6 via the screw rod 24, and is made to stand by.

【0024】前記カセット授受機構5は前記カセット受
台17をカセットストッカ7に向かって90°回転させ
る。回転後の状態では、ウェーハ1は水平姿勢である。
前記モータ26の駆動で前記スクリューロッド24、前
記スライドブロック21を介して前記カセットステージ
22を上昇させ、該カセットステージ22にウェーハカ
セット39を受載する。前記カセットステージ22でウ
ェーハカセット39をカセット授受機構5より引出し、
前記モータ23の駆動によってスクリューロッド24を
回転させ、スライドブロック21を所定の位置迄上昇さ
せる。前記カセットステージ22によりウェーハカセッ
ト39をカセットストッカ7内に挿入して、カセットス
トッカ7に収納させる。而して、ウェーハ1が装填され
たウェーハカセット39をカセットストッカ7、バッフ
ァカセットストッカ8に収納させる。
The cassette transfer mechanism 5 rotates the cassette receiving stand 17 toward the cassette stocker 7 by 90 °. In the state after the rotation, the wafer 1 is in the horizontal posture.
By driving the motor 26, the cassette stage 22 is raised via the screw rod 24 and the slide block 21, and the wafer cassette 39 is placed on the cassette stage 22. The wafer cassette 39 is pulled out from the cassette transfer mechanism 5 on the cassette stage 22,
The screw rod 24 is rotated by the drive of the motor 23 to raise the slide block 21 to a predetermined position. The wafer cassette 39 is inserted into the cassette stocker 7 by the cassette stage 22 and stored in the cassette stocker 7. Then, the wafer cassette 39 loaded with the wafer 1 is stored in the cassette stocker 7 and the buffer cassette stocker 8.

【0025】ウェーハカセット39の前記カセットスト
ッカ7への収納が完了すると、前記ウェーハ移載機9を
作動させ、前記カセットストッカ7側のウェーハカセッ
ト39からウェーハ1を前記ボート11に移載する。
When the storage of the wafer cassette 39 in the cassette stocker 7 is completed, the wafer transfer machine 9 is operated to transfer the wafer 1 from the wafer cassette 39 on the cassette stocker 7 side to the boat 11.

【0026】前記モータ26の駆動により前記カセット
ストッカ7を横行させ、対象となるウェーハカセット3
9が属する収納列と前記ウェーハハンドラ31とを対峙
させる。前記モータ28を駆動し、前記スクリューロッ
ド29を介してウェーハハンドラ31を昇降させ、該ウ
ェーハハンドラ31を対象となるウェーハカセット39
に対峙させる。ウェーハハンドラ31を回転、更に進退
させることでウェーハカセット39のウェーハ1を前記
ボート11に移載する。
By driving the motor 26, the cassette stocker 7 is traversed, and the target wafer cassette 3
The storage row to which 9 belongs and the wafer handler 31 face each other. The motor 28 is driven to move the wafer handler 31 up and down through the screw rod 29, and the wafer handler 31 is used as a target wafer cassette 39.
Confront. The wafer 1 in the wafer cassette 39 is transferred to the boat 11 by rotating the wafer handler 31 and further moving it back and forth.

【0027】該ボート11に所定数のウェーハ1が移載
されると、前記モータ35が駆動し、前記スクリューロ
ッド36を介して前記昇降スライダ34が上昇して前記
ボート11を前記反応管13内に装入する。
When a predetermined number of wafers 1 are transferred to the boat 11, the motor 35 is driven and the elevating slider 34 is raised via the screw rod 36 to move the boat 11 into the reaction tube 13. Charge into.

【0028】該反応管13でウェーハ1の表面への薄膜
の生成、不純物の拡散等、所要の処理が成される。
In the reaction tube 13, required processing such as formation of a thin film on the surface of the wafer 1 and diffusion of impurities is performed.

【0029】ウェーハ処理が完了すると、前記モータ3
5により前記ボート11が反応管13より引出され、更
に前記ウェーハ移載機9によりカセットストッカ7の空
となっているウェーハカセット39にウェーハ1が移載
される。その後のウェーハカセット39の搬送について
は前述したと逆の作動によってなされる。
When the wafer processing is completed, the motor 3
5, the boat 11 is pulled out from the reaction tube 13, and the wafer transfer machine 9 transfers the wafer 1 to the empty wafer cassette 39 of the cassette stocker 7. Subsequent transportation of the wafer cassette 39 is performed by the operation reverse to that described above.

【0030】[0030]

【発明が解決しようとする課題】上記した従来のウェー
ハの姿勢整合装置は1対のウェーハ姿勢整合装置がそれ
ぞれ独立して設られている為、ウェーハ姿勢整合装置に
設けられる前記整合ユニットを昇降させる機構、例えば
ガイド機構、シリンダ等の駆動機構をそれぞれ個別に設
けなければならず、構造が複雑になり、又駆動させるに
も同期をとる必要がある等、制御の上でも複雑になると
いう不具合があった。
In the conventional wafer attitude aligning apparatus described above, since a pair of wafer attitude aligning apparatuses are provided independently of each other, the aligning unit provided in the wafer attitude aligning apparatus is moved up and down. Mechanisms such as a guide mechanism and a drive mechanism such as a cylinder have to be individually provided, which complicates the structure and requires synchronization for driving. there were.

【0031】本発明は斯かる実情に鑑み、ウェーハの姿
勢整合装置の機構を簡潔にすると共に制御を簡潔にしよ
うとするものである。
In view of the above situation, the present invention intends to simplify the mechanism and control of the wafer attitude alignment device.

【0032】[0032]

【課題を解決するための手段】本発明は、一対の回転ロ
ーラをウェーハの下部に当接させ、該一対の回転ローラ
を同方向に回転させることでウェーハの姿勢合わせを行
う整合ユニットを複数有するウェーハ姿勢整合装置に於
いて、昇降自在に支持された垂直摺動基板に前記整合ユ
ニットを取付け、前記垂直摺動基板に昇降シリンダを連
結して、該垂直摺動基板を介して前記ウェーハ姿勢整合
装置を昇降可能としたものであり、前記昇降シリンダを
伸縮させることで複数のウェーハ姿勢整合装置が同時に
昇降し、ウェーハ姿勢整合装置によるウェーハの姿勢合
わせが行われる。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has a plurality of alignment units for aligning a wafer by bringing a pair of rotating rollers into contact with the lower portion of the wafer and rotating the pair of rotating rollers in the same direction. In a wafer attitude alignment device, the alignment unit is attached to a vertically sliding substrate supported so as to be vertically movable, an elevating cylinder is connected to the vertical sliding substrate, and the wafer orientation alignment is performed via the vertical sliding substrate. The apparatus can be moved up and down, and a plurality of wafer attitude alignment devices are simultaneously moved up and down by expanding and contracting the elevating cylinder, so that the wafer attitude alignment device aligns the wafers.

【0033】[0033]

【発明の実施の形態】以下、図面を参照しつつ本発明の
実施の形態を説明する。
Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings.

【0034】図1中、図8中で示したものと同様ものに
は同符号を付しその説明を省略する。
In FIG. 1, the same parts as those shown in FIG. 8 are designated by the same reference numerals and the description thereof will be omitted.

【0035】前記カセット授受機構5のフレーム(図示
せず)に固着される垂直基板60に垂直方向の2のガイ
ド61を固着し、該ガイド61に摺動自在に垂直摺動基
板62を設ける。該垂直摺動基板62は凹字形状をして
おり、該凹字状の水平部上端面にブラケット63を水平
方向に突設し、前記垂直基板60の下端に水平方向に突
出する台座64を固着し、該台座64に昇降シリンダ6
5を立設し、該昇降シリンダ65のロッド66を前記ブ
ラケット63に連結する。
Two vertical guides 61 are fixed to a vertical substrate 60 fixed to a frame (not shown) of the cassette transfer mechanism 5, and a vertical sliding substrate 62 is slidably mounted on the guides 61. The vertical sliding substrate 62 has a concave shape, a bracket 63 is horizontally projected on the upper end surface of the concave horizontal portion, and a pedestal 64 projecting horizontally is provided on the lower end of the vertical substrate 60. It is fixed and the lifting cylinder 6 is attached to the pedestal 64.
5, the rod 66 of the lifting cylinder 65 is connected to the bracket 63.

【0036】前記垂直摺動基板62の両側に形成される
上向き突出端部には、ウェーハ姿勢整合装置67がL字
状の固定金具68を介して取付けられる。該固定金具6
8の取付け穴は上下方向に長径を有し、前記ウェーハ姿
勢整合装置67の上下方向の位置を調整できる様になっ
ている。
A wafer attitude aligning device 67 is attached to the upward protruding end portions formed on both sides of the vertical sliding substrate 62 via L-shaped fixing metal fittings 68. The fixing bracket 6
The mounting hole 8 has a long diameter in the vertical direction, and the position of the wafer attitude aligning device 67 in the vertical direction can be adjusted.

【0037】該ウェーハ姿勢整合装置67は前述したウ
ェーハ姿勢整合装置18と略同様な構成をしており、回
転ローラ3,3、サイドロッド4を有し、前記回転ロー
ラ3,3はモータ46により回転され、又前記サイドロ
ッド4はリフトシリンダ51により回転ローラ3,3に
対して昇降される。尚、本実施の形態ではサイドロッド
4は1組のみ設けられ、もう1組のサイドロッド4に代
え、ウェーハ検出器69が設けられている。
The wafer attitude aligning device 67 has substantially the same structure as the wafer attitude aligning device 18 described above, and has rotating rollers 3 and 3 and side rods 4. The rotating rollers 3 and 3 are driven by a motor 46. The side rod 4 is rotated, and the side rod 4 is moved up and down with respect to the rotating rollers 3 by the lift cylinder 51. In this embodiment, only one set of side rods 4 is provided, and a wafer detector 69 is provided instead of the other set of side rods 4.

【0038】該ウェーハ検出器69はウェーハカセット
に装填されたウェーハの間隙に挿入される短冊状の舌片
70が櫛歯状に設けられ、各舌片70にはウェーハ検出
センサ、例えば反射式の光検出センサが設けられ、ウェ
ーハの姿勢合わせを行っている時にウェーハの検出を行
う。
The wafer detector 69 is provided with strip-shaped tongues 70 which are inserted in the gap between the wafers loaded in the wafer cassette in a comb-like shape, and each tongue 70 has a wafer detection sensor, for example, a reflection type. A light detection sensor is provided to detect the wafer when the attitude of the wafer is being adjusted.

【0039】次に、作動を説明する。Next, the operation will be described.

【0040】ウェーハの姿勢整合装置67の待機状態で
は前記昇降シリンダ65が短縮している。ウェーハカセ
ット39をカセット授受機構5に受載すると(図7参
照)、前記昇降シリンダ65が伸長し、前記垂直摺動基
板62が上昇する。垂直摺動基板62上昇により左右の
ウェーハ姿勢整合装置67が同時に上昇し、前記サイド
ロッド4,4がウェーハカセットのウェーハに当接し、
前記ウェーハ検出器69の舌片70がウェーハ間に挿入
される。
In the standby state of the wafer attitude aligning device 67, the lifting cylinder 65 is shortened. When the wafer cassette 39 is placed on the cassette transfer mechanism 5 (see FIG. 7), the elevating cylinder 65 extends and the vertical sliding substrate 62 rises. As the vertical sliding substrate 62 rises, the left and right wafer attitude aligning devices 67 simultaneously rise, and the side rods 4 and 4 contact the wafers in the wafer cassette,
The tongue 70 of the wafer detector 69 is inserted between the wafers.

【0041】前記サイドロッド4,4を回転させること
でウェーハの姿勢合わせが行われると共に前記ウェーハ
検出器69によりウェーハの有無が検出され、ウェーハ
カセットに装填されているウェーハの数、更にウェーハ
が欠落している位置が検出される。
By rotating the side rods 4 and 4, the wafers are aligned and the presence / absence of wafers is detected by the wafer detector 69. The position being detected is detected.

【0042】ウェーハの姿勢合わせが完了すると前記昇
降シリンダ65が短縮し、前記垂直摺動基板62を介し
て前記左右のウェーハ姿勢整合装置67が降下し、ウェ
ーハの姿勢合わせが完了する。
When the wafer alignment is completed, the elevating cylinder 65 is shortened, the left and right wafer alignment devices 67 are lowered through the vertical sliding substrate 62, and the wafer alignment is completed.

【0043】前記従来のウェーハ姿勢整合装置18では
回転ローラ3にウェーハ周端に嵌合する溝44を刻設し
たが、図2で示す様に、回転ローラ3に母線に沿って逆
V字状の突条71を円周方向に等ピッチで多数形成し、
スプライン軸状としても良い。該スプライン軸状の回転
ローラ3,3をウェーハ1に当接させた場合は、図3に
示される様に突条71を介して当接し、突条71の多く
ても2山がウェーハ1に接する。従って、ローラ3,3
とウェーハ1との接触面積が著しく小さく、前記ローラ
3,3とウェーハ1間で大きな面圧が得られ、従って該
回転ローラ3,3とウェーハ1間に大きな摩擦力が得ら
れ、両者間で滑りを生じることなくウェーハは回転され
る。従って、姿勢合わせに要する時間が短縮され、又滑
りに原因するパーティクルの発生はない。
In the conventional wafer attitude aligning device 18, the rotary roller 3 is provided with the groove 44 to be fitted to the peripheral edge of the wafer, but as shown in FIG. 2, the rotary roller 3 has an inverted V shape along the generatrix. A large number of ridges 71 are formed at an equal pitch in the circumferential direction,
The spline shaft shape may be used. When the spline shaft-shaped rotating rollers 3 and 3 are brought into contact with the wafer 1, they are brought into contact with each other via the ridges 71 as shown in FIG. Contact. Therefore, the rollers 3, 3
The contact area between the wafer 1 and the wafer 1 is remarkably small, and a large surface pressure is obtained between the rollers 3 and 3 and the wafer 1. Therefore, a large frictional force is obtained between the rotating rollers 3 and 3 and the wafer 1 and The wafer is rotated without slippage. Therefore, the time required for posture adjustment is shortened, and no particles caused by slippage are generated.

【0044】尚、上記実施の形態では垂直摺動基板62
にウェーハ姿勢整合装置67を2組設けたが、1組でも
更に3組以上設けることが可能であることは言う迄もな
い。
In the above embodiment, the vertical sliding substrate 62
Although two sets of wafer attitude alignment devices 67 are provided in the above, it is needless to say that one set or three or more sets can be provided.

【0045】[0045]

【発明の効果】以上述べた如く本発明によれば、ウェー
ハ姿勢整合装置を1つの昇降機構で、又1つの昇降駆動
機で昇降させる構成としたので、構造が著しく簡単にな
ると共に、1の昇降駆動機に対する制御だけでよくなる
ので、制御機構も簡潔になり、製作コストが大幅に低減
するという優れた効果を発揮する。
As described above, according to the present invention, since the wafer attitude aligning device is configured to be lifted and lowered by one elevating mechanism and one elevating and lowering device, the structure is significantly simplified and Since the control for the lifting drive is sufficient, the control mechanism is simplified and the manufacturing cost is greatly reduced.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明の実施の形態を示す斜視図である。FIG. 1 is a perspective view showing an embodiment of the present invention.

【図2】本実施の形態に使用される回転ローラの一例を
示す斜視図である。
FIG. 2 is a perspective view showing an example of a rotating roller used in the present embodiment.

【図3】該ローラとウェーハとの関係を示す説明図であ
る。
FIG. 3 is an explanatory diagram showing a relationship between the roller and a wafer.

【図4】ウェーハの姿勢合わせ作動の説明図である。FIG. 4 is an explanatory diagram of a wafer attitude adjusting operation.

【図5】ウェーハの姿勢合わせ作動の説明図である。FIG. 5 is an explanatory diagram of a wafer attitude adjusting operation.

【図6】ウェーハの姿勢合わせ作動の説明図である。FIG. 6 is an explanatory diagram of a wafer attitude adjusting operation.

【図7】従来のウェーハの姿勢整合装置を具備した半導
体製造装置の内部透過斜視図である。
FIG. 7 is an internal transparent perspective view of a semiconductor manufacturing apparatus equipped with a conventional wafer attitude alignment device.

【図8】従来のウェーハの姿勢整合装置を示す斜視図で
ある。
FIG. 8 is a perspective view showing a conventional wafer attitude alignment device.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 ウェーハ 3 回転ローラ 4 サイドロッド 60 垂直基板 61 ガイド 62 垂直摺動基板 63 ブラケット 64 台座 65 昇降シリンダ 66 ロッド 67 ウェーハ姿勢整合装置 68 固定金具 69 ウェーハ検出器 70 舌片 1 Wafer 3 Rotating Roller 4 Side Rod 60 Vertical Substrate 61 Guide 62 Vertical Sliding Substrate 63 Bracket 64 Pedestal 65 Elevating Cylinder 66 Rod 67 Wafer Alignment Device 68 Fixing Bracket 69 Wafer Detector 70 Tongue

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 一対の回転ローラをウェーハの下部に当
接させ、該一対の回転ローラを同方向に回転させること
でウェーハの姿勢合わせを行う整合ユニットを複数有す
るウェーハ姿勢整合装置に於いて、昇降自在に支持され
た垂直摺動基板に前記整合ユニットを取付け、前記垂直
摺動基板に昇降シリンダを連結して、該垂直摺動基板を
介して前記ウェーハ姿勢整合装置を昇降可能としたこと
を特徴とするウェーハ姿勢整合装置。
1. A wafer posture aligning apparatus having a plurality of aligning units for bringing the pair of rotary rollers into contact with the lower part of the wafer and rotating the pair of rotary rollers in the same direction to align the wafer. The aligning unit is attached to a vertically sliding substrate supported so as to be able to move up and down, and an elevating cylinder is connected to the vertical sliding substrate so that the wafer attitude aligning device can be raised and lowered through the vertical sliding substrate. Characteristic wafer attitude alignment device.
JP8888596A 1996-03-18 1996-03-18 Wafer attitude alignment device Pending JPH09260467A (en)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100729490B1 (en) * 2000-09-25 2007-06-15 가부시키가이샤 히다치 고쿠사이 덴키 Wafer Processing Method and Apparatus thereof

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KR100729490B1 (en) * 2000-09-25 2007-06-15 가부시키가이샤 히다치 고쿠사이 덴키 Wafer Processing Method and Apparatus thereof

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